JP2008227135A - インプリント用テンプレートおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるインプリント用テンプレートであって、基材と、上記基材表面上に形成され、すべて曲面から構成された凹部と、を有し、上記凹部の直径が、300nm〜3μmの範囲内であることを特徴とするインプリント用テンプレートを提供することにより、上記課題を解決する。
【選択図】図1
Description
まず、本発明のインプリント用テンプレートについて説明する。本発明のインプリント用テンプレートは、発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるインプリント用テンプレートであって、基材と、上記基材表面上に形成され、すべて曲面から構成された凹部と、を有し、上記凹部の直径が、300nm〜3μmの範囲内であることを特徴とするものである。
上記凹部の形状としては、すべて曲面から構成された形状であれば特に限定されるものではないが、例えば、球を任意の平面で切断した一部の形状、回転楕円体を長軸または短軸に沿って平行に切断した一部の形状等を挙げることができる。中でも、本発明においては、上記凹部の形状が、半球状、半楕円球状であることが好ましい。また、本発明においては、すべて曲面から構成された均一な凹部を有していることが好ましい。なお、凹部の形状、深さ、直径等については、例えば走査型電子顕微鏡(SEM)により、観察、測定することができる。
次に、本発明のインプリント用テンプレートの製造方法について説明する。本発明のインプリント用テンプレートの製造方法は、発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるインプリント用テンプレートの製造方法であって、基材表面に、エッチング液に対して耐性を有し、かつ膜厚が5nm〜80nmの範囲内であるマスク層を形成するマスク層形成工程と、電子線描画法により、上記マスク層に開口部を形成する開口部形成工程と、上記開口部を介して、上記エッチング液を用いて上記基材をエッチングするウェットエッチング工程と、上記ウェットエッチング工程後に、上記マスク層を除去するマスク層除去工程と、を有することを特徴とするものである。
以下、本発明のインプリント用テンプレートの製造方法について、工程ごとに説明する。
本発明におけるマスク層形成工程は、基材表面に、エッチング液に対して耐性を有し、かつ膜厚が5nm〜80nmの範囲内であるマスク層を形成する工程である。中でも、本発明においては、上記マスク層の膜厚が、10nm〜70nmの範囲内であることがより好ましく、15nm〜50nmの範囲内であることがさらに好ましい。マスク層の膜厚が上記範囲内となることで、基材に対してエッチング液が回り込み易くなり、微小な凹部を形成することができるからである。
本発明における開口部形成工程は、電子線描画法により、マスク層に開口部を形成する工程である。電子線描画法により、微細な開口部を形成することができ、微小な凹部を形成することができる。
また、本発明においては、上述したマスク層の膜厚と開口部の直径との比(膜厚:開口部直径)が、例えば1:2〜15の範囲内、中でも1:6〜10の範囲内であることが好ましい。上記比率の範囲内であれば、基材に対してエッチング液が回り込み易くなり、微小な凹部を形成することができるからである。
露光処理において、電子線照射の加速電圧としては、特に限定されるものではないが、通常5kV〜500kVの範囲内、中でも10kV〜200kVの範囲内であることが好ましい。また、電子線照射は、一般的な電子線描画機により行うことができる。
ドライエッチング処理において、用いられるエッチングガスとしては、例えば、CF4、CHF3、Cl2、SF6等を挙げることができる。
本発明におけるウェットエッチング工程は、開口部を介して、エッチング液を用いて基材をエッチングする工程である。本工程により、等方的に基材をエッチングすることにより、なめらかな曲面構造を有する凹部を形成することができる。
本発明におけるマスク層除去工程は、ウェットエッチング工程後に、マスク層を除去する工程である。エッチングされた基材からマスク層を除去することにより、インプリント用テンプレートが得られる。
本発明により得られるインプリント用テンプレートは、発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるものである。このようなインプリント用テンプレートについては、上記「A.インプリント用テンプレート」に記載した内容と同様であるので、ここでの説明は省略する。
[実施例1]
基材として厚さ6.35mmの石英製基材を用意した。次に、基材表面上に、スパッタリング法により厚さ15nmのCrN層(マスク層)を形成した。次に、レジスト材料(商品名:FEP、富士フィルム社製)を用い、スピンコーティング法により、CrN層上に厚さ0.2μmのポジ型レジスト膜を形成した。その後、上記のポジ型レジスト膜に対し、電子線描画機(型番:JBX9000、日本電子社製)で電子線照射を行い、現像液で処理し、塩素ガス(Cl2)によりドライエッチングを行うことにより、CrN層に、直径100nmの円状の開口部を、それぞれ500nmの間隔で100×10000個形成した。
CrN層に形成された開口の直径を150nmとしたこと以外は、実施例1と同様にしてテンプレートを得た。得られたテンプレートの凹部の直径は、600nmであった。得られたテンプレートのSEM写真を図4に示す。その結果、なめらかな曲面構造を有する半球状の凹部が形成されていることが確認できた。
CrN層の膜厚を85nmとしたこと以外は、実施例1と同様にしてテンプレートを得た。得られたテンプレートのSEM写真を図5に示す。その結果、形成された凹部の大きさがそれぞれ異なることが判明し、均一な凹部を有するテンプレートを得ることができなかった。
CrN層の膜厚を15nmとし、CrN層に形成された開口部の大きさを140nmとしたこと以外は、実施例1と同様にしてテンプレートを得た。得られたテンプレートの凹部の直径は、1000nmであった。得られたテンプレートのSEM写真を図6に示す。その結果、なめらかな曲面構造を有するテンプレートを得ることができなかった。
2 … 凹部
3 … テンプレート
4 … マスク層
5 … 開口部
11 … 非転写樹脂層
11´ … マイクロレンズ
12 … 非転写基材
13 … 非転写体
Claims (3)
- 発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるインプリント用テンプレートであって、
基材と、前記基材表面上に形成され、すべて曲面から構成された凹部と、を有し、
前記凹部の直径が、300nm〜3μmの範囲内であることを特徴とするインプリント用テンプレート。 - 発光ダイオードのヘッド部に設けられ、光の取出し効率を向上させるマイクロレンズアレイを形成するために用いられるインプリント用テンプレートの製造方法であって、
基材表面に、エッチング液に対して耐性を有し、かつ膜厚が5nm〜80nmの範囲内であるマスク層を形成するマスク層形成工程と、
電子線描画法により、前記マスク層に開口部を形成する開口部形成工程と、
前記開口部を介して、前記エッチング液を用いて前記基材をエッチングするウェットエッチング工程と、
前記ウェットエッチング工程後に、前記マスク層を除去するマスク層除去工程と、
を有することを特徴とするインプリント用テンプレートの製造方法。 - 前記開口部の直径が、60nm〜1000nmの範囲内であることを特徴とする請求項2に記載のインプリント用テンプレートの製造方法。
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2007
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