JP2008232857A - 波形発生器および試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波形発生器10において、クロック発生器106は、クロック信号140を生成する。分周部112は、クロック信号140を分周して、分周クロック信号144を生成する。読出部118は、分周クロック信号144の周期でアドレス信号を波形メモリ120に供給し、波形メモリ120からパターンデータをDAC130に読み出す。DAC130は、クロック信号140の周期で、波形メモリ120から供給されるデータをアナログ値に変換して、任意波形を出力する。
【選択図】図2
Description
Claims (4)
- 波形を生成する波形発生器であって、
波形のパターンを示すパターンデータを保持するメモリと、
クロック信号を発生するクロック信号発生器と、
前記クロック信号を分周した周期で前記メモリから前記パターンデータを読み出す読出部と、
前記クロック信号の周期で、読み出された前記パターンデータに基づく波形を出力するデジタルアナログ変換部と、
を備えることを特徴とする波形発生器。 - 前記クロック信号を分周する分周部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の波形発生器。
- 前記分周部は、クロック信号のパルスを間引くことで、前記クロック信号を分周することを特徴とする請求項2に記載の波形発生器。
- 試験波形を被試験デバイスへ供給するための波形発生器を備えた試験装置であって、
波形発生器が、請求項1から3のいずれかに記載の波形発生器であることを特徴とする試験装置。
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---|---|---|---|---|
JP2015105851A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体デバイス計測装置及び半導体デバイス計測方法 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6471681A (en) * | 1987-09-14 | 1989-03-16 | Sumitomo Electric Industries | Method of measuring dynamic characteristic of manipulator |
JPH0414901A (ja) * | 1990-05-09 | 1992-01-20 | Yokogawa Electric Corp | 波形発生装置 |
JPH05107314A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Hitachi Ltd | Ic試験装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4404644A (en) * | 1980-05-22 | 1983-09-13 | Barr & Stroud Limited | Waveform generator |
US4782324A (en) * | 1987-05-06 | 1988-11-01 | Genrad, Inc. | Digital signal synthesizer |
JPH06337140A (ja) | 1993-05-28 | 1994-12-06 | Toshiba Corp | 換気扇用スイッチ装置 |
US5517156A (en) * | 1994-10-07 | 1996-05-14 | Leader Electronics Corp. | Digital phase shifter |
JP3434627B2 (ja) * | 1995-09-13 | 2003-08-11 | 富士通株式会社 | クロック発生回路 |
US5859605A (en) * | 1997-01-24 | 1999-01-12 | Hughes Electronics Corporation | Digital waveform generator and method for synthesizing periodic analog waveforms using table readout of simulated Δ- Σ analog-to-digital conversion data |
DE19713286A1 (de) * | 1997-03-29 | 1998-10-01 | Thomson Brandt Gmbh | Gerät zur CD-Wiedergabe mit veränderbarer Geschwindigkeit oder Richtung |
DE10082299B4 (de) * | 1999-07-12 | 2006-03-16 | Advantest Corp. | Wellenformgenerator und Verfahren zum Erzeugen einer Wellenform |
US6356224B1 (en) * | 1999-10-21 | 2002-03-12 | Credence Systems Corporation | Arbitrary waveform generator having programmably configurable architecture |
US7385543B2 (en) * | 2006-06-19 | 2008-06-10 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for asynchronous triggering of an arbitrary waveform generator |
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-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6471681A (en) * | 1987-09-14 | 1989-03-16 | Sumitomo Electric Industries | Method of measuring dynamic characteristic of manipulator |
JPH0414901A (ja) * | 1990-05-09 | 1992-01-20 | Yokogawa Electric Corp | 波形発生装置 |
JPH05107314A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Hitachi Ltd | Ic試験装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015105851A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体デバイス計測装置及び半導体デバイス計測方法 |
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