JP2008271531A - アナログ−デジタル変換 - Google Patents

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Abstract

【課題】A−D変換を提供すること。
【解決手段】高い周波数信号のA−D変換に関する改善を開示する。複数のA−D変換器(ADC)と分布サンプリング・システム(分布SS)の使用によって達成される。この組合せによって従来デバイスの使用が可能になり、非常に高い周波数の正確なサンプリングも可能になる。分布SSは、複数のサンプリングに複数のADCを使用して複数のサンプリングを行い、各サンプリングは一定時間量だけ連続してずれている。各ADCはCPUを有する。デジタル出力値はすべて同じまたは異なる周波数でのサンプリング結果とすることができる。分布SSの型には、直列接続の複数の細長い配線パターン、直列接続の複数のインバータ対、特定誘電率材料デバイス、及びシーケンサ又はマルチプライヤがある。また、可変サイズ・アパーチャ・ウィンドウ(VSAW)を含み、サンプル・パルスの幅が可変クロック機構により制御される。
【選択図】図13

Description

本発明は、コンピュータおよびコンピュータプロセッサの分野に関し、より詳細には、アナログ−デジタル変換器(ADC)に関する。
アナログ−デジタル変換器(ADC)は、連続的な信号を離散的なデジタル数(discrete digital numbers)に変換する電子回路である。一般に、ADCは、入力アナログ信号をデジタル数に変換する電子デバイスである。
アナログ信号は、時間に関して連続的であり、これをデジタル値の流れに変換することが必要である。したがって、アナログ信号から新しいデジタル値がサンプリングされる速度を確定することが必要である。この新しい値の速度は、変換器のサンプリング速度(sampling rate)またはサンプリング周波数(sampling frequency)と呼ばれ、一般に、1秒当たりのサンプルの数(sps)として報告される。
連続的に変化する帯域の制限された信号が、時間間隔Tすなわちサンプリング(標本抽出)時間でサンプリングされ、測定保存される。それから、離散した時間の値から補間式によって元の信号を正確に再現することができる。しかし、この再現(reproduction)は、サンプリング速度が信号の最高周波数の2倍よりも高い場合に可能なだけである。このことは、シャノン−ナイキストのサンプリング理論と呼ばれることがある。実際のADCは瞬時変換を行うことができないので、入力値は、変換器が変換を行う変換時間と呼ばれる時間の間、必ず一定に保たれなければならない。
アナログ信号を非常に高い周波数(very high frequencies)で、例えば数ギガ・ヘルツ(GHz)の範囲で、集積回路内でサンプリングできることがしばしば望ましい。しかし、ある特定の型のICは、比較的低い周波数で、例えば1〜2GHz以下の範囲でしか信号をサンプリングすることができない比較的古い半導体製造および材料技術を用いて作られている。
図1は、現在当技術分野で知られているようなアナログ−デジタル(A−D)サンプリング・システム100の例の図である。チップ101の中にA−Dブロック102が埋め込まれている。A−Dブロック102は、一般に、データ出力105(これは、必ずしも並列バスである必要はない)、および入力信号103をサンプリングするために使用されるサンプリング周波数制御104を有する。入力成分の最高周波数成分はfiであり、フーリエ変換(FT)または高速フーリエ変換(FFT)などの機能に対応するサンプリングのために、サンプリング周波数fsは、fiの周波数の少なくとも2倍、好ましくはfiの周波数の2.2倍でなければならない。したがって、所望の入力周波数fiが10GHzの範囲にある場合には、チップは、ナイキスト周波数に基づいて、ほぼ20〜22GHzでサンプリング周波数fsをクロックさせることができなければならない。そのような高いサンプリング周波数のチップを作ることはいっそう高価になり、そのようなチップのアーキテクチャは、CPU、メモリなどのような大きなデータ機能(data functions)をそのようなチップに埋め込むことを可能にしない。
いくつかのアナログ−デジタル変換方法が知られている。図1Aは、ADC用のサンプル・ホールド回路図の模式的な図であり、この回路はトラック・ホールド回路とも呼ばれる。サンプル・ホールド・スイッチ110が開くと、入力電圧の最後の瞬時値がサンプル・ホールド・コンデンサ111に保持される。サンプル・ホールド・スイッチ110が閉じたとき、回路はトラック・モードになる。入力および出力のバッファ112は、サンプル・ホールド・コンデンサ111を隔離している。サンプル・ホールドADCは、単純で信頼性が高いが、サンプリング周波数速度が制限され、かつエラーの確率が高い。
第2のアナログ−デジタル変換方法は、位相検出ADCを利用するものである。位相検出器は、2つの信号入力間の位相差を表す電圧信号を生成する。2つの比較される信号が同相であるとき、XORゲートへのこの2つの等しい入力で、ゼロの一定レベルが出力される。1度の位相差の場合、XORゲートは、異なる信号が異なっている間中(サイクルの1/360)、1を出力する。信号が180度離れているとき、XORゲートは安定した1の信号を出力する。出力信号を積分すると、位相差に比例したアナログ電圧になる。位相検出器は、入力信号のいくつかの位相差を同時に測定するいくつかのXORゲートを含む。これには、高速動作デバイスという有利点があるが、大電力消費デバイスという不利点がある。
第3のアナログ−デジタル変換方法は、並列ADCとも呼ばれるフラッシュADCを利用するものである。図1Bは、フラッシュADC回路図の模式的な図である。フラッシュADCは一連の比較器120から形成され、各比較器120は、入力信号を固有の基準電圧と比較する。比較器120の出力は、プライオリティ・エンコーダプライオリティ・エンコーダ回路121の入力に接続し、これはは、2進出力122を生成する。アナログ入力電圧が各比較器120で基準電圧を超えたときに、比較器120の出力は、順次にハイ状態で飽和状態になる。プライオリティ・エンコーダ121は、他のすべてのアクティブ入力を無視して、最高順位のアクティブ入力に基づいて2進数を生成する。フラッシュADCは速度の点で効率的であるが、多数の部品を含む。例えば、3ビットフラッシュADCは8個の比較器を必要とし、4ビットのものは16個の比較器を必要とし、8ビットのものは256個の比較器を必要とする。
第4のアナログ−デジタル変換方法は、逐次近似ADCであり、図1Cに模式的に示されている。逐次近似ADCは、逐次近似レジスタ(successive approximation register)(SAR)130をシーケンス・カウンタとして使用する。このSAR130は、最上位ビット(MSB)から始まって最下位ビット(LSB)で終わるビットのすべての値を、試して数える。この計数プロセスの間中、SAR130は、比較器の出力を監視して、2進カウントがアナログ信号入力よりも小さいか大きいかを調べ、次に、それに応じてビットの値を調整する。元の10進数に等しい2進数を得るように、MSBからLSBまでビットの異なる値が試される。デジタル−アナログ変換器(DAC)131の出力は、通常のシーケンス・カウンタによるよりも遥かに速くアナログ信号入力に収斂する。確率的再正規化グループ(stoichastic renormalization group)(SRG)132は、10進から2進への変換器として動作する。逐次近似ADCは、比較的高速なデバイスであるが、高電力消費で部品数が多いという不利点がある。
高い周波数の入力速度をサンプリングすることができる経済的なシステムを見つけ出すために様々な手法が取られてきた。非特許文献1で、Naryは、折り返し補間型(folding and interpolating)の8ビット、2GspsADCを開示している。4ビットADCに必要な比較器の数は、アーキテクチャをフラッシュ(flash)から折り返し(folding)に切り換えると、15個から6個に減少する。このADCは、アナログ帯域幅および最大サンプリング速度を大きくし、かつフラッシュ・アーキテクチャADCよりも消費電力を小さくする。折り返し機能を実現する1つの方法は交差結合差動増幅器(cross-coupled, differential amplifiers)を使用し、この場合、1回の折り返し(fold)は、2つの交差結合差動増幅器を用いて実現される。より多くの抵抗器および差動増幅器対を追加することによって、折り返しの数を増すことができる。Naryは、98MHzの入力周波数を使用して、2GHzのサンプリング周波数という結果を報告している。
他の手法は、非特許文献2に開示され、これは、デジタル出力を逆多重化する方法を開示している。1.5GHzのサンプリング速度の場合、変換データは750MHzのクロックに同期して出力され、この変換データはクロックの立上りエッジと立下りエッジの両方で出力に現れる。そのとき、2つのラッチが使用され、1つのラッチは、位相同期データクロックの立上りエッジでクロックされ、第2のラッチは、180度位相のずれた信号を使用してクロックされる。これは、出力を375MHzに減少させる。入力データをラッチした後で、クロックド・メインは中間のラッチの組を使用してシフトされ、その結果、データのすべてが同じクロックエッジでメモリ・アレイにクロック入力される。これによって、そのデータ速度は187.5MHzに逆多重化される。単チャネル・デバイスをデュアル・エッジ・サンプリングモードにして、サンプリング速度を1.5Gspsから3.0Gspsにあげることができ、これによって、出力データのビット数は8から16に増加する。2〜3GHzよりも遥かに高いサンプリング周波数を変換することができるシステムおよび方法が必要とされることは明らかである。
Kevin Nary, "Design of a High-Performance Analog-to-Digital Converter", CSD Magazine, Oct. 1998 Ian King, "Capturing Data from Gigasample Analog-to-Digital Converters", I/O Magazine, Jan. 2006
本発明の目的は、もしそうしなければ十分に高い速度でサンプリングすることができないかもしれない回路を使用して、非常に高い周波数の入力アナログ信号を適切にサンプリングすることである。
ここで、説明される発明の実施形態は、いくつかのADCおよび中央処理装置(CPU)を有する基板(substrate)および分布サンプリング・システムを含む。各ADCは、指定されたCPUと連動して動作し、ADCシステムを形成する。それぞれの個々のADCシステムは、例として、0.18ミクロン・シリコンから形成された従来のデバイスを含むことができる。この例では、そのような個々のシステムは、1〜2GHz以下の範囲で信号をサンプリングすることができる。
本発明の説明は、非常に高い周波数の入力信号を適切にサンプリングするために複数の従来デバイスをどのように使用することができるかを例示する。タイミング信号は、遅延サンプリング・システムまたはリレー・サンプリング・システムとも呼ばれる分布サンプリング・システム(distributed sampling system)を通って進む。タイミング信号が分布サンプリング・システムに沿った第1の指定点に達したとき、第1のADCが入力信号をサンプリングする。タイミング信号が分布サンプリング・システムに沿った第2の指定点に達したとき、第2のADCが入力信号をサンプリングする。既定数のサンプリングが同じ既定数のADCシステムによって行われるまで、タイミング信号は分布サンプリング・システムを通り続ける。
今の例のように、デバイスが単一チップ上にある場合、タイミング信号は、分布サンプリング・システムを通ってチップに沿って転送される。それぞれ後続するサンプリングの発生は、前のサンプリング後のクロックされた時間量後に発生する。このことは、タイミング信号が分布サンプリング・システムを通って進むにつれて、この分布サンプリング・システムから生じる複数の連続して発生するサンプリング・プロンプト、またはタップに基づいて、達成される。これによって、結果として、いくつかのADCによる高い周波数の入力信号の累積的なサンプリングが行われることになり、これにより、最適なナイキスト−シャノン・サンプリングに必要な適切なサンプリングが実現される。例えば、ほんの1GHzサンプリングが可能な従来のシステムを使用して10GHzの入力信号を適切にサンプリングすることが望ましい場合には、入力アナログ信号を連続的にサンプリングするために20個のADCシステムが必要である。本実施例では、各ADCシステムは、前のサンプリングから50psecのクロック間隔後にサンプリングを得ることになる。20個のADCシステムすべてのサンプリング結果は、20GHzでサンプリングすることができる単一のADCシステムとほぼ同じ出力を生成する結果を得るように組み合わされる。
いくつかの分布サンプリング・システムが説明される。1つのそのような分布サンプリング・システムは、いくつかの細長い(引き延ばされた)配線パターン(elongated trace patterns)または追加された長さの金属線を含み、これらは電気的に直列に相互接続されている。タイミング信号は第1の追加された長さの金属線を通って進み、その後で、タイミング信号タップまたはプロンプトによって、入力信号のサンプリングが第1のADCシステムで行われるようになる。これは、Δtで与えられる指定された期間に起こる。このタイミング信号は、第2の追加された長さの金属線を通って続き、その後で、タイミング信号タップまたはプロンプトによって入力信号の第2のサンプリングが第2のADCシステムで行われるようになる。これは、第2の期間Δt後に起こる。タイミング信号は既定数の長さの金属線を通って続き、これによって、同じ既定数のADCシステムによる累積的なサンプリングが起こる。連続したサンプリングの結果は、複数のADCからの一連の連続したデジタル出力値である。デジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数でのサンプリングの結果であるかもしれない。
分布サンプリング・システムの他の例には、SAWデバイスなどの特定誘電率材料デバイスがある。デバイスの材料は、タイミング信号がそのデバイスを通って進む速度を決定する。タイミング信号がデバイスに沿った複数の等間隔点に達したとき、入力アナログ信号のサンプルが複数のADCシステムによって取得される。複数の連続したサンプリングのそれぞれの結果は、複数のADCからの一連の連続して発生するたデジタル出力値である。このデジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数でのサンプリングの結果であるかもしれない。
分布サンプリング・システムのさらに他の例では、シーケンサまたはマルチプライヤが使用され、これにより、設定された回数だけタイミング信号が増加され、各段(each stage)ごとに増分期間Δtが生成される。このADCシステムは、それぞれの期間Δt後に入力アナログ信号をサンプリングする。マルチプライヤ・サンプリング・システムによる入力信号のサンプリングの結果は、複数のADCからの一連の連続したデジタル出力値である。デジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数でのサンプリングの結果であるかもしれない。
大きな同相信号除去を実現するADC差動オペアンプの回路の例がまた説明される。位相をずらして入力信号をサンプリングすることによって、入力信号が完全に差動化され、背景雑音から分離される。このことは、いっそうきれいな信号を提供し、いっそう正確なサンプリング結果を提供する。
ADC回路のなお他の例はA−Dセルを開示し、このセルの基本は、入力に接続された電圧制御発振器(VCO)回路である。VCO出力はカウンタに入り、その出力は、XORゲートなどのゲートを通して基準周波数と比較されるか、または計時される(timed)。この出力は、CPUに接続し、CPUは、カウンタのリセットを制御する。
可変サイズ・アパーチャ・ウィンドウ(aperture window)サンプリング・システムの例も説明される。この例は、電圧制御抵抗器とコンデンサで構成された抵抗器−コンデンサ微分器などの可変アパーチャ・クロックを利用することによって実現される。この可変アパーチャ・クロックは、より狭いパルス幅、したがってより高速のサンプリング速度を形成するために、サンプリング・パルスのパルス幅を変えることができる。この可変サイズ・アパーチャ・ウィンドウ・サンプリング・システムは、単独でADCサンプリングに使用することができ、または前に説明された複数ADC分布サンプリング・システムのどれとでも組み合わせることができる。
本発明のこれらおよび他の目的および有利点は、本明細書で説明されるような、また図面のいくつかの図に例示されるような、本発明を実施する態様についての説明および本発明の産業上の応用性を考慮して、当業者には明らかになるだろう。列挙された目的および有利点は、本発明のすべての可能な有利点の網羅的な羅列ではない。さらに、1つまたは複数の意図された目的および/または有利点が、アプリケーションの中にないか、必要とされないかもしれない場合でさえも、本発明を実施することはできる。
さらに、当業者は、本発明の様々な実施形態は、説明された目的および/または有利点の、必ずしもすべてではないが、1つまたは複数を実現することができることを認めるであろう。したがって、本明細書で説明された目的および/または有利点は、本発明についての本質的な要素(essential elements)ではないので、限定するものとして解釈されるべきでない。
この発明は、図を参照して説明され、これらの図では、類似の番号は、同じまたは類似の要素を表している。この発明は、この発明の目的を達成する態様に関して説明されるが、今回特許請求される発明の精神および範囲から逸脱することなく、これらの教示を考慮して変形物(variations)が実現される可能性があることを、当業者は理解するであろう。
本明細書で説明され、かつ/または図面に示される本発明の実施形態および変形物は、例としてのみ示され、本発明の範囲について限定しない。本発明は、多くの変形物に適応可能であるように意図されているので、特に具体的に述べられない場合、本発明の個々の態様および構成要素は、特許請求される発明の精神および範囲内にありながらも、様々な用途のために省略されたり、または修正されたりすることができる。
図2は、本発明に従ったADCシステム200の例を示す。入力信号204は、チップ201の複数のアナログ−デジタル変換器セル202aから202nに渡される。この例では、外部サンプリング・クロック部205が示されているが、内部クロックも、同様に利用することができる。サンプリング・クロック205は、意図されたサンプリング速度よりも実質的に低い周波数、例えば10分の1または20分の1の周波数で出力される。時間分布装置(time distribution apparatus)206aから206nで、連続して発生する複数の期間を与えることによって、正味のサンプリング速度をn倍に上げることが可能である。この例では、これらの期間は、外部ソースによって与えられているが、上で述べたように、内部タイミング・ソーズも使用することができる。10GHzまでの周波数をもつ入力信号204を正確にサンプリングしなければならない場合には、最適なナイキスト−シャノン・サンプリングとして、に20GHzまたは22GHzのサンプリング・クロック205が必要であろう。しかし、本発明のシステムでは、サンプリング・クロック205は、例えばn=20または22の場合、それぞれ1GHzで動作させることができる。時間分布装置206aから206nによって与えられる期間は、1/20、1/22の増分であるか、またはサンプリング周波数の同様な増分であり、その結果、各ADC202はわずかに遅れた点で入力信号204をサンプリングするようになり、結果的に、20または22GHzの速度でサンプリングする単一のADCを使用することと同等なサンプリングとなる。時間分布装置206aから206nによって与えられる期間は、個々の分布ステーション(206aなど)と、対応する個々のADC(A/D202aなど)との間のタップ線接続207aから207nの結果として生じる。タイミング信号(サンプリング・クロック205によって生成された)が複数の直列接続分布ステーションすなわち分布装置206aから206nを通って進むとき、一連のタップまたはサンプリング・プロンプトが、タップ線接続207aから207nを通して対応するADC202aから202nに、それぞれ送られる。
この手法は、多数のADCまたはA−Dチャネル202を必要とし、この場合には少なくとも20または22を必要とすることは明らかであるが、比較的古い技術のチップ201、例えば0.18ミクロンのシリコンを使用することを可能にし、10GHz範囲ぐらいで伝わる信号をサンプリングすることを可能にする。A−Dチャネル202の数をさらにもっと増やすことによって、サンプリングされる信号の周波数(すなわち最高フーリエ変換成分)をさらに高くすることができるだろう。
要素202aから202nの、ADC、変換器セル、またはチャネルとしての名前は、この例では交換可能に使用されている。一般に、処理中にサンプル・データを失うことなくデータ量を処理することができるために、各A−Dチャネル202は、十分なデータ転送能力、例えば、A−Dチャネル202aから202nに対応するそれ自体のCPU203aから203nを持たなければならない。
入力信号の各ADCサンプリング間の期間は、以下の実施形態で例示されるように、様々なやり方で実現することができる。図3aは、本発明の第1の実施形態における、入力信号301について行われたそれぞれのサンプリングと、時間分布サンプリング・システムの配線パターン(trace pattern)303の複数のタップと、の間の時間関係を開示している。配線パターン303は、直列に接続された複数の、細長い(引き延ばされた)金属線(elongated wires)を含む。この時間分布サンプリング・システムは、複数のADCシステムを有し、各ADCシステムは、図2に関連して前に述べられたように、ADC202および関連した中央処理装置(CPU)203を備える。タイミング信号306が金属線の第1の長さ303aを通ってW1のタップ点に進んだとき、Δt304で与えられる測定可能な時間の量の後で入力信号301をサンプリングするためのプロンプトが作られる。このタイミングは、ADCサンプリング点C1として表される。タイミング信号306が金属線の第2の長さ303bを通って続いてW2の第2のタップ点に至ったときに、第2の期間Δt後に入力信号301をサンプリングするためのプロンプトが作られる。このタイミングは、ADCサンプリング点C2によって表される。個々のADCシステムは、タイミング信号306が分布線の各タップのタップ点W1からWnの各配線パターン303に達した後で、入力信号301をサンプリングする。連続して発生したサンプリングのそれぞれの結果は、複数のADCからの一連の連続して発生するデジタル出力値である。このデジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数での、サンプリングの結果とすることができる。
図3aを参照して、より詳細な説明がさらに説明される。タイミング信号306は、金属線の第1の長さ303aを通ってタップ点W1に進む。その時点で、入力信号301が第1のADCシステムによってサンプリングされ、ADCサンプリング点C1で時間が示されている。タイミング信号306が金属線の第2の長さ303bを通ってW2で表されるタップ点に進んだとき、入力信号301は、ADCサンプリング点C2で第2のADCシステムによってサンプリングされる。上述の分布サンプリング・システムは、C1、C2などで時間が示されたADCサンプリング点302で入力信号301をサンプリングし続ける。タイミング信号306が金属線の複数の長さ303を通って進むときに、入力信号301は、各連続して発生する期間Δt304の後でサンプリングされる。ナイキスト−シャノンの要求条件を満たすように入力信号301を適切にサンプリングするために、複数のADCシステムがチップ上に設けられる。
次の例を考える、これは、本発明をさらにはっきりさせるために与えられる。この与えられた例は、特徴を限定するものとして解釈されるべきでない。例えば、周波数10GHzの入力信号301がサンプリングされるべき場合、10GHz入力信号の適切なサンプリング速度についてのナイキスト−シャノン要求条件を満たすために、ADCサンプリング点302間の時間差304は、少なくとも50psecである必要がある。各連続するADCシステムは、サンプリング点C1、C2などで入力信号301をサンプリングし、各サンプリングは、前のADCサンプリングから50psec後に行われる。ADCサンプリング点302の時間は、配線パターン303に沿ったW1、W2などの連続するタップ点に対応している。各ADCシステムが1nsecごとにサンプルを取り込む、または取得することができる場合、10GHz入力信号を適切にサンプリングするために、合計20個のADCシステムが必要である。この例では、今説明される発明の、相互接続された金属線の複数の長さを使用する分布サンプリング・システムは、20Gspsのサンプリング速度で10GHzの入力信号をサンプリングすることができる単一ADCを使用することと同等である。
図3bは、本発明の第2の実施形態における、入力信号301について行われる複数のサンプリングと時間分布サンプリング・システムのインバータ対305の直列接続で作られた各タップとの間の時間関係を開示している。図3aの各クロック配線パターン303は、図3bでは、一対のインバータ305と取り替えられている。タイミング信号306は一連の接続されたインバータ対305を通って進む。タイミング信号306が第1のインバータ対305aを通って進んだとき、第1の期間Δt304後に入力信号301をサンプリングするためのプロンプトが作られ、これは、ADCサンプリング点C1と一致している。タイミング信号306が第2のインバータ対305bを通って続くときに、第2の期間Δt304後に入力信号301をサンプリングするためのプロンプトが作られ、これは、ADCサンプリング点C2と一致している。個々のADCシステムは、タイミング信号306が各インバータ対を通ってW1からWnで示された点に、それぞれ進んだときに生じるADCサンプリング点C1からCnの各々で、入力信号301をサンプリングする。この連続して発生するサンプリングの結果は、複数のADCからの一連の連続して発生するデジタル出力値である。デジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数での、サンプリングの結果とすることができる。
図3bを参照して、さらに詳細に説明する。タイミング信号306が第1のインバータ対305aを通ってW1で表されたタップ点に進んだとき、時間がC1で示される第1のADCサンプリング点で、第1のADCシステムによって入力信号301はサンプリングされる。タイミング信号306が第2のインバータ対305bを通ってW2で表されるタップ点に進んだとき、第2のADCサンプリング点C2で、第2のADCシステムによって入力信号301はサンプリングされる。上に与えられた分布サンプリング・システムは、タイミング信号306が複数のインバータ対305を通って進むときに入力信号301をサンプリングし続ける。タイミング信号306が各インバータ対302を通過するときに、入力信号301は、各連続した期間Δt304後に各ADCサンプリング点302でサンプリングされる。ナイキスト−シャノンの要求条件を満たすように入力信号301を適切にサンプリングするために、いくつかのADCシステムがチップに設けられる。
図4は、本発明の第3の実施形態における、入力アナログ信号405について行われるサンプリングと特定誘電率材料デバイス401に作られたタップ列との間の時間関係を開示している。時間分布サンプリングは、表面音響波(SAW)デバイスなどの特定誘電率材料デバイス401を使用することによって実現される。入力信号405は、タイミング信号406がデバイス401に沿ってS1からSnで与えられる各等間隔点を通りすぎて進むときに、各測定可能期間Δt403後にサンプリングされる。
図4で表された特定誘電率材料デバイスの分布サンプリング・システムは、図3aの配線分布サンプリング・システムと同様に動作する。図2を参照して前に説明されたように、個々のADCシステムはADCおよび対応するCPUを含む。各連続したADCシステムは、タイミング信号406が点S1からSnに対応するデバイス401に沿った各連続した等間隔点に達したとき、ADCサンプリング点402で表される入力信号405をサンプリングする。タイミング信号406がデバイス401を通って進むときに、各増分期間Δt403後に入力信号405をサンプリングするためのプロンプトが作られ、Δt403の値は、デバイス401の特有の材料によって決定される。タイミング信号406がS1で与えられる第1のサンプリング点402に達したとき、第1のADCシステムによって第1のADCサンプリング点C1で入力信号405をサンプリングするためのプロンプトが作られる。第2の期間Δt403後にデバイス401内の第2のサンプリング点S2にタイミング信号406が達したとき、対応する第2のADCサンプリング点C2で入力信号405をサンプリングするように第2のADCシステムが促される。上述の分布サンプリング・システムは、ADCサンプリング点402で入力信号405をサンプリングし続け、このサンプリング点402は、時間がデバイス401のS1からSnに対応している。連続したサンプリングの結果は、複数のADCからの一連の連続して発生するデジタル出力値である。デジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数での、サンプリングの結果とすることができる。
10GHzの入力信号405を使用する例では、タイミング信号406は、デバイス401内のS1で与えられる第1の点に進む。この点で、50psecの第1の期間403後に第1のADCサンプリング点C1で入力信号405をサンプリングするように、第1のADCシステムが促される。タイミング信号406がデバイス401内の第2の点S2に進んだとき、50psecの第2の期間403後に生じる第2のサンプリング点C2で入力信号405をサンプリングするように、第2のADCシステムが促される。各ADCシステムが1nsecの速度で入力信号405をサンプリングする場合、10GHzの入力信号405を適切にサンプリングするために20個のADCシステムが必要であろう。この例では、今説明される発明の特定誘電率材料デバイスを使用する分布サンプリング・システムは、20Gspsのサンプリング速度で10GHzの入力信号をサンプリングすることができる単一ADCを使用することと同等である。
第4の実施形態は、シーケンサまたはマルチプライヤ分布サンプリング・システム(sequencer or multiplier distributed sampling system)601を開示し、図5を参照して説明される。シーケンサ分布サンプリング・システム601の例は、シーケンサ501としてエミッタ結合論理(ECL)を使用することができる。シーケンサ501は、w1からwnで表されている複数のトリガ508からなるグループを含む。各トリガ508はADC502に接続され、各ADC502は、関連付けられたCPU506に接続されている。タイミング信号507がシーケンサ501に入り、各段は、Δt503で与えられる同じ増分量の差でタイミング信号507を配列し、すなわち増やす。したがって、パルス504が第1のADCトリガw1を通って進むときに、入力信号505がADC1によってサンプリングされる。第2の期間Δt503後に、パルス504は第2のADCトリガw2を通って進み、入力信号505はADC2によってサンプリングされる。上述の分布サンプリング・システムは、n個のトリガw1からwnを利用し、かつADC1からADCnの変換器を使用して入力信号505をそれぞれサンプリングし続ける。これらのサンプリングの結果は、n個の関連付けられたCPU506によって処理される。連続して発生する複数のサンプリングの結果は、複数のADCからの一連の連続したデジタル出力値である。デジタル出力値は、すべて同じ周波数か、または異なる周波数での、サンプリングの結果とすることができる。シーケンサ501の重要な特徴は、各トリガ508間の時間を変えることができることである。
10GHzの入力信号505の例では、シーケンサ501は、w1からw20で表されるような20個のトリガ508を備える。入力アナログ信号505は、50psecの期間Δt503の間隔で連続的にサンプリングされる。例えば、50psecの第1の期間Δt503後にパルス504が第1のADCトリガw1を通って進んだとき、ADC1は、入力アナログ信号505をサンプリングする。次に、50psecの第2の期間Δt503後にパルス504が第2のADCトリガw2を通って進んだとき、ADC2は、入力アナログ信号505をサンプリングする。各ADC502が1nsecの速度で入力アナログ信号505をサンプリングすることができる場合、20Gspsのサンプリング速度で10GHzの入力信号505を適切にサンプリングするために、20個の関連したADC502および20個の関連したCPU506に加えて20個のトリガ508が必要である。この例では、今説明される発明のシーケンサまたはマルチプライヤと共に複数のADCを使用する分布サンプリング・システムは、20Gspsのサンプリング速度で10GHzの入力信号をサンプリングすることができる単一のADCを使用することと同等である。
図6は、クロック発生ブロック602を追加した、図5を参照して説明したシーケンサまたはマルチプライヤ分布サンプリング・システム601のブロック図である。クロック発生ブロック602は、内部または外部とすることができ、位相同期ループ(PLL)、遅延同期ループ(DLL)、電圧制御発振器(VCO)、リング発振器、水晶発振器、または他の型の発振器を含むことができるが、これらに限定されない。図6は、また、タイミング信号603を示す。
図7aは、前に説明された発明で使用することができるADCの回路図707であり、差動オペアンプを利用している。図7aに示された差動オペアンプ・システムは、オペアンプ702aおよび702bに接続して使用される2つの入力源701を有し、ここで、オペアンプ702bは、選択可能利得マルチプライヤ(selectable gain multiplier)を有する電圧−電流ドライバである。この構成は、入力信号を非常に正確に再生するために大きな同相信号除去を提供する。図7aのシステムは、さらに、カウンタ704、CPU705、およびデジタル出力信号706を示す。
図7bは、シングルエンド電圧制御発振器703を備えるADCの回路図707を示す。残りの要素は図7aと同じである。図7aのインバータ・システムには、サンプリングされるべき所望の入力信号701を望ましくない背景雑音から分離するという利点がある。図7bは、ノイズ耐性がない。しかし、図7bのインバータ・システムはただ1つのピン接続を必要とするが、図7aのインバータ・システムは2つのピン接続を必要とする。
図7aおよび7bのADC回路図は、入力アナログ信号をサンプリングするために、前に説明されたADC/CPU分布サンプリング・システムのどれとでも一緒に使用することができる。
上述のADC/CPU分布サンプリング・システムは、また、発明者によく知られた様々なアーキテクチャのいずれかを使用して集積化することができる。本発明を実施する1つの態様は、個々のコンピュータのアレイを利用することである。アレイが、図8の図に示され、ここで全体的な参照番号10で示されている。このコンピュータ・アレイ10は、複数(図示の例では24)のコンピュータ12(アレイのこの例では「コア」または「ノード」と呼ばれることもある)を含む。図示の例では、コンピュータ12のすべてが単一のダイ(die)14の上にある。本発明によれば、コンピュータ12の各々は、一般に独立して機能するコンピュータであるが、このことは以下でより詳細に述べられる。コンピュータ12は、複数(この数は以下でより詳細に述べられる)の相互接続データ・バス16で相互接続されている。この例では、データ・バス16は、双方向非同期高速並列データ・バスであるが、他の相互接続手段もこの目的のために使用することができることは本発明の範囲内である。アレイ10の本実施形態では、複数のコンピュータ12間のデータ通信が非同期とすることができるだけでなく、個々のコンピュータ12は、内部的に非同期モードで動作することもできる。個々のコンピュータ12は非同期で動作し、各コンピュータ12は、命令を実行していないときに基本的に電力を使用せず、さらにコンピュータ内を走っているクロックがないので、大量の電力を節約する。
分かり易くするために、図8の図から省略された追加の構成要素がダイ14上にあることを、当業者は認めることであろう。そのような追加の構成要素には、マイクロ・プロセッサ・チップの電力バス、外部接続パッド、および他のそのような一般相(common aspects)がある。
コンピュータ12eは、アレイ10の周辺部にないコンピュータ12の1つの例である。すなわち、コンピュータ12eは、4つの直交方向に隣接したコンピュータ12a、12b、12cおよび12dを有している。コンピュータ12aから12eのこのグループは、以下では、アレイ10の複数のコンピュータ12間の通信についてのより詳細な議論に関連して、一つの例として使用される。図8の図で理解されるように、コンピュータ12eなどの複数の内部コンピュータ12は、バス16を介して直接通信することができる4つの他のコンピュータ12を有している。以下の議論において、議論される原理は、アレイ10の端のコンピュータ12が3つだけの他のコンピュータ12と直接連絡し、また角のコンピュータ12が2つだけの他のコンピュータ12と直接連絡していることを除いて、コンピュータ12のすべてに当てはまる。
図9は、図8の一部のより詳細な図であり、コンピュータ12のうちの一部のみ、特にコンピュータ12aから12eまでを示している。図9の図は、また、データ・バス16各々が読出しライン18、書込みライン20および複数(この例では、18)のデータ・ライン22を有することを明らかにしている。データ・ライン22は、1つの18ビット命令ワードのすべてのビットを同時に並列に転送することができる。
本発明方法によると、コンピュータ12eなどのコンピュータ12は、それぞれの1つ、2つ、3つまたは4つすべての隣接したコンピュータ12からデータを受け取ることが準備されるように、読出しライン18の1つ、2つ、3つまたは4つすべてをハイに設定することができる。同様に、また、コンピュータ12がそれの書込みライン20の1つ、2つ、3つまたは4つすべてをハイに設定することが可能である。
隣接したコンピュータ12a、12b、12cまたは12dのうちの1つが、それ自体とコンピュータ12eの間の書込みライン20をハイに設定したとき、コンピュータ12eが対応する読出しライン18を既にハイに設定していれば、関連したデータ・ライン22上でコンピュータ12a、12b、12cまたは12dからコンピュータ12eにワードが転送される。次ぎに、送信コンピュータ12は書込みライン20を解放し、受信コンピュータ(この例では、12e)は書込みライン20と読出しライン18の両方をローに引き込む。この後者の動作は、データが受信されたことを送信コンピュータ12に通知する。上の説明は必ずしも事象の連続を順序で示すことを意図していないことに注意されたい。実際には、送信コンピュータ12が書込みライン20を解放する(ハイに引き込むのを止める)わずか前に、受信コンピュータが書込みライン20をローに設定しようとすることがある。そのような例では、送信コンピュータ12が書込みライン20を解放するや否や、書込みライン20は、受信コンピュータ12eによってローに引き込まれることになる。
コンピュータ12eなどのコンピュータ12が、書込みを見越して書込みライン20の1つをハイに設定しているときはいつでも、データが送信されるべきコンピュータ12が読出しライン18を既にハイに設定しているという場合(この場合には、データは直ちに転送される)を除いて、コンピュータ12は、基本的に電力を使用しないで、適切な隣接コンピュータ12から上述のようにデータが「要求」されるまで、ただ単に待っている。同様に、コンピュータ12が読出しを見越して読出しライン18の1つまたは複数をハイに設定しているときはいつでも、そのコンピュータ12は、選ばれたコンピュータ12に接続された書込みライン20がハイになって2つのコンピュータ12の間で命令ワードを転送するようになるまで、基本的に電力を使用しないでただ単に待っている。
上で述べたように、コンピュータ12を上述のように機能させるいくつかの可能な手段および/または方法がある可能性がある。しかし、この例では、コンピュータ12は、ただ全体的に内部非同期で動作しているために(上述の非同期のやり方でその間でデータを転送するほかに)、そのように動作する。すなわち、命令は、一般に連続的に達成される。書込みか読出しかのどちらかの命令が起きたとき、その命令が達成されるまで(または、おそらく代わりに、その命令が、「リセット」などによるやり方で中止されるまで)、他の動作はあり得ない。従来技術の意味では、規則的なクロック・パルスは存在しない。それどころか、実行される命令が読出し型か書込み型かの命令でないときだけ(読出し型または書込み型命令はしばしば他のエンティティによる達成を要求すると仮定して)、そうでなければ、その読出し型または書込み型動作が実際に達成されたとき、次の命令を達成するためにパルスが生成される。
図10は、図8および9のコンピュータ12の1つの例の全体的な配置を示すブロック図である。図10の図で理解できるように、コンピュータ12の各々は、一般に、RAM24およびROM26をそれ自身に有するコンピュータ(self contained computer)である。前に言及したように、複数のコンピュータ12は、また、この例では単一チップ上で組み合わされていると仮定して、個々に「ノード」と呼ばれることもある。
コンピュータ12の他の基本的な構成要素は、Rレジスタ29を含んだ戻りスタック(return stack)28、命令領域30、論理演算装置(「ALU」または「プロセッサ」)32、データ・スタック34、および命令を復号するための復号論理部分36である。当業者は、この例のコンピュータ12などのスタック・ベースのコンピュータの動作を一般によく分かっているだろう。コンピュータ12は、データ・スタック34と別個の戻りスタック28を有するデュアル・スタック・コンピュータである。
本発明のこの実施形態では、コンピュータ12は、隣接コンピュータ12と通信するために4つの通信ポート38を有している。これらの通信ポート38は、上ポート38a、右ポート38b、左ポート38c、下ポート38dによってさらに特定される。通信ポート38は3状態ドライバであり、オフ状態、受信状態(信号をコンピュータ12の中へ入れるため)および送信状態(信号をコンピュータ12から外に出すため)を有している。特定のコンピュータ12が、コンピュータ12eの例などの、アレイ(図8)の内部にない場合には、その特定のコンピュータでは、通信ポート38の1つまたは複数が少なくとも上述の目的のために使用されない。しかし、ダイ14の端部にあるそれらの通信ポート38は、このポート38が外部I/Oポート39(図8)として動作するようにするために、そのコンピュータ12の中に設計された追加の回路か、代わりにコンピュータ12の外であるがそのコンピュータに関連付けられた追加回路か、を含むことができる。そのような外部I/Oポート39の例には、制限されないが、USB(ユニバーサル・シリアル・バス)ポート、RS232シリアル・バス・ポート、並列通信ポート、アナログ−デジタルおよび/またはデジタル−アナログ変換ポート、および他の多くの可能な変形がある。本発明の今説明される実施形態によれば、この目的のためにどのようなタイプの追加または修正回路が使用されようとも、「外部」I/Oポート39の、そこから受信された命令および/またはデータの処理に関する動作方法は、「内部」通信ポート38に関連して本明細書で説明されたものと似ているであろう。図8において、「端」のコンピュータ12fは、外部I/Oポート39を介して外部デバイス82と通信するための関連インターフェース回路80(ブロック図の形で示されている)と共に示されている。
ここで説明される実施形態では、命令領域30は、この例ではAレジスタ40a、Bレジスタ40bおよびPレジスタ40cを含んだいくつかのレジスタ40を含む。この例では、Aレジスタ40aは、完全18ビット・レジスタであるが、一方で、Bレジスタ40bおよびPレジスタ40cは、9ビット・レジスタである。また、図10の図にブロック図の形で、スロット・シーケンサ42が示されている。
データ・スタック34および戻りスタック28は、多くの従来技術のコンピュータなどの、スタック・ポインタによってアクセスされるメモリの形式のアレイではない。そうではなくて、スタック34および28は、レジスタのアレイである。データ・スタック34の最上部の2個のレジスタは、Tレジスタ44とSレジスタ46である。データ・スタック34の残りのものは、この例ではS2からS9の番号が付けられた8個の追加ハードウェア・レジスタをその中に有する循環レジスタ・アレイ(circular register array)34aを含む。循環レジスタ・アレイ34aの中の8個のレジスタのうちの1つは、随時Sレジスタ46より下位のレジスタとして選ばれることになる。スタック・レジスタをSより下位であるように選ぶシフトレジスタの値は、ソフトウェアで読み出したり書き込んだりすることができない。同様に、戻りスタック28の最上位の位置は、専用Rレジスタ29であるが、一方で、戻りスタック28の残りのものは、この例ではR1からR8の番号が付けられた8個の追加ハードウェア・レジスタ(図面に具体的に示されていない)を有する循環レジスタ・アレイ28aを含む。
本明細書で前に述べられたレジスタに加えて、命令領域30は、また、現在使用されている命令ワードを格納するための18ビット命令レジスタ30aと、現在実行されている特定の命令ワードのための追加の5ビット演算コードレジスタ(opcode register)30bとを含む。
前述のADC/CPU分布サンプリング・システムは、上述のコンピュータ・アレイと共に集積化され、異なるタイプ、大きさおよび目的の数多くのシステム組合せをもたらすことができる。さらに、そのようなシステムは、基板上に共に集積化された個々の個別部品として処理(process)されるか、または単一チップ上に、すべて処理されるか、またはこれら2つの処理の組合せとすることができる。
次の説明は、ADCアレイの様々な実施形態のうちの2つの例を与える。しかしながら、これらの例は、本発明をさらにはっきりさせるために与えられ、限定する特徴と解釈されるべきでない。図11aは、いくつかのコンピュータ、すなわちノード12を有するチップまたはダイ14を示す。内部コンピュータ12は、汎用コンピュータ(G)94として示され、これらは、相互接続されて前述のようにそれらの間で資源を共用することができる。ダイ14の周辺部は、いくつかのADC(A)95を含む。各ADC(A)95は、ADCコンピュータ(C)96と呼ばれる専用コンピュータを有している。各ADCコンピュータ(C)96は、汎用コンピュータ(G)94のどれかまたはすべてにアクセスすることができる。ADCコンピュータ(C)96間の接続は、利用されることもあり、利用されないこともある。
図11bは、いくつかのコンピュータ12を有するダイ14の他の実施形態を示す。ADC(A)95は、ダイ14の周辺部に形成されているが、図11aのように専用ADCコンピュータ(C)96はない。各ADC(A)95は、相互接続された汎用コンピュータ(G)94のどれか、またはすべてとの直接アクセスを有することになる。
図11cは、合計40個のコンピュータ12を有するダイ14を示し、20個のコンピュータ12はADC(A)95であり、20個のコンピュータ12は汎用コンピュータ(G)94である。図11cは、10GHzの入力アナログ信号をサンプリングする前の例で利用することができるダイ14の例である。各個々のADCは、1Gspsの速度でサンプリングすることができ、これにより、20個のそのようなADC(A)95および20個の関連汎用コンピュータ(G)94が、10GHz入力アナログ信号をサンプリングするために必要になることになる。
図12aは、本発明の他の実施形態によるADCシステム1200の回路図である。この実施形態では、測定された電圧は周波数に変換され、この周波数が次にデジタル回路によって読み取られる。A−Dセル202の基本は、入力204に接続された電圧制御発振器(VCO)1201を使用するVCO回路である。このVCO出力は、カウンタ1202に入り、その出力は次にゲートによって基準周波数1203と比較されるか、または基準周波数1203で計時される。ゲート信号1203がゲート1204の一方の入力でアクティブにされると、カウンタ1202によってゲート1204の他方の入力でアクティブにされた計数値は、ゲート1204の出力に通される。ゲート1204の出力(入力204の電圧を表す計数値)は、CPU203に接続され、このCPU203は、また、信号ライン1205を通してカウンタ1202のリセットを制御する。信号1203は、同時にCPU203に供給されるか、もしくはCPU203によって供給され、この結果、CPU203は、何時、有効な計数信号がゲート1204によって供給されるかの目安(indication)を有する。この例では、ゲート1204は、XORゲート1204である。言い換えれば、XORゲート1204は、単にゲートとして動作する。
図12aのADC回路図は、前に上で述べられた従来技術のADC変換方法の利点を組み合わせ、これらの方法の不利な点を軽減し、または除去している。図12aのADC回路図は、図1Aのサンプル・ホールド回路の簡単さおよび信頼性を有し、かつ位相検出器、フラッシュ(図1B)および逐次近似(図1C)の回路の速度および精度を有している。図12aの本発明の新規な回路は、部品の数が少なく、諸費電力は、高速回路にも関わらず、大変少ない。本発明の新規なADC回路の入力204は、電圧源に限定されず、さらに周波数に依存しない。VCO1201の範囲に対して制限がなく、またカウンタ1202は、どんな速度(speed or rate)にも開かれている。
図12bは、0.18ミクロンのシリコンなどのCMOSシリコン・プロセスのVCO1201の特性を線図(diagram)1211として示す。入力電圧範囲は、0から1.8ボルトであるが、この範囲で、周波数は1GHzから2GHzまで動く。しかし、そこには、ほぼ1ボルトまたは1〜1.2ボルト幅の狭いダイナミックレンジまたは有効範囲1212しか存在しない。伝達曲線1213は、x軸に入力電圧を示し、y軸にGHz単位の出力周波数を示す。入力204(図12a)は、電圧値と周波数値の間に1対1の関係のある有効範囲内1212にその電圧振幅が入るように、バイアスされるべきであることを、当業者は理解することであろう。留意されたいことであるが、この1対1の関係は線形である必要はない。
図13は、本発明の他の実施形態に従った高度サンプリング・システム1300を示す。A−D変換器セル202で、入力ライン204は、任意の入力バッファ1307に接続される。次に、入力バッファ1307は、入力サンプリング・スイッチ1301に接続され、この入力サンプリング・スイッチ1301は、サンプル・ホールド・コンデンサ1302に接続され、サンプル・ホールド・コンデンサ1302の電圧がVCO1201を制御する。この手法は、発振器が、サンプリングとサンプリングの間で安定した周波数で動作することを可能にする。VCO1201は、次ぎに、カウンタ1202に接続され、上述のように、このカウンタ1202は次にCPU203に接続される。
CPU203は、また、この例では、サンプリング・パルスを制御し、これをバッファ1306に送る。電圧制御抵抗器1304とコンデンサ1305で作られた抵抗器−コンデンサ微分器などの、可変アパーチャ・クロック・システムが利用され、ここで抵抗器1304は、電圧で調節可能な抵抗器である。CPU203は、微分される、短いパルスを生じさせ、これは、バッファ1303によってバッファリングされ、入力サンプリング・スイッチ1301を制御する。CPU203は、この抵抗器の電圧を制御することによって、サンプリング期間のパルス幅を変えて、より小さなアパーチャ・ウィンドウを生成し、それによってサンプリング速度を高めることができる。
電圧制御抵抗器1304およびコンデンサ1305は、抵抗器−コンデンサ微分器を生成し、この微分器が、入力サンプリング・スイッチ1301のアパーチャ・ウィンドウ・サイズすなわち可変可能な速度を決定する。CPU203は、抵抗器1304の電圧を制御することによってサンプリング期間のパルス幅を変える。CPU203は、より短い微分パルスを生成し、それによって、入力サンプリング用のサンプル・ホールド・スイッチ1301を制御する。より短いサンプリング・アパーチャ・ウィンドウは、より高い周波数の入力信号をサンプリングする能力を与える。可変サンプリング・アパーチャ・ウィンドウは、また、再同期化回路によって、さらに、全体的に、そのサンプリング位相の後部を再同期させる。
パルス幅を変えることは、コンデンサのセトリング・タイム(settling time)などに影響を及ぼし、したがってサンプリングの精度に影響を及ぼす。速度と精度の間にはトレードオフ(trade-off)があり、より高い速度は、より精度の劣る測定をもたらす。したがって、抵抗器1304は、システムが、CPU203でコードとして実行される、精度に関するソフトウェア制御(図示せず)を行うことを可能にする。
抵抗器−コンデンサ(RC)微分器は、この例では、説明を明確にするために、CPU203の外部に示されている。このRC回路の詳細な細部は、本発明の実施にとって特に重要というわけではない。実際、当業者は、多くのCPUにはパルス幅変調信号を出力する内部機能があることを認めるであろう。したがって、特定の用途の細部が要求する場合に、制御された幅のパルスが、CPU203から直接に、またはある外部回路を通して、スイッチ1301に供給されることができることは、認められるべきである。パルス幅変調信号をスイッチ1302に供給するのに任意の手段を使用することができる。
可変サンプリング速度を可能にする可変幅アパーチャ・ウィンドウのここで説明された発明は、単独で、または前に説明された時間分布ADCサンプリング・システムのどれとでも組み合わせて、使用することができる。したがって、複数のADC分布サンプリング・システムの各ADCは、また、より短いパルス生成するために、したがってより短いアパーチャ・ウィンドウおよびより高速のサンプリング速度を実現するために、抵抗器−コンデンサ微分器などの可変アパーチャ・クロックを備えることができる。同様に、ADC可変速度アパーチャ・ウィンドウ・サンプリング・システムは、前に説明された複数のADC分布サンプリング・システムの実施形態のどれとでも一緒に使用されことができ、これらの実施形態には、図3aに関連して説明された配線パターンの実施形態、図3bに関連して説明されたインバータ対の実施形態、図4に関連して説明された特定誘電率材料デバイスの実施形態、および図5および6に関連して説明されたシーケンサの実施形態があるが、これらに限定されない。
上の例のすべては、本発明の利用可能な実施形態の例のうちのいくつかにすぎない。本発明の精神および範囲から逸脱することなく、数多くの他の変形または変更がなされる可能性があることは、当業者は容易に気づくことであろう。したがって、本明細書の開示は、限定するものとして意図されておらず、特許請求の範囲は、本発明の全範囲を包含するものとして解釈されるべきである。
従来のADCシステムを示すブロック図である。 サンプル・ホールドADCを示す回路図である。 フラッシュADCを示す回路図である。 逐次近似ADCを示す回路図である。 本発明に従った全体的なADCシステムを示すブロック図である。 説明された発明の第1の実施形態による、入力アナログ信号について行われるサンプリングとタイミング信号分布ラインに作られたタップとの間のタイミング関係を示す図である。 説明された発明の第1の実施形態による、入力アナログ信号について行われるサンプリングとタイミング信号分布ラインに作られたタップとの間のタイミング関係を示す図である。 説明された発明の第2の実施形態による、入力アナログ信号について行われるサンプリングとタイミング信号分布ラインに作られたタップとの間のタイミング関係を示す図である。 説明された発明の第3の実施形態を示すブロック図である。 説明された発明の第3の実施形態を示すブロック図である。 説明された発明で使用することができるADCを示す回路図である。 説明された発明で使用することができるADCを示す回路図である。 本発明による、コンピュータ・アレイを示す図である。 図8のコンピュータのサブセットを示す詳細な図および図8の相互接続データ・バスのより詳細な図である。 スタック・コンピュータの全体的な配置を示すブロック図である。 本発明による、ADCおよびコンピュータ・システムのアレイを示す図である。 本発明による、ADCおよびコンピュータ・システムのアレイを示す図である。 本発明による、ADCおよびコンピュータ・システムのアレイを示す図である。 本発明による、ADCサンプリング・システムを示す回路図である。 CMOSシリコン・プロセスの入力電圧対出力周波数の特性を示す図である。 本発明による、高度ADCサンプリング・システムを示す回路図である。
符号の説明
100 アナログ−デジタル(A−D)サンプリング・システム
101 チップ
102 A−Dブロック
103 入力信号
104 サンプリング周波数制御
105 データ出力
200 ADCシステム
201 チップ
202 アナログ−デジタル変換器セル
203 CPU
204 入力信号
205 外部サンプリング・クロック部
206 時間分布装置
301 入力信号
302 ADCサンプリング点
303 配線パターン
304 時間差
305 インバータ対
306 タイミング信号
C ADCサンプリング点
W タップ点
401 特定誘電率材料デバイス
402 ADCサンプリング点
403 測定可能期間Δt
405 入力信号
406 タイミング信号
S タイミング信号のサンプリング点
501 シーケンサ
502 ADC
503 増分量の差
504 パルス
506 CPU
507 タイミング信号
508 トリガ
601 マルチプライヤ分布サンプリング・システム
602 クロック発生ブロック
603 タイミング信号
701 入力源
702 オペアンプ
703 シングルエンド電圧制御発振器
704 カウンタ
705 CPU
706 デジタル出力信号
707 ADCの回路図
10 コンピュータ・アレイ
12 コンピュータ
14 ダイ
16 相互接続データ・バス
18 読出しライン
20 書込みライン
22 データ・ライン
24 RAM
26 ROM
28 戻りスタック
29 Rレジスタ
30 命令領域
32 論理演算装置(ALU)
34 データ・スタック
36 復号論理部分
38 通信ポート
39 外部I/Oポート
40 レジスタ
42 スロット・シーケンサ
44 Tレジスタ
46 Sレジスタ
80 関連インターフェース回路
94 汎用コンピュータ
95 ADC
96 ADCコンピュータ
1200 ADCシステム
1201 電圧制御発振器(VCO)
1202 カウンタ
1203 基準周波数
1204 ゲート
1205 信号ライン
1211 0.18ミクロンのシリコンなどのCMOSシリコン・プロセスのVCO1201の特性図
1212 ダイナミックレンジ(有効範囲)
1213 伝達曲線
1300 高度サンプリング・システム
1301 力サンプリング・スイッチ
1302 サンプル・ホールド・コンデンサ
1303 バッファ
1304 抵抗器
1305 コンデンサ
1306 バッファ
1307 入力バッファ

Claims (40)

  1. アナログ−デジタル変換器(ADC)システムであって、
    入力信号ラインと、
    入力サンプリング・スイッチと、
    サンプル・ホールド・コンデンサと、
    可変アパーチャ・クロック部と、
    カウンタと、
    電圧制御発振器と
    を備えることを特徴とするアナログ−デジタル変換器(ADC)システム。
  2. 前記サンプル・ホールド・コンデンサは、前記電圧制御発振器を制御することを特徴とする請求項1に記載のADCシステム。
  3. 前記可変アパーチャ・クロック部は、抵抗器−コンデンサ微分器を備えることを特徴とする請求項1に記載のADCシステム。
  4. 前記システムは、中央処理装置(CPU)をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のADCシステム。
  5. 前記入力サンプリング・スイッチは、前記可変アパーチャ・クロック部を通して前記CPUによって制御されることを特徴とする請求項4に記載のADCシステム。
  6. 前記CPUおよび前記可変アパーチャ・クロック部は、サンプリング期間のパルス幅を変えることを特徴とする請求項4に記載のADCシステム。
  7. 前記可変アパーチャ・クロック部は、電圧制御抵抗器およびコンデンサを備えることを特徴とする請求項1に記載のADCシステム。
  8. アナログ−デジタル変換器(ADC)システムを使用する方法であって、
    入力サンプリング・スイッチを設けること、
    中央処理装置(CPU)を設けること、
    電圧制御発振器を設けること、
    可変アパーチャ・クロック部を設けること、
    前記CPUによってサンプリング・パルスを生成すること、および
    前記可変アパーチャ・クロック部によって前記サンプリング・パルスから微分パルスを形成すること
    を含むことを特徴とする方法。
  9. 前記可変アパーチャ・クロック部は、抵抗器−コンデンサ微分器を備えることを特徴とする請求項8に記載の方法。
  10. 前記可変アパーチャ・クロック部は、
    電圧制御抵抗器、および
    コンデンサを
    備えることを特徴とする請求項8に記載の方法。
  11. 前記可変アパーチャ・クロック部は、前記入力サンプリング・スイッチの可変速度アパーチャ・ウィンドウを生成することを特徴とする請求項8に記載の方法。
  12. 前記可変アパーチャ・クロック部は、サンプリング期間のパルス幅を変えることを特徴とする請求項8に記載の方法。
  13. 前記可変アパーチャ・クロック部は、前記入力サンプリング・スイッチのアパーチャ・ウィンドウ・サイズを制御することを特徴とする請求項8に記載の方法。
  14. 入力アナログ信号をサンプリングする方法であって、
    分布サンプリング・システムを通してタイミング信号を送ること、
    複数のアナログ−デジタル変換器(ADC)の少なくとも1つに対して、可変アパーチャ・クロック部によって、サンプリング・パルスから微分パルスを形成すること、
    前記複数のADCをそれぞれ使用して入力アナログ信号を複数回サンプリングすること、および
    前記入力アナログ信号サンプリングの各々を組み合わせ、一連の連続したデジタル出力値を形成すること
    を備えることを特徴とする方法。
  15. 中央処理装置(CPU)をさらに備えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  16. 前記可変アパーチャ・クロック部は、抵抗器−コンデンサ微分器を備えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  17. 前記可変アパーチャ・クロック部は、
    電圧制御抵抗器、および
    コンデンサ
    を備えることを特徴とする請求項15に記載の方法。
  18. 前記CPUは、前記電圧制御抵抗器の電圧を制御することを特徴とする請求項17に記載の方法。
  19. 前記可変アパーチャ・クロック部は、サンプリング期間のパルス幅を変えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  20. 前記可変アパーチャ・クロック部は、入力サンプリング・スイッチのアパーチャ・ウィンドウ・サイズを制御することを特徴とする請求項14に記載の方法。
  21. 前記微分パルスは、前記サンプリング・パルスよりも短いことを特徴とする請求項14に記載の方法。
  22. 前記微分パルスは、入力サンプリング・スイッチの、より小さなアパーチャ・ウィンドウ・サイズを生じさせることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  23. 前記分布サンプリング・システムは、連続的にタイミング調整されたサンプリングの各々が、先行する最後のサンプリングからある量の時間だけずれているように、前記入力アナログ信号の前記連続的にタイミング調整されたサンプリングを行うことを特徴とする請求項14に記載の方法。
  24. 前記複数のADCの各々は、所定のサンプリング速度でサンプリングすることができ、さらに、
    前記方法は、基本的に、前記所定のサンプリング速度にADCの総数を掛けた速度でサンプリングすることができる単一のADCを使用するのと同じ出力を生成すること
    を特徴とする請求項14に記載の方法。
  25. 前記分布サンプリング・システムは、
    複数の導電性配線パターンの各々の間に接合点を形成するように互いに直列に電気的に接続された前記複数の導電性配線パターンと、
    それぞれ前記タイミング信号による、前記接合点の各々からの複数の連続したサンプリング・プロンプトと
    を備えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  26. 前記分布サンプリング・システムは、
    複数のインバータ対の各々の間に接合点を形成するように互いに直列に電気的に接続された前記複数のインバータ対と、
    それぞれ前記タイミング信号による、前記接合点の各々からの複数の連続したサンプリング・プロンプトと
    を備えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  27. 前記分布サンプリング・システムは、
    特定誘電率材料で構成されたデバイスと、
    前記デバイスに沿った複数の等間隔点の各々からの複数の連続したサンプリング・プロンプトと
    を備えることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  28. 前記分布サンプリング・システムは、
    複数のトリガで構成されたシーケンサ・デバイスであって、前記複数のトリガが前記複数のADCにそれぞれ接続されているシーケンサ・デバイスと、
    前記シーケンサ・デバイスに送り込まれるタイミング信号であって、複数のパルスに増加されるタイミング信号と
    を備え、
    前記複数のパルスの各々が前記複数のトリガの各々にそれぞれ対応することを特徴とする請求項14に記載の方法。
  29. 前記入力アナログ信号サンプリングの各々は、一定周波数の入力アナログ信号から得られることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  30. 前記入力アナログ信号サンプリングの各々は、可変周波数の入力アナログ信号から得られることを特徴とする請求項14に記載の方法。
  31. アナログ−デジタル変換器(ADC)のサンプリング速度を高める方法であって、
    入力サンプリング・スイッチを設けること、
    可変アパーチャ・クロックを設けること、
    中央処理装置(CPU)によってサンプリング・パルス幅を生成すること、および
    前記サンプリング・パルスを変更し、前記ADCのサンプリング期間の微分パルス幅を形成すること
    を備えることを特徴とする方法。
  32. 前記微分パルス幅は、前記サンプリング・パルス幅よりも狭いことを特徴とする請求項31に記載の方法。
  33. 前記狭くされた微分パルス幅は、前記ADCのサンプリング速度の増加を生じさせることを特徴とする請求項32に記載の方法。
  34. 前記可変アパーチャ・クロック部は、抵抗器−コンデンサ微分器を備えることを特徴とする請求項31に記載の方法。
  35. 前記可変アパーチャ・クロック部は、
    電圧制御抵抗器、および
    コンデンサ
    を備えることを特徴とする請求項31に記載の方法。
  36. アナログ−デジタル変換器(ADC)回路であって、
    電圧制御発振器(VCO)と、
    カウンタと、
    基準周波数供給源と、
    入力信号供給源と、
    XORゲートと
    を備えることを特徴とするアナログ−デジタル変換器(ADC)回路。
  37. 中央処理装置(CPU)への接続をさらに備えることを特徴とする請求項36に記載の回路。
  38. 前記VCOの出力は、前記カウンタに入ることを特徴とする請求項37に記載の回路。
  39. 前記出力は、前記ゲートによって前記基準周波数と比較されることを特徴とする請求項38に記載の回路。
  40. 前記CPUは、前記カウンタのリセットを制御することを特徴とする請求項37に記載の回路。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7564386B2 (en) * 2007-11-16 2009-07-21 Agilent Technologies, Inc. Pre-processing data samples from parallelized data converters
US7728753B2 (en) * 2008-10-13 2010-06-01 National Semiconductor Corporation Continuous synchronization for multiple ADCs
WO2010045400A2 (en) * 2008-10-14 2010-04-22 Tissuevision, Inc. Devices and methods for direct sampling analog time-resolved detection
US8237598B2 (en) * 2010-07-30 2012-08-07 National Instruments Corporation Sampling of multiple data channels using a successive approximation register converter
CN102468852B (zh) * 2010-11-09 2014-07-23 中国电子科技集团公司第五十四研究所 高速ad并行采样装置
KR20120066307A (ko) * 2010-12-14 2012-06-22 한국전자통신연구원 시간-인터리빙 방식의 펄스신호 복원장치
JP5578066B2 (ja) 2010-12-22 2014-08-27 ミツミ電機株式会社 Ad変換方法及びad変換回路
WO2015153693A1 (en) * 2014-03-31 2015-10-08 Xockets IP, LLC Interface, interface methods, and systems for operating memory bus attached computing elements
US9214948B2 (en) 2014-04-17 2015-12-15 Cirrus Logic, Inc. Comparator tracking control scheme with dynamic window length
KR101674411B1 (ko) 2014-12-08 2016-11-09 현대오트론 주식회사 모터의 전류 제어 장치 및 그 방법
KR102262941B1 (ko) * 2014-12-18 2021-06-10 에스케이하이닉스 주식회사 아날로그-디지털 변환기 및 아날로그-디지털 변환 방법
CN109361393A (zh) 2014-12-26 2019-02-19 华为技术有限公司 一种模数转换器及模数转换方法
US10523218B2 (en) 2017-04-18 2019-12-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Track-and-hold charge pump and PLL
CN109905128B (zh) * 2019-03-15 2023-06-30 上海胤祺集成电路有限公司 一种自适应的高速sar-adc转换时间完全利用电路及方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3868677A (en) * 1972-06-21 1975-02-25 Gen Electric Phase-locked voltage-to-digital converter
US5092330A (en) * 1978-07-20 1992-03-03 Medtronic, Inc. Analog to digital converter
US4672331A (en) * 1983-06-21 1987-06-09 Cushing Vincent J Signal conditioner for electromagnetic flowmeter
JP3190080B2 (ja) * 1990-11-30 2001-07-16 株式会社東芝 サンプリング周波数変換装置
JP3647069B2 (ja) * 1994-11-11 2005-05-11 キヤノン株式会社 デジタル信号再生装置
US5870591A (en) * 1995-08-11 1999-02-09 Fujitsu Limited A/D with digital PLL
US6130602A (en) * 1996-05-13 2000-10-10 Micron Technology, Inc. Radio frequency data communications device
IL120370A0 (en) * 1997-03-04 1997-07-13 Shelcad Engineering Ltd Internet and intranet phone system
US6057791A (en) * 1998-02-18 2000-05-02 Oasis Design, Inc. Apparatus and method for clocking digital and analog circuits on a common substrate to enhance digital operation and reduce analog sampling error
US6232905B1 (en) * 1999-03-08 2001-05-15 Agere Systems Guardian Corp. Clocking technique for reducing sampling noise in an analog-to-digital converter
US7206420B2 (en) * 1999-11-29 2007-04-17 Syfx Tekworks Softclip method and apparatus
US6388600B1 (en) * 2000-11-13 2002-05-14 Trw Inc. Asynchronous superconductor serial multiply-accumulator
JP4560205B2 (ja) * 2000-12-18 2010-10-13 キヤノン株式会社 A/d変換器及びそれを用いた固体撮像装置
WO2002091582A1 (en) * 2001-05-03 2002-11-14 Coreoptics, Inc. Amplitude detection for controlling the decision instant for sampling as a data flow
US6636122B2 (en) * 2001-10-09 2003-10-21 Zilog, Inc. Analog frequency locked loop with digital oversampling feedback control and filter
US20030179123A1 (en) * 2002-03-22 2003-09-25 Devilbiss Alan D. Analog-to-digital conversion using a counter
US7365661B2 (en) * 2002-11-14 2008-04-29 Fyre Storm, Inc. Power converter circuitry and method
US7092265B2 (en) * 2002-11-14 2006-08-15 Fyre Storm, Inc. Switching power converter controller
US6975258B2 (en) * 2003-01-23 2005-12-13 Corporation For National Research Initiatives Circuit for direct digital delta-sigma conversion of variable electrical capacitance
US7502240B2 (en) * 2004-07-27 2009-03-10 Silicon Laboratories Inc. Distributed power supply system with separate SYNC control for controlling remote digital DC/DC converters
US7138933B2 (en) * 2005-04-26 2006-11-21 Analog Devices, Inc. Time-interleaved signal converter systems with reduced timing skews
DE102006009644A1 (de) * 2006-01-04 2007-07-05 Biotronik Crm Patent Ag Phasenregelkreis

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