JP2008261726A - センサーチップ及び検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】使い捨てタイプのセンサーチップ及びそれを搭載する検査装置を提供すること。
【解決手段】検査装置200に対して着脱可能であり、半導体センシングデバイスを搭載した電気信号検知型のセンサーチップ100、及び、検査装置本体に前記センサーチップを搭載してなる検査装置200。前記センサーチップは、センサー部を有し、前記センサー部に受容体が配置され、前記受容体と対向する面に開口部を有することが好ましく、受容体はインクジェット方式又はディスペンス方式で供給されることが好ましい。
【選択図】図1

Description

本発明はセンサーチップ及び検査装置に関する。
近年、健康診断や遺伝子解析等にバイオセンサー及びケミカルセンサーが用いられるようになっている。このバイオセンサーやケミカルセンサーには、主に光学的検知方式と電気信号検知方式がある。
電気信号検知方式は、チップ上に形成された電極や半導体デバイスで被測定物質(例えば血液)の分析を実施するというものである。電気信号検知方式は短時間で簡易に検査できるという特長があり、大病院だけでなくクリニックや診療所さらには家庭等においても検査を実施できる可能性が期待されている(非特許文献1参照)。
電気信号検知方式の検出器としてゲートレス電界効果トランジスタを使用する検出器(特許文献1参照)や、圧電素子の振動特性の変動を利用したセンサー(特許文献2参照)が報告されている。
特開2005−274574号公報 特開2005−300213号公報 Journal of Physical Chemistry vol. 105, pp. 4205-4213 (2001)
バイオセンサーやケミカルセンサーでは、以下のような課題がある。すなわち、(1)センサー部が汚染されると、次の検査の精度が低下する、(2)センサー部での化学反応や生体反応がもたらす帯電状態の変化を検出するものについては、不可逆反応である場合が多く、再利用できない場合が多い、(3)再利用するには使用後に十分な洗浄をしないと不衛生である。その結果、洗浄の費用や手間も発生する。また、センサー流路内の洗浄液を被測定液体である生体材料(血液等)に置換しなければならないが、その場合は余分な生体材料が必要となる、(4)センサーチップが組み込み型(非使い捨て型)の場合は、センサー部が正常動作しなくなった場合の廃棄費用が高額になってしまう、等である。
本発明は上記課題を解決すべく、使い捨てタイプのセンサーチップ及びそれを搭載する検査装置を提供することを目的とする。
上記の課題は以下に記載の<1>及び<7>に記載の手段により解決された。好ましい実施態様である<2>〜<6>及び<8>〜<17>と共に以下に記載する。
<1> 検査装置に対して着脱可能であり、半導体センシングデバイスを搭載した電気信号検知型のセンサーチップ、
<2> 前記センサーチップは、センサー部を有し、前記センサー部に受容体が配置され、前記受容体と対向する面に開口部を有する<1>に記載のセンサーチップ、
<3> 前記センサーチップは、検体吸引口を有し、前記センサー部と前記検体吸引口の間に液体センサーを有する<1>又は<2>に記載のセンサーチップ、
<4> 前記センサーチップが複数の受容体を有する<1>から<3>いずれか1つに記載のセンサーチップ、
<5> 前記受容体はインクジェット方式又はディスペンス方式で供給される<1>から<4>いずれか1つに記載のセンサーチップ、
<6> 前記センサーチップが採血用の針を有する<1>から<5>いずれか1つに記載のセンサーチップ、
<7> 検査装置本体に<1>から<6>いずれか1つに記載のセンサーチップを搭載してなる検査装置、
<8> 前記センサーチップと前記検査装置本体との電気接続部を検体から隔絶するシール部材を有する<7>に記載の検査装置、
<9> 前記検査装置本体が前記センサーチップの位置決めをするための部材を有する<7>又は<8>に記載の検査装置、
<10> 前記センサーチップから送信された信号を解析する演算回路を有する<7>から<9>いずれか1つに記載の検査装置、
<11> 前記センサーチップのセンサー部に検体を導入するための吸引路及び吸引装置を有する<7>から<10>いずれか1つに記載の検査装置、
<12> 前記検査装置本体が、前記センサーチップと前記演算回路とを電気的に接続するプローブを有する<10>又は<11>に記載の検査装置、
<13> 前記プローブが弾性機能を有する<12>に記載の検査装置、
<14> 前記シール部材が可撓性を有する部材である<8>から<13>いずれか1つに記載の検査装置、
<15> 前記検査装置へのセンサーチップの装着後、前記電気接続部の検体からのシール及び電気接続を同時に行う<7>から<14>いずれか1つに記載の検査装置、
<16> 前記センサーチップの開口部は、検査装置本体に設けられた可撓性を有する部材で封止される<7>から<15>いずれか1つに記載の検査装置、
<17> 前記受容体はインクジェット方式又はディスペンス方式で供給される<7>から<16>いずれか1つに記載の検査装置。
本発明によれば、使い捨てタイプのセンサーチップ及びそれを搭載する検査装置を提供することができる。
本発明のセンサーチップは検査装置に対して着脱可能であり、半導体センシングデバイスを搭載した電気信号検知型のセンサーチップである。
本発明のセンサーチップは半導体センシングデバイスを搭載しているため、小型化が期待できる。
以下、本発明を例について添付図面を参照して説明する。なお図面において、同様の構成要素には同じ参照番号を付して示す。また、繰り返しとなる説明は省略している。
図1は本発明のセンサーチップを備えた検査装置200の一実施態様の構成を示す。
センサーチップ100が検査装置本体(支持体)180に着脱可能である。なお、本発明の検査装置200は、検査装置本体(支持体)180及びセンサーチップ100よりなる。
本発明のセンサーチップは、バイオセンサーチップ及びケミカルセンサーチップとして利用可能であり、生体成分、化学成分等の検査に利用できる。
このセンサーチップ100からの出力信号を電気接続部110、電気接続線120を介して演算回路130に伝達し、そこで信号解析して結果をディスプレイ160に表示する。検体(被分析液体)(不図示)は検査装置本体180に設けられた吸引装置140により、センサーチップ100内に導入される。また、図1に示す検査装置200には、スイッチ170(例えばON、OFF等の動作を指示する指示手段)が設けられている。検査装置200には、検査装置本体180に配置された吸引装置140とセンサーチップ100との接続部である吸引部145及び吸引路150が設けられている。
図1に示すように、検査装置を小型化することで家庭内検査や携帯型検査機としての利用が期待できる。
なお、吸引部145、吸引路150及び吸引装置140は任意であり、後述する図2及び図3に示すセンサーチップ及び検査装置では吸引部及び吸引装置が設けられていない。また、吸引せずに導入時に圧力をかけてセンサーチップに検体を導入することもできる。
また、ディスプレイ160及びスイッチ170は任意に設けられていればよく、検査結果を被分析者が知得できるものであれば音声やプリンター等によって検査結果が提示されてもよい。
図2は本発明の第1の実施態様であるセンサーチップ100の平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。
本発明のセンサーチップ100は半導体センシングデバイスを搭載した電気信号検知型のセンサーチップであり、図2では、半導体センシングデバイスとして、イオン感応式の電界効果トランジスタ(ISFET)が設けられている。また、図2において、センサーチップ100はセンサー部300及び電気接続パッド230を有する。
センサー部300はソース252、ドレイン254を有するイオン感応式の電界効果トランジスタ(ISFET:Ion Sensitive Field Effect Transistor)であるセンシングトランジスタ257と、センシングトランジスタ257のゲート256に配置された受容体210とから成る。
受容体210には被検出物質に応じた材料を使用し、その材料が受容体と接触(反応)すると表面電荷の変動を生じるものであればよく、特に限定されない。図2に示したセンサーチップ100では、ISFETがその電荷に応じた電流を流すことで、その物質の有無や量を測定(検査)することが可能である。また、受容体の種類を変更することで様々な物質の分析に用いることができる。なお、本発明において、半導体センシングデバイスとしてISFETを好適に使用することができるが、これに限定されるものではない。
センサー部300の受容体210と対向する面は、開口を有することが好ましい。開口は受容体導入口であることが好ましく、受容体導入口として開口を有することにより、センサーチップを作製後、任意の時期に受容体を付与することができるので好ましい。詳細については後述する。
図2では例としてセンサー部300に検体220として血液が導入されている。
本発明において、センサーチップは複数のセンサー部を設けることが好ましく、図2においては300A〜300Fの6つのセンサー部が設けられている。図2においてセンサー部300A〜300Fにはそれぞれ異なった受容体を配置することで一度の分析で複数項目の検査ができる。また健康診断等に使用する際には個人毎にその人に応じた受容体に変更することで、テーラーメードの検査が可能となる。
センサーチップ100には分析に用いるISFETを指定するスイッチ回路やISFETの信号を処理する回路を含む集積回路(例えばMOSFET:Metal Oxide Semiconductor FETで構成する)が設けられている。図2では、ソース252’、ドレイン254’及びゲート256’からなるMOSトランジスタ258が設けられている。さらには検出装置本体(支持体)と信号をやりとりするための電気接続パッド230が設けられている。なお、センシングトランジスタ257及びMOSトランジスタ258は素子間分離膜280により分離されている。また、センサーチップには配線270が設けられている。
図2において、センサーチップ100の最上層にはポリイミド膜が設けられている。
ポリイミド膜286はセンサーチップと検査装置本体との電気接続部110をシール(封止)する際(後述する図3参照)に、シール部材との間の密閉性を確保するために用いられている。ポリイミド膜は、可撓性があり、平坦性に優れているので、好適に使用することができる。なお、本発明において、ポリイミド膜の代わりに、可撓性及び平坦性に優れた他の材料を用いて膜を形成してもよい。
センサーチップ100の構成の詳細については公知のISFETを参照することができ、図2に示すセンサーチップ100は、基板250上に素子間分離膜280、層間絶縁膜282、保護膜284及びポリイミド膜286を有している。
図3は図2に示した第1の実施態様のセンサーチップ100を使用した検査装置200の構成を示す。図3には、センサーチップ100と検査装置本体180との接続部が示されている。
図3(A)に示す検査装置本体(支持体)180には、センサーチップ100とのアラインメント(位置合わせ)のためのデータム(段差)330が設けられている。検査装置本体180には、センサーチップとの位置合わせをするための部材が設けられていることが好ましく、図3ではデータム(段差)が設けられているが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、検査装置本体に凸部、センサーチップに凹部を設け、これを嵌合させることにより位置合わせをすることや、これとは逆に検査装置本体に凹部、センサーチップに凸部を設けることにより位置合わせをすることもできる。
検査装置本体は、センサーチップと検査装置本体に設けられた演算回路とを電気的に接続する。検査装置本体に、センサーチップと電気的に接続するためのプローブを設けることが好ましい。
図3(A)では、センサーチップ100に設けられた電気接続パッド230と電気接続するためのプローブピン320が上部支持体184に設けられている。
プローブは弾性機能を有することが好ましく、プローブは、電気接続パッドへの押し当て方向に弾性機能を有する(弾性的)であることがより好ましく、図3(A)に示すプローブピン320では、上部にスプリング322が設けられている。
なお、図3では、プローブに弾性機能を付与するためにスプリングを設けているが、本発明はこれに限定されるものではなく、ゴム等の弾性体をプローブに使用してもよい。
図3(B)では、センサーチップ100を下部支持体182に設けられたデータム(位置決め用段差)330に突き当てることで、検査装置本体(支持体)180の上部支持体184に設けられた可動式のプローブピン320とセンサーチップ100に設けられた電気接続パッド230をアライメント(位置合わせ)している。この突き当てによる位置合わせでも電気接続パッド230とプローブピン320の位置がずれないように、電気接続パッド230を十分に大きくしておくことが好ましい。
またこの時、同時に上部支持体184に設けられたシール部材310(ラバーシール)とセンサーチップ100のアライメントも完了する。
図3(C)に示すように、センサーチップ100装着後、上部支持体184をセンサーチップ100側に下降させることで電気接続及び検体と電気接続部とのシールが同時に完了する。プローブピン320の後方に設けられたスプリングによりセンサーチップ100の高さや、シール部材310(ラバーシール)の高さが多少ばらついても、電気接続(コンタクト)が確保できる。
図3(D)には、検体220を付与した検査装置200を示す。
シール部材は可撓性を有しているため、押圧することで検体と電気接続部との隔絶が確保できる。さらに、図2で示したように、センサーチップの上部には、可撓性を有するポリイミド膜を形成することにより、シール部材との密封性がさらに高まっている。
なお、図3において、センサーチップ100は省略的に記載してあり、センサー部300、受容体210及び電気接続パッド230が明示されている。
また、検査装置本体(支持体)の上部及び下部はこれに限定されず、検査装置の上下を逆に配置することもできるし、左右に配置することもでき、本発明は実施態様の記載に限定されるものではない。
図4は本発明の第2の実施態様であるセンサーチップ100の平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。第1の実施態様と異なる点は、センサーチップ100の上に流路基板460が設けられている点である。流路基板460としてはシリコン(Si)流路基板が例示でき、この流路基板460はセンサーチップと接合されており、分析する検体が流路450内を通ってセンサー部300に導入される。検体は送流可能な状態であることが好ましく、液体であることがより好ましい。
流路基板460には検体220を導入する開口である検体導入口410、検体を吸引する開口である検体吸引口430が設けられている。検体吸引口430から検体220を吸引することで、検体導入口410にある検体220が流路450内に流入し、センサー部300まで到達する。この時、受容体導入口としても使用できる開口440は上部支持体に設けられたシール部材420でシール(封止)されている。
また、図4において、流路基板460の受容体210と対向する面は、開口440を有することが好ましい。開口440は受容体導入口であることが好ましく、受容体導入口として開口440を有することにより、センサーチップを作製後、任意の時期に受容体を付与することができる。従って、複数のセンサー部に検査項目に応じて受容体を形成して、テーラーメードの検査が可能である。
図5は第2の実施態様のセンサーチップ100を使用した検査装置200の構成を示す。第1の実施態様と同じ構成の箇所は省略する。
図5(A)に示すように、上部支持体184側にはセンサーチップ100の検体導入口410、検体吸引口430に接続可能な位置に開口410’及び430’があり、それぞれ分析対象である検体及び吸引装置(不図示)につながっている。また、上部支持体には、吸引装置に延びる吸引路150が設けられている。即ち、検体は開口410’から導入され、検体導入口410、流路450、検体吸引口430、開口430’、吸引路150、吸引装置(不図示)の順に供給されている。
また受容体導入口として使用可能なセンサーチップ100の開口440は上部支持体184に設けられたシール部材420(ラバーシール)で封止されることとなる。
図5(B)及び図5(C)に示すように、第1の実施態様と同様に、下部支持体182に設けられたデータム330を使用してアライメント(位置合わせ)し、上部支持体184をセンサーチップ側に下降させることで電気接続及びシール(封止)が同時に完了する。
図5ではシール部材としてラバーシールを使用しているが、本発明はこれに限定されず、シール部材は可撓性を有する材料で形成することが好ましく、特に限定されない。
図5(D)に検体220を導入した検査装置200を示す。装置本体側(支持体)から吸引装置(不図示)により吸引することで、検体導入口に供給された検体が流路基板460内に導入され、センサー部300に到達する。流路450は、シリコン基板等を微細加工して形成してあり、容積が小さく、少量の検体(例えば血液)でも正確にセンサー部300に導入することができる。
図6は本発明の第3の実施態様であるセンサーチップ100の平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。また図7は第3の実施態様のセンサーチップ100を使用した検査装置200の構成を示す。
第3の実施態様では、検体をセンサーチップの端面から導入している点で第1の実施態様及び第2の実施態様と異なっている。検体導入口410をセンサーチップ上面ではなく、側面に設けることにより、センサーチップ100をより小型化できる。具体的には、図4(A)に示したセンサーチップの平面図と図6(A)に示したセンサーチップの平面図とを比較すると、図6(A)に示すセンサーチップは、検体導入口をセンサーチップ上面に有しておらず、より小型化されている。
また、図7に示すように検査装置本体(支持体)180の構造もより簡略化できる。即ち、上部支持体184に検体を導入するための開口を設ける必要がない。さらに、上部支持体184は検体導入口に接続可能な開口を有していないため、センサーチップを交換することにより、検体導入口からセンサー部までの間で検査装置本体(支持体)が汚染されることが無く、検査装置本体(支持体)の洗浄の必要がない。
図8は本発明の第4の実施態様であるセンサーチップ100の平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。
図8及び図9に示すセンサーチップ100には、検体導入口に採血用の針800が設けられている。採血用の針800によって人体から直接採血し、それを検体220としてセンサー部300に供給して分析する。採血用の針は直径70μm程度の無痛針とすることが好ましい。この針部に人体(図8では指810)を押し付けて突き刺し、それから吸引装置(不図示)を作動させることで受容体210に検体である血液を供給することができる。
なお、図8において、採血用の針800が設けられた流路基板460は、シリコン基板815に、SiO2層820及びSi層830を設けて、これを選択的にエッチングすることで得ることができる。詳細について後述する。
図9は本発明の第5の実施態様であるセンサーチップ100の平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。
本発明の第5の実施態様では、センサー部300と検体吸引口430との間の流路に液体センサー900を設けている。この液体センサー900に検体が到達すれば、その上流側に位置するセンサー部300には確実に検体が供給されていることを示す。検体が供給されていることを確認してから分析(検査)することで、より正確な診断をすることができる。
具体的には、この液体センサー900としては、例えば電気導通検知式のセンサーを用いることができる。導通端子910を流路内に露出させておき、検体(液体)がその間に供給されると電流が流れ、導通(つまり液体の存在)が確認できる。
流路基板460(例えばSi基板)や検査装置本体(支持体)は不透明であったり、たとえ透明でも流路450は微小な流路であり、視認しにくいため、このような液体センサーを配置することは有用である。また、検体(液体)の存在を検知した段階で吸引を停止することで、余分な検体(液体)の吸引を防止できる。つまり、分析に必要な検体量を少なくすることができ、また、少量の試料でも、より確実に分析可能となる。
図10は本発明の第6の実施態様のセンサーチップ100を使用した検査装置200の構成を示す。第6の実施態様では、電気接続部110をセンサーチップ100の裏面側に設けている。ここでは半導体集積回路を表面に形成したSi基板250に貫通電極配線1000を設けることで裏面に電気接続パッド230を配設している。また、電気接続部110は、図3に示すようにプローブピン及びスプリングにより形成することも好ましく、また、単に電気的接続を行えるように電極等を形成したものであってもよい。
図11は、第7の実施態様のセンサーチップ100を使用した検査装置200の構成を示す。第7の実施態様では、検体との接触面に電気接続部110がないため、シール部材は簡略化している。また、流路を省略することにより、簡便な構造の検査装置本体及びセンサーチップとすることができる。
なお、図10及び図11では、半導体集積回路の一部を省略的に記載している。
図12は本発明で好適に使用できるセンサー基板1250の製造プロセスフロー((A)〜(C))の一例を示す工程図である。
図12(A)に示すように、基板250上に通常の半導体集積回路を形成し(図12(A))、続いてセンシングトランジスタ257のゲート256及びその上の保護膜284をホトリソグラフィーとドライエッチングにより除去し、開口1210を設け、ゲート絶縁膜1200を露出させる(図12(B))。その後、接着層となるポリイミド膜286を形成する。ここでは感光性ポリイミドを使用し、塗布・露光・現像で形成した後、センサー部300及び電気接続部110のポリイミド膜286を除去する(図12(C))。
図13は本発明に好適に使用可能な流路基板460の作製フローの一実施態様を示す工程概略図である。なお、ここでは第4の実施態様の流路基板460の作製フローを示している。図8を合わせて参照されたい。
図13(A)に示すように、シリコン基板815上にSiO2層820を設け、その上にさらにSi層830が設けられている。ここで、それぞれの層の厚みは、例えばシリコン基板815:500μm、SiO2層820:1μm、Si層830:250μm程度である。
次に、熱酸化によりシリコン基板815及びSi層830の表面を酸化処理する。酸化条件は適宜設定することができるが、例えば1000℃にてウェット酸化を600分行うことにより、1μmのSiO2層1300及び1310を形成することができる(図13(B))。ここで、図8においてシール部材420と接している面を表面、流路450に接している面を裏面とする。従って、図13(B)では、表面がSiO2層1300であり、裏面がSiO2層1310である。
次に、裏面のSiO2層1310にレジストを塗布し、これを露光、現像後、RIE(反応性イオンエッチング)により露出した裏面のSiO2層をエッチングし、レジストを剥離することにより、パターニングされたSiO2層1310を形成する(図13(C))。
さらに、同様にして表面のSiO2層1300にレジストを塗布し、これを露光、現像後、RIEにより露出した表面のSiO2層をエッチングし、レジストを剥離することにより、パターニングされたSiO2層1300を形成する(図13(D))。なお、図13(C)及び図13(D)の順序はこれに限定されず、表面のSiO2層をパターニングしてから、裏面のSiO2層をパターニングしてもよい。
次に、裏面にレジスト1320を形成し、露光、現像することによりレジストパターンを形成する(図13(E))。次に、レジスト1320をマスクとしてシリコン基板815をRIEによりSiO2層820までエッチングすることにより(図13(F))、パターニングされたシリコン基板815を得ることができる(図13(G))。
レジストを剥離後(図13(G))、裏面のSiO2層1310をマスクとしてRIEによりシリコン基板815をエッチングする(図13(H))。
続いて、表面のSiO2層1300をマスクとしてSi層830をRIEによりエッチングし(図13(I))、さらに表面のSiO2層1300及びSiO2層820をHFエッチングにより除去することにより、図8(B)に示す流路基板460を作製することができる。
図14はセンサー基板1250と流路基板460の接合と受容体210の供給プロセスを示す概略図である。センサー基板1250表面に形成したポリイミド膜286を接着層として、流路基板460を接合している。接合方法は特に限定されないが、例えば真空中で加熱することにより接合することができる。加熱温度は接合が可能な範囲で特に限定されないが、例えば300℃〜400℃での加熱が例示できる(図14(A))。
その後、受容体供給用貫通口(図12では、ゲート絶縁膜1200の上部に開口1210として記載されている。)を通して、その下のセンシングトランジスタのゲート絶縁膜1200上にインクジェット法又はディスペンス法による付与手段(図14(B)で1400にて図示)で受容体210を供給する(図14(B))。これら供給法では任意の箇所に必要最小限の受容体を供給できる。これら受容体は高価な場合が多いため、インクジェット法もしくはディスペンス法で受容体を選択供給することで受容体の使用量を少なくすることができる。
さらに、例えば検査が必要な項目に対応して、受容体を変更することで、テーラーメードの診断(検査)が可能となる。
本構成を採用することで受容体供給をセンサーチップ作製工程の最後に行うことができ、受容体がセンサーチップ作製工程中の熱や化学薬品処理の影響をうけないため、熱や化学薬品の処理による受容体の変性を避けることができる。
本発明において、受容体としては各種の受容体を選択可能である。例えば、pHセンサとして機能させるためには、イオン感応膜であるSi34膜を使用することができる。
Si34膜は、検体中の水素イオン(H+)と結合する。検体中の水素イオン濃度に依存した量の水素イオンがSi34膜に結合した状態で平衡に達する。一方、ISFETのソース電位(基板電位)としては参照電極の電位を基準電極として与える。理想的な参照電極な溶液の種類や濃度により電極−溶液界面の電位分布場変化しないという特性を有する。
このように安定なソース電位に対して、水素イオンの濃度が高ければSi34膜に結合する水素イオンの量も多くなり、ISFETのチャネル抵抗が低下する。一方、水素イオン濃度が低ければ、Si34膜に結合する水素イオンの量も少なくなり、ISFETのチャネル抵抗は増大する。従って、この変化を検出することにより、検体中の水素イオン濃度を測定することができる。
これらの検出方法については例えば、特開2005−207797号公報を参照することができる。
本発明において、受容体を適宜選択することができる。例えばDNAセンサも同様の構造で実現することができる。DNAセンサの場合、ISFETのゲート256上に金属層を堆積し、金属層に対してプローブDNAを付着させる方法が例示できる。金属層の材質としてはプローブDNAが付着しやすい物質であることが求められ、例えば金が例示できる。このようなDNAチップのプローブDNAに対して、検体中のターゲットDNAが特異的に結合する。DNAは負の電荷を有しており、ターゲットDNAがプローブDNAと特異的に結合することにより、ISFETの電位が変化する。この特徴を利用して、前述のpHセンサと同様に検体中のターゲットDNAの有無、濃度を検出することができる。
また、タンパク質等の有機物質も検出可能である。標的とするタンパク質が正・負いずれの電荷も有していない場合には、予め標的タンパク質を電荷で修飾する前処理を行う。標的タンパク質に対する抗原を付着させたゲート領域に、抗原・抗体反応により検体中のタンパク質がISFETに特異的に結合すると、ISFETのゲート電位が変化する。これにより、検体中の有機物質の検出を行うことができる。
なお、本発明は上記の実施態様に限定されるものではなく、その構成は適宜変更できる。
図1は本発明のセンサーチップを備えた検査装置の一実施態様の構成を示す図である。 図2は、本発明の第1の実施態様であるセンサーチップの平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)である。 図3は図2に示した第1の実施態様のセンサーチップを使用した検査装置の構成を示す概略図である。 図4は、本発明の第2の実施態様であるセンサーチップの平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)である。 図5は第2の実施態様のセンサーチップを使用した検査装置の構成を示す概略図である。 図6は、本発明の第3の実施態様であるセンサーチップの平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)である。 図7は第3の実施態様のセンサーチップを使用した検査装置の構成を示す概略図である。 図8は、本発明の第4の実施態様であるセンサーチップの平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。 図9は、本発明の第5の実施態様であるセンサーチップの平面図(A)及び平面図(A)におけるX−X’断面図(B)を示す。 図10は本発明の第6の実施態様のセンサーチップを使用した検査装置の構成を示す概略図である。 図11は、本発明の第7の実施態様であるセンサーチップを使用した検査装置の構成を示す概略図である。 図12は本発明で好適に使用できるセンサー基板1250の製造プロセスフローの一例を示す工程図である。 図13は本発明に好適に使用可能な流路基板の作製フローの一実施態様を示す工程概略図である。 図14はセンサー基板と流路基板の接合と受容体の供給プロセスを示す概略図である。
符号の説明
100 センサーチップ
110 電気接続部
120 電気接続線
130 演算回路
140 吸引装置
145 吸引部
150 吸引路
160 ディスプレイ
170 スイッチ
180 検査装置本体
182 下部支持体
184 上部支持体
200 検査装置
210 受容体
220 検体
230 電気接続パッド
250 基板
252、252’ ソース
254、254’ ドレイン
256、256’ ゲート
257 センシングトランジスタ
258 MOSトランジスタ
270 配線
280 素子間分離膜
282 層間絶縁膜
284 保護膜
286 ポリイミド膜
300 センサー部
310 シール部材
320 プローブピン
322 スプリング
330 データム
410 検体導入口
420 シール部材
430 検体吸引口
410’、430’ 開口
440 開口
450 流路
460 流路基板
800 採血用の針
810 指
815 シリコン基板
820 SiO2
830 Si層
900 液体センサー
910 導通端子
1000 貫通電極配線
1200 ゲート絶縁膜
1210 開口
1250 センサー基板
1300 表面のSiO2
1310 裏面のSiO2
1320 レジスト
1400 インクジェット法又はディスペンス法による付与手段

Claims (17)

  1. 検査装置に対して着脱可能であり、半導体センシングデバイスを搭載した電気信号検知型のセンサーチップ。
  2. 前記センサーチップは、センサー部を有し、
    前記センサー部に受容体が配置され、
    前記受容体と対向する面に開口部を有する請求項1に記載のセンサーチップ。
  3. 前記センサーチップは、検体吸引口を有し、前記センサー部と前記検体吸引口の間に液体センサーを有する請求項1又は2に記載のセンサーチップ。
  4. 前記センサーチップが複数の受容体を有する請求項1から3いずれか1つに記載のセンサーチップ。
  5. 前記受容体はインクジェット方式又はディスペンス方式で供給される請求項1から4いずれか1つに記載のセンサーチップ。
  6. 前記センサーチップが採血用の針を有する請求項1から5いずれか1つに記載のセンサーチップ。
  7. 検査装置本体に請求項1から6いずれか1つに記載のセンサーチップを搭載してなる検査装置。
  8. 前記センサーチップと前記検査装置本体との電気接続部を検体から隔絶するシール部材を有する請求項7に記載の検査装置。
  9. 前記検査装置本体が前記センサーチップの位置決めをするための部材を有する請求項7又は8に記載の検査装置。
  10. 前記センサーチップから送信された信号を解析する演算回路を有する請求項7から9いずれか1つに記載の検査装置。
  11. 前記センサーチップのセンサー部に検体を導入するための吸引路及び吸引装置を有する請求項7から10いずれか1つに記載の検査装置。
  12. 前記検査装置本体が、前記センサーチップと前記演算回路とを電気的に接続するプローブを有する請求項10又は11に記載の検査装置。
  13. 前記プローブが弾性機能を有する請求項12に記載の検査装置。
  14. 前記シール部材が可撓性を有する部材である請求項8から13いずれか1つに記載の検査装置。
  15. 前記検査装置へのセンサーチップの装着後、前記電気接続部の検体からのシール及び電気接続を同時に行う請求項7から14いずれか1つに記載の検査装置。
  16. 前記センサーチップの開口部は、検査装置本体に設けられた可撓性を有する部材で封止される請求項7から15いずれか1つに記載の検査装置。
  17. 前記受容体はインクジェット方式又はディスペンス方式で供給される請求項7から16いずれか1つに記載の検査装置。
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