JP2008209218A - 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器 - Google Patents

着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2008209218A
JP2008209218A JP2007045743A JP2007045743A JP2008209218A JP 2008209218 A JP2008209218 A JP 2008209218A JP 2007045743 A JP2007045743 A JP 2007045743A JP 2007045743 A JP2007045743 A JP 2007045743A JP 2008209218 A JP2008209218 A JP 2008209218A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
functional liquid
liquid droplet
functional
landing
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007045743A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4442620B2 (ja
Inventor
Hirobumi Sakai
寛文 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2007045743A priority Critical patent/JP4442620B2/ja
Priority to US12/012,765 priority patent/US8366232B2/en
Priority to KR1020080016718A priority patent/KR100952380B1/ko
Priority to CN2008100813590A priority patent/CN101256092B/zh
Publication of JP2008209218A publication Critical patent/JP2008209218A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4442620B2 publication Critical patent/JP4442620B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J29/00Details of, or accessories for, typewriters or selective printing mechanisms not otherwise provided for
    • B41J29/38Drives, motors, controls or automatic cut-off devices for the entire printing mechanism
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2441Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/0209Low-coherence interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0242Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0271Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by using interferometric methods
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2202/00Embodiments of or processes related to ink-jet or thermal heads
    • B41J2202/01Embodiments of or processes related to ink-jet heads
    • B41J2202/09Ink jet technology used for manufacturing optical filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0181Memory or computer-assisted visual determination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Ink Jet (AREA)

Abstract

【課題】着弾ドットの測定を正確かつ効率良く行うことができる着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置を提供する。
【解決手段】機能液滴吐出ヘッド17の検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットDを、白色干渉計181から成る形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定方法において、機能液滴吐出ヘッド17を主走査方向に移動させながら、機能液滴吐出ヘッド17の多数の吐出ノズル98を、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させる検査吐出工程と、形態測定装置を、機能液滴吐出ヘッド17に後行し且つ主走査方向に同速で移動させながら、多数の着弾ドットDをそれぞれ形状測定する測定工程と、を備えたものである。
【選択図】図10

Description

本発明は、機能液滴吐出ヘッドの検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットを、形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器に関するものである。
従来、この種の着弾ドット測定方法として、測定用の吐着対象物に対し、機能液滴吐出ヘッド(液滴吐出ヘッド)の全吐出ノズルから液滴を吐出しておき、形態測定装置をXY方向に移動させて、ワークに着弾した各吐出ノズルの着弾ドットを1つずつ測定していくものが知られている(特許文献1参照)。この場合、形態測定装置は、着弾ドットを上方から臨む、CCDカメラおよびレーザ式距離計測器によりデータを取得し、そのデータから着弾ドットの体積を算出、測定するようにしている。
特開2005−121401号公報
しかしながら、このような着弾ドット測定方法では、全ての検査吐出を終了した後、全ての着弾ドットを測定するようにしているため、各着弾ドットにおいて、着弾から測定までの時間が一定にならず差が出てしまう。このように着弾から測定までの時間に差が出てしまうと、各着弾ドットにおける溶媒の蒸散等の理由で、着弾ドットの形状(体積)が変化し、測定結果が不正確となり、各吐出ノズルに対する着弾ドットの相対的な測定を行うことができない。そのため、正確な測定を行うことができないという問題があった。例えば、2つの正常な吐出ノズルがあり、これらを同時に吐出した場合、測定する順序が早い一方の着弾ドットは、着弾から測定までの時間が短いため、蒸散量が少なく体積が大きく測定される。また、測定する順序が遅い他方の着弾ドットは、着弾から測定までの時間が長いため、蒸散量が多く体積が小さく測定される。そのため、正常な吐出ノズルにおける着弾ドットの基準値があいまい、もしくは正常な吐出ノズルでありながら基準値からずれてしまうことになり、正確な測定を行うことができない。
本発明は、着弾ドットの測定を正確かつ効率良く行うことができる着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供することを課題としている。
本発明の着弾ドット測定方法は、機能液滴吐出ヘッドの検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットを、干渉計から成る形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定方法において、検査シートに対し、機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させながら、機能液滴吐出ヘッドの多数の吐出ノズルを、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させる検査吐出工程と、検査シートに対し、形態測定装置を、機能液滴吐出ヘッドに後行し且つ主走査方向に同速で相対的に移動させながら、多数の着弾ドットをそれぞれ形状測定する測定工程と、を備えたことを特徴とする。
本発明の着弾ドット測定装置は、機能液滴吐出ヘッドの検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットを、干渉計から成る形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定装置において、検査シートに対し、機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させるヘッド移動手段と、着弾ドットを形状測定する形態測定装置と、検査シートに対し、形態測定装置を主走査方向および副走査方向に相対的に移動させる測定装置移動手段と、機能液滴吐出ヘッド、ヘッド移動手段、形態測定装置および測定装置移動手段を制御する制御手段と、を備え、制御手段は、機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させながら、機能液滴吐出ヘッドの多数の吐出ノズルを、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させると共に、形態測定装置を、機能液滴吐出ヘッドと同速の主走査方向への相対的移動と副走査方向への相対的移動により、機能液滴吐出ヘッドに後行させながら、多数の着弾ドットをそれぞれ形状測定させることを特徴とする。
これらの構成によれば、各吐出ノズルの吐出から測定までの時間を同一にすることができ、各着弾ドットにおいて、着弾から測定までの時間を同一にすることができる。そのため、蒸散等の影響で着弾ドットの違いが生じることがなく、各吐出ノズルの着弾ドットにおいて相対的な測定を行うことができる。ゆえに正確な測定を行うことができる。また、検査シートに対し、機能液滴吐出ヘッドを相対的に移動させながら、多数の吐出ノズルを、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させ、形態測定装置を、機能液滴吐出ヘッドに同速で後行させながら測定することにより、各着弾ドットの着弾測定を、短時間で効率良く行うことができる。なお、着弾ドットは、1ショットでもよいし、数ショットでもよい。
上記の着弾ドット測定方法において、形状測定の結果から各着弾ドットの体積を求める体積測定工程を、更に備えたことが好ましい。
上記の着弾ドット測定装置において、形態測定装置は、形状測定の結果から各着弾ドットの体積を求めることが好ましい。
これらの構成によれば、正確な形状測定の結果により、各着弾ドットの正確な体積を求めることができる。
上記の着弾ドット測定方法において、形状測定の結果から各着弾ドットの設計値からの位置ズレ量を求める位置測定工程を、更に備えたことが好ましい。
上記の着弾ドット測定装置において、形態測定装置は、形状測定の結果から各着弾ドットの設計値からの位置ズレ量を求めることが好ましい。
これらの構成によれば、各着弾ドットの正確な形状測定に加え、この形態測定装置を利用して、各着弾ドットの着弾位置の位置ズレ量を求めることができる。これにより、機能液滴吐出ヘッドの飛行曲り等も測定することができる。もちろん、吐出不良も検出することができる。
本発明の液滴吐出装置は、上記の着弾ドット測定装置と、複数の機能液滴吐出ヘッドをサブキャリッジに搭載したヘッドユニットと、ワークに対し、ヘッドユニットを相対的に移動させながら、複数の機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して描画を行なう描画手段と、を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、着弾ドットの正確な形状測定を行うことのできる着弾ドット測定装置を有することにより、機能液滴吐出ヘッドのメンテナンスを厳密に行うことができるため、常にすじムラ等のない精度の高い描画を行うことができる。
この場合、ヘッドユニットには、R色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、G色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッドおよびB色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、が搭載されていることが好ましい。
この構成によれば、3色の機能液を画素領域内に着弾させたカラーフィルタを作成することができ、また、上記の着弾ドットの形態測定装置により、色むらや混色の生じないカラーフィルタを生産することができる。これにより、装置の信頼性を高めることができる。
本発明の電気光学装置の製造方法は、上記した液滴吐出装置を用い、ワーク上に機能液滴による成膜部を形成することを特徴とする。
本発明の電気光学装置は、上記した液滴吐出装置を用い、ワーク上に機能液滴による成膜部を形成したことを特徴とする。
この構成によれば、高品質の電気光学装置を効率良く製造することができる。なお、機能材料としては、有機EL装置の発光材料(Electro-Luminescence発光層・正孔注入層)は元より、液晶表示装置に用いるカラーフィルタのフィルタ材料(フィルタエレメント)、電子放出装置(Field Emission Display, FED)の蛍光材料(蛍光体)、PDP(plasma Display Panel)装置の蛍光材料(蛍光体)、電気泳動表示装置の泳動体材料(泳動体)等であって、機能液滴吐出ヘッド(インクジェットヘッド)により吐出可能な液体材料を言う。また、電気光学装置(Flat Panel Display, FPD)としては、有機EL装置、液晶表示装置、電子放出装置、PDP装置、電気泳動表示装置等がある。
本発明の電子機器は、上記した電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または上記した電気光学装置を搭載したことを特徴とする。
この場合、電子機器としては、いわゆるフラットパネルディスプレイを搭載した携帯電話、パーソナルコンピュータのほか、各種の電気製品がこれに該当する。
以下、添付の図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。本実施形態に係る液滴吐出装置は、フラットパネルディスプレイの製造ラインに組み込まれており、例えば、特殊なインクや発光性の樹脂液である機能液を導入した機能液滴吐出ヘッドを用い、液晶表示装置のカラーフィルタや有機EL装置の各画素となる発光素子等を形成するものである。
図1および図2に示すように、液滴吐出装置1は、石定盤に支持されたX軸支持ベース2上に配設され、主走査方向となるX軸方向に延在して、ワークWをX軸方向(主走査方向)に移動させるX軸テーブル11と、複数本の支柱4を介してX軸テーブル11を跨ぐように架け渡された1対(2つ)のY軸支持ベース3上に配設され、副走査方向となるY軸方向に延在するY軸テーブル12と、複数の機能液滴吐出ヘッド17(図示省略)が搭載された10個のキャリッジユニット51とから成り、10個のキャリッジユニット51は、Y軸テーブル12に吊設されている。そして、X軸テーブル11およびY軸テーブル12の駆動と同期して機能液滴吐出ヘッド17を吐出駆動させることにより、R・G・B3色の機能液滴を吐出させ、ワークWに所定の描画パターンが描画される。
また、液滴吐出装置1は、フラッシングユニット14、吸引ユニット15、ワイピングユニット16、吐出性能検査ユニット18から成るメンテナンス装置5を備えており、これらユニットを機能液滴吐出ヘッド17の保守に供して、機能液滴吐出ヘッド17の機能維持・機能回復を図るようになっている。なお、メンテナンス装置5を構成する各ユニットのうち、フラッシングユニット14および吐出性能検査ユニット18は、X軸テーブル11に搭載され、吸引ユニット15およびワイピングユニット16は、X軸テーブル11から外れ、かつY軸テーブル12によりキャリッジユニット51が移動可能である位置に配設された架台6上に配設されている。
フラッシングユニット14は、一対の描画前フラッシングユニット111,111と、定期フラッシングユニット112とを有し、機能液滴吐出ヘッド17の吐出直前や、ワークWの載換え時等の描画処理休止時に行われる、機能液滴吐出ヘッド17の捨て吐出(フラッシング)を受けるためのものである。吸引ユニット15は、複数の分割吸引ユニット141を有し、各機能液滴吐出ヘッド17の吐出ノズル98から機能液を強制的に吸引するものである。ワイピングユニット16は、ワイピングシート151を有し、吸引後の機能液滴吐出ヘッド17のノズル面97を拭取るものである。詳細は後述するが、吐出性能検査ユニット18は、機能液滴吐出ヘッド17の吐出性能を検査するものである。
以下、液滴吐出装置1の構成要素について説明する。図1または図2に示すように、X軸テーブル11は、ワークWをセットするセットテーブル21と、セットテーブル21をX軸方向にスライド自在に支持するX軸第1スライダ22と、上記のフラッシングユニット14および吐出性能検査ユニット18をX軸方向にスライド自在に支持するX軸第2スライダ23と、X軸方向に延在し、X軸第1スライダ22を介してセットテーブル21(ワークW)をX軸方向に移動させると共に、X軸第2スライダ23を介してフラッシングユニット14および吐出性能検査ユニット18をX軸方向に移動させる左右一対のX軸リニアモータ(図示省略)と、X軸リニアモータに並設され、X軸第1スライダ22およびX軸第2スライダ23の移動を案内する一対(2本)のX軸共通支持ベース24と、を備えている。
セットテーブル21は、ワークWを吸着セットする吸着テーブル31と、吸着テーブル31を支持し、吸着テーブル31にセットしたワークWの位置をθ軸方向に補正するためのθテーブル32等を有している。また、セットテーブル21のY軸方向と平行な一対の辺には、それぞれ上記の描画前フラッシングユニット111が添設されている。
なお、図1における図示手前側の位置が、ワークWのアライメント位置41となっており、未処理のワークWを吸着テーブル31に導入するときや、処理済のワークWを回収するときには、吸着テーブル31をこの位置まで移動させるようになっている。そして、ロボットアーム(図示省略)により、吸着テーブル31に対するワークWの搬入・搬出(載換え)が行われる。また、搬入されたワークWに上方から臨むワークアライメントカメラ42の撮像結果に基づいて、X軸方向およびY軸方向のデータ補正が行われると共に、θテーブル32によるワークWのθ補正が行われる。
Y軸テーブル12は、10個の各キャリッジユニット51をそれぞれ吊設した10個のブリッジプレート52と、10個のブリッジプレート52を両持ちで支持する10組のY軸スライダ(図示省略)と、上記した一対のY軸支持ベース3上に設置され、10組のY軸スライダを介してブリッジプレート52をY軸方向に移動させる一対のY軸リニアモータ(図示省略)と、を備えている。また、Y軸テーブル12は、各キャリッジユニット51を介して描画時に機能液滴吐出ヘッド17を副走査するほか、機能液滴吐出ヘッド17をメンテナンス装置5に臨ませる。
一対のY軸リニアモータを(同期して)駆動すると、各Y軸スライダが一対のY軸支持ベース3を案内にして同時にY軸方向を平行移動する。これにより、ブリッジプレート52がY軸方向を移動し、これと共にキャリッジユニット51がY軸方向に移動する。なお、この場合、Y軸リニアモータの駆動を制御することにより、各キャリッジユニット51を独立させて個別に移動させることも可能であるし、10個のキャリッジユニット51を一体として移動させることも可能である。
各キャリッジユニット51は、12個の機能液滴吐出ヘッド17と、12個の機能液滴吐出ヘッド17を6個ずつ2群に分けて支持するキャリッジプレート53と、から成るヘッドユニット13を備えている(図4参照)。また、各キャリッジユニット51は、ヘッドユニット13をθ補正(θ回転)可能に支持するθ回転機構61と、θ回転機構61を介して、ヘッドユニット13をY軸テーブル12(各ブリッジプレート52)に支持させる吊設部材62と、を備えている。
図3に示すように、機能液滴吐出ヘッド17は、いわゆる2連のものであり、2連の接続針92を有する機能液導入部91と、機能液導入部91に連なる2連のヘッド基板93と、機能液導入部91の下方に連なり、内部に機能液で満たされるヘッド内流路が形成されたヘッド本体94と、を備えている。接続針92は、図外の機能液タンクに接続され、機能液導入部91に機能液を供給する。ヘッド本体94は、キャビティ95(ピエゾ圧電素子)と、多数の吐出ノズル98が開口したノズル面97を有するノズルプレート96と、で構成されている。機能液滴吐出ヘッド17を吐出駆動すると、(ピエゾ圧電素子に電圧が印加され)キャビティ95のポンプ作用により、吐出ノズル98から機能液滴が吐出される。
なお、ノズル面97には、多数の吐出ノズル98からなる2つのノズル列98bが相互に平行に形成されている。そして、2つのノズル列98b同士は、相互に半ノズルピッチ分位置ずれしている。また、機能液滴吐出ヘッド17は、各吐出ノズル98ごとに液滴を自在に吐出することができるように構成されている。
図4に示すように、ヘッドユニット13には、キャリッジプレート53を介して、複数(12個)の機能液滴吐出ヘッド17が搭載されている。12個の機能液滴吐出ヘッド17は、Y軸方向に2群に分かれ、6個ずつX軸方向に階段状に並んでヘッド群54を構成している。本実施形態のものでは、全機能液滴吐出ヘッド17(12×10個)の2回の副走査により、Y軸方向に連続するRGB3色の描画ラインがそれぞれ形成される。この描画ラインの長さは、セットテーブル21に搭載可能な最大サイズのワークWの幅に対応している。
ところで、ヘッドユニット13に搭載された12×10個の機能液滴吐出ヘッド17は、R・G・B3色の機能液のいずれかに対応しており(図5参照)、ワークWに3色の機能液から成る描画パターンを描画できるようになっている。この描画パターンには、図6に示すように3種類のパターンがあり、本実施形態では、図6(a)の描画パターン(ビットアップデータ)により描画が行われる。
液滴吐出装置1の描画動作は、まず、ワークWをX軸テーブルにより、X軸方向で移動させながら(図1中奥側へ)、第1描画動作(往動パス)を行う。その後、ヘッドユニット13を2ヘッド分Y軸方向に移動(副走査)させて、改めて、ワークWをX軸方向で移動させながら(図1中手前側へ)、第2描画動作(復動パス)を行う。そして、再度ヘッドユニット13を2ヘッド分副走査し、もう一度、ワークWをX軸方向で移動させながら(図1中奥側へ)、第3描画動作(往動パス)を行う。このように、副走査により、ワークW上の位置に対し、対応する機能液滴吐出ヘッドを変更しつつ、ワークWの移動および描画動作を3度繰り返すことにより、R・G・B3色の描画処理を効率良く行っている。
図1または図2、および図7に示すように、吐出性能検査ユニット18は、ヘッドユニット13に搭載された全機能液滴吐出ヘッド17(の吐出ノズル98)から機能液が適切に吐出されているか否かを検査するためのものであり、全機能液滴吐出ヘッド17の全吐出ノズル98から所定の検査パターンに基づいて、検査吐出された機能液を受ける被描画ユニット161と、被描画ユニット161に検査吐出された機能液滴である着弾ドットD(図10参照)の体積および位置ズレ量を測定するための着弾ドット測定ユニット(着弾ドット測定装置)162と、を備えている。なお、被描画ユニット161はX軸テーブル11に搭載され、着弾ドット測定ユニット162はY軸テーブル12直下の検査位置に配設されている。
被描画ユニット161は、機能液滴吐出ヘッド17からの検査吐出を受ける長尺状の検査シート171と、検査シート171が載置される検査ステージ172と、検査シート171の検査済み部分を検査ステージ172に送り出し、かつ非検査済み部分を検査ステージ172に送り込むように検査シート171を送るシート送り手段173と、シート送り手段173を支持するシート送り支持部材174と、シート送り支持部材174を支持するユニットベース175と、を備えている。被描画ユニット161は、検査シート171に検査パターンが描画され、着弾ドット測定ユニット162の測定が行われると、その検査済み部分をシート送り手段173により送り、非描画部分と差し替えることで、非描画部分にて検査吐出を受けることになる。
図2、図9および図10に示すように、着弾ドット測定ユニット162は、Xテーブルに上側から臨むように、上記したY軸支持ベース3に支持されており、検査シート171に着弾した各着弾ドットDの表面形状を測定する白色干渉計(形態測定装置)181と、白色干渉計181を保持する装置ホルダ182と、Y軸支持ベース3に固定され、装置ホルダ182を介して、白色干渉計181をY軸方向にスライド自在に支持する装置移動機構183と、装置移動機構183を介して白色干渉計181をY軸方向に移動させるための装置移動モータ(図示省略)と、を有している。
図9に示すように、白色干渉計181は、白色光を照射する光源となる白色LED184と、白色LED184の照射方向の下流側に設けられ、白色をフィルタリングする干渉フィルタ(バンドパスフィルタ)185と、干渉フィルタ185の下流側に設けられ、白色光を直角に反射する反射鏡186と、反射鏡の下流側に設けられ、後述する干渉式対物レンズ(ミラウ型)188に向けて白色光を直角に反射される一方、着弾ドットDから反射した反射光を透過するビームスプリッタ187と、ビームスプリッタ187の下流側に設けられた干渉式対物レンズ188と、干渉式対物レンズ188をZ軸方向に微少振動させるピエゾZ軸テーブル189と、ワークWから反射した反射光を干渉式対物レンズ188およびビームスプリッタ187を介して撮像する撮像カメラ(CCDカメラ)190と、を備えている。白色干渉計181は、対象物の表面形状を干渉縞として画像的に取得するものであり、白色干渉計181による形状測定の結果(撮像カメラ190による撮像結果)は、制御手段7に送信されて画像認識され、この画像認識に基づいて、各機能液滴吐出ヘッド17の各吐出ノズル98の性能(着弾の有無、着弾ドットDの体積、着弾ドットDの位置ずれ、飛行曲がり)が検査される。すなわち、吐出検査手段は、着弾ドット測定ユニット162および制御手段7により構成されている。
着弾ドットDの体積は、白色干渉計181により測定(撮像)された着弾ドットDの表面形状を解析して行われる。まず、測定(撮像)された表面形状と検査シートの位置(表面の高さレベル)とから、その着弾ドットDの体積を算出し、その体積が基準範囲内であるか否かを判定する。その結果、測定値が基準範囲外である場合、吐出ノズル98の液滴吐出量が正常でないと判断される。また、これと同時に、白色干渉計181(撮像カメラ190)の撮像結果から、着弾ドットDの位置(厳密には、着弾ドットDの中心位置)が着弾予定位置からずれているか否かが判定される。すなわち、着弾ドットDの着弾位置と、着弾予定位置との位置ズレ量を検出し、その検出結果が基準値を超えているか否かが判定され、それを超えていた場合には、当該吐出ノズル98が正常でないと判断される。同様に、飛行曲がりも検出され、さらに着弾ドットDの有無によりドット抜けも判断される。
次に、図8を参照して、液滴吐出装置1の主制御系について説明する。同図に示すように、液滴吐出装置1は、ヘッドユニット13(機能液滴吐出ヘッド17)を有する液滴吐出部191と、X軸テーブル11、を有し、ワークWをX軸方向へ移動させるためのワーク移動部192と、Y軸テーブル12を有し、ヘッドユニット13をY軸方向へ移動させるヘッド移動部193と、メンテナンス手段の各ユニットを有するメンテナンス部194と、各種センサを有し、各種検出を行う検出部195と、各部を駆動制御する各種ドライバを有する駆動部196と、各部に接続され、液滴吐出装置1全体の制御を行う制御部197(制御手段7)と、を備えている。
制御部197には、各手段を接続するためのインタフェース201と、一時的に記憶可能な記憶領域を有し、制御処理のための作業領域として使用されるRAM202と、各種記憶領域を有し、制御プログラムや制御データを記憶するROM203と、ワークWに所定の描画パターンを描画するための描画データや、各手段からの各種データ等を記憶すると共に、各種データを処理するためのプログラム等を記憶するハードディスク204と、ROM203やハードディスク204に記憶されたプログラム等に従い、各種データを演算処理するCPU205と、これらを互いに接続するバス206と、が備えられている。
そして、制御部197は、各手段からの各種データを、インタフェース201を介して入力すると共に、ハードディスク204に記憶された(または、CD−ROMドライブ等により順次読み出される)プログラムに従ってCPU205に演算処理させ、その処理結果を、駆動部196(各種ドライバ)を介して各手段に出力する。これにより、装置全体が制御され、液滴吐出装置1の各種処理が行われる。
次に、図10の説明図を参照し、機能液滴吐出ヘッド17の吐出性能検査の動作手順について説明する。まず、制御部197によりX軸第2スライダ23上の被描画ユニット161を機能液滴吐出ヘッド17に臨むように移動させる。厳密には、被描画ユニット161を、そのX軸方向の端部が機能液滴吐出ヘッド17のノズル列98bに臨む位置(図10(a)参照)に、移動させる。その後、X軸第2スライダにより、被描画ユニット161を、機能液滴吐出ヘッド17の吐出エリアAA上、吐出エリアAAと着弾ドット測定ユニット162の測定エリアBA間、測定エリアBA上、に亘って同速で移動させてゆき、各種動作が行われることになる。
被描画ユニット161が吐出エリアAA上を移動している時(図10(b)参照)には、機能液滴吐出ヘッド17を駆動し、各吐出ノズル98の検査吐出を行う。この検査吐出は、各吐出ノズル98を、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させることにより行われ、各吐出ノズル98をノズル列98bの端から順番に吐出させて行われる。そのため、各吐出ノズル98から吐出された各着弾ドットDは、被描画ユニット161の検査シート171上で斜め直線状(検査パターン)に検査吐出させることになる(図10(c)参照)。
被描画ユニット161が測定エリアBA上を移動してきたら(図10(d)参照)、着弾ドット測定ユニット162を駆動し、各着弾ドットDの測定を行う。着弾ドットDの測定は、着弾ドット測定ユニット162の測定エリアBAに到達した着弾ドットDに対し行われ、白色干渉計181を装置移動機構183によりY軸方向で移動させながら行われる。機能液滴吐出ヘッド17は、各吐出ノズル98の吐出を、1つずつ間隔を置いて行っているので、その吐出した順番で着弾ドットDが測定エリアBAに到達することになる。このように、被描画ユニット161が検査吐出、着弾ドットD測定の間、同速で移動し続けていると共に、吐出した順番で着弾ドットDが測定されることで、各吐出ノズル98の着弾ドットDにおいて、吐出から測定までの時間を同一になるように構成されている。なお、上記の測定は、ノズル列98b毎に上記と同一の動作を繰り返すことにより行なわれる。
このような構成により、各吐出ノズル98の吐出から測定までの時間を同一にすることができ、各着弾ドットDにおいて、着弾から測定までの時間を同一にすることができる。そのため、蒸散等の影響で着弾ドットDの違いが生じることがなく、各吐出ノズル98の着弾ドットDにおいて相対的な測定を行うことができる。ゆえに正確な測定を行うことができる。また、機能液滴吐出ヘッド17を移動させながら、多数の吐出ノズル98を、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させ、被描画ユニット161を同速で移動させながら測定する。言い換えれば、相対的に白色干渉計181を、機能液滴吐出ヘッド17に同速で後行させながら測定することにより、各着弾ドットDの着弾測定を、短時間で効率良く行うことができる。
なお、以上の動作は、各機能液滴吐出ヘッド17に対して行われる。つまり、全機能液吐出ヘッドに対して行う場合には、上記動作を複数回繰り返して行うことになる。また、本実施形態においては、機能液滴吐出ヘッド17を1つずつ吐出し、着弾ドットDを1つずつ測定するものが採用されているが、白色干渉計181において、1回の測定で複数個の着弾ドットDを測定可能であれば、機能液滴吐出ヘッド17の吐出ノズル98を複数個ずつ吐出し、着弾ドットDを複数個ずつ測定するものでも良い。また、各着弾ドットDを数ショットの機能液滴で形成するようにしてもよい。
以上のような構成によれば、各吐出ノズル98の吐出から測定までの時間を同一にすることができ、各着弾ドットDにおいて、着弾から測定までの時間を同一にすることができる。そのため、蒸散等の影響で着弾ドットDの違いが生じることがなく、各吐出ノズル98の着弾ドットDにおいて相対的な測定を行うことができる。ゆえに正確な測定を行うことができる。また、機能液滴吐出ヘッド17を移動させながら、多数の吐出ノズル98を、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させ、白色干渉計181を、機能液滴吐出ヘッド17に同速で後行させながら測定することにより、各着弾ドットDの着弾測定を、短時間で効率良く行うことができる。さらに、着弾ドットDの体積測定の結果、許容量を外れた吐出ノズル98を有する機能液滴吐出ヘッド17は、駆動電圧を変更することにより、液滴吐出量を調整して用いられる。あるいは、機能液滴吐出ヘッド17の交換により対応する。そして、各機能液滴吐出ヘッド17の液滴吐出量を適正に調整された機能液滴吐出ヘッド17により描画を行なうことにより、主走査方向のすじムラや混色が防止される。
なお、本実施形態においては、機能液滴吐出ヘッド17や白色干渉計181に対し、検査シート171(被描画ユニット161)が移動する構成になっているが、検査シート171(被描画ユニット161)を固定とし、機能液滴吐出ヘッド17や白色干渉計181が移動する構成としてもよい。
また、本実施形態においては、白色干渉計181を利用して、体積および位置ズレ量を測定するものを使用しているが、体積のみ測定するものでも良い。さらに、本実施形態においては、白色干渉計181を用いて着弾ドットDの形態測定を行っているが、干渉計であるならレーザ干渉計等を使用しても良いし、更に言えば、形状測定が行えるものであれば、側方もくしは上方から着弾ドットDを撮像する撮像カメラや、レーザ距離測定装置を有して、それらのデータから着弾ドットDの各種情報を測定するものであってもよい。なお、本実施形態においては、白色干渉計181を用いることにより、精度の良い測定を可能としている。
次に、本実施形態の液滴吐出装置1を用いて製造される電気光学装置(フラットパネルディスプレイ)として、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマディスプレイ(PDP装置)、電子放出装置(FED装置、SED装置)、さらにこれら表示装置に形成されてなるアクティブマトリクス基板等を例に、これらの構造およびその製造方法について説明する。なお、アクティブマトリクス基板とは、薄膜トランジスタ、および薄膜トランジスタに電気的に接続するソース線、データ線が形成された基板をいう。
まず、液晶表示装置や有機EL装置等に組み込まれるカラーフィルタの製造方法について説明する。図11は、カラーフィルタの製造工程を示すフローチャート、図12は、製造工程順に示した本実施形態のカラーフィルタ500(フィルタ基体500A)の模式断面図である。
まず、ブラックマトリクス形成工程(S101)では、図12(a)に示すように、基板(W)501上にブラックマトリクス502を形成する。ブラックマトリクス502は、金属クロム、金属クロムと酸化クロムの積層体、または樹脂ブラック等により形成される。金属薄膜からなるブラックマトリクス502を形成するには、スパッタ法や蒸着法等を用いることができる。また、樹脂薄膜からなるブラックマトリクス502を形成する場合には、グラビア印刷法、フォトレジスト法、熱転写法等を用いることができる。
続いて、バンク形成工程(S102)において、ブラックマトリクス502上に重畳する状態でバンク503を形成する。即ち、まず図12(b)に示すように、基板501およびブラックマトリクス502を覆うようにネガ型の透明な感光性樹脂からなるレジスト層504を形成する。そして、その上面をマトリクスパターン形状に形成されたマスクフィルム505で被覆した状態で露光処理を行う。
さらに、図12(c)に示すように、レジスト層504の未露光部分をエッチング処理することによりレジスト層504をパターニングして、バンク503を形成する。なお、樹脂ブラックによりブラックマトリクスを形成する場合は、ブラックマトリクスとバンクとを兼用することが可能となる。
このバンク503とその下のブラックマトリクス502は、各画素領域507aを区画する区画壁部507bとなり、後の着色層形成工程において機能液滴吐出ヘッド17により着色層(成膜部)508R、508G、508Bを形成する際に機能液滴の着弾領域を規定する。
以上のブラックマトリクス形成工程およびバンク形成工程を経ることにより、上記フィルタ基体500Aが得られる。
なお、本実施形態においては、バンク503の材料として、塗膜表面が疎液(疎水)性となる樹脂材料を用いている。そして、基板(ガラス基板)501の表面が親液(親水)性であるので、後述する着色層形成工程においてバンク503(区画壁部507b)に囲まれた各画素領域507a内への液滴の着弾位置のばらつきを自動補正できる。
次に、着色層形成工程(S103)では、図12(d)に示すように、機能液滴吐出ヘッド17によって機能液滴を吐出して区画壁部507bで囲まれた各画素領域507a内に着弾させる。この場合、機能液滴吐出ヘッド17を用いて、R・G・Bの3色の機能液(フィルタ材料)を導入して、機能液滴の吐出を行う。なお、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。
その後、乾燥処理(加熱等の処理)を経て機能液を定着させ、3色の着色層508R、508G、508Bを形成する。着色層508R、508G、508Bを形成したならば、保護膜形成工程(S104)に移り、図12(e)に示すように、基板501、区画壁部507b、および着色層508R、508G、508Bの上面を覆うように保護膜509を形成する。
即ち、基板501の着色層508R、508G、508Bが形成されている面全体に保護膜用塗布液が吐出された後、乾燥処理を経て保護膜509が形成される。
そして、保護膜509を形成した後、カラーフィルタ500は、次工程の透明電極となるITO(Indium Tin Oxide)などの膜付け工程に移行する。
図13は、上記のカラーフィルタ500を用いた液晶表示装置の一例としてのパッシブマトリックス型液晶装置(液晶装置)の概略構成を示す要部断面図である。この液晶装置520に、液晶駆動用IC、バックライト、支持体などの付帯要素を装着することによって、最終製品としての透過型液晶表示装置が得られる。なお、カラーフィルタ500は図12に示したものと同一であるので、対応する部位には同一の符号を付し、その説明は省略する。
この液晶装置520は、カラーフィルタ500、ガラス基板等からなる対向基板521、および、これらの間に挟持されたSTN(Super Twisted Nematic)液晶組成物からなる液晶層522により概略構成されており、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置している。
なお、図示していないが、対向基板521およびカラーフィルタ500の外面(液晶層522側とは反対側の面)には偏光板がそれぞれ配設され、また対向基板521側に位置する偏光板の外側には、バックライトが配設されている。
カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層側)には、図13において左右方向に長尺な短冊状の第1電極523が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極523のカラーフィルタ500側とは反対側の面を覆うように第1配向膜524が形成されている。
一方、対向基板521におけるカラーフィルタ500と対向する面には、カラーフィルタ500の第1電極523と直交する方向に長尺な短冊状の第2電極526が所定の間隔で複数形成され、この第2電極526の液晶層522側の面を覆うように第2配向膜527が形成されている。これらの第1電極523および第2電極526は、ITOなどの透明導電材料により形成されている。
液晶層522内に設けられたスペーサ528は、液晶層522の厚さ(セルギャップ)を一定に保持するための部材である。また、シール材529は液晶層522内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するための部材である。なお、第1電極523の一端部は引き回し配線523aとしてシール材529の外側まで延在している。
そして、第1電極523と第2電極526とが交差する部分が画素であり、この画素となる部分に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
通常の製造工程では、カラーフィルタ500に、第1電極523のパターニングおよび第1配向膜524の塗布を行ってカラーフィルタ500側の部分を作成すると共に、これとは別に対向基板521に、第2電極526のパターニングおよび第2配向膜527の塗布を行って対向基板521側の部分を作成する。その後、対向基板521側の部分にスペーサ528およびシール材529を作り込み、この状態でカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる。次いで、シール材529の注入口から液晶層522を構成する液晶を注入し、注入口を閉止する。その後、両偏光板およびバックライトを積層する。
実施形態の液滴吐出装置1は、例えば上記のセルギャップを構成するスペーサ材料(機能液)を塗布すると共に、対向基板521側の部分にカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる前に、シール材529で囲んだ領域に液晶(機能液)を均一に塗布することが可能である。また、上記のシール材529の印刷を、機能液滴吐出ヘッド17で行うことも可能である。さらに、第1・第2両配向膜524,527の塗布を機能液滴吐出ヘッド17で行うことも可能である。
図14は、本実施形態において製造したカラーフィルタ500を用いた液晶装置の第2の例の概略構成を示す要部断面図である。
この液晶装置530が上記液晶装置520と大きく異なる点は、カラーフィルタ500を図中下側(観測者側とは反対側)に配置した点である。
この液晶装置530は、カラーフィルタ500とガラス基板等からなる対向基板531との間にSTN液晶からなる液晶層532が挟持されて概略構成されている。なお、図示していないが、対向基板531およびカラーフィルタ500の外面には偏光板等がそれぞれ配設されている。
カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層532側)には、図中奥行き方向に長尺な短冊状の第1電極533が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極533の液晶層532側の面を覆うように第1配向膜534が形成されている。
対向基板531のカラーフィルタ500と対向する面上には、カラーフィルタ500側の第1電極533と直交する方向に延在する複数の短冊状の第2電極536が所定の間隔で形成され、この第2電極536の液晶層532側の面を覆うように第2配向膜537が形成されている。
液晶層532には、この液晶層532の厚さを一定に保持するためのスペーサ538と、液晶層532内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するためのシール材539が設けられている。
そして、上記した液晶装置520と同様に、第1電極533と第2電極536との交差する部分が画素であり、この画素となる部位に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
図15は、本発明を適用したカラーフィルタ500を用いて液晶装置を構成した第3の例を示したもので、透過型のTFT(Thin Film Transistor)型液晶装置の概略構成を示す分解斜視図である。
この液晶装置550は、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置したものである。
この液晶装置550は、カラーフィルタ500と、これに対向するように配置された対向基板551と、これらの間に挟持された図示しない液晶層と、カラーフィルタ500の上面側(観測者側)に配置された偏光板555と、対向基板551の下面側に配設された偏光板(図示せず)とにより概略構成されている。
カラーフィルタ500の保護膜509の表面(対向基板551側の面)には液晶駆動用の電極556が形成されている。この電極556は、ITO等の透明導電材料からなり、後述の画素電極560が形成される領域全体を覆う全面電極となっている。また、この電極556の画素電極560とは反対側の面を覆った状態で配向膜557が設けられている。
対向基板551のカラーフィルタ500と対向する面には絶縁層558が形成されており、この絶縁層558上には、走査線561および信号線562が互いに直交する状態で形成されている。そして、これらの走査線561と信号線562とに囲まれた領域内には画素電極560が形成されている。なお、実際の液晶装置では、画素電極560上に配向膜が設けられるが、図示を省略している。
また、画素電極560の切欠部と走査線561と信号線562とに囲まれた部分には、ソース電極、ドレイン電極、半導体、およびゲート電極とを具備する薄膜トランジスタ563が組み込まれて構成されている。そして、走査線561と信号線562に対する信号の印加によって薄膜トランジスタ563をオン・オフして画素電極560への通電制御を行うことができるように構成されている。
なお、上記の各例の液晶装置520,530,550は、透過型の構成としたが、反射層あるいは半透過反射層を設けて、反射型の液晶装置あるいは半透過反射型の液晶装置とすることもできる。
次に、図16は、有機EL装置の表示領域(以下、単に表示装置600と称する)の要部断面図である。
この表示装置600は、基板(W)601上に、回路素子部602、発光素子部603および陰極604が積層された状態で概略構成されている。
この表示装置600においては、発光素子部603から基板601側に発した光が、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されると共に、発光素子部603から基板601の反対側に発した光が陰極604により反射された後、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されるようになっている。
回路素子部602と基板601との間にはシリコン酸化膜からなる下地保護膜606が形成され、この下地保護膜606上(発光素子部603側)に多結晶シリコンからなる島状の半導体膜607が形成されている。この半導体膜607の左右の領域には、ソース領域607aおよびドレイン領域607bが高濃度陽イオン打ち込みによりそれぞれ形成されている。そして陽イオンが打ち込まれない中央部がチャネル領域607cとなっている。
また、回路素子部602には、下地保護膜606および半導体膜607を覆う透明なゲート絶縁膜608が形成され、このゲート絶縁膜608上の半導体膜607のチャネル領域607cに対応する位置には、例えばAl、Mo、Ta、Ti、W等から構成されるゲート電極609が形成されている。このゲート電極609およびゲート絶縁膜608上には、透明な第1層間絶縁膜611aと第2層間絶縁膜611bが形成されている。また、第1、第2層間絶縁膜611a、611bを貫通して、半導体膜607のソース領域607a、ドレイン領域607bにそれぞれ連通するコンタクトホール612a,612bが形成されている。
そして、第2層間絶縁膜611b上には、ITO等からなる透明な画素電極613が所定の形状にパターニングされて形成され、この画素電極613は、コンタクトホール612aを通じてソース領域607aに接続されている。
また、第1層間絶縁膜611a上には電源線614が配設されており、この電源線614は、コンタクトホール612bを通じてドレイン領域607bに接続されている。
このように、回路素子部602には、各画素電極613に接続された駆動用の薄膜トランジスタ615がそれぞれ形成されている。
上記発光素子部603は、複数の画素電極613上の各々に積層された機能層617と、各画素電極613および機能層617の間に備えられて各機能層617を区画するバンク部618とにより概略構成されている。
これら画素電極613、機能層617、および、機能層617上に配設された陰極604によって発光素子が構成されている。なお、画素電極613は、平面視略矩形状にパターニングされて形成されており、各画素電極613の間にバンク部618が形成されている。
バンク部618は、例えばSiO、SiO2、TiO2等の無機材料により形成される無機物バンク層618a(第1バンク層)と、この無機物バンク層618a上に積層され、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性に優れたレジストにより形成される断面台形状の有機物バンク層618b(第2バンク層)とにより構成されている。このバンク部618の一部は、画素電極613の周縁部上に乗上げた状態で形成されている。
そして、各バンク部618の間には、画素電極613に対して上方に向けて次第に拡開した開口部619が形成されている。
上記機能層617は、開口部619内において画素電極613上に積層状態で形成された正孔注入/輸送層617aと、この正孔注入/輸送層617a上に形成された発光層617bとにより構成されている。なお、この発光層617bに隣接してその他の機能を有する他の機能層をさらに形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成することも可能である。
正孔注入/輸送層617aは、画素電極613側から正孔を輸送して発光層617bに注入する機能を有する。この正孔注入/輸送層617aは、正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物(機能液)を吐出することで形成される。正孔注入/輸送層形成材料としては、公知の材料を用いる。
発光層617bは、赤色(R)、緑色(G)、または青色(B)のいずれかに発光するもので、発光層形成材料(発光材料)を含む第2組成物(機能液)を吐出することで形成される。第2組成物の溶媒(非極性溶媒)としては、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な公知の材料を用いることが好ましく、このような非極性溶媒を発光層617bの第2組成物に用いることにより、正孔注入/輸送層617aを再溶解させることなく発光層617bを形成することができる。
そして、発光層617bでは、正孔注入/輸送層617aから注入された正孔と、陰極604から注入される電子が発光層で再結合して発光するように構成されている。
陰極604は、発光素子部603の全面を覆う状態で形成されており、画素電極613と対になって機能層617に電流を流す役割を果たす。なお、この陰極604の上部には図示しない封止部材が配置される。
次に、上記の表示装置600の製造工程を図17〜図25を参照して説明する。
この表示装置600は、図17に示すように、バンク部形成工程(S111)、表面処理工程(S112)、正孔注入/輸送層形成工程(S113)、発光層形成工程(S114)、および対向電極形成工程(S115)を経て製造される。なお、製造工程は例示するものに限られるものではなく必要に応じてその他の工程が除かれる場合、また追加される場合もある。
まず、バンク部形成工程(S111)では、図18に示すように、第2層間絶縁膜611b上に無機物バンク層618aを形成する。この無機物バンク層618aは、形成位置に無機物膜を形成した後、この無機物膜をフォトリソグラフィ技術等によりパターニングすることにより形成される。このとき、無機物バンク層618aの一部は画素電極613の周縁部と重なるように形成される。
無機物バンク層618aを形成したならば、図19に示すように、無機物バンク層618a上に有機物バンク層618bを形成する。この有機物バンク層618bも無機物バンク層618aと同様にフォトリソグラフィ技術等によりパターニングして形成される。
このようにしてバンク部618が形成される。また、これに伴い、各バンク部618間には、画素電極613に対して上方に開口した開口部619が形成される。この開口部619は、画素領域を規定する。
表面処理工程(S112)では、親液化処理および撥液化処理が行われる。親液化処理を施す領域は、無機物バンク層618aの第1積層部618aaおよび画素電極613の電極面613aであり、これらの領域は、例えば酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって親液性に表面処理される。このプラズマ処理は、画素電極613であるITOの洗浄等も兼ねている。
また、撥液化処理は、有機物バンク層618bの壁面618sおよび有機物バンク層618bの上面618tに施され、例えば四フッ化メタンを処理ガスとするプラズマ処理によって表面がフッ化処理(撥液性に処理)される。
この表面処理工程を行うことにより、機能液滴吐出ヘッド17を用いて機能層617を形成する際に、機能液滴を画素領域に、より確実に着弾させることができ、また、画素領域に着弾した機能液滴が開口部619から溢れ出るのを防止することが可能となる。
そして、以上の工程を経ることにより、表示装置基体600Aが得られる。この表示装置基体600Aは、図1に示した液滴吐出装置1のセットテーブル21に載置され、以下の正孔注入/輸送層形成工程(S113)および発光層形成工程(S114)が行われる。
図20に示すように、正孔注入/輸送層形成工程(S113)では、機能液滴吐出ヘッド17から正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物を画素領域である各開口部619内に吐出する。その後、図21に示すように、乾燥処理および熱処理を行い、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させ、画素電極(電極面613a)613上に正孔注入/輸送層617aを形成する。
次に発光層形成工程(S114)について説明する。この発光層形成工程では、上述したように、正孔注入/輸送層617aの再溶解を防止するために、発光層形成の際に用いる第2組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な非極性溶媒を用いる。
しかしその一方で、正孔注入/輸送層617aは、非極性溶媒に対する親和性が低いため、非極性溶媒を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617a上に吐出しても、正孔注入/輸送層617aと発光層617bとを密着させることができなくなるか、あるいは発光層617bを均一に塗布できない虞がある。
そこで、非極性溶媒並びに発光層形成材料に対する正孔注入/輸送層617aの表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面処理(表面改質処理)を行うことが好ましい。この表面処理は、発光層形成の際に用いる第2組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類する溶媒である表面改質材を、正孔注入/輸送層617a上に塗布し、これを乾燥させることにより行う。
このような処理を施すことで、正孔注入/輸送層617aの表面が非極性溶媒になじみやすくなり、この後の工程で、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617aに均一に塗布することができる。
そして次に、図22に示すように、各色のうちのいずれか(図22の例では青色(B))に対応する発光層形成材料を含有する第2組成物を機能液滴として画素領域(開口部619)内に所定量打ち込む。画素領域内に打ち込まれた第2組成物は、正孔注入/輸送層617a上に広がって開口部619内に満たされる。なお、万一、第2組成物が画素領域から外れてバンク部618の上面618t上に着弾した場合でも、この上面618tは、上述したように撥液処理が施されているので、第2組成物が開口部619内に転がり込み易くなっている。
その後、乾燥工程等を行うことにより、吐出後の第2組成物を乾燥処理し、第2組成物に含まれる非極性溶媒を蒸発させ、図23に示すように、正孔注入/輸送層617a上に発光層617bが形成される。この図の場合、青色(B)に対応する発光層617bが形成されている。
同様に、機能液滴吐出ヘッド17を用い、図24に示すように、上記した青色(B)に対応する発光層617bの場合と同様の工程を順次行い、他の色(赤色(R)および緑色(G))に対応する発光層617bを形成する。なお、発光層617bの形成順序は、例示した順序に限られるものではなく、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層形成材料に応じて形成する順番を決めることも可能である。また、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。
以上のようにして、画素電極613上に機能層617、即ち、正孔注入/輸送層617aおよび発光層617bが形成される。そして、対向電極形成工程(S115)に移行する。
対向電極形成工程(S115)では、図25に示すように、発光層617bおよび有機物バンク層618bの全面に陰極604(対向電極)を、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等によって形成する。この陰極604は、本実施形態においては、例えば、カルシウム層とアルミニウム層とが積層されて構成されている。
この陰極604の上部には、電極としてのAl膜、Ag膜や、その酸化防止のためのSiO2、SiN等の保護層が適宜設けられる。
このようにして陰極604を形成した後、この陰極604の上部を封止部材により封止する封止処理や配線処理等のその他処理等を施すことにより、表示装置600が得られる。
次に、図26は、プラズマ型表示装置(PDP装置:以下、単に表示装置700と称する)の要部分解斜視図である。なお、同図では表示装置700を、その一部を切り欠いた状態で示してある。
この表示装置700は、互いに対向して配置された第1基板701、第2基板702、およびこれらの間に形成される放電表示部703を含んで概略構成される。放電表示部703は、複数の放電室705により構成されている。これらの複数の放電室705のうち、赤色放電室705R、緑色放電室705G、青色放電室705Bの3つの放電室705が組になって1つの画素を構成するように配置されている。
第1基板701の上面には所定の間隔で縞状にアドレス電極706が形成され、このアドレス電極706と第1基板701の上面とを覆うように誘電体層707が形成されている。誘電体層707上には、各アドレス電極706の間に位置し、且つ各アドレス電極706に沿うように隔壁708が立設されている。この隔壁708は、図示するようにアドレス電極706の幅方向両側に延在するものと、アドレス電極706と直交する方向に延設された図示しないものを含む。
そして、この隔壁708によって仕切られた領域が放電室705となっている。
放電室705内には蛍光体709が配置されている。蛍光体709は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、赤色放電室705Rの底部には赤色蛍光体709Rが、緑色放電室705Gの底部には緑色蛍光体709Gが、青色放電室705Bの底部には青色蛍光体709Bが各々配置されている。
第2基板702の図中下側の面には、上記アドレス電極706と直交する方向に複数の表示電極711が所定の間隔で縞状に形成されている。そして、これらを覆うように誘電体層712、およびMgOなどからなる保護膜713が形成されている。
第1基板701と第2基板702とは、アドレス電極706と表示電極711が互いに直交する状態で対向させて貼り合わされている。なお、上記アドレス電極706と表示電極711は図示しない交流電源に接続されている。
そして、各電極706,711に通電することにより、放電表示部703において蛍光体709が励起発光し、カラー表示が可能となる。
本実施形態においては、上記アドレス電極706、表示電極711、および蛍光体709を、図1に示した液滴吐出装置1を用いて形成することができる。以下、第1基板701におけるアドレス電極706の形成工程を例示する。
この場合、第1基板701を液滴吐出装置1のセットテーブル21に載置された状態で以下の工程が行われる。
まず、機能液滴吐出ヘッド17により、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴としてアドレス電極形成領域に着弾させる。この液体材料は、導電膜配線形成用材料として、金属等の導電性微粒子を分散媒に分散したものである。この導電性微粒子としては、金、銀、銅、パラジウム、またはニッケル等を含有する金属微粒子や、導電性ポリマー等が用いられる。
補充対象となるすべてのアドレス電極形成領域について液体材料の補充が終了したならば、吐出後の液体材料を乾燥処理し、液体材料に含まれる分散媒を蒸発させることによりアドレス電極706が形成される。
ところで、上記においてはアドレス電極706の形成を例示したが、上記表示電極711および蛍光体709についても上記各工程を経ることにより形成することができる。
表示電極711の形成の場合、アドレス電極706の場合と同様に、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴として表示電極形成領域に着弾させる。
また、蛍光体709の形成の場合には、各色(R,G,B)に対応する蛍光材料を含んだ液体材料(機能液)を機能液滴吐出ヘッド17から液滴として吐出し、対応する色の放電室705内に着弾させる。
次に、図27は、電子放出装置(FED装置あるいはSED装置ともいう:以下、単に表示装置800と称する)の要部断面図である。なお、同図では表示装置800を、その一部を断面として示してある。
この表示装置800は、互いに対向して配置された第1基板801、第2基板802、およびこれらの間に形成される電界放出表示部803を含んで概略構成される。電界放出表示部803は、マトリクス状に配置した複数の電子放出部805により構成されている。
第1基板801の上面には、カソード電極806を構成する第1素子電極806aおよび第2素子電極806bが相互に直交するように形成されている。また、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bで仕切られた部分には、ギャップ808を形成した導電性膜807が形成されている。すなわち、第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807により複数の電子放出部805が構成されている。導電性膜807は、例えば酸化パラジウム(PdO)等で構成され、またギャップ808は、導電性膜807を成膜した後、フォーミング等で形成される。
第2基板802の下面には、カソード電極806に対峙するアノード電極809が形成されている。アノード電極809の下面には、格子状のバンク部811が形成され、このバンク部811で囲まれた下向きの各開口部812に、電子放出部805に対応するように蛍光体813が配置されている。蛍光体813は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、各開口部812には、赤色蛍光体813R、緑色蛍光体813Gおよび青色蛍光体813Bが、上記した所定のパターンで配置されている。
そして、このように構成した第1基板801と第2基板802とは、微小な間隙を存して貼り合わされている。この表示装置800では、導電性膜(ギャップ808)807を介して、陰極である第1素子電極806aまたは第2素子電極806bから飛び出す電子を、陽極であるアノード電極809に形成した蛍光体813に当てて励起発光し、カラー表示が可能となる。
この場合も、他の実施形態と同様に、第1素子電極806a、第2素子電極806b、導電性膜807およびアノード電極809を、液滴吐出装置1を用いて形成することができると共に、各色の蛍光体813R,813G,813Bを、液滴吐出装置1を用いて形成することができる。
第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807は、図28(a)に示す平面形状を有しており、これらを成膜する場合には、図28(b)に示すように、予め第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807を作り込む部分を残して、バンク部BBを形成(フォトリソグラフィ法)する。次に、バンク部BBにより構成された溝部分に、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bを形成(液滴吐出装置1によるインクジェット法)し、その溶剤を乾燥させて成膜を行った後、導電性膜807を形成(液滴吐出装置1によるインクジェット法)する。そして、導電性膜807を成膜後、バンク部BBを取り除き(アッシング剥離処理)、上記のフォーミング処理に移行する。なお、上記の有機EL装置の場合と同様に、第1基板801および第2基板802に対する親液化処理や、バンク部811,BBに対する撥液化処理を行うことが、好ましい。
また、他の電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光拡散体形成等の装置が考えられる。上記した液滴吐出装置1を各種の電気光学装置(デバイス)の製造に用いることにより、各種の電気光学装置を効率的に製造することが可能である。
実施形態に係る液滴吐出装置の平面図である。 液滴吐出装置の側面図である。 機能液滴吐出ヘッドの外観斜視図である。 ヘッド群を構成する機能液滴吐出ヘッドの図である。 ヘッドユニットに搭載された機能液滴吐出ヘッドの配色パターンの説明図である。 カラーフィルタの配色パターンの説明図であり、(a)は、ストライプ配列、(b)は、モザイク配列、(c)は、デルタ配列を示している。 第2スライダ廻りの外観斜視図である。 描画装置の主制御系について説明したブロック図である。 着弾ドット測定ユニットにおける白色干渉計廻りを示した模式図である。 吐出性能検査工程を説明した説明図である。 カラーフィルタ製造工程を説明するフローチャートである。 (a)〜(e)は、製造工程順に示したカラーフィルタの模式断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第2の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第3の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。 有機EL装置である表示装置の要部断面図である。 有機EL装置である表示装置の製造工程を説明するフローチャートである。 無機物バンク層の形成を説明する工程図である。 有機物バンク層の形成を説明する工程図である。 正孔注入/輸送層を形成する過程を説明する工程図である。 正孔注入/輸送層が形成された状態を説明する工程図である。 青色の発光層を形成する過程を説明する工程図である。 青色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。 各色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。 陰極の形成を説明する工程図である。 プラズマ型表示装置(PDP装置)である表示装置の要部分解斜視図である。 電子放出装置(FED装置)である表示装置の要部断面図である。 表示装置の電子放出部廻りの平面図(a)およびその形成方法を示す平面図(b)である。
符号の説明
1:液滴吐出装置、 7:制御手段、 11:X軸テーブル、 12:Y軸テーブル、 13:ヘッドユニット、 17:機能液滴吐出ヘッド、 53:ブリッジプレート、 98:吐出ノズル、 162:着弾ドット測定ユニット、 171:検査シート 181:白色干渉計、 183:装置移動機構、 D:着弾ドット、 W:ワーク

Claims (11)

  1. 機能液滴吐出ヘッドの検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットを、干渉計から成る形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定方法において、
    前記検査シートに対し、前記機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させながら、前記機能液滴吐出ヘッドの多数の吐出ノズルを、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させる検査吐出工程と、
    前記検査シートに対し、前記形態測定装置を、前記機能液滴吐出ヘッドに後行し且つ前記主走査方向に同速で相対的に移動させながら、多数の前記着弾ドットをそれぞれ形状測定する測定工程と、を備えたことを特徴とする着弾ドット測定方法。
  2. 前記形状測定の結果から前記各着弾ドットの体積を求める体積測定工程を、更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の着弾ドット測定方法。
  3. 前記形状測定の結果から前記各着弾ドットの設計値からの位置ズレ量を求める位置測定工程を、更に備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の着弾ドット測定方法。
  4. 機能液滴吐出ヘッドの検査吐出により検査シート上に着弾した機能液滴である着弾ドットを、干渉計から成る形態測定装置により形状測定する着弾ドット測定装置において、
    前記検査シートに対し、前記機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させるヘッド移動手段と、
    前記着弾ドットを形状測定する前記形態測定装置と、
    前記検査シートに対し、前記形態測定装置を主走査方向および副走査方向に相対的に移動させる測定装置移動手段と、
    前記機能液滴吐出ヘッド、前記ヘッド移動手段、前記形態測定装置および前記測定装置移動手段を制御する制御手段と、を備え、
    前記制御手段は、前記機能液滴吐出ヘッドを主走査方向に相対的に移動させながら、前記機能液滴吐出ヘッドの多数の吐出ノズルを、1つずつ時間間隔をおいて検査吐出させると共に、
    前記形態測定装置を、前記機能液滴吐出ヘッドと同速の主走査方向への相対的移動と副走査方向への相対的移動により、前記機能液滴吐出ヘッドに後行させながら、多数の前記着弾ドットをそれぞれ形状測定させることを特徴とする着弾ドット測定装置。
  5. 前記形態測定装置は、前記形状測定の結果から前記各着弾ドットの体積を求めることを特徴とする請求項4に記載の着弾ドット測定装置。
  6. 前記形態測定装置は、前記形状測定の結果から前記各着弾ドットの設計値からの位置ズレ量を求めることを特徴とする請求項4または5に記載の着弾ドット測定装置。
  7. 請求項4ないし6のいずれかに記載の着弾ドット測定装置と、
    複数の前記機能液滴吐出ヘッドをサブキャリッジに搭載したヘッドユニットと、
    ワークに対し、前記ヘッドユニットを相対的に移動させながら、前記複数の機能液滴吐出ヘッドから機能液滴を吐出して描画を行なう描画手段と、を備えたことを特徴とする液滴吐出装置。
  8. 前記ヘッドユニットには、R色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、G色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッドおよびB色の機能液を導入する機能液滴吐出ヘッド、が搭載されていることを特徴とする請求項7に記載の液滴吐出装置。
  9. 請求項7または8に記載の液滴吐出装置を用い、前記ワーク上に機能液滴による成膜部を形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  10. 請求項7または8に記載の液滴吐出装置を用い、前記ワーク上に機能液滴による成膜部を形成したことを特徴とする電気光学装置。
  11. 請求項9に記載の電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または請求項10に記載の電気光学装置を搭載したことを特徴とする電子機器。
JP2007045743A 2007-02-26 2007-02-26 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法 Expired - Fee Related JP4442620B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007045743A JP4442620B2 (ja) 2007-02-26 2007-02-26 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
US12/012,765 US8366232B2 (en) 2007-02-26 2008-02-05 Method of measuring landed dot, measuring apparatus for landed dot, liquid droplet ejection apparatus, method of manufacturing electro-optic apparatus, electro-optic apparatus, and electronic apparatus
KR1020080016718A KR100952380B1 (ko) 2007-02-26 2008-02-25 착탄 도트 측정 방법 및 착탄 도트 측정 장치, 및 액적토출 장치, 전기 광학 장치의 제조 방법, 전기 광학 장치및 전자 기기
CN2008100813590A CN101256092B (zh) 2007-02-26 2008-02-25 喷落点测定方法及喷落点测定装置、以及液滴喷出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007045743A JP4442620B2 (ja) 2007-02-26 2007-02-26 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008209218A true JP2008209218A (ja) 2008-09-11
JP4442620B2 JP4442620B2 (ja) 2010-03-31

Family

ID=39715384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007045743A Expired - Fee Related JP4442620B2 (ja) 2007-02-26 2007-02-26 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8366232B2 (ja)
JP (1) JP4442620B2 (ja)
KR (1) KR100952380B1 (ja)
CN (1) CN101256092B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009025094A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Fujifilm Corp ドット計測方法及び装置、プログラム、並びに画像形成装置
DE112009001990T5 (de) 2008-08-15 2011-07-14 ULVAC, Inc., Kanagawa Verfahren zum Reinigen von Silizium

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4245054B2 (ja) * 2007-01-26 2009-03-25 セイコーエプソン株式会社 画素内機能液の形態測定方法、画素内機能液の形態測定装置および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP4442620B2 (ja) 2007-02-26 2010-03-31 セイコーエプソン株式会社 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2011177643A (ja) * 2010-03-01 2011-09-15 Seiko Epson Corp 液滴吐出装置
US11141752B2 (en) 2012-12-27 2021-10-12 Kateeva, Inc. Techniques for arrayed printing of a permanent layer with improved speed and accuracy
EP3434483A1 (en) * 2012-12-27 2019-01-30 Kateeva, Inc. Techniques for print ink volume control to deposit fluids within precise tolerances
US11673155B2 (en) 2012-12-27 2023-06-13 Kateeva, Inc. Techniques for arrayed printing of a permanent layer with improved speed and accuracy
KR20230169406A (ko) 2012-12-27 2023-12-15 카티바, 인크. 정밀 공차 내로 유체를 증착하기 위한 인쇄 잉크 부피 제어를 위한 기법
KR20160098376A (ko) 2013-12-12 2016-08-18 카티바, 인크. 두께를 제어하기 위해 하프토닝을 이용하는 잉크-기반 층 제조
CN107627749A (zh) * 2016-07-19 2018-01-26 程好学 一种喷墨打印的方法
DE102017100702A1 (de) * 2017-01-16 2018-07-19 Marco Systemanalyse Und Entwicklung Gmbh Vorrichtung zur Überwachung von Dosiereinrichtungen
KR20210021160A (ko) * 2019-08-14 2021-02-25 삼성디스플레이 주식회사 액적 측정 방법, 액적 측정 장치, 및 표시 장치의 제조 방법
KR20210089291A (ko) * 2020-01-07 2021-07-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조장치 및 표시 장치의 제조방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004071222A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Seiko Epson Corp 材料の配置方法、膜形成装置、電子装置及びその製造方法、電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器
JP2005339816A (ja) * 2004-05-24 2005-12-08 Ricoh Co Ltd 有機elディスプレイ基板
JP2006136836A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Hitachi Industries Co Ltd 液滴塗布装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000121323A (ja) 1998-10-14 2000-04-28 Hitachi Ltd 表面高さ検査方法及びその検査装置並びにカラーフィルタ基板、その検査方法及びその製造方法
US6558623B1 (en) * 2000-07-06 2003-05-06 Robodesign International, Inc. Microarray dispensing with real-time verification and inspection
US7121642B2 (en) * 2002-08-07 2006-10-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Drop volume measurement and control for ink jet printing
JP4093167B2 (ja) * 2003-10-15 2008-06-04 セイコーエプソン株式会社 液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP2005119139A (ja) 2003-10-16 2005-05-12 Seiko Epson Corp 機能液滴吐出ヘッドの吐出量測定方法およびその装置、機能液滴吐出ヘッドの駆動制御方法、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
CN1641338A (zh) * 2004-01-02 2005-07-20 华联生物科技股份有限公司 光学液滴检测系统及其检测方法
CN1719206A (zh) * 2005-08-04 2006-01-11 上海大学 液滴的光敏计量方法及装置
JP4442620B2 (ja) 2007-02-26 2010-03-31 セイコーエプソン株式会社 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2009178627A (ja) 2008-01-29 2009-08-13 Seiko Epson Corp 薄膜形成方法、カラーフィルタの製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004071222A (ja) * 2002-08-02 2004-03-04 Seiko Epson Corp 材料の配置方法、膜形成装置、電子装置及びその製造方法、電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器
JP2005339816A (ja) * 2004-05-24 2005-12-08 Ricoh Co Ltd 有機elディスプレイ基板
JP2006136836A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Hitachi Industries Co Ltd 液滴塗布装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009025094A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Fujifilm Corp ドット計測方法及び装置、プログラム、並びに画像形成装置
DE112009001990T5 (de) 2008-08-15 2011-07-14 ULVAC, Inc., Kanagawa Verfahren zum Reinigen von Silizium
DE112009001990B4 (de) 2008-08-15 2018-01-25 Ulvac, Inc. Verfahren zum Reinigen von Silizium

Also Published As

Publication number Publication date
US20080204502A1 (en) 2008-08-28
JP4442620B2 (ja) 2010-03-31
KR100952380B1 (ko) 2010-04-14
CN101256092B (zh) 2011-02-16
US8366232B2 (en) 2013-02-05
KR20080079212A (ko) 2008-08-29
CN101256092A (zh) 2008-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4442620B2 (ja) 着弾ドット測定方法および着弾ドット測定装置、並びに液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP4093167B2 (ja) 液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
KR100873477B1 (ko) 토출 패턴 데이터 보정 방법, 토출 패턴 데이터 보정 장치, 및 액적 토출 장치
JP5359973B2 (ja) 液滴吐出装置
JP4967741B2 (ja) 液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP4691975B2 (ja) ワークギャップ調整方法、ワークギャップ調整装置、液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2005119139A (ja) 機能液滴吐出ヘッドの吐出量測定方法およびその装置、機能液滴吐出ヘッドの駆動制御方法、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP4258544B2 (ja) 液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2008100138A (ja) 液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP2009006212A (ja) 液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法および電気光学装置
JP4396732B2 (ja) 液滴吐出ヘッドの配置方法、ヘッドユニットおよび液滴吐出装置、並びに、電気光学装置の製造方法
JP4539316B2 (ja) ヘッド位置補正方法およびヘッド位置補正装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法
JP2006167544A (ja) 機能液滴吐出ヘッドの吐出量測定方法、機能液滴吐出ヘッドの駆動制御方法、機能液滴吐出ヘッドの吐出量測定装置、液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP5182280B2 (ja) 吐出パターンデータ補正方法
JP4852989B2 (ja) 液滴吐出装置の液滴着弾位置補正方法、液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2006159703A (ja) 液滴吐出装置を用いた描画方法、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器
JP2006044059A (ja) 液滴吐出装置の液滴着弾位置補正方法および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP2006159114A (ja) 液滴吐出装置を用いた描画方法、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置、および電子機器
JP4293043B2 (ja) 液滴吐出装置を用いた描画方法および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法
JP4151576B2 (ja) 機能液滴吐出検査方法、機能液滴吐出検査装置およびこれを備えた液滴吐出装置
JP2007130597A (ja) 液滴吐出ヘッドの着弾位置検査方法、液滴吐出ヘッドの着弾位置検査装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP4400675B2 (ja) ヘッドユニットの配置方法および液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置
JP2007144344A (ja) 機能液滴吐出ヘッドの吐出検査方法、機能液滴吐出ヘッドの吐出検査装置、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP5251796B2 (ja) ヘッドユニット、液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2009151219A (ja) 機能液滴吐出ヘッドのヘッド選別方法、ヘッドユニットおよび液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法および電気光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090804

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090915

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091222

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100104

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4442620

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140122

Year of fee payment: 4

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees