JP2008216873A - レーザスキャニング装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】三次元直交座標系において任意の座標に任意のレーザスポット径を指定したレーザの軌跡制御をする。
【解決手段】レーザ照射座標が記述されたスキャンプログラム305と、前記スキャンプログラムに記述された目標位置306を出力するプログラム解析部301と、前記目標位置を入力し、前記目標位置間の補間計算を行う補間処理部302と、補間位置308に補正量を加算して補正位置309を出力する補正量加算部303と、照射面上の前記レーザ照射座標をガルバノメータスキャナの回転角に変換する幾何学的な計算処理部304を備えたコントローラ202と、前記ガルバノメータスキャナを動作させるサーボアンプと、ダイナミックフォーカスレンズを備えたレーザスキャニング装置において、前記スキャナプログラムは、前記レーザ照射座標を指定するとともに、三次元直交座標系の前記レーザ照射座標で指定された点でのレーザスポット径を指定する。
【選択図】図3

Description

本発明は、ガルバノメータスキャナによってレーザ照射位置を制御するレーザスキャニング装置に関する。
従来のレーザスキャニング装置は、ガルバノスキャナとfθレンズを備えることで、ガルバノスキャナによりレーザ照射点のX、Y方向の位置を移動させ、fθレンズによりレーザ焦点は常に被加工面上にあるようにしている。また、広範囲において被加工面上のレーザスポット径が一定となるように、ガルバノスキャナとfθレンズを備えたスキャニングヘッドを移動可能にして、所望の範囲へ移動させてからガルバノスキャナによる照射点の移動による刻印をしているものもある(例えば、特許文献1参照)。
また、レーザスポット径については、ダイナミックフォーカスレンズを備え、レンズ位置を動かすことによってレーザスポット径を変化できるようにしているものもある(例えば、非特許文献1参照)。
また、照射した図形の歪みについては、ダイナミックフォーカスレンズを備えた装置で、コントローラで幾何学的な計算を行って、ピンクッションエラーやZフォーカスエラーなどの幾何学的エラーを除去し、fθレンズを不要としているものもある(例えば、非特許文献2参照)。
また、指令方法としては、照射点の座標X,Yとダイナミックフォーカスレンズの位置Zを同時制御できるように、X、Y、Zを指示できる移動指令を備えているものもある(例えば、非特許文献3参照)。
図8は従来のレーザスキャニング装置の構成例であり、fθレンズを備えていない3軸構成のレーザスキャニング装置である。図8において、201はホストPCであり、Ethernetなどの通信手段でコントローラ801と接続され、スキャンプログラムの実行の操作やステータス表示のためのヒューマンインタフェースを備えている。801はコントローラであり、ホストPC201からの操作にしたがってスキャンプログラムの実行と停止を行ったり、レーザ照射点の現在位置、アラーム、運転状況などのステータスをホストPC201に知らせたりする。203はサーボアンプであり、1対1にガルバノメータスキャナと接続され、さらにすべてのサーボアンプ203はアナログ線あるいはフィールドネットワークでコントローラ801と接続され、コントローラ801から指令された位置にしたがってガルバノメータスキャナの位置制御を行う。図8においては3軸を備えたシステムなので3個のサーボアンプがある。101はX軸ガルバノメータスキャナであり、Xミラー104を装着してある。102はY軸ガルバノメータスキャナであり、Yミラー105を装着してある。103はZ軸であり、レンズ(1)106の位置を動かすために使用する。すなわちレンズ(1)106はダイナミックフォーカスレンズである。レーザ109はレンズ(1)106、レンズ(2)107、レンズ(3)108を通過し、Xミラー104、Yミラー105によって進行方向を変えられて、照射面110上の加工点802に到達する。ガルバノメータスキャナによってXミラー、Yミラーを動かしてレーザの進行方向を変化させることにより、照射面上の加工点の位置を動かすしくみである。さらに照射面上のレーザの焦点を、ダイナミックフォーカスレンズにより動かすようになっている。
図8の構成のようにfθレンズをなくし、コントローラで幾何学的な計算を行うことによってピンクッション歪みとリニアリティ歪みは取り除かれるが、実際には取り付け誤差や機械の歪みによる理想座標との誤差が描画図形に現れる。したがって、照射面を格子状に区切った点で理想座標との誤差を計測して補正量とし、コントローラ内部で指令に加算する方法で誤差に対する補正を行う。
図9はコントローラ内部の処理を示すブロック図である。コントローラ801は、まずホストPC201から送られたスキャンプログラム903を読み込んでプログラム解析901処理で移動指令を解析し、目標位置306を取り出す。目標位置306は、照射面110上のレーザ照射点の座標である。次に、目標位置306の間を補間する点を302補間処理で計算し、補間位置308を出力する。次に、補間位置308にあらかじめ計測して保存しておいた補正量を補正量加算処理303で加算して補正位置309とする。次に、Inverse Kinematics902で照射面上の座標を各ガルバノメータスキャナの回転角に変換する。Inverse Kinematics902は照射面上の座標に対するガルバノメータスキャナ回転角を幾何学的な計算から求める処理であり(計算方法は例えば、非特許文献2参照)、補正位置309を入力し、回転角310を出力する。回転角310は、通信手段あるいはアナログ線を通じてサーボアンプ203へ指令として送られる。
補正量加算処理303で用いる補正量は、コントローラ内部でX、Y、Zの補正テーブルとして実装されている。被加工面を65点×65点などの格子に区切り、各格子点にX、Y、Zの補正量を持たせる。図10は非特許文献3の例であり、65×65の各点にX補正量XData、Y補正量YData、Z補正量ZDataを持つGrid Correction Tableである。Zの補正量は、ダイナミックフォーカスレンズの位置に加算する補正量であり、全ての格子点においてレーザ焦点を被加工面に合わせるために使用される。
図11は、レーザ焦点を常に被加工面に合わせるように全ての格子点に補正量を入力した状態で、図8の座標系204のX座標のみ値を書き、YとZ値は0とする指令をスキャンプログラムに記述して実行した場合の、レーザ焦点の軌跡を示す図である。コントローラでの幾何学的な計算と適切なZ補正量によりZ軸103が動いてレンズ(1)106が移動し、Z補正1101による焦点移動が起こり、レーザ焦点114は常に照射面110上にある。したがって、X方向にのみ移動する指令で移動したときのレーザ焦点114の軌跡は水平な線であり、レーザ焦点の位置はスキャンプログラムに記述した指令位置に一致する。
図12は非特許文献3におけるスキャンプログラムでの位置指定方法の例である。スキャンプログラム1201(GCXファイル)内には、レーザOFFで移動するコマンドMD_jump_abs1202と、レーザONで移動するコマンドMD_mark_abs1203が書かれており、それぞれパラメータとしてX、Y、Zの絶対位置を与えるようになっている。X位置1204は座標系204のX座標、Y位置1205は座標系204のY座標である。Z位置1206はダイナミックフォーカスレンズの位置であり、常に平面上にレーザ焦点を合わせておきたい場合には0を記入する。Z位置1206に0でない値を指定するのは、照射面上のレーザスポット径を変化させたい場合か、あるいは、凹凸のある被加工面に対してもレーザパワーを一定で照射するために、レーザ焦点を被加工面に合わせて移動させるような場合である(例えば、非特許文献1)。ただし、ダイナミックフォーカスレンズの移動による焦点の移動が、照射面の高さ方向の移動になるにはfθレンズを備えている必要がある。
図13はfθレンズを備えていないレーザスキャンニング装置において、Z位置1206に一定の値を指定してXの移動を行った場合のレーザ焦点の軌跡を示す図である。コントローラでの幾何学的な計算と、Z補正量とスキャンプログラムによるZ位置1206を加算したレンズ(1)106の位置により、Z指令1301による焦点移動が起こる。Z指令1301による焦点移動は照射面110の垂直方向の移動ではなく、レーザ経路の線上に移動したものであるため、Xを移動したときの1302レーザ焦点の軌跡は水平な線にはならない。ただし、レーザ焦点が常に照射面110上に合っている図11の設定に、さらにレーザ経路の線上に焦点を移動させたのが図13であるため、図13では照射面110上のレーザスポット径は一定となる。
このように、従来のレーザスキャニング装置は、レーザ照射点の位置を制御するために被加工面上のレーザ照射点の座標X、Yを指定し、レーザ焦点の位置を制御するためにダイナミックフォーカスレンズの位置を指定するのである。レーザ焦点の位置を制御するのは、レーザスポット径を変化させる目的で使用する。また、fθレンズを備えたレーザスキャニング装置においては、照射面の高さ方向にレーザ焦点の位置を変化させる目的でも使用する。
特開平6−269971号公報 進藤崇、ダイナミックフォーカス制御によるレーザパターニング法、「松下電工技報 Vol.52 No.2」、2005年5月、p.31−36 山下仁、ガルバノメータスキャナ技術の流れとその応用、「第57回レーザ加工学会・理研シンポジウム論文集」レーザ加工学会、平成14年12月 GSIL P/N: 7OM-1095 Rev B、「WinMCL Plus Software Manual」、GSI Lumonics Inc.、2004年、p.23、28
従来のfθレンズを備えていないレーザスキャニング装置は、座標X、Yが0ではない場合、Z位置を指定してダイナミックフォーカスレンズを動かすと、図13のようにレーザ焦点はレーザ経路の線上で移動する。すると、照射面上のどの位置でもレーザ焦点が合うようにZの補正量を設定している場合でも、0でないZ位置を指定してX、Yを動かすと、レーザ焦点の軌跡は照射面を垂直方向に平行移動した平面上にはなくなり、Zフォーカスエラーが生じる。したがって、ダイナミックフォーカスレンズの移動は被加工面でのレーザスポット径の変更のためには使用できるが、任意のX、Yの位置においてレーザ焦点を直交座標のZ方向に移動することには使用できないという問題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、fθレンズを備えていないレーザスキャニング装置において、照射点の位置を三次元直交座標系の座標として指定できるようにするとともに、指定した座標でのレーザスポット径を指定できるようにし、任意の座標に任意のレーザスポット径を指定したレーザの軌跡制御をすることができるレーザスキャニング装置を提供することを目的とする。
上記問題を解決するため、本発明は、次のように構成したのである。
請求項1に記載の発明は、レーザ照射座標が記述されたスキャンプログラムを読み込み、指令位置間の補間点を計算し、補間点の位置をサーボアンプへ出力するコントローラと、サーボアンプと、ガルバノメータスキャナと、ダイナミックフォーカスレンズを備え、fθレンズを備えないレーザスキャニング装置において、照射面上に設定した三次元直交座標系での座標を指定する命令と、前記三次元直交座標系の座標で指定された点でのレーザスポット径を指定する命令とを備え、指令された前記レーザスポット径と前記三次元直交座標系での座標を前記ガルバノメータスキャナ回転角と前記ダイナミックフォーカスレンズ位置に変換する幾何学的な計算処理を備えたコントローラを備えたことを特徴とするレーザスキャニング装置とするものである。
請求項1に記載の発明によると、fθレンズを備えていないレーザスキャニング装置において、スキャンプログラムには三次元の座標で記述でき、幾何学的な計算はコントローラが行うため、高さ方向の移動をしたい場合にレンズの移動距離をオフラインで計算してからスキャンプログラムに書く必要はなく、スキャンプログラムの修正が容易である。
また、スキャンプログラムで三次元直交座標系の任意の座標に任意のレーザスポット径を指定した移動を実行することができるので、凹凸のある被加工物面に対して一定のレーザスポット径でレーザを照射しながら移動することができる。さらに、一つのスキャンプログラム中でスポット径を変化させながら移動することもできるので、スポット径を大きくしておいて荒く加工する部分と、スポット径を小さくして細かく加工する部分とを一つのプログラム中に記述して実行することができる。
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。
図2は、本発明のレーザスキャニング装置の構成例であり、fθレンズを使用しない3軸構成のレーザスキャニング装置である。また、図3は、本発明のレーザスキャニング装置におけるコントローラの処理のブロック図である。スキャニングを制御するコントローラ202では、補正を含む図3の処理を実行して各スキャナの回転角指令を作成する。図3において、スキャンプログラム305は、図2のホストPC201から送り込まれてコントローラ202の二次記憶装置に記憶されている。スキャンプログラム305には、照射面上に設定した三次元直交座標系204での座標を指定する命令と、三次元直交座標系の座標で指定された点でのレーザスポット径を指定する命令を含む移動命令が書かれている。
図4はスキャンプログラムの例である。スキャンプログラム401内には、レーザスポット径を指定する命令であるLW402と、レーザOFFで移動する命令であるMOV_ABS404と、レーザONで移動する命令FEED_ABS405が書かれている。LW402はパラメータとしてレーザスポット径403を与え、MOV_ABS404とFEED_ABS405はパラメータとしてX、Y、Zの絶対位置を与えるようになっている。X位置406は座標系204のX座標、Y位置407は座標系204のY座標である。そして、Z位置408は座標系204のZ座標であり、常に平面上にレーザ焦点を合わせておきたい場合には0を記入する。図4のスキャンプログラム401は、1行目でレーザスポット径を指定し、2行目で座標系204の原点へ移動する。次に、3行目で描画の最初の点に移動し、4行目から7行目までで正方形を描く。次に、8行目で座標系204のZ方向である、照射面110の垂直下方向に移動し、9行目から12行目までで正方形を描く、という手順のプログラムである。
図3のプログラム解析処理301は、スキャンプログラム305を読み込み、スキャンプログラム305に記述された目標位置306と目標レーザスポット径307を出力する。図4のスキャンプログラム401の例では、X位置406、Y位置407、Z位置408が目標位置306であり、レーザスポット径403が目標レーザスポット径307として読み込まれる。図3の302補間処理は、目標位置306を入力し、目標位置306間の補間計算を行い、補間位置308を出力する。補正量加算処理309は、補間位置308を入力し、補正テーブルを参照して補間位置308に補正量を加算した結果である補正位置309を出力する。Inverse Kinematics処理304は、補正位置309と目標レーザスポット径307を入力し、位置の変換をして回転角310を出力する。回転角310は各サーボアンプへ指令される。
本発明が従来技術と異なる部分は、スキャンプログラムにおいてレーザスポット径を指定する命令と三次元直交座標系での位置を指定する命令とを備えた部分と、コントローラ内部の処理において、前記レーザスポット径を指定する命令と三次元直交座標系での位置を指定する命令とを解析するプログラム解析処理を備えた部分と、Inverse Kinematics処理において、直交座標系の位置とレーザスポット径を考慮した回転角への変換計算を備えた部分である。
コントローラ202内部では図3に示すように、スキャンプログラム305に記述された目標位置306と目標レーザスポット径307を実現するための、X軸ガルバノメータスキャナ101、Y軸ガルバノメータスキャナ102、Z軸103の回転角310の計算を行うが、直交座標系上の位置を回転角へ変換する処理はInverse Kinematics処理304が行う。Inverse Kinematics処理304について詳細を説明する。
図2のレーザスキャニング装置における指令位置115を三次元直交座標系上の位置として表した移動命令と、前記指令位置115でのレーザスポット径がスキャンプログラムに書かれており、移動命令は前記コントローラ202のプログラム解析処理、補間処理、補正量加算処理を経て、InverseKinematics処理へ入力される。レーザスポット径はプログラム解析処理からInverseKinematics処理へ入力され、スキャンプログラム中に新たなレーザスポット径命令がない間はレーザスポット径の値を保持する。
その動作は、まず、InverseKinematics処理の内部では、図2のX軸ガルバノメータスキャナ101とY軸ガルバノメータスキャナ102の回転角を求める計算を行う。X、Y、Zは204三次元直交座標系上の位置、dはレンズ(3)106とXミラー104間の距離、dはXミラー104とYミラー105間の距離、dはYミラー105と照射面110間の距離である。
図2より、指令位置115が図2に示した位置のとき、Yの順変換は式1のようになる。Xの順変換は式2のようになる。式1と式2から逆変換を求めると、式3と式4になる。
式3と式4のatan2( )はアークタンジェントを計算する関数である。InverseKinematics処理では式3と式4で指令位置X、Y、Zに対するθxとθyを計算する。式3と式4で求めたθxとθyは光角度なため、1/2を掛け算することでスキャナの回転角に変換する。
次に、Z軸の回転角を求める計算を行う。指令位置115が図2に示した位置のとき、レンズ3の第二主点から指令位置までのレーザ経路長Lは式5のようになる。
すなわち、LはX、Y、Z、d、d、dの関数である。
一方、3枚のレンズを組み合わせた系にレーザ109を入射したときのレーザ焦点114の位置は図5のようになる。図5では、Xミラー104とYミラー105によるレーザ方向の変化がないものとして描いてある。レンズ(1)106の焦点距離をf、レンズ(2)107の焦点距離をf、レンズ(3)108の焦点距離をfとする。レンズ(1)106は可動であり、レンズ(2)107との距離dは可変である。レンズ(2)107とレンズ(3)108との距離dは固定である。501はレンズ3の第二主点、502は3枚のレンズの合成の第二主点である。503は合成の焦点距離f123、504はレンズ3の第二主点からレーザ焦点114までの距離(合成の焦点位置)s123、505はレンズ3の第二主点から502合成の第二主点までの距離(合成の主点位置)p123である。503合成の焦点距離f123は式6のように前記dの関数として表せる。合成の焦点位置s123504は式7のように前記dの関数として表せる。合成の主点位置p123505は式8のように前記dの関数として表せる。ただし、p、q、r、sは式9で表される定数である。レーザ焦点114におけるビーム径wは式10のように表される。
πは円周率、wは入射ビーム径、λは波長、f123は合成の焦点距離である。Mは理論的な集光径に対する倍率を示すもので、ビーム品質の指標である。Mはガウシアンビームの場合は1である。
合成の第二主点507におけるビーム径は506入射ビーム径wに等しい。合成の第二主点でのビーム径からレーザ焦点でのビーム径までの間は、位置とビーム径の関係が1次関数であるとすると、レンズ3第二主点501からレーザ経路長Lを隔てた場所のビーム径508Wは式11のように表せる。
式11のLに式5を代入し、f123に式6を代入し、p123に式8を代入し、wに式10を代入する。式10のf123には式6を代入する。代入後の式をdについて解くと、レンズ(1)106とレンズ(2)107間の距離dを、指令位置までのレーザ経路長Lとビーム径Wの関数として表したことになる。関数をfunc( )とすると式12のように書ける。
前記Inverse Kinematics304では、目標位置をX、Y、Z、目標レーザスポット径をWとして式12の計算を行い、dを求める。スキャンプログラム中にレーザスポット径命令がない場合は、デフォルトのレーザスポット径としてW=wとしてdを求める。
次に、レンズ1とレンズ2間の距離が前記dになるようなレンズ1移動距離lを計算する。lは式13で計算する。
ただし、Dはlが基準位置にあるときのレンズ1とレンズ2間の距離であり、Lは図2のd、d、dを加算した長さに等しく、X、Y、Zは0、すなわちレーザ焦点が座標系204原点に一致しているときのレンズ1とレンズ2間の距離であるとする。
レンズ1の直動機構はギアを介してZ軸と組み合わせてあるので、レンズ1を式13で求めたlだけ移動するためのZ軸の回転角は、lとギア比の掛け算で計算する。
最後に、前記Inverse Kinematics処理304はX軸スキャナ、Y軸スキャナ、Z軸の回転角をサーボアンプへの指令として出力する。
前記Inverse Kinematics処理304を整理すると、その動作は図6に示す流れになる。まず、指令位置X、Y、Zとレーザスポット径Wを入力し(S601)、次に式3によりθyを計算し(S602)、式4によりθxを計算し(S603)、式5により指令位置までのレーザ経路長Lを計算し(S604)、式12によりレンズ1とレンズ2間の距離dを計算し(S605)、式13により、レンズ1移動量lを計算し(S606)、θx、θ、lにギア比を掛けて各スキャナの回転角を計算し(S607)、最後に回転角を出力する(S608)。
本実施例のInverse Kinematics処理を行うコントローラを使うと、スキャンプログラムでX、Yを動かさずにZ位置だけを動かす移動命令を記述して、図7のように座標系のZ方向である照射面の垂直方向にレーザ焦点を移動させることができる。
また、スキャンプログラムに記述されたレーザスポット径命令と直交座標の移動命令に基づいて、図1のように112Z指令による焦点移動と、113レーザスポット径指令による焦点移動の両方が起こるので、三次元の座標で、指令位置115を目標のレーザスポット径で照射することができる。
このように、照射面上に設定した三次元直交座標系での座標を指定する命令と、前記三次元直交座標系の座標で指定された点でのレーザスポット径を指定する命令とを備えて、コントローラで直交座標系の位置とレーザスポット径を考慮した回転角への変換計算を備えた構成をしているので、スキャンプログラムにレーザスポット径命令と直交座標の移動命令を記述し、三次元の座標で、指令位置を目標のレーザスポット径で照射することができる。
本発明のレーザスキャニング装置の動作を示す図 本発明の第1実施例を示すレーザスキャニング装置の構成図 第1実施例を示すレーザスキャニング装置のコントローラ内部処理のブロック図 第1実施例を示すレーザスキャニング装置のスキャンプログラム例 第1実施例を示すレーザスキャニング装置の光学系の構成図 第1実施例を示すコントローラ内部のInverseKinematics処理のフローチャート 本発明のレーザスキャニング装置のZ位置指令による動作を示す図 従来のレーザスキャニング装置の例を示す構成図 従来のレーザスキャニング装置のコントローラ内部処理のブロック図 従来のレーザスキャニング装置の補正テーブルの構造体 従来のレーザスキャニング装置のZ補正動作を示す図 従来のレーザスキャニング装置のスキャンプログラム例 従来のレーザスキャニング装置のZ位置指令による動作を示す図
符号の説明
101 X軸ガルバノメータスキャナ
102 Y軸ガルバノメータスキャナ
103 Z軸ガルバノメータスキャナ
104 Xミラー
105 Yミラー
106 レンズ(1)(ダイナミックフォーカスレンズ)
107 レンズ(2)
108 レンズ(3)
109 レーザ
110 照射面
111 レンズ1移動距離l
112 本発明のZ位置指令による焦点移動距離
113 本発明のレーザスポット径指令による焦点移動距離
114 レーザ焦点
115 指令位置
201 ホストPC
コントローラ202
203 サーボアンプ
204 座標系
301 プログラム解析処理
302 補間処理
303 補正量加算処理
304 Inverse Kinematics
305 スキャンプログラム
306 目標位置
307 レーザスポット径
308 補間位置
309 補正位置
310 回転角
401 スキャンプログラム
402 レーザスポット径指令LW
403 レーザスポット径の値
404 レーザOFF移動指令MOV_ABS
405 レーザON移動指令FEED_ABS
406 X座標
407 Y座標
408 Z座標
501 レンズ3の第二主点
502 合成の第二主点
503 合成の焦点距離
504 合成の焦点位置
505 合成の第二主点位置
506 入射ビーム径
507 合成の第二主点におけるビーム径
508 Lの位置でのビーム径
509 レンズ3の第二主点から指令位置までのレーザ経路長
801 従来のコントローラ
802 加工点
901 従来のプログラム解析処理
902 従来のInverse Kinematics
903 従来のスキャンプログラム
1101 Z補正による焦点移動距離
1102 レーザ焦点の軌跡
1201 スキャンプログラム
1202 レーザOFF移動指令MD_jump_abs
1203 レーザON移動指令MD_mark_rel
1204 X座標
1205 Y座標
1206 Z座標
1301 従来のZ位置指令による焦点移動距離
1302 レーザ焦点の軌跡

Claims (8)

  1. レーザ照射座標が記述されたスキャンプログラムと、前記スキャンプログラムを読み込み、前記スキャンプログラムに記述された目標位置を出力するプログラム解析部と、前記目標位置を入力し、前記目標位置間の補間計算を行う補間処理部と、補間位置にあらかじめ保存しておいた補正量を補正量加算処理で加算して補正位置を出力する補正量加算部と、照射面上の前記レーザ照射座標をガルバノメータスキャナの回転角に変換する幾何学的な計算処理部を備えたコントローラと、前記ガルバノメータスキャナを動作させるサーボアンプと、ダイナミックフォーカスレンズを備えたレーザスキャニング装置において、
    前記スキャナプログラムは、前記レーザ照射座標を指定するとともに、三次元直交座標系の前記レーザ照射座標で指定された点でのレーザスポット径を指定することを特徴とするレーザスキャニング装置。
  2. 前記プログラム解析処理は、スキャンプログラムを読み込み、スキャンプログラムに記述された目標位置と目標レーザスポット径を出力することを特徴とする請求項1記載のレーザスキャニング装置。
  3. 前記幾何学的な計算処理部は、指令された前記三次元直交座標系での座標と前記レーザスポット径とから前記ガルバノメータスキャナ回転角と前記ダイナミックフォーカスレンズ位置を計算する幾何学的な計算処理を備えたことを特徴とする請求項1記載のレーザスキャニング装置。
  4. 前記幾何学的な計算処理部は、レンズの合成の主点からレーザ焦点までの間の前記レーザ経路長とビーム径の関係を1次関数として、前記照射座標でのレーザスポット径を算出することを特徴とする請求項3記載のレーザスキャニング装置。
  5. 前記レンズの合成の主点からレーザ焦点までの間の、前記レーザ経路長Lとビーム径Wの関係を表す1次関数は、




    の式であること特徴とする請求項4記載のレーザスキャンニング装置。
  6. 前記幾何学的な計算処理部は、前記ダイナミックフォーカスレンズとレンズ間の距離を前記照射座標までのレーザ経路長とレーザビーム径の関数として求められたことを特徴とする請求項3記載のレーザスキャニング装置。
  7. 前記幾何学的な計算処理部は、前記照射座標までのレーザ経路長とレーザビーム径の関数として求められた前記ダイナミックフォーカスレンズとレンズ間の距離になるように前期ダイナミックフォーカスレンズの移動距離を求められたことを特徴とする請求項3記載のレーザスキャニング装置。
  8. 前記幾何学的な計算処理部は、指令された前記三次元直交座標系での前記座標と前記レーザスポット径を入力し、光角度θyを計算し、光角度θxを計算し、指令位置までのレーザ経路長Lを計算し、レンズ1とレンズ2間の距離を計算し、前記ダイナミックフォーカスレンズの移動距離を計算し、光角度θxと、光角度θと、前記ダイナミックフォーカスレンズの移動距離から前記ガルバノスキャナの回転角を計算し、前記ガルバノスキャナの前記回転角を出力することを特徴とする請求項3記載のレーザスキャニング装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101358804B1 (ko) 2013-05-09 2014-02-07 (주)피플레이저테크 레이저빔 조사 장치 및 그 동작 방법
CN107255925A (zh) * 2017-06-15 2017-10-17 西安交通大学 一种振镜系统连续自适应的在线校正方法
JP2018513990A (ja) * 2015-03-17 2018-05-31 ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド レーザスキャン装置及びレーザスキャンシステム
CN108620733A (zh) * 2017-03-23 2018-10-09 发那科株式会社 检流计扫描器
JP7396851B2 (ja) 2019-10-18 2023-12-12 ファナック株式会社 制御装置、制御システム、及びプログラム

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101358804B1 (ko) 2013-05-09 2014-02-07 (주)피플레이저테크 레이저빔 조사 장치 및 그 동작 방법
JP2018513990A (ja) * 2015-03-17 2018-05-31 ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド レーザスキャン装置及びレーザスキャンシステム
US10948710B2 (en) 2015-03-17 2021-03-16 Han's Laser Technology Industry Group Co., Ltd. Laser scanning device and laser scanning system
DE112015006316B4 (de) 2015-03-17 2022-10-06 Han's Laser Technology Industry Group Co., Ltd. Laserscan-vorrichtung und laserscan-system
CN108620733A (zh) * 2017-03-23 2018-10-09 发那科株式会社 检流计扫描器
JP2018159815A (ja) * 2017-03-23 2018-10-11 ファナック株式会社 ガルバノスキャナ
US10414001B2 (en) 2017-03-23 2019-09-17 Fanuc Corporation Galvanometer scanner
CN107255925A (zh) * 2017-06-15 2017-10-17 西安交通大学 一种振镜系统连续自适应的在线校正方法
CN107255925B (zh) * 2017-06-15 2019-12-20 西安交通大学 一种振镜系统连续自适应的在线校正方法
JP7396851B2 (ja) 2019-10-18 2023-12-12 ファナック株式会社 制御装置、制御システム、及びプログラム

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