JP2008297143A - Cvdとhvpeによる窒化ガリウムの生長方法 - Google Patents
Cvdとhvpeによる窒化ガリウムの生長方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】CVDとHVPEが直列配列された2段式反応炉本体を利用して、その1段目の高温CVDにより、LiAlO2基板上に、表面形態が良好であるGaNのナノ構造を生長させ、また、GaNのナノ構造を、新規の核形成点として、2段目のHVPEにより、厚い膜であるGaNを生長させる。
【選択図】図1
Description
Deposition、 CVD)とハイドライド気相成長法(Hydride
Vapor Phase Epitaxy、 HVPE)が直列配列された2段式反応炉本体であるアルミン酸リチウム(LiAlO2)基板と反応炉本体を用意するステップ11と、(B)図3のように、該アルミン酸リチウム基板21を該反応炉本体中のベースにセットして、この時、該2段式反応炉本体内の1段目の化学蒸着法により、高温下で、アンモニアガス(NH3)とガリウム(Ga)金属を、窒素(N)とガリウムの來源として、また、窒素ガス(N2)をキャリアガスとし、該ガリウム金属を、移動可能のウエハボートに添加し、該アンモニアガスが、石英管に導入されてマスフローコントローラーを介して、化学反応により、窒化ガリウムナノ柱(GAN nanorods)211を生長させる高温化学蒸着法により、窒化ガリウムナノ柱(GaN
nanorods)が形成されるステップ12と、(C)図4のように、該窒化ガリウムナノ柱211を生長させたアルミン酸リチウム基板21について、該2段式反応炉本体内の2段目のハイドライド気相成長法により、窒素ガスを希釈ガスとし、750〜800°Cで、該ガリウム金属を、導入された塩化水素(HCl)ガスと、反応させて、塩化ガリウム(GaCl)を形成し、また、該窒化ガリウムナノ柱211を、新規の核形成点として、500〜600°Cにおいて、該塩化ガリウムとアンモニアガスとを、該アルミン酸リチウム基板21上において混合反応させて薄いフィルムである窒化ガリウム212を形成し、そして、温度と導入されたガスの流速を調整して、厚い膜である窒化ガリウムを成長させるハイドライド気相成長法により、厚い膜である窒化ガリウムを生長させるステップ13とが含有される。
そして、該窒化ガリウムナノ柱211を新規の核形成点として、該反応炉本体により、2段目のハイドライド気相成長法を行い、次の化学反応である[化2]
21 アルミン酸リチウム基板
211 窒化ガリウムナノ柱
212 フィルム窒化ガリウム
Claims (3)
- 少なくとも、(A)アルミン酸リチウム基板と反応炉本体とを用意するステップと、(B)該アルミン酸リチウム基板を、ベース上にセットして、ガリウム金属を、移動可能のウエハボート中に添加し、高温下で、少なくとも一つのガスを導入し、該反応炉本体で、化学蒸着法により、該アルミン酸リチウム基板上に、ナノ構造である窒化ガリウムを堆積形成するステップと、(C)該反応炉本体で、該ナノ構造である窒化ガリウムを新規の核形成点とし、該アルミン酸リチウム基板に対して、ハイドライド気相成長法により、温度と該ガスの流速を調整しながら、厚い膜である窒化ガリウムを生長させるステップとが含有されることを特徴とするCVDとHVPEによる窒化ガリウムの生長方法。
- 前記該基板は、サファイヤや没食子酸リチウム、シリコン酸リチウム、ゲルマニウム酸リチウム、アルミン酸ナトリウム、ゲルマニウム酸ナトリウム、シリコン酸ナトリウム、リン酸リチウム、ヒ酸リチウム、バナジウム酸リチウム、ゲルマニウム酸リチウムマグネシウム、ゲルマニウム酸リチウム亜鉛、ゲルマニウム酸リチウムカドミウム、シリコン酸リチウムマグネシウム、シリコン酸リチウム亜鉛、シリコン酸リチウムカドミウム、ゲルマニウム酸ナトリウムマグネシウム、ゲルマニウム酸ナトリウム亜鉛或いはシリコン酸ナトリウム亜鉛から構成されることを特徴とする請求項1に記載のCVDとHVPEによる窒化ガリウムの生長方法。
- 前記該反応炉本体は、2段式反応炉本体により、該化学蒸着法と該ハイドライド気相成長法が直列配列されることを特徴とする請求項1に記載のCVDとHVPEによる窒化ガリウムの生長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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-
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