JP2008525956A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008525956A JP2008525956A JP2007547659A JP2007547659A JP2008525956A JP 2008525956 A JP2008525956 A JP 2008525956A JP 2007547659 A JP2007547659 A JP 2007547659A JP 2007547659 A JP2007547659 A JP 2007547659A JP 2008525956 A JP2008525956 A JP 2008525956A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- ion
- laser beam
- mbar
- sample surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
- H01J49/164—Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0927—Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0977—Reflective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0004—Imaging particle spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【選択図】図1
Description
Spenglerb, J. Am. Soc. Mass Spectrom., 2002, 13, 735-748 Heeren et.al, Anal. Chem., 2004, 76, 5339-5344
1つ以上のズームレンズ
を備える装置が提供される。
1つ以上のレーザビームを第1のレーザビームと第2のレーザビームとに分割する少なくとも1つのビームスプリッタと、
第1のレーザビームと第2のレーザビームとを少なくとも部分的若しくは全体的に重ね合わすか、又は少なくとも部分的若しくは全体的に再結合するオーバラップ手段と
を備える装置が提供される。
プログラム可能なミラーアレイ又はデジタルマイクロミラーアレイ
を備える装置が提供される。
質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とするレーザビームのサイズを制御するために1つ以上のズームレンズを使用すること、
を含む方法が提供される。
1つ以上のレーザビームを第1のレーザビームと第2のレーザビームとに分割すること、及び、
第1のレーザビームと第2のレーザビームとを重ね合わすこと、
を含む方法が提供される。
質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とするレーザビームのサイズを制御するためにプログラム可能なミラーアレイ又はデジタルマイクロミラーアレイを使用すること、
を含む方法が提供される。
Claims (83)
- レーザビームのサイズを制御する装置であって、
前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記装置は、
1つ以上のズームレンズを備える、レーザビームのサイズを制御する装置。 - 前記1つ以上のズームレンズは、第1のレンズを備える、請求項1に記載の装置。
- 前記第1のレンズの軸方向位置を変更又は変動するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項2に記載の装置。
- 前記1つ以上のズームレンズは、第2のレンズを備える、請求項2又は3に記載の装置。
- 前記第2のレンズの軸方向位置を変更又は変動するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項4に記載の装置。
- 前記1つ以上のズームレンズは、第3のレンズを備える、請求項4又は5に記載の装置。
- 前記第3のレンズの軸方向位置を変更又は変動するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項6に記載の装置。
- 前記1つ以上のズームレンズは、レーザビームを拡大及び/又は縮小するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上のズームレンズは、レーザビームのビーム発散を増加及び/又は低減するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上のズームレンズは、可変倍率ズームレンズ又はビーム拡大器を備える、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- レーザスポットのイメージ位置は、前記倍率を変更又は変化させる際に実質的に不変のままである、請求項10に記載の装置。
- レーザビームのサイズを制御する装置であって、
前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記装置は、
1つ以上のレーザビームを第1のレーザビームと第2のレーザビームとに分割する少なくとも1つのビームスプリッタと、
第1のレーザビームと第2のレーザビームとを少なくとも部分的若しくは全体的に重ね合わすか、又は少なくとも部分的若しくは全体的に再結合するオーバラップ手段とを備える、レーザビームのサイズを制御する装置。 - 前記第1のレーザビーム及び/又は前記第2のレーザビームは、実質的に一定、一様又は均一なフルエンス又は放射照度プロファイルを有する、請求項12に記載の装置。
- 前記オーバラップ手段は、1つ以上のミラーを備える、請求項12又は13に記載の装置。
- 前記オーバラップ手段は、前記第1のレーザビームと前記第2のレーザビームとを少なくとも部分的又は全体的に重ね合わせるか又は再結合させるように構成される少なくとも1つのビーム結合器を備える、請求項12、13又は14に記載の装置。
- 前記第1のビームと前記第2のビームとの重なり合い又は再結合の度合いを変動するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項12〜15のいずれかに記載の装置。
- 前記重なり合い又は再結合の度合いを変動するように構成及び適合される手段は、平行移動又は移動されるように構成される1つ以上のミラーを備える、請求項16に記載の装置。
- レーザスポットのイメージ位置は、重なり合い又は再結合の度合いを変更又は変化させる際に実質的に不変のままである、請求項16又は17に記載の装置。
- レーザビームのサイズを制御する装置であって、
前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記装置は、
プログラム可能なミラーアレイ又はデジタルマイクロミラーアレイ
を備える、レーザビームのサイズを制御する装置。 - 前記プログラム可能なミラーアレイ又は前記デジタルマイクロミラーアレイは、複数の個別制御可能なピクセル又はミラー素子を備える、請求項19に記載の装置。
- レーザ光を前記標的領域、試料表面又は標的プレートに方向付け及び/又は集束させるために前記ピクセル又はミラー素子を制御するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項20に記載の装置。
- レーザスポットのイメージ位置は、前記プログラム可能なミラーアレイ又はデジタルマイクロミラーアレイを変更又は変化させる際に実質的に不変のままである、請求項19、20又は21に記載の装置。
- 使用時に前記標的領域、試料表面又は標的プレートに当たる前記レーザビームの直径又はサイズは、(i)<1μm、(ii)1〜5μm、(iii)5〜10μm、(iv)10〜15μm、(v)15〜20μm、(vi)20〜25μm、(vii)25〜30μm、(viii)30〜35μm、(ix)35〜40μm、(x)40〜45μm、(xi)45〜50μm、(xii)50〜55μm、(xiii)55〜60μm、(xiv)60〜65μm、(xv)65〜70μm、(xvi)70〜75μm、(xvii)75〜80μm、(xviii)80〜85μm、(xix)85〜90μm、(xx)90〜95μm、(xxi)95〜100μm、(xxii)100〜120μm、(xxiii)120〜140μm、(xxiv)140〜160μm、(xxv)160〜180μm、(xxvi)180〜200μm、(xxvii)200〜250μm、(xxviii)250〜300μm、(xxix)300〜350μm、(xxx)350〜400μm、(xxxi)400〜450μm、(xxxii)450〜500μm、(xxxiii)500〜600μm、(xxxiv)600〜700μm、(xxxv)700〜800μm、(xxxvi)800〜900μm、(xxxvii)900〜1000μm、及び(xxxviii)>1000μmからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記レーザビームの直径又はサイズは、連続的に可変である、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 使用時に前記標的領域、試料表面又は標的プレートに当たる前記レーザビームは、前記レーザビームの直径、サイズ又は幅の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%にわたり、≦5%、≦10%、≦15%、≦20%、≦25%、≦30%、≦35%、≦40%、≦45%、≦50%、≦55%、≦60%、≦65%、≦70%、≦75%、≦80%、≦85%、≦90%、≦95%又は≦100%変化するレーザフルエンス又は均一性を有する、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記装置は、1つ以上のレーザをさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、パルスレーザを備える、請求項26に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、(i)<1ns、(ii)1〜2ns、(iii)2〜3ns、(iv)3〜4ns、(v)4〜5ns、(vi)5〜6ns、(vii)6〜7ns、(viii)7〜8ns、(ix)8〜9ns、(x)9〜10ns、(xi)10〜20ns、(xii)20〜30ns、(xiii)30〜40ns、(xiv)40〜50ns、(xv)50〜60ns、(xvi)60〜70ns、(xvii)70〜80ns、(xviii)80〜90ns、(xix)90〜100ns、(xx)100〜200ns、(xxi)200〜300ns、(xxii)300〜400ns、(xxiii)400〜500ns、(xxiv)500〜1000ns、及び(xxv)>1μsからなる群から選択されるパルス幅を有するように構成される、請求項27に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、(i)<1Hz、(ii)1〜5Hz、(iii)5〜10Hz、(iv)10〜15Hz、(v)15〜20Hz、(vi)20〜25Hz、(vii)25〜30Hz、(viii)30〜35Hz、(ix)35〜40Hz、(x)40〜45Hz、(xi)45〜50Hz、(xii)50〜100Hz、(xiii)100〜200Hz、(xiv)200〜300Hz、(xv)300〜400Hz、(xvi)400〜500Hz、(xvii)500〜1000Hz、(xviii)1〜2kHz、(xix)2〜3kHz、(xx)3〜4kHz、(xxi)4〜5kHz、(xxii)5〜10kHz、(xxiii)10〜15kHz、(xxiv)15〜20kHz、(xxv)20〜25kHz、(xxvi)25〜30kHz、(xxvii)30〜35kHz、(xxviii)35〜40kHz、(xxix)40〜45kHz、(xxx)45〜50kHz、及び(xxxi)>50kHzからなる群から選択されるレーザ繰り返し率を有する、請求項27又は28に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、連続レーザを備える、請求項26に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、ガスレーザを備える、請求項26〜30のいずれかに記載の装置。
- 前記ガスレーザは、(i)337nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成される窒素レーザ、及び(ii)10.6μmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成されるCO2レーザからなる群から選択される、請求項31に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、エキシマレーザを備える、請求項31に記載の装置。
- 前記エキシマレーザは、(i)308nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成されるXeClレーザ、(ii)248nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成されるKrFレーザ、及び(iii)193nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成されるArFレーザからなる群から選択される、請求項33に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、固体レーザを備える、請求項26〜30のいずれかに記載の装置。
- 前記固体レーザは、(i)Nd:YAGレーザ、(ii)355nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成される3倍周波数Nd:YAGレーザ、(iii)266nmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成される4倍周波数Nd:YAGレーザ、及び(iv)2.94μmの波長を有するレーザ放射を出射するように構成されるEr:YAGレーザからなる群から選択される、請求項35に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、半導体レーザを備える、請求項26〜30のいずれかに記載の装置。
- 前記半導体レーザは、(i)GaN、(ii)AlN、(iii)InN、(iv)ZnSe、(v)GaAs、(vi)GaP、(vii)Si、(viii)AlGaN、(ix)InGaN、(x)AlGaInN、(xi)GaAlN、(xii)AlInGaN、(xiii)AlGaAs、(xiv)InGaAsP、(xv)GaAsP、(xvi)GaAlAs、(xvii)ZnCdSe、(xviii)SiC、及び(xix)InGaAsからなる群から選択される、請求項37に記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、(i)<100nm、(ii)100〜120nm、(iii)120〜140nm、(iv)140〜160nm、(v)160〜180nm、(vi)180〜200nm、(vii)200〜220nm、(viii)220〜240nm、(ix)240〜260nm、(x)260〜280nm、(xi)280〜300nm、(xii)300〜320nm、(xiii)320〜340nm、(xiv)340〜360nm、(xv)360〜380nm、(xvi)380〜400nm、(xvii)400〜500nm、(xviii)500〜600nm、(xix)600〜700nm、(xx)700〜800nm、(xxi)800〜900nm、(xxii)900〜1000nm、(xxiii)1000〜1100nm、(xxiv)1100〜1200nm、(xxv)1200〜1300nm、(xxvi)1300〜1400nm、及び(xxvii)1400〜1500nmからなる群から選択される波長を有するレーザ放射を出射するように構成される、請求項26〜38のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、(i)1.5〜2.0μm、(ii)2.0〜2.5μm、(iii)2.5〜3.0μm、(iv)3.0〜3.5μm、(v)3.5〜4.0μm、(vi)4.0〜4.5μm、(vii)4.5〜5.0μm、(viii)5.0〜5.5μm、(ix)5.5〜6.0μm、(x)6.0〜6.5μm、(xi)6.5〜7.0μm、(xii)7.0〜7.5μm、(xiii)7.5〜8.0μm、(ix)8.0〜8.5μm、(x)8.5〜9.0μm、(xi)9.0〜9.5μm、(xii)9.5〜10.0μm、(xiii)10.0〜10.5μm、(xiv)10.5〜11.0μm、及び(xv)>11.0μmからなる群から選択される波長を有するレーザ放射を出射するように構成される、請求項26〜39のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上のレーザは、(i)<0.1eV、(ii)0.1〜0.5eV、(iii)0.5〜1.0eV、(iv)1.0〜1.5eV、(v)1.5〜2.0eV、(vi)2.0〜2.5eV、(vii)2.5〜3.0eV、(viii)3.0〜3.5eV、(ix)3.5〜4.0eV、(x)4.0〜4.5eV、(xi)4.5〜5.0eV、(xii)5.0〜5.5eV、(xiii)5.5〜6.0eV、(xiv)6.0〜6.5eV、(xv)6.5〜7.0eV、(xvi)7.0〜7.5eV、(xvii)7.5〜8.0eV、(xviii)8.0〜8.5eV、(xix)8.5〜9.0eV、(xx)9.0〜9.5eV、(xxi)9.5〜10.0eV、(xxii)10.0〜10.5eV、(xxiii)10.5〜11.0eV、(xxiv)11.0〜11.5eV、(xxv)11.5〜12.0eV、(xxvi)12.0〜12.5eV、(xxvii)12.5〜13.0eV、(xxviii)13.0〜13.5eV、(xxix)13.5〜14.0eV、(xxx)14.0〜14.5eV、(xxxi)14.5〜15.0eV、(xxxii)15.0〜15.5eV、(xxxiii)15.5〜16.0eV、(xxxiv)16.0〜16.5eV、(xxxv)16.5〜17.0eV、(xxxvi)17.0〜17.5eV、(xxxvii)17.5〜18.0eV、(xxxviii)18.0〜18.5eV、(xxxix)18.5〜19.0eV、(xl)19.0〜19.5eV、(xli)19.5〜20.0eV、及び(xlii)>20.0eVからなる群から選択される光子エネルギーを有するレーザ放射を出射するように構成される、請求項26〜40のいずれかに記載の装置。
- レーザビームの強度を調節又は低減する減衰器をさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 真空チャンバをさらに備え、前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、前記真空チャンバ内に位置する、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記真空チャンバは、使用時にレーザビームが透過するウィンドウを備える、請求項43に記載の装置。
- レーザビームを前記標的領域、試料表面又は標的プレートへ方向付ける1つ以上のミラーをさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- レーザビームを前記標的領域、試料表面又は標的プレートへ集束する集束レンズをさらに備える、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記集束レンズは、(i)<5mm、(ii)5〜10mm、(iii)10〜15mm、(iv)15〜20mm、(v)20〜25mm、(vi)25〜30mm、(vii)30〜35mm、(viii)35〜40mm、(ix)40〜45mm、(x)45〜50mm、及び(xi)>50mmからなる群から選択される焦点距離を有する、請求項46に記載の装置。
- 前記集束レンズは、アクロマートダブレット又は非球面レンズを備える、請求項46又は47に記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、(i)薄い組織切片、(ii)単一セル、(iii)固定化タンパク質を含む生物活性表面、(iv)微量沈殿HPLC分画、(v)無傷な生物学的セル又は生物学的試料の一部、(vi)親和性捕獲基材、(vii)抗体捕獲基材、(viii)1つ以上の溶解セル又は生物学的試料、(ix)血漿沈殿物、及び(x)血清沈殿物からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、2Dゲル又は2Dゲルの電気ブロットを含む、請求項1〜48のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、1つ以上の固体マトリックス−検体沈殿物を有する、請求項1〜48のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上の固体マトリックス−検体沈殿物は、プレコート標的スポット上での(i)乾燥液滴、(ii)真空乾燥、(iii)破砕結晶、(iv)高速蒸発、(v)重畳、(vi)サンドイッチ、(vii)スピンコーティング、(viii)低速結晶化、(ix)エレクトロスプレー、及び(x)試料沈殿からなる群から選択される試料調製方法によって形成される、請求項51に記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、液体マトリックス又は不溶性試料を備える、請求項1〜48のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、固体支持体を備える、請求項1〜48のいずれかに記載の装置。
- 前記固体支持体は、多孔質シリコンを含む、請求項54に記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートの下流に配置される抽出レンズ又はイオンオプティカル構成体をさらに備え、前記抽出レンズ又はイオンオプティカル構成体は、前記標的領域、試料表面又は標的プレートからイオンを加速、引き寄せ、又は抽出するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記イオン源は、マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源を含む、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記イオン源は、レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源を含む、請求項1〜56のいずれかに記載の装置。
- 前記イオン源は、シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源を含む、請求項1〜56のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、(i)>10-7mbar、(ii)>10-6mbar、(iii)>10-5mbar、(iv)>10-4mbar、(v)>10-3mbar、(vi)>10-2mbar、(vii)>0.1mbar、(viii)>1mbar、(ix)>10mbar、(x)>100mbar、及び(xi)>1000mbarからなる群から選択される圧力に維持される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、(i)<10-7mbar、(ii)<10-6mbar、(iii)<10-5mbar、(iv)<10-4mbar、(v)<10-3mbar、(vi)<0.01mbar、(vii)<0.1mbar、(viii)<1mbar、(ix)<10mbar、(x)<100mbar、及び(xi)<1000mbarからなる群から選択される圧力に維持される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 前記標的領域、試料表面又は標的プレートは、(i)10-7〜10-6mbar、(ii)10-6〜10-5mbar、(iii)10-5〜10-4mbar、(iv)10-4〜10-3mbar、(v)10-3〜10-2mbar、(vi)10-2〜10-1mbar、(vii)0.1〜1mbar、(viii)1〜10mbar、(ix)10〜100mbar、及び(x)100〜1000mbarからなる群から選択される圧力に維持される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- オペレーションモードにおいて、前記装置は、イオン源の標的領域、試料表面又は標的プレートをレーザビームの標的とするように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- オペレーションモードにおいて、前記装置は、イオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレートをレーザビームの標的とするように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
- 先行する請求項のいずれかに記載の装置を備える質量分析計。
- 第1の電気フィールド領域をさらに備える、請求項65に記載の質量分析計。
- 第1のフィールドフリー領域をさらに備える、請求項65又は66に記載の質量分析計。
- 前記第1のフィールドフリー領域は、前記第1の電気フィールド領域の下流に配置される、請求項67に記載の質量分析計。
- 第2の電気フィールド領域をさらに備える、請求項66、67又は68に記載の質量分析計。
- 第2のフィールドフリー領域をさらに備える、請求項69に記載の質量分析計。
- 前記第2のフィールドフリー領域は、前記第2の電気フィールド領域の下流に配置される、請求項70に記載の質量分析計。
- 衝突、フラグメンテーション又は反応デバイスをさらに備える、請求項65〜71のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーション又は反応デバイスは、衝突誘起解離(「CID」)によってイオンをフラグメンテーションするように構成される、請求項72に記載の質量分析計。
- 前記衝突、フラグメンテーション又は反応デバイスは、(i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子衝突又は衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(vii)赤外放射誘起解離デバイス、(viii)紫外放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ(nozzle-skimmer)インターフェースフラグメンテーションデバイス、(x)イオン源フラグメンテーションデバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xii)熱又は温度源フラグメンテーションデバイス、(xiii)電気フィールド誘起フラグメンテーションデバイス、(xiv)磁気フィールド誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)酵素消化又は酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−準安定イオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−準安定分子反応デバイス、及び(xxvii)イオンを反応させて付加物又は生成物イオンを形成するイオン−準安定原子反応デバイスからなる群から選択される、請求項72に記載の質量分析計。
- イオンがポストソース分解(「PSD」)によってフラグメンテーションするようにさせるか及び/又はそれを可能にさせる手段をさらに備える、請求項65〜74のいずれかに記載の質量分析計。
- 特定の親又は前駆体イオンを選択する静電エネルギー分析器及び/又は質量フィルタ及び/又はイオンゲートをさらに備える、請求項65〜75のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量フィルタは、扇形磁気フィールド質量フィルタ、RF四重極質量フィルタ、ウィーン(Wien)フィルタ、又は直交加速度飛行時間質量フィルタを備える、請求項76に記載の質量分析計。
- 質量分析器をさらに備える、請求項65〜77のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量分析器は、(i)四重極質量分析器、(ii)2D又は直線四重極質量分析器、(iii)ポール又は3D四重極質量分析器、(iv)ペニングトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)扇形磁気フィールド質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)静電又はオービトラップ質量分析器、(x)フーリエ変換静電又はオービトラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間質量分析器、(xiii)軸方向加速飛行時間質量分析器、(xiv)直交加速飛行時間質量分析器、及び(xv)質量顕微鏡無収差(stigmatic)イメージング飛行時間質量分析器からなる群から選択される、請求項78に記載の質量分析計。
- レーザビームのサイズを制御する方法であって、前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記方法は、
質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とするレーザビームのサイズを制御するために1つ以上のズームレンズを使用すること、
を含む、レーザビームのサイズを制御する方法。 - レーザビームのサイズを制御する方法であって、前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記方法は、
1つ以上のレーザビームを第1のレーザビームと第2のレーザビームとに分割すること、及び、
第1のレーザビームと第2のレーザビームとを重ね合わすこと、
を含む、レーザビームのサイズを制御する方法。 - レーザビームのサイズを制御する方法であって、前記レーザビームは、使用時に、質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とし、前記方法は、
質量分析計のイオン源又はイオンイメージングデバイス内に配置された標的領域、試料表面又は標的プレートを標的とするレーザビームのサイズを制御するためにプログラム可能なミラーアレイ又はデジタルマイクロミラーアレイを使用すること、
を含む、レーザビームのサイズを制御する方法。 - 請求項80、81又は82に記載の方法を含む質量分析方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0428185.3 | 2004-12-23 | ||
GBGB0428185.3A GB0428185D0 (en) | 2004-12-23 | 2004-12-23 | Mass spectrometer |
US64195905P | 2005-01-07 | 2005-01-07 | |
US60/641,959 | 2005-01-07 | ||
PCT/GB2005/005054 WO2006067495A2 (en) | 2004-12-23 | 2005-12-23 | Mass spectrometer |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008525956A true JP2008525956A (ja) | 2008-07-17 |
JP2008525956A5 JP2008525956A5 (ja) | 2009-02-12 |
JP5031580B2 JP5031580B2 (ja) | 2012-09-19 |
Family
ID=36423586
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007547659A Expired - Fee Related JP5031580B2 (ja) | 2004-12-23 | 2005-12-23 | 質量分析計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1829081B1 (ja) |
JP (1) | JP5031580B2 (ja) |
CA (1) | CA2590009C (ja) |
WO (1) | WO2006067495A2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007257851A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
CN102830492A (zh) * | 2012-09-13 | 2012-12-19 | 电子科技大学 | 一种提高光束占空比的锥型装置 |
JP2017054784A (ja) * | 2015-09-11 | 2017-03-16 | 株式会社東芝 | 質量分析装置 |
KR20200110709A (ko) * | 2018-02-15 | 2020-09-24 | 케이엘에이 코포레이션 | 비스듬한 입사각에서의 샘플 표면 상에서의 검사 빔 성형 |
JPWO2021019659A1 (ja) * | 2019-07-29 | 2021-02-04 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4614000B2 (ja) * | 2006-04-07 | 2011-01-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP4984900B2 (ja) * | 2007-01-12 | 2012-07-25 | 株式会社島津製作所 | ポリマー被覆微粒子を用いる質量分析法 |
US8067730B2 (en) | 2007-07-20 | 2011-11-29 | The George Washington University | Laser ablation electrospray ionization (LAESI) for atmospheric pressure, In vivo, and imaging mass spectrometry |
US7964843B2 (en) | 2008-07-18 | 2011-06-21 | The George Washington University | Three-dimensional molecular imaging by infrared laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
US8901487B2 (en) | 2007-07-20 | 2014-12-02 | George Washington University | Subcellular analysis by laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
DE102007060438B4 (de) | 2007-12-14 | 2011-09-22 | Bruker Daltonik Gmbh | Untersuchung einzelner biologischer Zellen |
US8829426B2 (en) | 2011-07-14 | 2014-09-09 | The George Washington University | Plume collimation for laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
JP6642702B2 (ja) * | 2016-04-18 | 2020-02-12 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
GB201705981D0 (en) * | 2017-04-13 | 2017-05-31 | Micromass Ltd | MALDI target plate |
CN113543451B (zh) * | 2020-04-13 | 2023-03-24 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 双束激光驱动离子加速装置 |
GB202400523D0 (en) | 2023-02-23 | 2024-02-28 | Bruker Daltonics Gmbh & Co Kg | Method and device for spectrometric analysis |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001041931A (ja) * | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Hitachi Ltd | レーザ質量分析計 |
JP2004170930A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-06-17 | Olympus Corp | マイクロダイセクション装置および方法 |
US6762405B1 (en) * | 2003-05-30 | 2004-07-13 | Photonics Industries International, Inc. | Matrix assisted laser ionization system |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3347129A (en) * | 1964-10-29 | 1967-10-17 | Wilhelm J Lohninger | Photoelectric range finder |
JPH10258383A (ja) * | 1997-03-14 | 1998-09-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 線状レーザビーム光学系 |
US6707031B1 (en) * | 1999-05-13 | 2004-03-16 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Laser optical bench for laser desorption ion sources and method of use thereof |
IT1316395B1 (it) * | 2000-04-28 | 2003-04-10 | Enea Ente Nuove Tec | Sistema ottico per la omogeneizzazione spaziale di fasci di luce, conuscita a sezione variabile. |
US6566627B2 (en) * | 2000-08-11 | 2003-05-20 | Westar Photonics, Inc. | Laser method for shaping of optical lenses |
EP1810300A4 (en) * | 2004-02-12 | 2010-06-09 | Texas A & M Univ Sys | ADVANCED OPTICS FOR LASER PROFILES SET QUICKLY IN ANALYTIC SPECTROMETRY |
-
2005
- 2005-12-23 JP JP2007547659A patent/JP5031580B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-23 EP EP05821683.9A patent/EP1829081B1/en active Active
- 2005-12-23 CA CA2590009A patent/CA2590009C/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-23 WO PCT/GB2005/005054 patent/WO2006067495A2/en active Application Filing
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001041931A (ja) * | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Hitachi Ltd | レーザ質量分析計 |
JP2004170930A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-06-17 | Olympus Corp | マイクロダイセクション装置および方法 |
US6762405B1 (en) * | 2003-05-30 | 2004-07-13 | Photonics Industries International, Inc. | Matrix assisted laser ionization system |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007257851A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
CN102830492A (zh) * | 2012-09-13 | 2012-12-19 | 电子科技大学 | 一种提高光束占空比的锥型装置 |
JP2017054784A (ja) * | 2015-09-11 | 2017-03-16 | 株式会社東芝 | 質量分析装置 |
US10553416B2 (en) | 2015-09-11 | 2020-02-04 | Toshiba Memory Corproation | Mass spectrometer performing mass spectrometry for sample with laser irradiation |
KR20200110709A (ko) * | 2018-02-15 | 2020-09-24 | 케이엘에이 코포레이션 | 비스듬한 입사각에서의 샘플 표면 상에서의 검사 빔 성형 |
JP2021514057A (ja) * | 2018-02-15 | 2021-06-03 | ケーエルエー コーポレイション | サンプル表面への斜入射角での検査光整形 |
JP7138182B2 (ja) | 2018-02-15 | 2022-09-15 | ケーエルエー コーポレイション | サンプル表面への斜入射角での検査光整形 |
KR102466580B1 (ko) | 2018-02-15 | 2022-11-11 | 케이엘에이 코포레이션 | 비스듬한 입사각에서의 샘플 표면 상에서의 검사 빔 성형 |
JPWO2021019659A1 (ja) * | 2019-07-29 | 2021-02-04 | ||
JP7147990B2 (ja) | 2019-07-29 | 2022-10-05 | 株式会社島津製作所 | イオン化装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2590009A1 (en) | 2006-06-29 |
CA2590009C (en) | 2013-11-26 |
EP1829081B1 (en) | 2018-12-05 |
WO2006067495A3 (en) | 2007-05-18 |
EP1829081A2 (en) | 2007-09-05 |
WO2006067495A2 (en) | 2006-06-29 |
JP5031580B2 (ja) | 2012-09-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5031580B2 (ja) | 質量分析計 | |
US7851744B2 (en) | Mass spectrometer | |
US6683301B2 (en) | Charged particle trapping in near-surface potential wells | |
US6953928B2 (en) | Ion source and methods for MALDI mass spectrometry | |
US7385192B2 (en) | Laser system for the ionization of a sample by matrix-assisted laser desorption in mass spectrometric analysis | |
EP1181707B1 (en) | Maldi ion source with a pulse of gas, apparatus and method for determining molecular weight of labile molecules | |
CA2597252C (en) | Ion sources for mass spectrometry | |
WO2013127262A1 (zh) | 一种低压下产生分析用离子的方法和装置 | |
US20110139977A1 (en) | Matrix-assisted laser desorption with high ionization yield | |
EP1880405B1 (en) | Methods of operating ion optics for mass spectrometry | |
JP2002502086A (ja) | 表面からの質量分光測定 | |
CA2840227A1 (en) | Maldi imaging and ion source | |
US7351959B2 (en) | Mass analyzer systems and methods for their operation | |
US6707039B1 (en) | AP-MALDI target illumination device and method for using an AP-MALDI target illumination device | |
US10991563B2 (en) | Molecular imaging of biological samples with sub-cellular spatial resolution and high sensitivity | |
JP2009168673A (ja) | イオン化方法および装置 | |
GB2453407A (en) | Matrix-assisted laser desorption with high ionization yield | |
Soltwisch | Instrumentation for MALDI-MSI–Part I Ionization Sources and Design | |
Klerk | Imaging mass spectrometry of polymeric materials |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081218 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111018 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120110 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120417 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120501 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120626 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120627 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5031580 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150706 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |