JP2008299144A - ビーム照射装置およびレーザレーダ - Google Patents
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Abstract
【課題】レーザ光の走査領域を予め設定された矩形形状とすることができるビーム照射装置およびレーザレーダを提供する。
【解決手段】レーザ光源(半導体レーザ101)と、レーザ光源から出射されたレーザ光が入射されるミラー13と、ミラー13を第1の回動軸と当該第1の回動軸に垂直な第2の回動軸をもってそれぞれ第1および第2の方向に回動させる駆動機構(ミラーアクチュエータ100)とを備える。ここで、ミラー13の反射面は、第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で第1の方向にミラー13を回動させてレーザ光を走査させる場合に、レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう構成されている。
【選択図】図2
【解決手段】レーザ光源(半導体レーザ101)と、レーザ光源から出射されたレーザ光が入射されるミラー13と、ミラー13を第1の回動軸と当該第1の回動軸に垂直な第2の回動軸をもってそれぞれ第1および第2の方向に回動させる駆動機構(ミラーアクチュエータ100)とを備える。ここで、ミラー13の反射面は、第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で第1の方向にミラー13を回動させてレーザ光を走査させる場合に、レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう構成されている。
【選択図】図2
Description
本発明は、ビーム照射装置およびそれを搭載するレーザレーダに関するものである。
近年、走行時の安全性を高めるために、レーザレーダが家庭用乗用車等に搭載されている。レーザレーダには、レーザ光を車両前方に向けて照射するビーム照射装置が搭載されている。車両前方にレーザ光を照射したときの反射光の有無により障害物の有無が検出される。また、レーザ光の発光タイミングと反射光の受光タイミングの時間差から障害物までの距離が測定される。
ここで、ビーム照射装置には、予め設定されたターゲット領域内においてレーザ光を走査させるための手段が配されている。たとえば、以下の特許文献1、2には、レンズ駆動方式によるビーム走査機構が示されている。この方式は、ワイヤー等によって支持されたビーム走査用レンズを2次元駆動することにより、レーザ光をターゲット領域内において2次元方向に走査するものである。この方式によれば、信頼性の高いビーム走査を実現することができる。
しかし、この方式には、レンズおよびその駆動機構が大型化し、また、レンズ駆動に大きな推進力が必要になるとの課題がある。
レーザ光を走査させるための他の手段として、ジンバル方式によるアクチュエータが検討されている。この方式は、ビーム走査用のミラーを、互いに直交する2つの回転軸を軸として回動させることにより、レーザ光をターゲット領域内において2次元方向に走査させるものである。この方式によれば、上述のレンズ駆動方式に比べ、アクチュエータを小型化することができ、また、ミラー駆動に必要な推進力を小さくすることができる。
特開平11−83988号公報
国際公開第02/008818号パンフレット
一般に、ジンバル方式のアクチュエータでは、鉛直方向におけるミラーの回動位置を固定した状態で水平方向にミラーを回動させ、レーザ光を水平方向に走査させている。1ライン分の水平走査が終わると、鉛直方向にミラーを所定角度だけ回動させ、その後、ミラーを水平方向に回動して、次のラインの水平走査が行われる。この動作を繰り返すことにより、目標領域全体の走査が行われる。
しかしながら、上記のように、鉛直方向におけるミラーの回動位置を固定しながらミラーを水平方向に回動させると、走査領域は矩形形状とならず、左右方向または上下方向に歪んだ輪郭の形状となる。他方、レーザレーダでは、一般に、走査領域として矩形(横長長方形等)の領域が設定される。このため、上記のようにミラーを駆動する場合には、走査領域が所期の矩形形状とならず、このため、障害物の検出や距離の測定を適正に行い得ない惧れがある。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、レーザ光の走査領域を予め設定された矩形形状とすることができるビーム照射装置およびレーザレーダを提供することを課題とする。
本発明に係るビーム照射装置は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射されたレーザ光が入射されるミラーと、前記ミラーを第1の回動軸と当該第1の回動軸に垂直な第2の回動軸をもってそれぞれ第1および第2の方向に回動させる駆動機構とを備える。ここで、前記ミラーの反射面は、前記第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で前記第1の方向に前記ミラーを回動させて前記レーザ光を走査させる場合に、前記レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう構成されている。
本発明によれば、レーザ光の走査領域を予め設定された矩形形状とすることができるため、目標領域における障害物検出および距離測定等を漏れなく適正に行うことができる。
なお、本発明において、レーザ光は、水平方向または鉛直方向からミラーに入射させることができる。
また、本発明に係るビーム照射装置は、レーザ光の走査位置を監視するために、前記ミラーの回動に伴って回動する光学素子と、サーボ光を発光するサーボ用光源と、前記光学素子を経由したサーボ光を受光するとともに受光位置に応じた信号を出力する光検出器とをさらに備える構成とすることができる。この場合、光学素子は、第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で第1の方向にミラーを回動させてレーザ光を走査させる場合に、光検出器上におけるサーボ光の走査領域が矩形形状となるよう構成することができる。
ここで、光学素子は、サーボ光が入射される反射面を備える構成とすることができる。この場合、この反射面は、上記の如くレーザ光を走査させる場合に、光検出器上におけるサーボ光の走査領域が矩形形状となるよう構成され得る。
なお、このように光検出器上におけるサーボ光の走査領域を矩形形状とすることで、光検出器上を走査するサーボ光の走査ピッチに粗密が生じるのを抑制することができる。その結果、レーザ光の走査位置を円滑かつ精度よく検出できるとの効果が奏される。
本発明に係るレーザレーダは、上記構成を有するビーム照射装置を備えることを特徴とする。本発明に係るレーザレーダは、上記と同様の効果を奏することができる。
以上のとおり、本発明によれば、レーザ光の走査領域を予め設定された矩形形状とすることができる。よって、目標領域における障害物検出および距離測定等を漏れなく適正に行うことができる。
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態に何ら制限されるものではない。
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、乗用車に搭載されるレーザレーダに本発明を適用したものである。本実施の形態では、乗用車前方からビームがスキャン照射されることにより、走査領域内の障害物の有無が検出され、同時に、障害物までの距離が測定される。
なお、本実施の形態では、レーザ光が水平方向からミラーに入射される。ミラーを水平方向および垂直方向に回動させることにより、レーザ光が目標領域において2次元方向に走査される。
図1に、本実施の形態に係るミラーアクチュエータの構成を示す。同図(a)はアクチュエータの分解斜視図、同図(b)はアセンブル状態にあるアクチュエータの斜視図である。
同図(a)において、10は、ミラーホルダである。ミラーホルダ10には、端部に抜け止めを有する支軸11、12が形成されている。また、ミラーホルダ10の前面にはミラー13が装着されており、背面にはコイル14が装着されている。なお、コイル14は、方形状に巻回されている。
20は、ミラーホルダ10を支軸11、12を軸として回動可能に支持する可動枠である。可動枠20には、ミラーホルダ10を収容するための開口21が形成されており、また、ミラーホルダ10の支軸11、12と係合する溝22、23が形成されている。さらに、可動枠20の側面には、端部に抜け止めを有する支軸24、25が形成され、背面には、コイル26が装着されている。コイル26は、方形状に巻回されている。
30は、可動枠20を支軸24、25を軸として回動可能に支持する固定枠である。固定枠30には、可動枠20を収容するための凹部31が形成され、また、可動枠20の支軸24、25と係合する溝32、33が形成されている。さらに、固定枠30の内面には、コイル14に磁界を印加するマグネット34と、コイル26に磁界を印加するマグネット35が装着されている。なお、溝32、33は、それぞれ固定枠30の前面から上下2つのマグネット35間の隙間内まで延びている。
40は、可動枠20の支軸24、25が溝32、33から脱落しないよう、支軸24、25を前方から押さえる押さえ板である。なお、ミラーホルダ10の支軸11、12を可動枠20の溝22、23から脱落しないよう規制する押さえ板は、図示省略されている。
アクチュエータをアセンブルする際には、ミラーホルダ10の支軸11、12を可動枠20の溝22、23に係合させ、さらに、支軸11、12の前面を押さえるようにして、押さえ板(図示せず)を可動枠20の前面に装着する。これにより、ミラーホルダ10が、可動枠20によって、回動可能に支持される。
このようにしてミラーホルダ10を可動枠20に装着した後、可動枠20の支軸24、25を固定枠30の溝32、33に係合させ、さらに、支軸32、33の前面を押さえるようにして、押さえ板40をマグネット35の前面に装着する。これにより、可動枠20が、回動可能に固定枠30に装着され、アクチュエータのアセンブルが完了する。
ミラーホルダ10が可動枠20に対し支軸11、12を軸として回動すると、これに伴ってミラー13が回動する。また、可動枠20が固定枠30に対し支軸24、25を軸として回動すると、これに伴ってミラーホルダ10が回動し、ミラーホルダ10と一体的にミラー13が回動する。このように、ミラーホルダ10は、互いに直交する支軸11、12と支軸24、25によって、2次元方向に回動可能に支持され、ミラーホルダ10の回動に伴って、ミラー13が2次元方向に回動する。
なお、同図(b)に示すアセンブル状態において、2つのマグネット34は、コイル14に電流を印加することにより、ミラーホルダ10に支軸11、12を軸とする回動力が生じるよう配置および極性が調整されている。したがって、コイル14に電流を印加すると、コイル14に生じる電磁駆動力によって、ミラーホルダ10が、支軸11、12を軸として回動する。
また、同図(b)に示すアセンブル状態において、2つのマグネット35は、コイル26に電流を印加することにより、可動枠20に支軸24、25を軸とする回動力が生じるよう配置および極性が調整されている。したがって、コイル26に電流を印加すると、コイル26に生じる電磁駆動力によって、可動枠20が、支軸24、25を軸として回動する。
このように、コイル14とコイル26に電流を印加することにより、ミラーホルダ10と可動枠20がそれぞれ支軸11、12と支軸24、25を軸として回動する。これにより、ミラー13が、ミラーホルダ10と一体となって、2次元方向に回動する。
なお、ミラー13の反射面は、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態で支軸11、12を軸としてミラーを回動させてレーザ光を走査させる場合に、レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう、形状が調整されている。
スキャン動作時、ミラーアクチュエータは、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態で支軸11、12を軸としてミラー13が回動するよう駆動制御される。支軸11、12を軸としてミラー13が回動することでレーザ光が水平方向に走査される。1ライン分の水平走査が終了すると、支軸24、25を軸としてミラー13が所定角度だけ回動され、その後、支軸11、12を軸としてミラー13が回動されて次のラインに対する水平走査が行われる。この制御が繰り返されることにより、目標領域全体に渡ってレーザ光が走査される。
図2に、本実施の形態に係るレーザレーダの構成を示す。
図示の如く、レーザレーダは、DSP(Digital Signal Processor)制御回路201と、DAC(Digital Analog Converter)202と、レーザ駆動回路203と、アクチュエータ駆動回路204と、ビーム照射ヘッド205と、PD(Photo Detector)信号処理回路206と、ADC(Analog Digital Converter)207を備えている。
DSP制御回路201は、レーザ駆動回路203およびアクチュエータ駆動回路204を駆動制御するためのデジタル信号をDAC202に出力する。また、ADC207から入力されるデジタル信号をもとに、スキャン領域内に含まれる障害物の位置と障害物までの距離を検出する。DSP制御回路201には、スキャン制御部201aと距離測定部201bが配備されている。
スキャン制御部201aは、ミラーアクチュエータ100を制御するための制御信号を生成し、これを、DAC202を介してアクチュエータ駆動回路204に供給する。これにより、レーザ光が、上記の如く、走査領域において2次元方向に走査される。また、スキャン制御部201aは、レーザ駆動回路203を駆動して、後述のごとく、半導体レーザ101からの出力を制御する。
距離測定部201bは、ADC207から入力される受光信号に基づいて、障害物までの距離を測定する。距離測定部201bには、高周波の内部クロックが入力されている。距離測定部201bは、各スキャン位置において出力されるパルス光の出力タイミングからその反射光の受光タイミングまでのクロック数Nをカウントする。そして、カウントしたクロック数Nをもとに、当該スキャン位置における障害物の有無と障害物までの距離Lを検出する。たとえば、内部クロックの周期をTとして、L=C(光速)×T×N/2を演算することにより障害物までの距離を検出する。なお、予め決められた時間内に反射光を受光できない場合、当該スキャン位置には障害物が存在しないとされる。
DAC202は、DSP制御回路201から入力されたデジタル信号をアナログ信号(制御信号)に変換してレーザ駆動回路203およびアクチュエータ駆動回路204に出力する。レーザ駆動回路203は、DAC202から入力された制御信号に応じて、ビーム照射ヘッド205内の半導体レーザ101を駆動する。アクチュエータ駆動回路204は、DAC202から入力された制御信号に応じて、ビーム照射ヘッド205内のミラーアクチュエータ100(図1参照)を駆動する。
ビーム照射ヘッド205は、前方空間に設定された走査領域においてレーザ光を走査させる。図示の如く、ビーム照射ヘッド205は、ミラーアクチュエータ100の他に、半導体レーザ101と、コリメートレンズ102と、収差板103と、受光レンズ104と、光検出器105を備えている。
半導体レーザ101は、所定波長のレーザ光を出力する。半導体レーザ101から出射されたレーザ光(以下、「走査用レーザ光」という)は、コリメートレンズ102によって平行光に変換され、さらに、収差板103によって光学的に調整された後、ミラーアクチュエータ100に支持された平板状のミラー13に入射される。
ミラー13は、上記の如く、2軸を軸として回動可能にミラーアクチュエータ100によって支持されている。ここで、ミラーアクチュエータ100は、図1に示す支軸11、12を軸として、ミラー13が、図2のx−z平面方向(水平方向)に回動するよう配置されている。ミラー13が中立位置にあるとき、走査用レーザ光は、z軸方向(水平方向)からミラー13に入射し、x軸方向に反射される。
DSP制御回路201には、走査用レーザ光の照射位置を目標領域内においてスキャンさせるためのテーブル(スキャンテーブル)が配備されている。スキャン制御部201aは、レーザ光のスキャン動作時、スキャンテーブルを参照しながらアクチュエータ駆動回路204を制御するための信号をDAC202に出力する。
さらに、スキャン制御部201aは、走査用レーザ光の走査位置が、スキャン軌道上の障害物検出および距離検出を行うための位置(以下、「測距位置」という)として予め設定され位置に到達したタイミングにて、半導体レーザ101の出力を、一定期間だけパルス状にレベルPwaからレベルPwbに立ち上げるための信号を、DAC202を介してレーザ駆動回路203に出力する。
ここで、レベルPwaは、測距位置の到来に応じて半導体レーザ101の出力を円滑にレベルPwbに立ち上げることができる程度のレベルに設定される。また、レベルPwbは、障害物検出および距離検出を円滑に行い得るレベルに設定される。
図3に、半導体レーザ101に対する出射パワーの調整例を示す。
同図に示す如く、半導体レーザ101の出力は、測距位置に対応する期間T0、T1、T2において、パルス状にレベルPwaからレベルPwbに立ち上げられる。しかして、走査用レーザ光は、目標領域内をスキャンしながら、測距位置に到達したタイミングにてパルス状に発光される。
図2に戻り、目標領域内の各スキャン位置に障害物が存在するとき、高パワーにて発光された走査用レーザ光は、障害物によって反射され、その反射光が、受光レンズ104を介して光検出器105に入射される。光検出器105は、受光量に応じた大きさの電気信号をPD信号処理回路206に出力する。PD信号処理回路206は、光検出器105から入力された電気信号を増幅およびノイズ除去してADC207に出力する。ADC207は、入力された信号をデジタル信号に変換して距離測定部201bに出力する。
距離測定部201bは、ADC207から入力されたデジタル信号をもとに反射光の受光タイミングを検出し、この受光タイミングと、スキャン制御部201aから入力される高パワーのパルスレーザ光の出力タイミングとから、上記の如く、当該スキャン位置における障害物までの距離を検出する。また、予め設定された時間内に反射光を受光できない場合は、当該スキャン位置には障害物が存在しないと判定する。
次に、図4を参照して、ミラー13の反射面の形状について説明する。
同図(a)は、ミラー13の反射面が平板状であるときの走査用レーザ光の走査状態を模式的に示す図である。上述の如くミラー13を2次元駆動すると、走査用レーザ光の走査領域は、中央から水平方向の左右端に向かうにつれて徐々に鉛直方向の幅が拡大および縮小する形状となる。これは、水平方向への走査時に、鉛直方向におけるミラー13の回動位置が固定されているため、支軸11、12を軸とするミラー13の回動が進むにつれて、ミラー13に対する鉛直方向の走査用レーザ光の入射角が変化し、これにより、鉛直方向における走査用レーザ光の振り角が変化することによるものである。
なお、この場合、走査領域における走査用レーザ光の走査軌跡は、このように鉛直方向における走査用レーザ光の振り角が変化することによって、水平とはならず、同図(a)に破線で示す如く、水平方向に対し傾いたものとなる。このため、この走査軌跡のピッチは、同図(a)の左端に向かうほど粗となり、右端に向かうほど密となる。このため、障害物等の検出精度は、左端に向かうほど低下することとなる。
また、支軸11、12を軸としてミラー13を各走査ラインに対する走査において一律に回動させると、水平方向における走査用レーザ光の振れ具合が走査ライン毎に相違するため、各走査ラインの始端と終端が鉛直方向に並ばなくなる。このため、走査領域は、同図(a)に示す如く、左右の辺が水平方向に丸みを帯びた形状となる。
本実施の形態では、同図(b)に破線で示す如く、走査領域が矩形形状(横長長方形)となるよう、ミラー13の反射面の形状が調整されている。すなわち、本実施の形態では、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態でミラー13を支軸11、12を軸として回動させた場合に、鉛直方向における走査用レーザ光の振り角が変化せず、且つ、この回動を上記の如く各走査ラインに対し一律に行っても各走査ラインの始端と終端が鉛直方向に並ぶよう、ミラー13の反射面の形状が湾曲している。
このようにミラー13の反射面の形状を調整することにより、上述の如くミラー13を2次元方向に駆動しても、走査領域が矩形形状から歪むことはない。同図(c)は、上記の如くミラー13の反射面の形状を湾曲させた場合の走査用レーザ光の走査状態を模式的に示す図である。この場合、走査領域は、図示の如く、矩形形状(横長長方形)となる。また、走査領域における走査用レーザ光の走査軌跡は、どの走査ラインにおいても水平方向となり、走査ライン間のピッチは一定となる。よって、走査領域内の何れの箇所においても、障害物の検出等を、円滑かつ精度良く行うことができる。
このように、本実施の形態によれば、走査領域を所期の矩形形状(横長長方形)とすることができる。よって、走査領域が矩形形状から歪むことによる障害物の検出漏れや距離の測定漏れ等を抑制することができ、障害物の検出および距離の測定を適正に行うことができる。
<変更例1>
上記では、走査位置を監視することなくオープンループにて走査用レーザ光を走査させるようにしたが、走査用レーザ光の走査位置をDSP制御回路201にフィードバックして、走査位置が所期の軌道を追従するよう、ミラーアクチュエータ100にサーボを掛けるよう構成することもできる。
上記では、走査位置を監視することなくオープンループにて走査用レーザ光を走査させるようにしたが、走査用レーザ光の走査位置をDSP制御回路201にフィードバックして、走査位置が所期の軌道を追従するよう、ミラーアクチュエータ100にサーボを掛けるよう構成することもできる。
図5に、この場合のミラーアクチュエータ100の構成を示す。ここでは、支軸12に対し、ミラー13と平行な状態にて、ミラー15が装着されている。その他の構成は、図1の構成と同様である。
この場合、ミラー15は、ミラー13と一体的に回動される。ミラー13が支軸11、12を軸として回動すると、これに伴ってミラー15が回動し、また、ミラー13がミラーホルダ10とともに支軸24、25を軸として回動すると、これに伴ってミラー15が回動する。
図6に、本変更例に係るレーザレーダの構成を示す。ここでは、ビーム照射ヘッド205に、所定波長のレーザ光(以下、「サーボ用レーザ光」という)を出射する半導体レーザ106と、集光レンズ107と、PSD(Position Sensitive Detector)108が配されている。また、回路構成として、PSD108からの信号を処理するPSD信号処理回路208と、ADC209が追加されている。
半導体レーザ106は、ミラー13が中立位置にあるときに、サーボ用レーザ光がx軸方向からミラー15に入射するように配置されている。ミラー15によって反射されたサーボ用レーザ光は、集光レンズ107によってPSD108の受光面上に集光される。上記の如く、ミラー15はミラー13と一体的に回動するため、PSD108の受光面上におけるサーボ用レーザ光の受光位置と、走査領域における走査用レーザ光の走査位置は一対一に対応する。よって、PSD108からの信号をもとに、走査用レーザ光の走査位置を検出することができる。
PSD108は、受光面上におけるサーボ用レーザ光の収束位置に応じた電流を出力する。PSD108からの出力電流はPSD信号処理回路208に入力される。PSD信号処理回路208は、入力された電流からサーボ用レーザ光の収束位置を表す電圧信号を生成し、これをADC209に出力する。ADC209は、入力された電圧信号をデジタル信号に変換してDSP制御回路201内のスキャン制御部201aに供給する。
スキャン制御部201aは、スキャン動作時において、ADC209から入力された信号をもとに受光面上におけるサーボ用レーザ光の収束位置を検出する。そして、その検出位置が所期の軌道に引き込まれるよう、DAC202を介して、アクチュエータ駆動回路204に制御信号を出力する。これにより、走査用レーザ光は、所期の軌道に沿うよう走査領域内を走査する。
なお、スキャン制御部201aは、走査用レーザ光のスキャン動作時、半導体レーザ106をパワーレベルPwcにて常時発光させるための信号を、DAC202を介してレーザ駆動回路203に出力する。図7(a)は半導体レーザ101のパワーレベルを示す図、図7(b)は半導体レーザ106のパワーレベルを示す図である。
次に、図8および図9を参照して、ミラー15の反射面の形状について説明する。
図8は、ミラー13、15の反射面の形状が共に平板状であるときの走査用レーザ光とサーボ用レーザ光の走査状態を模式的に示す図である。ここでは、同図(a)に示す如く、レーザ光軸が互いに垂直となるように、走査用レーザ光とサーボ用レーザ光がミラー13とミラー15に入射されている。
スキャン動作時に、上述の如くしてミラー13を2次元方向に駆動すると、走査用レーザ光の走査領域は、図8(b)に示す如く、中央から水平方向の左右端に向かうにつれて徐々に鉛直方向の幅が拡大および縮小する形状となる。これについては、既に図4(a)を参照して説明したとおりである。
このとき、PSD108の受光面上におけるサーボ用レーザ光の走査領域は、走査用レーザ光の走査領域と同様、同図(c)に示す如く、中央から左右端に向かうにつれて徐々に幅が縮小および拡大する形状となる。図中、破線は、サーボ用レーザ光の走査軌跡を示している。
本変更例では、既に図4を参照して説明した如く、走査用レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう、ミラー13の反射面の形状が調整されている。したがって、同図(c)に示すサーボ用レーザ光の走査軌跡を基準に走査用レーザ光の走査位置にサーボを掛ける場合には、走査用レーザ光における矩形形状の走査軌跡と、サーボ用レーザ光における同図(c)の扇形状の走査軌跡とを対応づけてサーボを掛ける必要がある。
しかし、同図(c)の走査軌跡では、PSD受光面上における走査ラインのピッチが、右端に向かうほど粗となり、左端に向かうほど密となる。このため、サーボ用レーザ光の受光位置に対するPSD受光面の分解能が左端に向かうほど低下し、左端近傍領域では、サーボ用レーザ光の受光位置と走査用レーザ光の走査位置との対応付けに誤差が生じる惧れがある。
そこで、本変更例では、図9(a)に破線で示す如く、PSD受光面上におけるサーボ用レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう、ミラー15の反射面の形状が調整される。すなわち、本変更例では、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態でミラー13を支軸11、12を軸として回動させた場合に、鉛直方向におけるサーボ用レーザ光の振り角が変化せず、且つ、走査用レーザ光を走査領域内において走査させたときに、PSD受光面上におけるサーボ用レーザ光の各走査ラインの始端と終端が直線状に並ぶよう、ミラー15の反射面の形状が湾曲している。
このようにミラー15の反射面の形状を調整することにより、上述の如くミラー13を2次元方向に駆動しても、サーボ用レーザ光の走査領域は矩形形状となる。同図(b)は、上記の如くミラー15の反射面の形状を湾曲させた場合のPSD受光面上におけるサーボ用レーザ光の走査状態を模式的に示す図である。
この場合、走査領域におけるサーボ用レーザ光の走査軌跡は、どの走査ラインにおいても水平方向となり、走査ライン間のピッチは一定となる。よって、サーボ用レーザ光の受光位置に対するPSD受光面の分解能が図8(c)の場合のように低下することはなく、サーボ用レーザ光の受光位置を円滑かつ適正に検出することができる。したがって、サーボ用レーザ光の受光位置が初期の軌道に追従するようミラーアクチュエータ100にサーボを掛けることにより、走査用レーザ光を初期の軌道に追従させることができる。
本変更例によれば、外乱等によって走査用レーザ光の走査位置にずれが生じても、これを所期の軌道に復帰させることができ、障害物検出および距離測定をより適正に行うことができる。
<変更例2>
上記では、走査用レーザ光を水平方向からミラー13に入射させたが、走査用レーザ光を鉛直方向からミラー13に入射させるように構成することもできる。
上記では、走査用レーザ光を水平方向からミラー13に入射させたが、走査用レーザ光を鉛直方向からミラー13に入射させるように構成することもできる。
この場合、上述の如く、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態でミラー13を支軸11、12を軸として回動させて走査用レーザ光を走査させると、前方領域における走査用レーザ光の走査領域は、上記の場合と相違する形状となる。
図10(a)は、ミラー13の反射面が平板状であるときの走査用レーザ光の走査状態を模式的に示す図である。図示の如く走査領域が歪むのは、図4の場合と同様の理由によるものである。この場合も、図4の場合と同様、走査領域における走査用レーザ光の走査軌跡は、水平方向とはならず、水平方向に対し傾いたものとなる。このため、走査領域内に障害物等の検出精度が低下する領域が生じる惧れがある。
そこで、本変更例においても、同図(b)に破線で示す如く、走査領域が矩形形状(横長長方形)となるよう、ミラー13の反射面の形状が調整される。すなわち、本変更例では、支軸24、25を軸とする回動位置を任意の位置に固定した状態でミラー13を支軸11、12を軸として回動させた場合に、鉛直方向における走査用レーザ光の振り角が変化せず、且つ、この回動を各走査ラインに対し一律に行っても各走査ラインの始端と終端が鉛直方向に並ぶよう、ミラー13の反射面の形状を湾曲させる。
このようにミラー13の反射面の形状を調整することにより、上述の如くミラー13を2次元方向に駆動しても、走査領域が矩形形状から歪むことはない。また、走査領域における走査用レーザ光の走査軌跡も、どの走査ラインにおいても水平方向となり、走査ライン間のピッチは一定となる。よって、走査領域内の何れの箇所においても、障害物の検出等を、円滑かつ精度良く行うことができる。
本変更例においても、図5および図6の場合と同様、サーボ用レーザ光を用いて走査用レーザ光の走査位置にサーボを掛けるようにしても良い。この場合も、サーボ用レーザ光を反射するミラーの反射面は、PSD受光面上における走査軌跡が矩形形状(横長長方形)となるよう形状を調整すると良い。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態によって制限されるものではなく、また、本発明の実施形態も、上記以外に種々の変更が可能である。
たとえば、上記実施の形態は、車載用のレーザレーダの本発明を適用したものであったが、本発明は、たとえば、大気中のエアロゾル計測用など、他の用途のレーザレーダに適用することも可能である。また、上記実施の形態では、サーボに用いるレーザ光を出射する光源として半導体レーザを用いたが、これに代えて、LED(Light Emitting Diode)等、他の光源を用いることもできる。
さらに、走査用レーザ光の走査位置を検出するための光学系は上記のものに限定されるものではなく、これ以外の手法・構成により、走査用レーザ光の走査位置を検出するようにしても良い。たとえば、上記では、ミラー15によって反射されたサーボ用レーザ光をPSDによって受光するようにしたが、ミラー15に代えて光透過性の板材を支軸12に装着し、この板材を透過したサーボ用レーザ光をPSDによって受光するようにしても良い。この場合、板材の回動に応じてサーボ用レーザ光の屈折方向が変化し、これによりPSD受光面上をサーボ用レーザ光が走査するようになる。
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
13 ミラー
15 ミラー(光学素子)
100 ミラーアクチュエータ(駆動機構)
101 半導体レーザ(レーザ光源)
106 半導体レーザ(サーボ用光源)
108 PSD(光検出器)
15 ミラー(光学素子)
100 ミラーアクチュエータ(駆動機構)
101 半導体レーザ(レーザ光源)
106 半導体レーザ(サーボ用光源)
108 PSD(光検出器)
Claims (5)
- レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光が入射されるミラーと、
前記ミラーを第1の回動軸と当該第1の回動軸に垂直な第2の回動軸をもってそれぞれ第1および第2の方向に回動させる駆動機構とを備え、
前記第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で前記第1の方向に前記ミラーを回動させて前記レーザ光を走査させる場合に、前記レーザ光の走査領域が矩形形状となるよう、前記ミラーの反射面が構成されている、
ことを特徴とするビーム照射装置。 - 請求項1において、
前記レーザ光は、水平方向または鉛直方向から前記ミラーに入射される、
ことを特徴とするビーム照射装置。 - 請求項1または2において、
前記ミラーの回動に伴って回動する光学素子と、
サーボ光を発光するサーボ用光源と、
前記光学素子を経由した前記サーボ光を受光するとともに受光位置に応じた信号を出力する光検出器とを備え、
前記光学素子は、前記第2の方向における回動位置を任意の位置に固定した状態で前記第1の方向に前記ミラーを回動させて前記レーザ光を走査させる場合に、光検出器上における前記サーボ光の走査領域が矩形形状となるよう構成されている、
ことを特徴とするビーム照射装置。 - 請求項3において、
前記光学素子は前記サーボ光が入射される反射面を備え、前記レーザ光の走査の際に、前記光検出器上における前記サーボ光の走査領域が矩形形状となるよう、前記光学素子の反射面が構成されている、
ことを特徴とするビーム照射装置。 - 請求項1ないし4の何れか一項に記載のビーム照射装置を備えるレーザレーダ。
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JP2007146316A JP2008299144A (ja) | 2007-05-31 | 2007-05-31 | ビーム照射装置およびレーザレーダ |
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-
2007
- 2007-05-31 JP JP2007146316A patent/JP2008299144A/ja not_active Withdrawn
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