JP2008194668A - ガス処理装置 - Google Patents

ガス処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008194668A
JP2008194668A JP2007104601A JP2007104601A JP2008194668A JP 2008194668 A JP2008194668 A JP 2008194668A JP 2007104601 A JP2007104601 A JP 2007104601A JP 2007104601 A JP2007104601 A JP 2007104601A JP 2008194668 A JP2008194668 A JP 2008194668A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
honeycomb
honeycomb structures
honeycomb structure
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007104601A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Oya
康裕 大矢
Masayuki Iwata
昌之 岩田
Toshimaru Iguchi
俊丸 井口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Azbil Corp filed Critical Azbil Corp
Priority to JP2007104601A priority Critical patent/JP2008194668A/ja
Publication of JP2008194668A publication Critical patent/JP2008194668A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Treating Waste Gases (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】安定したガス処理能力と高いガス処理能力を得る。コストダウンを図る。
【解決手段】処理対象ガスGSの通過方向(ダクト1の入口から出口への方向)に沿ってハニカム構造体4を間隔を設けて配置する。このハニカム構造体4のうち最も上流に配置されるハニカム構造体4−1の上流側に上流側電極8を配置し、最も下流に配置されるハニカム構造体4−4の下流側に下流側電極9を配置し、上流側電極8と下流側電極9との間に高電圧を印加し、ハニカム構造体4の貫通孔(セル)4aとハニカム構造体4間の空間ギャップ12にプラズマを発生させる。
【選択図】 図1

Description

この発明は、処理対象ガスに含まれる有害ガスを浄化するガス処理装置に関するものである。
従来より、排気ガス中で高電圧放電を行ってプラズマ状態を作ることで、排気ガスに含まれる有害ガスの浄化を行う技術が知られている。近年、この技術は、脱臭を目的として、工場の排気を浄化する浄化装置や室内の空気を浄化する空気清浄機に応用されつつある。
熱的に非平衡な状態、つまり気体の温度やイオン温度に比べ、電子温度が非常に高い状態のプラズマ(非平衡プラズマ(以下、単にプラズマと言う))は、電子衝突でつくられるイオンやラジカルが常温では起こらない化学反応を促進させるので、有害ガスを効率的に除去あるいは分解することが可能な媒体として有害ガス処理において有用であると考えられている。実用化で肝心なことは、処理時のエネルギーの効率の向上と、プラズマで処理した後に完全に安全な生成物質へと変換されることである。
一般に、大気圧でのプラズマは気体放電や電子ビームなどによって生成される。現在において、適用が考えられているものに、窒素酸化物(NOx)、硫黄酸化物(SOx)、フロン、CO2 ,揮発性有機溶剤(VOC)などがある。中でもNOxは車の排ガスなどに含まれているので早急な実用化が必要となっている。
NOx除去における放電プラズマ(気体放電によって生成されたプラズマ)内の現象は、電子衝突によって1次的に生成されたイオンやラジカルが最初の反応を起こし、その後の反応を通してN2 ,H2 O,NH4 NO3 などの各粒子に変換されて行くものと考えられている。
また、有害ガスを例えばアセトアルデヒドやホルムアルデヒドとした場合、この有害ガスをプラズマを通すことによって、CO2 とH2 Oに変換される。この場合、副生成物として、オゾン(O3 )が発生する。
図4に放電プラズマを利用した従来のガス処理装置の要部を例示する(例えば、特許文献1参照)。同図において、1は処理対象ガス(有害ガスを含む空気)GSが流れるダクト(通風路)であり、ダクト1内には、処理対象ガスGSの通過方向に沿って放電電極2とアース電極3とが交互に配置され、これら電極2,3間にセルと呼ばれる多数の貫通孔4aを有するハニカム構造体4が配設されている。5は高電圧電源である。なお、ハニカム構造体4はセラミックス等の絶縁体で形成されており、特許文献2にもその使用例がある。
放電電極2は、金属製メッシュ、極細ワイヤ、または針状体等で形成されている。各放電電極2は、導線6によって高電圧電源5の+極に接続されている。アース電極3は、金属性メッシュ等で形成されている。各アース電極3は、導線7によって高電圧電源5の−極に接続されている。
このガス処理装置では、処理対象ガスGSをダクト1に流し、放電電極2とアース電極3との間に高電圧電源5からの高電圧(数kV〜数10kV)を印加する。これにより、各ハニカム構造体4の貫通孔4a内にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。
特開2000−140562号公報 特開2001−276561号公報
しかしながら、上述した従来のガス処理装置では、次の(1)〜(3)のような問題があった。
(1)多数のハニカム構造体4を有するが、ばらつきなく均一なプラズマを発生させる技術が確立されておらず、ハニカム構造体4の性能にばらつきが出てしまう。例えば、同じハニカム構造体4同士でもインピータンス値が異なることがあり、また1つのハニカム構造体4内でも例えばその上下でインピーダンス値が異なるというようなこともあり、全体として均一なプラズマが発生せず、ガス処理能力が不安定となる。また、貫通孔4aだけでのプラズマ発生なので、プラズマの発生量が少なく、ガス処理能力が低い。
(2)ハニカム構造体4は吸湿すると低インピーダンスに、乾燥すると高インピーダンスになる特性を持っており、ハニカム構造体4が低インピーダンスになると、流れる電流が増大し放電電極2とアース電極3との間に印加される高電圧値が低下し、ハニカム構造体4が高インピーダンスになると、流れる電流が減少し放電電極2とアース電極3との間に印加される高電圧値が上昇する。このような高電圧値の変化に対し、所望のプラズマの発生量を確保し得る高電圧値を得ることのできる高電圧電源5は、その設計に要する工数も含めて非常に高価となる。
(3)ハニカム構造体4のぞれぞれに対して放電電極2とアース電極3を設けているため、部品点数が多く、構造も複雑となり、高価となる。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、安定したガス処理能力と高いガス処理能力とを備えたガス処理装置を安価に提供することにある。
このような目的を達成するために本発明は、通風路の入口から出口への処理対象ガスの通過方向に沿って間隔を設けて配置され処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数のハニカム構造体と、複数のハニカム構造体のうち処理対象ガスの通過方向の最も上流に配置されるハニカム構造体の上流側に配置される上流側電極と、複数のハニカム構造体のうち処理対象ガスの通過方向の最も下流に配置されるハニカム構造体の下流側に配置される下流側電極と、上流側電極と下流側電極との間に高電圧を印加しハニカム構造体の貫通孔およびハニカム構造体間の空間にプラズマを発生させる高電圧源とを設けたものである。
この発明によれば、処理対象ガスの通過方向(通風路の入口から出口への方向)に沿って複数のハニカム構造体が間隔を設けて配置され、この複数のハニカム構造体のうち最も上流に配置されるハニカム構造体の上流側に上流側電極が配置され、最も下流に配置されるハニカム構造体の下流側に下流側電極が配置され、上流側電極と下流側電極との間に高電圧が印加される。この高電圧の印加により、ハニカム構造体の貫通孔およびハニカム構造体間の空間にプラズマが発生し、このプラズマを通過する際に処理対象ガスに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。
この発明において、プラズマはハニカム構造体の貫通孔だけではなく、ハニカム構造体間の空間(空気層)にも発生する。このため、貫通孔内での有害ガスの分子分解効果に加え、ハニカム構造体間の空間での有害ガスの分子分解効果が加わり、さらにこの貫通孔内での分子分解効果とハニカム構造体間の空間での分子分解効果との相乗効果により、有害ガスの無害な物質への分解が促進される。また、ハニカム構造体間の空間には、均一なプラズマが大量に発生する。
また、この発明において、ハニカム構造体間には空気層が設けられるので、上流側電極と下流側電極との間のインピーダンスが安定し、ハニカム構造体の吸湿・乾燥によるインピーダンス変化に対して流れる電流の変化が小さくなり、専用に設計された特殊な高電圧電源を使用する必要がなくなる。
また、この発明において、電極は上流側電極と下流側電極の2個の電極のみでよく、ハニカム構造体毎に電極を配置する必要がなくなり、部品点数が削減され、構造が簡単となり、組立工数も少なくて済む。
本発明では、各ハニカム構造体の単位面積当たりの貫通孔の数を異なるようにしてもよく、ハニカム構造体間の間隔を異なるようにしてもよく、ハニカム構造体間の間隔を調整可能としてもよい。各ハニカム構造体の単位面積当たりの貫通孔の数を異ならせることにより、各ハニカム構造体で分解可能な有害ガスの種類を異ならせたり、副生成物として発生するオゾン量を異ならせたり、処理対象ガスに含まれる有害ガスが複数種類であっても対応することが可能となる。また、ハニカム構造体間の間隔を異ならせることにより、各ハニカム構造体の単位面積当たりの貫通孔の数を異ならせた場合と同様の作用・効果を得ることができる。この場合、単位面積当たりの貫通孔の数が等しい同一種類のハニカム構造体で構成することができるので、部品の種類を増やさずに済む。また、ハニカム構造体間の間隔を調整可能とすることにより、処理対象ガスに含まれる有害ガスの種類が運用途中で変わるような場合にも柔軟に対処することが可能となる。
また、本発明において、ハニカム構造体の下流位置で特定ガスのガス濃度を検出するようにし、この検出された特定ガスのガス濃度が予め定められた閾値を超えた場合に、その特定ガスのガス濃度が閾値内に収まるように、ハニカム構造体間の間隔を調整するようにしてもよい。このようにすると、例えば、副生成物として発生するオゾンを特定ガスとした場合、有害ガスの分解処理後の処理対象ガスに含まれるオゾンの濃度を閾値内に収めるようにすることが可能となる。
本発明によれば、処理対象ガスの通過方向(通風路の入口から出口への方向)に沿って複数のハニカム構造体を間隔を設けて配置し、この複数のハニカム構造体のうち最も上流に配置されるハニカム構造体の上流側に上流側電極を配置し、最も下流に配置されるハニカム構造体の下流側に下流側電極を配置し、上流側電極と下流側電極との間に高電圧を印加するようにしたので、ハニカム構造体の貫通孔だけではなく、ハニカム構造体間の空間にもプラズマが発生するものとなり、貫通孔内での有害ガスの分子分解効果に加え、ハニカム構造体間の空間での有害ガスの分子分解効果が加わり、さらにこの貫通孔内での分子分解効果とハニカム構造体間の空間での分子分解効果との相乗効果により、有害ガスの無害な物質への分解が促進され、ガス処理能力が高まる。また、ハニカム構造体間の空間には、均一なプラズマが大量に発生するので、ガス処理能力が安定する。
また、本発明によれば、ハニカム構造体間に空気層が設けられるので、上流側電極と下流側電極との間のインピーダンスが安定し、ハニカム構造体の吸湿・乾燥によるインピーダンス変化に対して流れる電流の変化が小さくなり、専用に設計された特殊な高電圧電源を使用する必要がなくなり、市販されている安価な高電圧電源を用いることができるようになる。
また、本発明によれば、上流側電極と下流側電極の2個の電極のみでよく、ハニカム構造体毎に電極を配置する必要がない。これにより、部品点数が削減され、構造が簡単となり、組立個数も少なくて済み、コストダウンが図られる。
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
〔実施の形態1〕
図1はこの発明に係るガス処理装置の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図である。同図において、図4と同一符号は図4を参照して説明した構成要素と同一或いは同等構成要素を示し、その説明は省略する。
この実施の形態では、ダクト1内に処理対象ガスGSの通過方向(ダクト1の入口から出口への方向)に沿って所定の間隔G(G1,G2,G3)を設けてハニカム構造体4(4−1〜4−4)を配置し、このハニカム構造体4のうち最も上流に配置されるハニカム構造体4−1の上流側に上流側電極8を、最も下流に配置されるハニカム構造体4−4の下流側に下流側電極9を配置し、上流側電極8を導線10によって高電圧電源(高電圧源)5の+極に接続し、下流側電極9を導線11によって高電圧電源5の−極に接続している。
ハニカム構造体4は、セラミックス等の絶縁体で形成されており、処理対象ガスGSが通過する多数の貫通孔(セル)4aを有している。各ハニカム構造体4の単位面積当たりの貫通孔4aの数は等しくされている。すなわち、本実施の形態では、単位面積当たりの貫通孔4aの数が等しい同一種類のハニカム構造体4−1〜4−4を使用している。上流側電極8および下流側電極9は、処理対象ガスGSが通過するように、金属製メッシュとされている。
また、この実施の形態において、ハニカム構造体4−1と4−2との間の間隔G1と、ハニカム構造体4−2と4−3との間の間隔G2と、ハニカム構造体4−3と4−4との間の間隔G3とは等しく、例えば0.5mm〜数mmとされている。これにより、ハニカム構造体4−1と4−2との間に空気層12−1が形成され、ハニカム構造体4−2と4−3との間に空気層12−2が形成され、ハニカム構造体4−3と4−4との間に空気層12−3が形成されている。以下、空気層12(12−1〜12−3)を空間ギャップと呼ぶ。
このガス処理装置では、処理対象ガスGSをダクト1内に流し、上流側電極8と下流側電極9との間に高電圧電源5からの高電圧(数kV〜数10kV)を印加する。これにより、ハニカム構造体4の貫通孔4aおよびハニカム構造体4間の空間ギャップ12にプラズマが発生し、このプラズマ中に生成されるイオンやラジカルによって、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスが無害な物質に分解される。
本実施の形態において、プラズマはハニカム構造体4の貫通孔4aだけではなく、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12にも発生する。このため、貫通孔4a内での有害ガスの分子分解効果に加え、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12での有害ガスの分子分解効果が加わり、さらにこの貫通孔4a内での分子分解効果とハニカム構造体4間の空間ギャップ12での分子分解効果との相乗効果により、有害ガスの無害な物質への分解が促進され、ガス処理能力が高まる。また、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12には、対向する貫通孔4aの縁面から電界が広がって、均一なプラズマが大量に発生する。これにより、貫通孔4a内に発生するプラズマのばらつきによる影響が小さくなり、ガス処理能力が安定する。
また、この実施の形態において、ハニカム構造体4間には空気層である空間ギャップ12が設けられるので、この空間ギャップ12により上流側電極8と下流側電極9との間のインピーダンスが安定し、ハニカム構造体の吸湿・乾燥によるインピーダンス変化に対して流れる電流の変化が小さくなる。これにより、上流側電極8と下流側電極9との間に加わる高電圧値の変化が小さくなり、高電圧電源5として、専用に設計された特殊な高電圧電源ではなく、市販されている安価な高電圧電源を使用することができるようになる。
また、この実施の形態において、電極は上流側電極8と下流側電極9の2個の電極のみでよく、ハニカム構造体4毎に電極を配置する必要がない。これにより、部品点数が削減され、構造が簡単となり、組立工数も少なくて済み、コストダウンが図られる。
〔実施の形態2〕
実施の形態1では、ハニカム構造体4−1〜4−4の単位面積当たりの貫通孔4aの数を等しくしたが、ハニカム構造体4−1〜4−4の単位面積当たりの貫通孔4aの数を選択的に異ならせるようにしてもよい。例えば、ハニカム構造体4−1,4−2については単位面積当たりの貫通孔4aの数を少なし、ハニカム構造体4−3,4−4については単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くするようにしたり、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順で単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くするなどとしてもよい。
ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順で単位面積当たりの貫通孔4aの数を多くすると、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3,4−4の順でプラズマの発生量が大きくなり、各ハニカム構造体4で分解可能な有害ガスの種類を異ならせることが可能となる。
例えば、その分子が持つエネルギー準位が順に高い有害ガスA,B,C,Dが処理対象ガスGSに含まれていたものとした場合、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスAをハニカム構造体4−1で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスBをハニカム構造体4−2で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスCをハニカム構造体4−3で分解し、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスDをハニカム構造体4−4で分解するなど、各ハニカム構造体4で分解可能な有害ガスの種類を異ならせることができる。
この場合、ハニカム構造体4−2での有害ガスBの分解に際し、ハニカム構造体4−1によって分解しきれなかった有害ガスAの分解が行われ、ハニカム構造体4−3での有害ガスCの分解に際し、ハニカム構造体4−1,4−2で分解しきれなかった有害ガスA,Bの分解が行われ、ハニカム構造体4−4での有害ガスDの分解に際し、ハニカム構造体4−1,4−2,4−3で分解しきれなかった有害ガスA,B,Cの分解が行われる。
このような方法とすると、1つのハニカム構造体4で全ての有害ガスA,B,C,Dの分解を行うようにした場合よりも、有害ガスの分解に際して発生する副生成物(例えば、オゾン)の発生量を少なくすることができる。
〔実施の形態3〕
実施の形態2では、ハニカム構造体4−1〜4−4の単位面積当たりの貫通孔4aの数を選択的に異ならせるようにしたが、図2に示すように、ハニカム構造体4間の間隔G(G1,G2,G3)を異ならせるようにしてもよい。
このようにすると、空間ギャップ12(12−1,12−2,12−3)でのプラズマの発生量が異なるものとなり、ハニカム構造体4−1〜4−4の単位面積当たりの貫通孔4aの数を選択的に異ならせた場合と同様の作用・効果を得ることができる。この場合、ハニカム構造体4−1〜4−4を単位面積当たりの貫通孔4aの数が等しい同一種類のハニカム構造体とすることができるので、部品の種類を増やさずに済む。
また、この実施の形態3において、ハニカム構造体4間の間隔Gを調整可能な構造とすれば、手動でハニカム構造体4間の間隔Gを調整したり、自動でハニカム構造体4間の間隔Gを調整したりして、空間ギャップ12でのプラズマの発生量を変え、処理対象ガスGSに含まれる有害ガスの種類が運用途中で変わるような場合にも柔軟に対処することが可能となる。
〔実施の形態4〕
図3にハニカム構造体4間の間隔Gを自動で調整するようにした場合の応用例(実施の形態4)を示す。この実施の形態4では、ハニカム構造体4−4の下流位置にオゾンの濃度を検出するオゾン検出手段13を設け、このオゾン検出手段13が検出するオゾンの濃度をオゾンレベル判定手段14へ与えるようにしている。
オゾンレベル判定手段14は、オゾン検出手段13からのオゾンの濃度Opvと予め設定されている閾値Othとを比較し、オゾン検出手段13からのオゾンの濃度Opvが閾値Othを超えている場合、オゾンの濃度Opvが閾値Oth内に収まるように、ハニカム間ギャップ調整手段15に指令を送り、ハニカム構造体4間の間隔Gを自動調整する。
これにより、有害ガスの分解処理後の処理対象ガスGSに含まれるオゾンの濃度を閾値Oth以下とすることが可能となり、有害ガスの分解処理後の処理対象ガスGSが排出される環境へのオゾンの排出量を少なくすることができる。
なお、この実施の形態4では、ハニカム構造体4−4の下流位置でオゾンの濃度を検出するようにしたが、ハニカム構造体4間の空間ギャップ12においてオゾンの濃度を検出するようにしてもよい。
また、この実施の形態4では、有害ガスの分解処理後の処理対象ガスGSに含まれるオゾン、すなわち副生成物として発生するオゾンを特定ガスとし、この特定ガスの濃度が閾値内に収まるようにハニカム構造体4間の間隔Gを調整するようにしたが、特定ガスはオゾンに限られるものではなく、有害ガスA,B,C,Dなどを特定ガスとするようにしてもよい。
また、上述した実施の形態1〜4において、ハニカム構造体4はオゾンを分解する触媒機能を備えたものとしてもよく、ハニカム構造体4−4の下流位置にオゾンを分解する触媒を設けるようにしてもよい。
また、上述した実施の形態1〜4では、ハニカム構造体4の数を4つとしたが、ハニカム構造体4の数は2つ以上であれば幾つあってもよいことは言うまでもない。
また、上述した実施の形態1〜4では、高電圧電源5を直流としているが、交流としたり、パルス電源を用いるなどとしてもよい。
また、上述した実施の形態1〜4において、副生成物としてオゾンを大量に発生させ、オゾン発生器として転用するようにしてもよい。
なお、本ガス処理装置は、燃料電池等に用いられる水素を効率的に生成する目的で、炭化水素類等から水素含有ガスを生成する、いわゆる改質にも適用することができる。例えばオクタン(ガソリンの平均分子量に比較的近い物質)C818の場合は、本ガス処理装置に供給すると下記(1)式で示される化学反応が促進され、その結果水素ガスを効率よく生成することができる。C818+8H2O+4(O2+4N2)→8CO2+17H2+16N2・・・・(1)
本発明に係るガス処理装置の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図である。 ハニカム構造体間の間隔を異ならせるようにした例(実施の形態3)を示す図である。 ハニカム構造体間の間隔を自動で調整するようにした場合の応用例(実施の形態4)を示す図である。 放電プラズマを利用した従来のガス処理装置の要部を例示する図である。
符号の説明
1…ダクト(通風路)、4(4−1〜4−4)…ハニカム構造体、4a…貫通孔(セル)、5…高電圧電源、8…上流側電極、9…下流側電極、12(12−1〜12−4)…空間ギャップ、G(G1〜G4)…間隔、GS…処理対象ガス、13…オゾン検出手段、14…オゾンレベル判定手段、15…ハニカム間ギャップ調整手段。

Claims (5)

  1. 通風路の入口から出口への処理対象ガスの通過方向に沿って間隔を設けて配置され前記処理対象ガスが通過する多数の貫通孔を有する複数のハニカム構造体と、
    前記複数のハニカム構造体のうち前記処理対象ガスの通過方向の最も上流に配置されるハニカム構造体の上流側に配置される上流側電極と、
    前記複数のハニカム構造体のうち前記処理対象ガスの通過方向の最も下流に配置されるハニカム構造体の下流側に配置される下流側電極と、
    前記上流側電極と前記下流側電極との間に高電圧を印加し前記ハニカム構造体の貫通孔および前記ハニカム構造体間の空間にプラズマを発生させる高電圧源と
    を備えることを特徴とするガス処理装置。
  2. 請求項1に記載されたガス処理装置において、
    前記各ハニカム構造体の単位面積当たりの貫通孔の数が異なることを特徴とするガス処理装置。
  3. 請求項1に記載されたガス処理装置において、
    前記ハニカム構造体間の間隔が異なることを特徴とするガス処理装置。
  4. 請求項1に記載されたガス処理装置において、
    前記ハニカム構造体間の間隔が調整可能とされていることを特徴とするガス処理装置。
  5. 請求項1に記載されたガス処理装置において、
    前記ハニカム構造体の下流位置で特定ガスのガス濃度を検出する特定ガス濃度検出手段と、
    この特定ガス濃度検出手段によって検出された特定ガスのガス濃度が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する特定ガス濃度レベル判定手段と、
    この特定ガス濃度レベル判定手段によって前記特定ガスのガス濃度が前記閾値を超えたと判定された場合に、その特定ガスのガス濃度が前記閾値内に収まるように、前記ハニカム構造体間の間隔を調整するハニカム間隔調整手段と
    を備えることを特徴とするガス処理装置。
JP2007104601A 2007-01-15 2007-04-12 ガス処理装置 Pending JP2008194668A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007104601A JP2008194668A (ja) 2007-01-15 2007-04-12 ガス処理装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007006376 2007-01-15
JP2007104601A JP2008194668A (ja) 2007-01-15 2007-04-12 ガス処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008194668A true JP2008194668A (ja) 2008-08-28

Family

ID=39754114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007104601A Pending JP2008194668A (ja) 2007-01-15 2007-04-12 ガス処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008194668A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010162455A (ja) * 2009-01-14 2010-07-29 Yamatake Corp ガス処理装置
JP2011206702A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Yamatake Corp ガス処理装置
JP2012213721A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置
JP2012213719A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置
JP2012213720A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03237982A (ja) * 1990-02-16 1991-10-23 Tdk Corp 殺菌脱臭装置
JPH0435723A (ja) * 1990-05-29 1992-02-06 Tdk Corp 殺菌脱臭装置
JPH06292817A (ja) * 1993-04-12 1994-10-21 Hitachi Ltd Nox含有ガス浄化方法及び浄化装置
JPH08222354A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Shinko Pantec Co Ltd 放電装置
JP2004113704A (ja) * 2002-09-30 2004-04-15 Mitsubishi Electric Corp 脱臭エレメント
WO2004114729A1 (ja) * 2003-06-20 2004-12-29 Ngk Insulators, Ltd. プラズマ発生電極及びプラズマ発生装置、並びに排気ガス浄化装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03237982A (ja) * 1990-02-16 1991-10-23 Tdk Corp 殺菌脱臭装置
JPH0435723A (ja) * 1990-05-29 1992-02-06 Tdk Corp 殺菌脱臭装置
JPH06292817A (ja) * 1993-04-12 1994-10-21 Hitachi Ltd Nox含有ガス浄化方法及び浄化装置
JPH08222354A (ja) * 1995-02-16 1996-08-30 Shinko Pantec Co Ltd 放電装置
JP2004113704A (ja) * 2002-09-30 2004-04-15 Mitsubishi Electric Corp 脱臭エレメント
WO2004114729A1 (ja) * 2003-06-20 2004-12-29 Ngk Insulators, Ltd. プラズマ発生電極及びプラズマ発生装置、並びに排気ガス浄化装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010162455A (ja) * 2009-01-14 2010-07-29 Yamatake Corp ガス処理装置
JP2011206702A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Yamatake Corp ガス処理装置
JP2012213721A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置
JP2012213719A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置
JP2012213720A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Azbil Corp ガス処理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008194670A (ja) ガス処理装置
CN108970348B (zh) 低温等离子体发生器和低温等离子体处理污染物的方法及其应用
JP2008194668A (ja) ガス処理装置
JP2008194669A (ja) ガス処理装置
JP5723195B2 (ja) ガス処理装置
JP2006187766A (ja) ガス処理装置およびガス処理用カートリッジ
JP6671118B2 (ja) ガス処理装置
US20040093853A1 (en) System and method for using nonthermal plasma reactors
JP3580294B2 (ja) 沿面放電電極およびこれを用いたガス処理装置、ガス処理方法
US20090095619A1 (en) Gas treating apparatus
JP5242425B2 (ja) ガス処理装置
KR101607645B1 (ko) 공기 청정 장치
JP5416012B2 (ja) ガス処理装置
JP2012213720A (ja) ガス処理装置
JP6774345B2 (ja) ガス処理装置
CN108970363B (zh) 一种填充臭氧分解剂的间隔式低温等离子发生器
JP2009165939A (ja) ガス処理装置
JP5688231B2 (ja) ガス処理装置
JP5486208B2 (ja) ガス処理装置
JP5271773B2 (ja) ガス処理装置
JP2010234255A (ja) ガス処理装置
JP5597008B2 (ja) ガス処理装置
JP2011206704A (ja) ガス処理装置
RU2004101745A (ru) Способ очистки газовых выбросов и устройство для его осуществления
JP2011206744A (ja) ガス処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100315

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110419

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110524

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111101