JP2008537593A - ウエハのプローブ応用のアクティブ診断インターフェース - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
ウエハプローブカード上の診断インターフェースが、試験システムコントローラと、ウエハの試験中のウエハ上の1つまたは複数のDUTとの間に提供される試験信号をモニタすることを可能にするために提供される。チャネルライン上の試験信号のひずみを回避するために、一実施形態では、バッファが、チャネルに接続する診断インターフェースの一部としてプローブカード上に提供される。他の実施形態では、インターフェースアダプタポッドが提供され、そのアダプタポッドは、試験結果を処理しパーソナルコンピュータなどのユーザインターフェースにその結果を提供するために、プローブカード上の診断インターフェースに接続している。
【選択図】 図6
Description
Claims (17)
- 被試験デバイス(DUT)のパッドに接続するための接点に対するチャネルを介して試験システムコントローラからの信号を提供するように構成されたプローブカードと、
前記DUTの少なくとも1つに接続するための前記チャネルの少なくともいくつかへの電気的接続部を含む、前記プローブカードに取り付けられた診断インターフェースと、
を備える試験システム。 - 前記診断インターフェースの前記電気的接続部を前記チャネルに接続するバッファをさらに備える請求項1に記載の試験システム。
- 前記診断インターフェースの前記電気的接続部のそれぞれに接続された補正コンデンサをさらに備える請求項1に記載の試験システム。
- 前記診断インターフェースを形成するコネクタに接続される入力、およびユーザインターフェースに接続するための出力を有するアダプタポッドをさらに備え、前記アダプタポッドが、前記チャネルからの信号を処理し、前記ユーザインターフェースによって表示するためにデータ結果を提供するように構成されたプロセッサを含む、請求項1に記載の試験システム。
- 前記アダプタポッドが、前記診断インターフェースの前記コネクタと、前記プロセッサとの少なくともいくつかのライン間にA/Dコンバータをさらに備える、請求項4に記載の試験システム。
- 前記診断インターフェースを形成するコネクタに接続される入力と、前記診断インターフェースからの信号を複数の追加のインターフェースコネクタに分配するための複数の出力と、を有するアダプタポッドをさらに備える請求項1に記載の試験システム。
- 前記複数の追加のインターフェースコネクタが、前記診断インターフェースからの前記ラインを、DUTの入力ライン、DUTの出力ラインおよび電源ラインのうち少なくとも2つを含む異なるカテゴリに分けるように接続される、請求項6に記載の試験システム。
- 前記プローブカードが、前記診断インターフェースを支持するPCB、及び前記PCBからの前記チャネルを前記試験システムコントローラに接続するための試験ヘッドコネクタを含む、請求項1に記載の試験システム。
- 前記プローブカードが、
前記DUTのパッドに接続するための前記接点を形成するスプリングプローブを支持するスペーストランスフォーマと、
前記PCBの前記チャネルを前記スペーストランスフォーマの前記スプリングプローブに取り付けられた電気的接点に接続するインターポーザと、
をさらに備える、請求項8に記載の試験システム。 - 前記接点が弾性スプリングプローブを備える、請求項1に記載の試験システム。
- 試験システムコントローラと、
被試験デバイス(DUT)と電気的に接触するための手段と、
前記DUTと電気的に接触するための前記手段に、前記試験システムコントローラを接続するチャネルと、
試験信号をユーザインターフェースに提供するための前記チャネルの少なくとも一部分に接続するための手段と、
を備える試験システム。 - 前記DUTと電気的に接触するための前記手段が、前記チャネルを含み、ウエハ上の前記DUTにパッドを接触させるための前記チャネルに接続された接点を支持するプローブカードを備え、
前記チャネルの少なくとも一部分に接続するための前記手段が、前記チャネルの前記一部分に接続された入力と、ユーザインターフェースに接続するために構成された出力とを有するバッファを備える、請求項11に記載の試験システム。 - 前記接点が弾性スプリングプローブを含む、請求項12に記載の試験システム。
- 試験結果を前記ユーザインターフェースに提供するために、前記チャネルの少なくとも一部分に接続するための前記手段から受け取った試験信号を処理するための手段をさらに含む、請求項11に記載の試験システム。
- ウエハ試験システムにおいて診断インターフェースを提供するステップと、
前記診断インターフェースを使用して、試験システムコントローラと少なくとも1つの被試験デバイス(DUT)との間に提供される試験信号を監視するステップと、
を含むウエハ上の被試験デバイス(DUT)を試験する方法。 - 前記ウエハ試験システム内の信号上のノイズを最小限に抑えるために、前記ウエハ試験システムから前記診断インターフェースに提供される信号をバッファリングするステップをさらに含む、請求項15に記載の方法。
- 複数のユーザインターフェースに提供するために、前記診断インターフェース内で提供される信号を分けるステップをさらに含む、請求項15に記載の方法。
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