JP2008525770A - 選択式ガスセンサ - Google Patents

選択式ガスセンサ Download PDF

Info

Publication number
JP2008525770A
JP2008525770A JP2007547430A JP2007547430A JP2008525770A JP 2008525770 A JP2008525770 A JP 2008525770A JP 2007547430 A JP2007547430 A JP 2007547430A JP 2007547430 A JP2007547430 A JP 2007547430A JP 2008525770 A JP2008525770 A JP 2008525770A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
casing
diaphragm
glass plate
gas sensor
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007547430A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5038904B2 (ja
Inventor
グローセ ブライ ヴェルナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Inficon GmbH
Original Assignee
Inficon GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inficon GmbH filed Critical Inficon GmbH
Publication of JP2008525770A publication Critical patent/JP2008525770A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5038904B2 publication Critical patent/JP5038904B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
    • G01M3/205Accessories or associated equipment; Pump constructions

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

選択式ガスセンサは、例えばヘリウム等のテストガスの存在を検出するために役立ち、排気されたケーシング(10)を有している。このケーシングは、ガスを選択的に透過させるダイヤフラム(22)によって閉鎖されている。このダイヤフラム(22)は、のぞきガラスの構成部材である。こののぞきガラスには、ガラス板(20)に孔が設けられており、この孔は、ケイ素材料から成るダイヤフラム(22)によって閉鎖されている。ダイヤフラム壁(14)のフレーム(15)は、軟金属シール(16)により高真空に適用可能にケーシング(10)に結合されている。ケーシング(10)は同時に、ガス圧センサ(31)の複数の電極の内の1つを形成している。

Description

本発明は、排気されたケーシングを備えた選択式ガスセンサであって、前記ケーシングが、選択的に透過性のダイヤフラムによって閉鎖されており且つ少なくとも2つの電極を備えたガス圧センサを有している形式のものに関する。
ヨーロッパ特許第0831964号明細書(Leybold−Vakuum GmbH)に記載された選択式ガスセンサは排気されたケーシングを有しており、このケーシングはダイヤフラムにより閉鎖されている。このダイヤフラムは、シリコンウェーハに配置された、石英、石英ガラス、パイレックスガラス、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又はシリコンカーバイド等のケイ素材料から成っている。前記シリコンウェーハは、窓の形の切欠きを有しており、この切欠きにはヒータ壁がダイヤフラムに沿って配置されている。このようなダイヤフラムは、ヘリウム又は水素等の軽量ガスに関しては選択的に透過性であり、その他のガスについては非透過性である。ダイヤフラムをガスが通過することにより、最初は高真空が支配しているケーシング内の圧力が高められる。ダイヤフラムを除いたケーシングのその他の壁は真空密である。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第10031882号明細書(Leybold−Vakuum GmbH)に記載されたヘリウム又は水素用のセンサは、選択的に透過性のダイヤフラムの原理を用いている。センサのケーシングはガラスから成っており、選択的に働く通流部はケイ素材料から成るダイヤフラムであり、このダイヤフラムには、開口の設けられたシリコンウェーハとヒータとが配置されている。ケーシング内には、このケーシングに侵入するガスの全圧に反応するペニング装置又はマグネトロンの形のガス圧センサが位置している。このようにして、質量分光計の代わりに比較的簡単なガス圧センサを使用することができる。このガス圧センサは、ケーシングに配置された少なくとも2つの電極と、付加的にケーシング外に配置された磁石とを有しており、この磁石はケーシングを貫通する磁界を生ぜしめる。ガラスケーシングは衝撃に敏感で壊れやすい。ホウケイ酸ガラスから成るケーシングは、ダイヤフラムのケイ素とほぼ同じ熱的な膨張係数を有しているので、両者は陰極ボンディング若しくは拡散溶接により結合可能である。ケーシングは内部を支配する高真空に基づき、ガス流出を生ぜしめ延いては検出限度を低下させる恐れのあるシール又は接着剤を有していなくてよい。
本発明の課題は、丈夫なケーシングを有しており延いては機械的に強い選択式ガスセンサを提供することである。
本発明によるガスセンサは請求項1に規定されている。これによると、ケーシングが金属から成っており且つ金属のフレームを備えたダイヤフラム壁を有しており、前記フレームにガラス板がボンディングされており、該ガラス板が孔を有しており、該孔がダイヤフラムによって閉鎖されている。
当該ガスセンサは、原則としてしばしば真空技術に用いられるのぞきガラスを使用する。この場合ガラス窓は、例えばレーザ又はウォータジェット切断により製作される孔を備えているように変更されている。この場合、石英ウインドウチップから成る選択的に透過性のダイヤフラムは、ガラスに陽極ボンディングされている。ガラス板を支持する金属のフレームは、エラストマシール無しでUHVが得られるようにケーシングに固定可能、例えば溶接可能である。前記UHVは超高真空の意味である。
ケーシング内に配置されたガス圧センサは、前掲のドイツ連邦共和国特許出願公開第10013882号明細書に記載されたような、少なくとも2つの電極、有利にはペニング測定子又はマグネトロンを有する冷陰極測定子である。本発明ではケーシングが金属製なので、測定子の複数の電極の内の1つを形成することに適している。つまり、金属のケーシングによって、さもなければケーシング内に配置されていなければならない少なくとも1つの電極を節約することができる。有利には、ケーシングは非磁性材料から成っているので、ケーシングの外側に配置された磁気装置の磁界がケーシングに侵入可能である。ケーシング用の材料としては、非磁性の特殊鋼が適している。
本発明の有利な構成では、ケーシング内に配置された少なくとも1つの電極が、ケーシングに接して設けられたTRIAX案内部と結合されている。ケーシングは導電性の材料から成っているので、有利には遮蔽部材の設けられた絶縁性の電流案内部が必要とされている。
本発明の特別な利点は、全般的にあらゆる種類の、超高真空に適したのぞきガラスを、ダイヤフラム壁として使用することができるという点にある。のぞきガラスは、ガラス板が孔を有しており、この孔の縁部に、ケイ素材料から成るダイヤフラムがボンディングされるように変更されているに過ぎない。
以下に、本発明の実施例を図面につき詳しく説明する。
図1に示したガスセンサは円筒形のケーシング10を有しており、このケーシング10の一方の端部にはフランジ11が設けられており、ケーシング10の他方の端部は、後で説明する電流案内部13の配置された底部12を形成している。ケーシング10は、非磁性の特殊鋼から成っている。
ケーシングの開いた端部は、ダイヤフラム壁14によって閉鎖されている。このダイヤフラム壁14は、銅製の軟金属シール16を介してケーシング10のフランジ11と結合された、フレーム15又はフランジを有している。前記結合は、対応する孔17に挿入され且つ緊締された複数のねじによって行われる。
フレーム15もやはり特殊鋼から成っている。フレーム15は中心に貫通開口18を有しており、この貫通開口18の、ケーシング10とは反対の側の端部は、ホウケイ酸ガラス製のガラス板20によって閉鎖されている。このガラス板20は中央に孔21を有しており、この孔21は、ケイ素材料から成る、選択的にガスを透過させるダイヤフラム22により被覆されている。
フレーム15とガラス板20との間で異なる膨張係数を適合させるためには、貫通開口18の壁に、KOVAR(鉄/ニッケル合金)から成るリング23が内張りされている。このリング23は外側の端部に、半径方向で突出したフランジ24を有しており、このフランジ24は、フレーム15の切欠き25に座着し且つこの切欠き25の底部を被覆している。切欠き25にはガラス板20が沈降配置されており、この場合、このガラス板20はその縁部で以てフランジ24に接触している。リング23は、フレーム15とガラス板20の両方に熱的に結合されている。
ガラス板20には、レーザ又はウォータジェット技術により孔21が穿孔されている。この場合、この孔21を巡る外側の面は、光学的に反射するクオリティーにまで磨かれる。その後、例えば前掲のヨーロッパ特許第0831964号明細書に記載の、ヘリウム透過性のウインドウを備えたシリコンチップであるダイヤフラム22が、陽極ボンディングによりガラス面に高真空密にボンディングされる。このためには、ガラス板20とダイヤフラム22とが、200〜400℃の温度に加熱される。この場合、フレーム15及びスリーブ23を介して電気的な直流電圧が印加され、これにより、ダイヤフラム22とガラス板20との間で電荷担体が交換されて、化学結合が生ぜしめられる。これにより、ガラス‐ダイヤフラムの移行部に設けられるエラストマシールを完全に回避することができる。ガラス板20に設けられた孔21の形状は、ダイヤフラム22の形状に適合されているが、ダイヤフラム22は孔21よりも大きいので、一方の縁部で以てガラス板20に載着している。
ケーシング10は排気された室30を取り囲んでおり、この室30内は超高真空が支配している。ケーシング10は、室30内を支配するガス圧に対応した電気信号を送る、ガス圧センサの構成部材である。ガス圧センサ31は、冷陰極測定システム(本実施例ではマグネトロン)を形成している。陰極はケーシング10の壁32から成っており、陽極33は、ケーシング10内に同軸的に配置され且つ電流案内部13から導出されている。ケーシング10の外側には、このケーシング10を取り囲んで磁気装置34が設けられており、この磁気装置34は、点線で示した永久磁界を室30内に発生させる。
ケーシング10の底部12には円筒形の付加部40が位置しており、この付加部40は電流案内部13を収容している。この電流案内部13は、陽極33に対して同軸的に配置された遮蔽リング41を有している。陽極33と遮蔽リング41との間には、環状のセラミック壁42が位置している。更に、別の同軸的なセラミック壁43が、遮蔽リング41と付加部40との間に位置している。当該の電流案内部は、TRIAX案内部と呼ばれる。遮蔽リング41はアース電位に接続されている。当該のシステムは、極小放電電流の測定を、測定アースへの漏れ電流無しで可能にする。
図1に示した装置の測定システムは、基本的に前掲のドイツ連邦共和国特許出願公開第10031882号明細書に記載されたマグネトロン測定システムに対応しているが、この場合は陰極としてケーシング壁32が使用される。択一的に、測定システムをペニング測定システムとして形成する可能性がある。このペニング測定システムもやはり、前掲のドイツ連邦共和国特許出願公開第10031882号明細書に記載されており、この場合は、複数のプレート状の陰極の内の少なくとも1つが、ケーシングによって形成される。この場合、ケーシングは直方体状であるのが望ましい。ケーシングを、互いに絶縁された2つのハーフケーシングから製作し、両ハーフケーシングをそれぞれ陰極として形成する可能性もある。
図2には、ダイヤフラム壁14の択一的な実施例が示されている。ケーシングに取付け可能なフランジを形成するフレーム15内には鋼製のスリーブ45が座着しており、このスリーブ45はフレーム15に溶接されている。スリーブ45の外側の端部はシャープになっているので、環状の先端部が形成される。この先端部にガラス板20が熱的に結合されている。このガラス板20は、この実施例でも孔21を有しており、この孔21は、ケイ素材料から成る、選択的にヘリウムを透過させるダイヤフラム22によって被覆されている。第1実施例において熱的な適合のために役立つリング23は、この実施例では不要である。
ダイヤフラム22は、ガラス板20にボンディングされた、多孔質のケイ素から成る支持体から成っている。この支持体は、例えばヘリウム等のテストガスしか選択的に透過させない薄い層によって被覆されている。ケイ素材料から成るダイヤフラムは、その熱的な膨張係数を、やはりケイ素ベースのガラス板20のガラスに適合されている。
ダイヤフラム壁の第1実施例を備えたガスセンサの縦断面図である。 ダイヤフラム壁の択一的な実施例を示した図である。

Claims (8)

  1. 排気されたケーシング(10)を備えた選択式ガスセンサであって、前記ケーシングが、選択的に透過性のダイヤフラム(22)によって閉鎖されており且つ少なくとも2つの電極を備えたガス圧センサ(31)を有している形式のものにおいて、
    ケーシング(10)が、金属製であり且つ金属のフレーム(15)を備えたダイヤフラム壁(14)を有しており、前記フレームにガラス板(20)がボンディングされており、該ガラス板(20)が、ダイヤフラム(22)により閉鎖された孔(21)を有していることを特徴とする、選択式ガスセンサ。
  2. ケーシング(10)が少なくとも1つの電極を形成している、請求項1記載のガスセンサ。
  3. ガラス板(20)が、鉄/ニッケル合金から成る薄板(23)と一緒に金属製のフレーム(15)にボンディングされている、請求項1又は2記載のガスセンサ。
  4. フレーム(15)が、ケーシング(10)のフランジ(11)に軟金属シール(16)を介して接続されたフランジである、請求項1から3までのいずれか1項記載のガスセンサ。
  5. ケーシング(10)に配置された少なくとも1つの電極(33)が、ケーシングに設けられたTRIAX案内部(13)に結合されている、請求項1から4までのいずれか1項記載のガスセンサ。
  6. ガラス板(20)が、金属のフレーム(15)の先のとがった縁部(46)に直接に陽極ボンディングされている、請求項1から5までのいずれか1項記載のガスセンサ。
  7. ガス圧センサがペニング測定子を有している、請求項1から6までのいずれか1項記載のガスセンサ。
  8. ガス圧センサ(31)がマグネトロンを有している、請求項1から6までのいずれか1項記載のガスセンサ。
JP2007547430A 2004-12-23 2005-11-29 選択式ガスセンサ Active JP5038904B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004062101.2 2004-12-23
DE102004062101A DE102004062101A1 (de) 2004-12-23 2004-12-23 Selektiver Gassensor
PCT/EP2005/056317 WO2006069876A1 (de) 2004-12-23 2005-11-29 Selektiver gassensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008525770A true JP2008525770A (ja) 2008-07-17
JP5038904B2 JP5038904B2 (ja) 2012-10-03

Family

ID=35709204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007547430A Active JP5038904B2 (ja) 2004-12-23 2005-11-29 選択式ガスセンサ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7793534B2 (ja)
EP (1) EP1828761B1 (ja)
JP (1) JP5038904B2 (ja)
CN (1) CN101084433B (ja)
DE (1) DE102004062101A1 (ja)
WO (1) WO2006069876A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013524228A (ja) * 2010-04-09 2013-06-17 インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ガス選択膜およびその製造方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004062101A1 (de) 2004-12-23 2006-07-13 Inficon Gmbh Selektiver Gassensor
DE102008011686A1 (de) * 2008-02-28 2009-09-03 Inficon Gmbh Heliumsensor
GB2480451A (en) * 2010-05-18 2011-11-23 E2V Tech Electron tube rf output window
JP5204284B2 (ja) * 2010-11-12 2013-06-05 日本特殊陶業株式会社 ガスセンサ
US8511160B2 (en) * 2011-03-31 2013-08-20 Qualitrol Company, Llc Combined hydrogen and pressure sensor assembly
CA2874395A1 (en) 2012-05-24 2013-12-19 Douglas H. Lundy Threat detection system having multi-hop, wifi or cellular network arrangement of wireless detectors, sensors and sub-sensors that report data and location non-compliance, and enable related devices while blanketing a venue
DE102013114407A1 (de) * 2013-12-18 2015-06-18 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Drucksensor
CN104019946B (zh) * 2014-06-27 2016-05-25 常州普纳电子科技有限公司 用于玻璃封装件的气密性检漏装置
DE102021103897A1 (de) * 2021-02-18 2022-08-18 Infineon Technologies Ag Gassensor mit einem hohlraum und einer gasdurchlassstruktur mit einem selektiv gasdurchlässigem element
CN116593075B (zh) * 2023-07-19 2023-10-13 浙江朗德电子科技有限公司 一种氢气传感器检测单元、制备方法及检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0727648A (ja) * 1993-07-14 1995-01-31 Shinku Kagaku Kenkyusho:Kk 極高真空計
WO2003052371A1 (de) * 2001-12-18 2003-06-26 Inficon Gmbh Gasdurchlass mit selektiv wirkenden gasdurchtrittsflächen
JP2004502935A (ja) * 2000-06-30 2004-01-29 インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ヘリウムまたは水素のためのセンサ

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3855098A (en) * 1970-08-19 1974-12-17 Foxboro Co Ion-responsive electrode construction
US3867631A (en) * 1972-09-28 1975-02-18 Varian Associates Leak detection apparatus and inlet interface
US4270091A (en) * 1978-01-25 1981-05-26 Varian Associates, Inc. Apparatus and method for measuring pressures and indicating leaks with optical analysis
US4477778A (en) * 1982-03-15 1984-10-16 Lawrence Electronics Co. Hydrogen detector
CN1018780B (zh) * 1990-07-17 1992-10-21 穆宝贵 氢敏元件及制造法
EP0472767B1 (de) * 1990-08-30 1995-03-15 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Feststellen des Alkoholgehaltes oder des Heizwertes eines Gemischs
DE4326265A1 (de) 1993-08-05 1995-02-09 Leybold Ag Testgasdetektor, vorzugsweise für Lecksuchgeräte, sowie Verfahren zum Betrieb eines Testgasdetektors dieser Art
DE19521275A1 (de) 1995-06-10 1996-12-12 Leybold Ag Gasdurchlaß mit selektiv wirkender Durchtrittsfläche sowie Verfahren zur Herstellung der Durchtrittsfläche
GB9919906D0 (en) * 1999-08-24 1999-10-27 Central Research Lab Ltd Gas sensor and method of manufacture
US6682638B1 (en) * 1999-11-19 2004-01-27 Perkin Elmer Llc Film type solid polymer ionomer sensor and sensor cell
US6936147B2 (en) * 1999-11-19 2005-08-30 Perkinelmer Las, Inc. Hybrid film type sensor
US6660614B2 (en) * 2001-05-04 2003-12-09 New Mexico Tech Research Foundation Method for anodically bonding glass and semiconducting material together
US7131334B2 (en) * 2004-04-19 2006-11-07 Celerity, Inc. Pressure sensor device and method
DE102004062101A1 (de) 2004-12-23 2006-07-13 Inficon Gmbh Selektiver Gassensor

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0727648A (ja) * 1993-07-14 1995-01-31 Shinku Kagaku Kenkyusho:Kk 極高真空計
JP2004502935A (ja) * 2000-06-30 2004-01-29 インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ヘリウムまたは水素のためのセンサ
WO2003052371A1 (de) * 2001-12-18 2003-06-26 Inficon Gmbh Gasdurchlass mit selektiv wirkenden gasdurchtrittsflächen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013524228A (ja) * 2010-04-09 2013-06-17 インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ガス選択膜およびその製造方法
KR101811694B1 (ko) 2010-04-09 2018-01-25 인피콘 게엠베하 가스-선택적 멤브레인 및 그의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US7793534B2 (en) 2010-09-14
JP5038904B2 (ja) 2012-10-03
WO2006069876A1 (de) 2006-07-06
EP1828761B1 (de) 2012-08-22
EP1828761A1 (de) 2007-09-05
DE102004062101A1 (de) 2006-07-13
CN101084433B (zh) 2011-07-20
CN101084433A (zh) 2007-12-05
US20080164148A1 (en) 2008-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5038904B2 (ja) 選択式ガスセンサ
US7266991B2 (en) Sensor for helium or hydrogen
US3516283A (en) Methods and apparatus for measuring the densities of fluids by vibrating a hollow body surrounded by the fluid
US7441461B2 (en) Pressure pickup with temperature compensation
US8833160B2 (en) Sensor in which the sensor element is part of the sensor housing
JPH01182729A (ja) 圧力センサ
US6619131B2 (en) Combination pressure sensor with capacitive and thermal elements
JP2001242028A (ja) 圧力センサ
JP2012211869A (ja) 圧力センサ装置
CN101460820B (zh) 具有可加热的气体选择性渗透膜的气体传感器
JP2013019719A (ja) 火炎センサ
US5962791A (en) Pirani+capacitive sensor
US10585073B2 (en) Discharge ionization current detector
JP2008107203A (ja) X線検出器
JPH02280026A (ja) 半導体式圧力検出装置
JP3985072B2 (ja) 液面レベルスイッチ
US4203199A (en) Solid state sensor
JP3606829B2 (ja) 検出器コンデンサー及び真空フィードスルーの組合せ
JPS63122926A (ja) 圧電型圧力検出器
JP4356578B2 (ja) ガスセンサ
JPH09210826A (ja) 圧力変換器
JP2000214041A (ja) 圧力センサ
TW202338311A (zh) 隔膜壓力計及複合壓力計
JP3858604B2 (ja) レーザ発振装置
JP2000314717A (ja) リーク検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080826

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101227

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101228

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110125

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110727

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111027

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111108

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111128

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120120

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120420

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120427

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120607

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120706

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5038904

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250