JP2008245078A - 電圧制御発振器 - Google Patents

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Abstract

【課題】素子バラツキなどが生じた場合に、位相ノイズを効果的に低減することが困難であった。
【解決手段】電圧制御発振器は、電圧制御発振部へ動作電流を供給する可変電流生成回路と、インダクタと可変容量素子とで構成される共振回路を有し、可変電流生成回路の生成する電流に基づいた振幅の出力信号を出力する電圧制御発振部と、出力信号が入力され、可変電流生成回路の出力する電流の変化量に対する出力信号の振幅変化に基づいて電流設定信号を生成し、可変電流生成回路に供給する第1の最適化回路とを有する
【選択図】 図1

Description

本発明は電圧制御発振器に関し、特に局部信号発生器などに用いられる電圧制御発振器に関する。
無線機器では、データ信号を変調あるいは復調を行なうことにより通信が行なわれている。そのため、無線機器には、この変調あるいは復調を行なうための局部発振器が設けられている。この局部発振器としては、入力電圧に基づいて発振周波数が決定される電圧制御発振器などが用いられる。このような電圧制御発振器では、発振出力信号に位相ノイズが重畳されてしまう場合がある。この位相ノイズは、電圧制御発振器を構成する素子の素子特性あるいは、電源のノイズ等に起因している。位相ノイズは、送受信信号に対するノイズであるため、感度や信号品質の劣化を招いてしまう。この位相ノイズを除去するための電圧制御発振器が特許文献1、特許文献2などに記載されている。
図5に特許文献1に記載の電圧制御発振器を示す。図7に示す電圧制御発振器では、制御電圧Vtuによって、可変容量CV11、CV12の容量値が制御される。したがって、LC共振回路の容量成分が変化し、一般的にf=1/{2π(L×C)0.5}で表される発振周波数fが変化する。
特許文献1に記載の技術では、発振周波数を制御する電圧Vtuに基づいて、増幅部43に流す電流量を変化させる。この電流量の変化によって、増幅部43のゲインを変化させ、位相ノイズを低減させている。特許文献2には、能動負荷を変化させることにより、発振信号の振幅を制御することが可能な電圧制御発振器が示されている。
しかしながら、特許文献1および2に記載の技術では、電圧制御発振器を形成する素子のバラツキなどにより、増幅部が必要以上の増幅を行なってしまう場合がある。この場合、特許文献1のように出力する周波数を指定する制御電圧に基づいて振幅の制御を行なっても、必要以上の増幅をしてしまい、位相ノイズ特性は劣化してしまう場合がある。
特開2001−313527号公報 特開2007−28613号公報
従来の電圧制御発振器では、素子バラツキによって位相ノイズ特性の劣化が生じる場合があった。
本発明の1態様による電圧制御発振器は、電圧制御発振部へ動作電流を供給する可変電流生成回路と、インダクタと可変容量素子とで構成される共振回路を有し、可変電流生成回路の生成する電流に基づいた振幅の出力信号を出力する電圧制御発振部と、出力信号が入力され、可変電流生成回路の出力する電流の変化量に対する出力信号の振幅変化に基づいて電流設定信号を生成し、可変電流生成回路に供給する第1の最適化回路とを有する。
振幅の変化に基づいて、電流を設定するため、電流量が変化しても振幅変化が見られない場合などに、電圧制御発振部に対して過大な電流を供給することがない。
本発明によれば、電圧制御発振器における位相ノイズを低減させることが可能となる。
実施の形態1
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に関わる電圧制御発振器100を示す図である。図1に示すように、本実施の形態の電圧制御発振器100は、可変電流生成回路1、電圧制御発振部2、第1の最適化回路3、第2の最適化回路4を有している。
可変電流生成回路1は、入力される電流設定信号VIに基づいて、電圧制御発振部2が動作する際の動作電流を生成する。なお、この動作電流は、電流設定信号VIによって変化させることが可能である。電圧制御発振部2は、周波数制御電圧Vtuに基づいた周波数の電圧信号を出力する。なお、図1から分かるように、本実施の形態の電圧制御発振部2は、90度ずつ異なった4相の信号(VP0、VP90、VP180、VP270)を出力する。第1の最適化回路3は、電圧制御発振部2の出力に基づいて、上記した電流設定信号VIを出力する。第2の最適化回路4は、電圧制御発振部2の出力に基づいて、4相の出力信号の直交位相誤差を低く抑えるための信号を出力する。以下、個々のブロックの詳細な構成について説明する。
可変電流生成回路1は、電源電圧VDD(第1の電源電圧)、第1のPMOSトランジスタP1、電流源Ipを有している。第1のPMOSトランジスタP1のソースには第1の電源電圧VDD1が接続され、ドレインはPMOSトランジスタP1のゲート及び電流源Ipの一端に接続されている。また、電流源Ipの他端は第2の電源電圧である接地電位に接続されている。この電流源Ipには、第1の最適化回路3が出力する電流設定信号VIが与えられ、電流設定信号VIに基づいた電流値I0の電流を生成している。
電圧制御発振部2は、第2のPMOSトランジスタP2、第3のPMOSトランジスタP3、第1〜第4のインダクタL11、L12、L21、L22、可変キャパシタCV11、CV12、CV21、CV22、C11、C12、C21、C22、第1〜第8のNMOSトランジスタN11〜N14、N21〜N24を有している。
第1のPMOSトランジスタP1及び第2のPMOSトランジスタP2はカレントミラー回路を構成している。このカレントミラーによって電圧制御発振部2に動作電流が供給される。なお、電圧制御発振部2に、実際に供給される電流は、PMOSトランジスタP1とP2のミラー比に基づいたI1=I0×mの電流値と成る。第2のPMOSトランジスタP2のソースは、電源電圧VDDに接続され、ドレインは第1のインダクタL11と第2のインダクタL12との間のノードに接続されている。また、PMOSトランジスタP2のゲートは、第1のPMOSトランジスタP1のゲートに接続されている。
第1のPMOSトランジスタP1及び第3のPMOSトランジスタP3はカレントミラー回路を構成している。このカレントミラーによって電圧制御発振部2に動作電流が供給される。電圧制御発振部2に、実際に供給される電流は、PMOSトランジスタP1とP3のミラー比に基づいたI1=I0×mの電流値と成る。第3のPMOSトランジスタP3のソースは、電源電圧VDDに接続され、ドレインは第3のインダクタL21と第4のインダクタL22との間のノードに接続されている。また、PMOSトランジスタP3のゲートは、第1のPMOSトランジスタP1のゲートに接続されている。
以下、第1のインダクタL11のPMOSトランジスタP2と接続されないノードをP、第2のインダクタL12のPMOSトランジスタP2と接続されないノードをQ、第3のインダクタL21のPMOSトランジスタP3と接続されないノードをR、第4のインダクタL22のPMOSトランジスタP3と接続されないノードをSと称して、電圧制御発振部2の詳細な接続関係について説明する(図1、参照)。
可変キャパシタCV11及び可変キャパシタCV12は、ノードP−Q間に直列に接続される。可変キャパシタCV11は、ノードPに接続され、可変キャパシタCV12は、ノードQに接続される。可変キャパシタCV11とCV12の間のノードには周波数制御電圧Vtuが印加される。
可変キャパシタC11及びC12も、ノードP−Q間に直列に接続される。可変キャパシタC11は、ノードPに接続され、可変キャパシタC12は、ノードQに接続される。可変キャパシタC11と可変キャパシタC12との間のノードは接地電位に接続されている。
このように、第1のインダクタL11及び第2のインダクタL12、可変キャパシタCV11及び可変キャパシタCV12及び可変キャパシタC11及び可変キャパシタC12は、互いに並列に接続されている。
第1のNMOSトランジスタN11及び第2のNMOSトランジスタN12のソースはそれぞれ接地電位に接続され、ドレインはノードPに接続されている。また、NMOSトランジスタN11のゲートには出力信号VP270が入力されている。NMOSトランジスタN12のゲートは、ノードQに接続されている。
第3のNMOSトランジスタN13及び第4のNMOSトランジスタN14のソースはそれぞれ接地電位に接続され、ドレインはノードQに接続されている。また、NMOSトランジスタN14のゲートには出力信号VP180が入力されている。NMOSトランジスタN13のゲートは、ノードPに接続されている。
本実施の形態において、ノードPは、第2の出力端子に相当し、第2の出力信号VP90を出力している。また、ノードQは、第1の出力端子に相当し、第1の出力信号VP0を出力している。
可変キャパシタCV21及び可変キャパシタCV22は、ノードR−S間に直列に接続される。可変キャパシタCV21は、ノードRに接続され、可変キャパシタCV22は、ノードSに接続される。可変キャパシタCV21とCV22の間のノードには周波数制御電圧Vtuが印加される。
可変キャパシタC21及びC22も、ノードR−S間に直列に接続される。可変キャパシタC21は、ノードRに接続され、可変キャパシタC22は、ノードSに接続される。可変キャパシタC21と可変キャパシタC22との間のノードは接地電位に接続されている。
第5のNMOSトランジスタN21及び第6のNMOSトランジスタN22のソースはそれぞれ接地電位に接続され、ドレインはノードRに接続されている。また、NMOSトランジスタN21のゲートには出力信号VP0が入力されている。NMOSトランジスタN22のゲートは、ノードSに接続されている。
第7のNMOSトランジスタN23及び第8のNMOSトランジスタN24のソースはそれぞれ接地電位に接続され、ドレインはノードSに接続されている。また、NMOSトランジスタN24のゲートには出力信号VP90が入力されている。NMOSトランジスタN23のゲートは、ノードRに接続されている。
本実施の形態において、ノードRは、第4の出力端子に相当し、第4の出力信号VP270を出力している。また、ノードSは、第3の出力端子に相当し、第3の出力信号VP180を出力している。
第1の最適化回路3は、電流設定信号VIを生成する回路である。第1の最適化回路3は、ピーク電圧検出回路31、第1の判定回路32、電流設定値保存回路33、第1のスイッチSW1、第2のスイッチSW2を有している。
ピーク電圧検出回路31には、4相の発振信号(電圧制御発振器の出力信号)が第1のスイッチSW1を介して入力される。ピーク電圧検出回路31は、入力される4相の信号のそれぞれのピーク電圧を検出する。このピーク電圧検出回路31は、発振信号VP0、VP90、VP180、VP270のピーク電圧値を検出し、平均化した直流電圧を出力する。
第1の判定回路32は、ピーク電圧検出回路31によって出力される直流電圧に基づいて、発振振幅を補正するための制御信号を出力する。電流設定値保存回路33は、第1の判定回路32から出力される制御信号に基づいて、電流を設定するための電流設定信号VIを定電流生成回路1内部の電流源Ipへと出力する。また、電流設定値保存回路33は、電流設定信号VIを保存する。第1の判定回路32と電流設定値保存回路33との間には第2のスイッチSW2が接続されている。
第2の最適化回路4は、直交位相誤差を補正する信号を生成する回路である。ここで、位相誤差を補正する信号は、電圧制御発振部2内の可変キャパシタC11、C12、C21、C22の容量値を設定する容量設定信号に相当する。第2の最適化回路4は、90度位相検波器41、第2の判定回路42、容量設定値保存回路43、第3のスイッチSW3、第4のスイッチSW4を有している。
90度位相検波器41は、直交する差動対信号の直交誤差を検出する回路である。この差動対信号は、第3のスイッチSW3を介して入力される。なお、差動対信号の詳細については後述する。
第2の判定回路42は、90度位相検波器41によって検出された直交誤差に基づいて、この直交誤差を補正するための信号を出力する回路である。容量設定値保存回路43は、第2の判定回路42によって出力された信号に基づいて、直交位相誤差を低く抑えるための容量設定信号を可変キャパシタC11、C12、C21、C22へ供給する。また、容量設定値保存回路43は、容量設定信号を保存する回路である。第2の判定回路と容量設定値保存回路との間には、第4のスイッチSW4が接続されている。
本実施の形態の電圧制御発振器100は、上記したような構成となっている。ここで、本実施の形態の電圧制御発振器100は、4相の出力を行う電圧制御発振器100を示している。このような4相出力の電圧制御発振器において、バラツキにより、必要以上に振幅が大きくなった場合には、位相ノイズに加え、素子耐圧を超える電圧を増幅部のトランジスタ(N11〜N14、N21〜N24)に与えてしまう恐れも生じる。そこで、4相出力の電圧制御発振器において、素子耐圧を超える電圧が与えられてしまう場合を図2および図3を用いて説明する。
図2は、本実施の形態でいえば、VP90を出力するノードPに接続される増幅部のNMOSトランジスタN11、N12を例に、トランジスタの各端子に印加される電圧を示した図である。4相出力のトランジスタの場合、増幅部のトランジスタN11、N12のゲートにはノードPの出力電圧VP90と90度の位相差を持った電圧VP180、VP0が入力される。N12のドレイン電圧VP90及びゲート電圧VP0の波形を図3に示す。図3に示すように、ドレインとゲートには、90度の位相差を持つ電圧が入力されるため、ドレインに入力される電圧は低くなり、ゲートに印加される電圧が高くなる場合が存在する。このような電圧を印加した場合、トランジスタの耐圧が低下してしまう。4相出力の電圧制御発振器において、バラツキにより、必要以上に振幅が大きくなった場合には、この素子耐圧についても考慮する必要性が生じる。
そのため、本実施の形態のように構成された電圧制御発振器100では、通常動作の電圧制御による所定周波数信号の出力の前に、上記の耐圧、位相ノイズ、直交位相の誤差を考慮して、第1の最適化回路3及び第2の最適化回路4による最適化動作が実行される。以下、本実施の形態の電圧制御発振器100の最適化動作について説明する。
まず。第1の最適化回路によって、第1の最適化動作が行なわれる。この第1の最適化は、電圧制御発振部2に流れる電流量を決定するための最適化である。第1の最適化は、以下の2つの観点から行なわれる。
1. 電流が増加することによって増幅部を構成するトランジスタのゲートに耐圧以上の電圧がかかってしまわないようにする。
2. 過剰電流によって、出力波形に2次歪みなどが生じ、位相ノイズの特性が悪化しないようにする。
第1の最適化では、上記1の観点から、ピーク電圧が、耐圧として定められている電圧値以下かどうかの判定、上記2の観点から、電流を増加させた場合に振幅は大きくなっているかという判定が行なわれる。なお、以下の説明において、発振する周波数に対応する周波数制御電圧Vtuは、予め決定され、電圧制御発振部2に入力されているものとする。電圧制御発振器100は、制御電圧Vtuに基づいて電圧制御発振部2のインダクタ、キャパシタによる発振動作が行なわれ、4相の出力信号VP0、VP90、VP180、VP270を出力している。ここで、第1の最適化を行なう前の初期設定状態では、第1の最適化回路は、たとえば最小の電流値に対応する電流設定信号VIを出力しているものとする。そのため、電流生成回路1は、出力しうる電流値のうち最小の電流を生成している。この初期状態における出力信号のピーク電圧値をV0とする。
図4は、第1の最適化回路が行なう動作を示すフローチャートである。以下、図4を参照して第1の最適化について説明する。
ステップ1(図4、S1参照)
出力信号VP0、VP90、VP180、VP270は、スイッチSW1を介してピーク電圧検出回路31へと入力される。ピーク電圧値検出回路31は、検出したピーク電圧値に対応するピーク電圧値信号を出力する。
ステップ2(図4、S2参照)
第1の判定回路32によってピーク電圧値信号の示す電圧値と耐圧基準の基準値との比較が行なわれる。第1の判定回路32は、ピーク電圧値が基準値以下であれば次のステップへと進み、ピーク電圧値が基準値以上となれば設定電流値を、前々回の設定値に戻す信号を電流設定値保存回路に出力した後に、電流値の設定を終了する。
ステップ3(図4、S3参照)
初期状態においては、最小電流に設定されているため、後述するステップS5において、少なくとも1回の電流の増加が行われる。ステップS3では、この初期状態のピーク電圧V0と、1回の電流増加を行った後のピーク電圧値V1の比が計算される。1回の電流増加分を一定の値としておけば、初回の電流増加に対するピーク電圧値の上昇分を基準値として用いることが可能である。そのため、第1の判定回路32は、下記のステップ4における判断の基準値G0としてV0とV1の比を記憶する。
ステップ4(図4、S4参照)
ステップ4において、前回の電流増加後のピーク電圧値Vn−1(n−1回の電流増加を行なった後のピーク電圧値)Vn−1と、最新のピーク電圧値(n回の電流増加を行なった後のピーク電圧値)Vnの比Gnを計算する。ここで計算されたGnは、ステップ3で記憶された基準値G0と比較される。ここで、基準値G0>Gnとなっていた場合は電流値の設定を終了し、G0≦Gnであれば、ステップS5へと進む。
ステップ5(図4、S5参照)
第1の判定回路32は、所定量の電流値を増加させる信号を電流設定値保存回路33へと出力する。この所定量の電流値とは予め設定された1ステップに相当する電流量を増加させるような信号であれば良い。電流設定値保存回路33は、新たな電流設定値を記憶し、対応する電流設定信号VIを出力して再びステップS1へと戻る。
本実施の形態の第1の最適化装置は第1の判定回路によって、ステップS1〜S5の動作を繰り返し、電流設定値保存回路33が記憶する電流設定値を更新していく。そして、最終的に電流値が設定された場合に、スイッチSW2を開放状態として電圧制御発振部2に流れる電流を決定する。
このように第1の最適化回路3では、電圧制御発振部2の出力するピーク電圧が、増幅部の耐圧を超えた場合には、それ以上、電圧制御発振部2に流す電流を増加させず、増幅部のトランジスタに素子耐圧以上の電圧がかかることを防止している。
また、ステップ3、S4によって初回の電流増加時にピーク電圧がどの程度変化するのかを基準値として記憶し、その後、電流増加のたびにピーク電圧がこの基準値と同じ比の上昇を続けるかを確認している。つまり、一定の電流変化量に対する出力電圧の振幅の変化を測定している。ここで、電流増加量は1回目の電流増加量と変わらないのに、同じ比でピーク電圧が上昇しない場合は、振幅が飽和し、それ以上は電流を増加させても過電流を流してしまうことを意味している。つまり、ステップS4において、G0>Gnと判定された場合は、それ以上電流を増加させても、2次歪み、3次歪みによる位相ノイズを増加させるのみである。従って、本実施の形態の第1の最適化回路では、G0>Gnと判定された場合にも電流値の増加を停止し、電流設定を終了する(図5、参照)。
このように第1の最適化回路によって電圧制御発振部2に流れる電流を設定することで位相ノイズを抑えた電圧制御発振器とすることが可能となる。また、4相出力の電圧制御発振器であれば、増幅部のトランジスタに対する耐圧も考慮して電流値を設定することが可能となる。
上記の第1の最適化回路による最適化動作の後に第2の最適化回路4による第2の最適化が行われる。以下、本実施の形態の第2の最適化回路による第2の最適化動作について説明する。
電圧制御発振部2によって出力された4相の発振信号VP0、VP90、VP180、VP270は、第3のスイッチSW3を介して90度位相検波器41に入力される。図6は90度位相検波器41の内部構成を示す図である。
90度位相検波器41は、ミキサー回路5、低帯域通過フィルタ(LPF)6を有している。ミキサー回路5は、VP0−VP180差動対信号Vi1と、この差動対信号Vi1に直交するVP90−VP270差動対信号Vi2とを乗算する。LPF6は、ミキサー回路5の出力する信号の特定周波数以下の信号を通過させるフィルタである。
VP0−VP180差動対信号と、VP90−VP270差動対信号は互いに直交する信号であるため、一方を正弦波で示せば、他方は余弦波で示すことが可能である。ここで、発振振幅をVa、発振周波数をfo、Vi1とVi2の位相遅延をφで示すと、以下のように各差動対信号を表記することが可能である。
VP0−VP180差動対信号:Vi1=Va・sin(2πfo)
VP90−VP270差動対信号:Vi2=−Va・cos(2πfo+φ)
このVi1及びVi2をミキサー回路5に入力すると、ミキサー回路5は、以下の式で示される信号を出力する
Vo1=(b・Va/2){−sin(2π・2fo+φ)+sinφ}
上記式において、1項目は、発振周波数の2倍波成分を示し、2項目は位相誤差φから発生するDC成分を示している。そのため、このDC成分は位相誤差を反映した値となる。
ミキサー回路5によって出力された信号Vo1は、LPF6へと入力される。LPF6は、1項目を減衰させ、2項目のDC成分に対応する式の信号を出力する。
Vo2=(b・Va/2)sinφ=Vb・sinφ。
第2の最適化回路では、90度位相検波器41の出力が、位相検波信号Vo2=Vb・sinφとして第2の判定回路42へと入力される。位相検波信号Vo2は、上記に示すVP0−VP180差動対信号Vi1とVP90−VP270差動対信号Vi2の直交(90度)信号に対する位相誤差φのsinφに比例する。よって、位相検波信号Vo2は直交誤差を検出する基準として設定することができる。
Vo2=Vb・sinφが入力された第2の判定回路42は、以下のような制御動作を実行する。まず、90度位相検波器41によって出力される位相検波信号Vo2が予め設定された基準値に対してプラスである場合は、VP90−VP270が位相遅れであると判断する。この場合、VP90−VP270差動対位相が進むように設定するための命令を容量設定値保存回路43へと出力する。容量設定値保存回路43は、C12及びC22の容量よりも、C11及びC21の容量が小さくなるように容量設定信号VCA、VCBを出力する。
一方、90度位相検波器41によって出力される位相検波信号Vo2が予め設定された基準値に対してマイナスである場合は、VP90−VP270の位相が進んでいると判断する。この場合、VP90−VP270差動対位相が遅れるように設定するための命令を容量設定値保存回路43へと出力する。容量設定値保存回路43は、C12及びC22のユニット容量よりC11及びC21のユニット容量が大きくなるように容量設定信号VCA、VCBを出力する。
この第2の最適化回路4は、第2の判定回路42による判定結果がある基準値以下になるか、あるいは規定の回数を繰り返し、基準値に対して最小となる状態で収束する。その状態を容量設定値保存回路43へと保持し、容量設定信号VCA、VCBを保持する。その後、第3のスイッチSW3及び第4のスイッチSW4をオフ状態とする。
このように、第2の最適化回路4を設けることで90度直交誤差を検出し、その結果に基づいて90度直交誤差を補正することが可能となる。また、所望の容量設定信号を生成した後は、第3のスイッチSW3及び第4のスイッチSW4をオフ状態とし、この容量設定信号を容量設定値保存回路によって保持することで、無駄な消費電流を抑制し、フィードバック回路で発生するノイズを付加することを防ぐことが可能となる。
以上、詳細に説明したように、本実施の形態の電圧制御発振器100は、第1の最適化回路および第2の最適化回路を有している。第1の最適化回路によって、電圧制御発振部2に流す電流値を最適化することで、素子バラツキなどがあっても、電圧制御発振部2内の増幅部において必要以上に増幅してしまい、位相ノイズ特性が劣化してしまうことを防ぐことが可能となる。また、4相出力の電圧制御発振器であれば、素子の耐圧を考慮して最適な電流を電圧制御発振部に設定することも可能となる。
また、第2の最適化回路において、直交成分の位相誤差を元に、可変キャパシタC11、C12、C21、C22の容量を制御できる構成としている。このため、位相ノイズに対応するのみでなく、位相誤差も最小とした4相出力を得ることが可能となる。また、第1の最適化回路、第2の最適化回路によって最適化が終了した後は、スイッチSW1〜SW4をオフ状態とすることにより、通常動作時に余計な電流を消費することもなく、位相ノイズ、位相誤差を低減させた電圧制御発振器を提供することが可能となる。
以上、本発明の実施の形態に基づいて詳細に説明したが、本発明は、実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、ピーク電圧検出回路は、4相出力の平均値を出力するものとして説明したが、4出力のうち、最も高い電圧を検知して出力する構成であっても良い。この場合、最も高い電圧に基づいて電圧制御発振部に流れる電流を決めるため、増幅部のどの素子にも確実に耐圧以下の電圧を印加することとなる。また、ピーク電圧の比の変化に基づいて電流値を決定すれば、4相出力ではない電圧制御発振器などにおいても最適な電流を決定することが可能である。
本実施の形態1に関わる電圧制御発振器100を示す図である。 増幅部素子に印加される電圧を示す図である。 N12のゲート電圧、ドレイン電圧を示す図である。 第1の最適化回路の動作を示す図である。 実施の形態1の特性を示す図である。 第2の最適化回路の90度位相検波回路を示す図である。 従来の電圧制御発振器を示す図である。
符号の説明
100 電圧制御発振器
1 可変電流生成回路
2 電圧制御発振部
3 第1の最適化回路
4 第2の最適化回路
31 ピーク電圧検出回路
32 第1の判定回路
33 電流設定値保存回路
41 90度位相検波器
42 第2の判定回路
43 容量設定値保存回路
5 ミキサー回路
6 低帯域通過フィルタ
Ip 電流源
SW1〜SW4 第1〜第4のスイッチ
L11、L12、L21、L22 インダクタ
C11〜C24、CV11〜CV24、 可変キャパシタ
P1〜P3 PMOSトランジスタ
N11〜N14、N21〜N24 NMOSトランジスタ
VDD 電源電圧

Claims (7)

  1. 電圧制御発振部へ動作電流を供給する可変電流生成回路と、
    インダクタと可変容量素子とで構成される共振回路を有し、前記可変電流生成回路の生成する電流に基づいた振幅の出力信号を出力する前記電圧制御発振部と、
    前記出力信号が入力され、前記可変電流生成回路の出力する電流の変化量に対する当該出力信号の振幅変化に基づいて電流設定信号を生成し、前記可変電流生成回路に供給する第1の最適化回路とを有する電圧制御発振器。
  2. 前記第1の最適化回路は、さらに、
    前記電圧制御発振部の出力信号のピーク電圧と、予め設定された基準耐圧値とを比較し、当該比較の結果に基づいて、前記電流設定信号を生成することを特徴とする請求項1記載の電圧制御発振器。
  3. 前記第1の最適化回路は、第1の電流設定値変化に基づいた前記可変電流回路の出力する電流の所定の変化量に対応する出力信号の振幅変化を基準値として記憶し、第2の電流設定値変化に基づいた前記可変電流回路の出力する電流の前記所定の変化量に対応する出力信号の振幅変化が前記基準値に満たない場合に、最適化動作を終了することを特徴とする請求項1あるいは2に記載の電圧制御発振器。
  4. 前記電圧制御発振器は、多相出力の電圧制御発振器であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電圧制御発振器。
  5. 前記電圧制御発振器は、前記多相出力の出力間位相誤差を補正する第2の最適化回路を有することを特徴とする請求項4記載の電圧制御発振器。
  6. 前記第2の最適化回路は、前記多相出力の出力間位相誤差を検出する位相検波回路と、前記位相誤差に基づいて位相誤差を補正する信号を出力する判定回路とを有することを特徴とする請求項5記載の電圧制御発振器
  7. 前記位相誤差を補正する信号は、前記可変容量素子の容量値を設定する信号であることを特徴とする請求項6記載の電圧制御発振器。
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