JP2008292472A - 欠陥観察装置、および欠陥観察方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】まず、ADRを開始する前に、上位の検査装置が出力した試料位置と実際に観察装置で検出した試料位置とのズレ量を測定して、ズレ量が最小となるように座標補正式を最適化するファインアライメント処理を開始するS201。ファインアライメント処理S201では、座標補正式に基づく補正座標と、実際に検出した試料位置とのズレを測定し(S202)、座標補正式を最適化する手順を繰り返す(S203)。ズレ量を算出した後に、ズレ量の収束判定を行う(S204)。ズレ量が収束していなければ、ファインアライメントを継続する(S208)。ズレ量が収束していれば、ADRの観察視野がズレの収束値以上になるように設定し(S205)、ファインアライメントを終了し(S206)、ADRを開始する(S207)。
【選択図】図2
Description
dX=a+b*X−c*Y …(2)
dY=d+e*Y+f*X …(3)
c:検出座標系に対する観察座標系のx軸方向の回転成分の定数(係数)、
d:検出座標系に対する観察座標系のy軸方向のオフセット成分の定数、
e:検出座標系に対する観察座標系のy軸方向の拡大成分の定数(係数)、
f:検出座標系に対する観察座標系のy軸方向の回転成分の定数(係数)、
である。
Dn/Dn−1<ε (4)
Claims (32)
- 予め算出されている第1の座標系における座標位置に試料を移動して第2の座標系によりその位置が特定される試料の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
予め算出された座標位置と実際の試料位置とのズレ量を計測するズレ量計測部と、
計測されたズレ量を最小化する方向に前記第2の座標系から前記第1の座標系への変換を行うための座標補正式を最適化する座標補正式適正化部と、
前記ズレ量が収束したことを判断するズレ量収束判定部と、を有し、
前記ズレ量が収束した場合に、前記座標補正式の適正化のための計測を終了することを特徴とする欠陥観察装置。 - 予め算出されている第1の座標系における座標位置に試料を移動して第2の座標系によりその位置が特定される試料の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
予め算出された座標位置と実際の試料位置とのズレ量を計測するズレ量計測部と、
計測されたズレ量から、該ズレ量を最小化する方向に前記第2の座標系から前記第1の座標系への変換を行うための座標補正式を最適化する座標補正式適正化部と、
前記ズレ量が収束したことを判断するズレ量収束判定部と、を有し、
前記ズレ量の収束値が予め設定した値以下になることを、前記座標補正式の最適化のための計測を終了する契機とすることを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項2の記載において、
前記座標補正式適正化部は、
前記ズレ量の収束値から算出した観察視野サイズが、試料位置検出に必要な最小倍率では実現できない場合には、前記座標補正式の最適化のための計測を継続することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項2の記載において、
前記観察視野サイズ自動設定部は、
前記ズレ量の収束値から算出した観察視野サイズが、試料位置検出に必要な最小倍率では実現できない場合に、試料位置検出視野を複数領域に分割することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項1の記載において、
前記ズレ量の前記収束値に基づいて、前記試料が観察視野から外れない大きさのうちで可能な限り小さい必要画素サイズを算出し、該必要画素サイズに基づいて観察視野サイズを自動設定する観察視野サイズ自動設定部を有することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項5の記載において、
前記座標補正式適正化部は、
前記ズレ量の収束値から算出した観察視野サイズが、試料位置検出に必要な最小倍率では実現できない場合には、前記座標補正式の最適化のための計測を継続することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項5の記載において、
前記観察視野サイズ自動設定部は、
前記ズレ量の収束値から算出した観察視野サイズが、試料位置検出に必要な最小倍率では実現できない場合に、試料位置検出視野を複数領域に分割することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項1の記載において、
各計測点におけるズレ量とファインアラインメント点との関係を示す第1の測定結果と、座標補正式最適化前後のズレ量の変化を表す第2の測定結果と、ズレ量の収束値とFOVとの関係を示す第3の測定結果と、ADRにおける検出対象となる最小欠陥サイズ、該最小欠陥サイズと画像処理能力との関係から算出される各画像サイズにおけるFOVの最大値を示す第4の測定結果との、うちから選択される複数項目を並列表示する制御を行う表示制御部を備えることを特徴とする欠陥観察装置。 - 予め算出されている第1の座標系における座標位置に試料を移動して第2の座標系によりその位置が特定される試料の欠陥を観察する欠陥観察方法において、
前記第1の座標位置と前記第2の座標位置とのズレ量を測定し、該ズレ量が最小となるように座標補正式を最適化するファインアライメント処理を開始するステップと、
前記座標補正式に基づく補正座標と、実際に検出した試料位置とのズレを測定しながら前記座標補正式を最適化する手順を繰り返すステップと、
前記ズレ量の収束判定を行うステップと、
ズレ量が収束していなければ、前記ファインアライメントステップを継続し、ズレ量が収束していれば、観察視野がズレの収束値以上になるように設定し、ファインアライメントを終了してADRを開始するステップと
を有することを特徴とする欠陥観察方法。 - 請求項9の記載において、
前記ズレ量の収束値とFOVとの大小関係の比較を行うステップと、
ズレ量の収束値がFOV以下であった場合には、ファインアライメントを終了してADRを開始し、収束値が設定FOVより大きい場合は、観察倍率は固定したまま、ADRのFOVを拡大するステップと
を有することを特徴とする欠陥観察方法。 - 試料上の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
外部装置から送られる欠陥の座標情報に基づいて欠陥を検出する検出光学部と、
該検出された欠陥の座標と前記座標情報との間の座標の差を演算し、
予め定められた値と比較する演算部とを備えたことを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項11の記載において、前記演算部は前記差の値が予め定められた値より小さくなった場合に、前記差の演算の継続を判断することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項11の記載において、前記演算部は前記差の値が予め定められた値より小さくなった場合に、前記差の演算を停止するかしないかを判断することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項11の記載において、前記演算部は前記差の値が予め定められた値より小さくなった場合に、前記差の演算を停止することを特徴とする欠陥観察装置。
- 試料上の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
前記試料の画像を視野の大きさを示すマークとともに表示する表示装置と、
外部装置から送られる欠陥の座標情報に基づいて欠陥を検出する検出光学部と、
該検出された欠陥の座標と前記座標情報との間の座標の差を演算し、前記視野の大きさから決められた基準値と比較する演算部とを備えたことを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項15の記載において、
前記演算部で演算された前記差の値が、前記視野の大きさから決められた基準値内に含まれる場合に、前記差の演算の継続を判断することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項16の記載において、前記基準値は変更可能であることを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項15の記載において、前記演算部で演算された前記差の値が、前記視野の大きさから決められた基準値内に含まれる場合に、前記差の演算を停止するかしないかを判断することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項18の記載において、前記基準値は変更可能であることを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項15の記載において、前記演算部で演算された前記差の値が、前記視野の大きさから決められた基準値内に含まれる場合に、前記差の演算を停止することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項20の記載において、前記基準値は変更可能であることを特徴とする欠陥観察装置。
- 試料上の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
前記試料の画像を表示する表示装置と、
外部装置から送られる欠陥の座標情報に基づいて欠陥を検出する検出光学部と、
該検出された欠陥の座標と前記座標情報との間の座標の差を演算する演算部とを備え、
前記演算部は、前記表示装置に表示された前記試料の画像に前記欠陥が現れるか否かに応じて、前記差の演算の継続を判断することを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項22の記載において、前記演算部は、前記表示装置に表示された前記試料の画像に前記欠陥が現れる場合に、前記差の演算の継続を停止することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項22の記載において、前記演算部は、前記表示装置に前記差の演算の継続を判断するための基準を示すマークを表示することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項24の記載において、前記マークの位置は変更可能であることを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項22の記載において、前記表示装置に表示された前記試料の画像に前記欠陥が現れない場合には、当該画像に隣接する領域の画像を撮像し、これを前記欠陥が現れるまで繰り返すことを特徴とする欠陥観察装置。
- 試料上の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
外部装置から送られる欠陥の座標情報を入力する入力部と、
少なくとも前記座標情報に基づいて所望の演算を実行する演算部と、
該演算部で実行された演算の結果を表示する表示部とを備え、
前記演算部は、前記座標情報に基づいて検出した欠陥の座標と前記座標情報との間の差の大きさの変化を前記表示部へ表示させることを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項27の記載において、前記演算装置は、前記差の大きさの変化が予め定められた値より小さくなった場合に、前記差の大きさを前記表示部へ表示させることを特徴とする欠陥観察装置。
- 試料上の欠陥を観察する欠陥観察装置において、
外部装置から送られる情報を入力する入力部と、
少なくとも前記情報に基づいて所望の演算を実行する演算部と、
該演算部で実行された演算の結果を表示する表示部とを備え、
前記入力部は、外部装置から送られた前記試料上の着目位置の座標を受け取り、
前記演算部は、前記外部装置から送られた試料上の着目位置の座標は複数であって第1の座標とし、
前記ステージに載置された前記試料上の前記着目位置に対応する着目位置の座標は複数であって第2の座標としたとき、
前記第1の座標と前記第2の座標との間の差を少なくするように前記第2の座標を補正し、
該差が小さくなるように前記第2の座標の補正を繰返し実行し、
前記差が収束したと判定された場合に収束の結果を前記表示部へ表示させる
ことを特徴とする欠陥観察装置。 - 請求項29の記載において、前記差の収束の判定用の判定値が前記表示部へ表示されることを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項29の記載において、前記演算部は、前記差の収束に基づいて、前記着目位置を観察する像倍率および観察視野サイズを決定することを特徴とする欠陥観察装置。
- 請求項31の記載において、前記表示部には、前記演算部で決定された像倍率および観察視野サイズが表示されることを特徴とする欠陥観察装置。
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