JP2008256610A - 観察装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】明部14bと暗部14dとが周期的に配置された面光源14と、前記面光源で照明された被観察物10からの光を結像する結像光学系12と、前記結像光学系を介して前記被観察物の像を撮像する撮像手段11と、前記面光源と前記被観察物との間に遮光部20bと開口部20aとが周期的に配置された遮光手段20を有する観察装置1。
【選択図】図2
Description
小松啓,「光学顕微鏡の基礎と応用(3)」,応用物理,第60巻,第19号,1991年, p1032−p1034 小松啓,「光学顕微鏡の基礎と応用(4)」,応用物理,第60巻,第11号,1991年, p1136−p1138
(1) b > a+2×h×tanθ0
(2) b < 2×(1−(h/d))×P
(3) b < (h/d)×P+(1−(h/d))×a
(4)p(cosθ)=(1/2)×((1−g2)/(1+g2−2×g×cosθ)3/2)
10 被観察物
11 撮像素子
12 結像光学系
13 ステージ
14 透過型液晶パネル(面光源)
15 コントローラ
16 パーソナルコンピュータ
17 モニター
18 画像処理部
20 遮光部材
Claims (6)
- 明部と暗部とが周期的に配置された面光源と、
前記面光源で照明された被観察物からの光を結像する結像光学系と、
前記結像光学系を介して前記被観察物の像を撮像する撮像手段と、
前記面光源と前記被観察物との間に遮光部と開口部とが周期的に配置された遮光手段と、
を有することを特徴とする観察装置。 - 前記結像光学系の主光線上に前記面光源の明部の中心と前記遮光部の中心とが配置されることを特徴とする請求項1に記載の観察装置。
- 以下の条件を満足することを特徴とする請求項1または2に記載の観察装置。
b > a+2×h×tanθ0
b < (h/d)×P+(1−(h/d))×a
但し、
a:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部の幅
b:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記遮光部の幅
P:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部及び前記遮光部の周期
d:前記面光源と前記被観察物との距離
h:前記面光源と前記遮光手段との距離
sinθ0:前記結像光学系の開口数 - 以下の条件を満足することを特徴とする請求項1または2に記載の観察装置。
b > a+2×h×tanθ0
b < 2×(1−(h/d))×P
但し、
a:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部の幅
b:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記遮光部の幅
P:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部及び前記遮光部の周期
d:前記面光源と前記被観察物との距離
h:前記面光源と前記遮光手段との距離
sinθ0:前記結像光学系の開口数 - 以下の条件を満足することを特徴とする請求項1または2に記載の観察装置。
b > a+2×h×tanθ0
b < Min(b1、b2)
但し、
b1 = 2×(1−(h/d))×P
b2 = (h/d)×P+(1−(h/d))×a
Min(b1、b2)は、b1、b2の小さい方の値
a:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部の幅
b、b1、b2:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記遮光部の幅
P:前記結像光学系の主光線を前記面光源方向に延長した直線を基準としたときの前記被観察物面上における前記明部及び前記遮光部の周期
d:前記面光源と前記被観察物との距離
h:前記面光源と前記遮光手段との距離
sinθ0:前記結像光学系の開口数 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の観察装置において、
前記結像光学系は、前記被観察物の全領域を一度に観察可能であることを特徴とする観察装置。
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