JP2008189871A - エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 - Google Patents
エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008189871A JP2008189871A JP2007027880A JP2007027880A JP2008189871A JP 2008189871 A JP2008189871 A JP 2008189871A JP 2007027880 A JP2007027880 A JP 2007027880A JP 2007027880 A JP2007027880 A JP 2007027880A JP 2008189871 A JP2008189871 A JP 2008189871A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- epoxy resin
- phenol
- group
- phenol resin
- resin composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Phenolic Resins Or Amino Resins (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
Abstract
【解決手段】 フェノール構造部位がメチレン基を介してアルコキシナフタレン構造部位と結合した分子構造を有するものであって、下記構造式(1)
【化1】
(式中、X及びYは、一方がメチレン基で他方が酸素原子であり、R1及びR2は、それぞれ独立的に、水素原子、水酸基、又は炭素原子数1〜4のアルキル基を表し、R3、R4、及びR5は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)
で表される構造の化合物の含有率が0.5質量%以下であるフェノール樹脂を使用する。
【選択図】なし
Description
然しながら、かかるエポキシ樹脂用硬化剤は、誘電特性は良好であるものの、近年のBGA、CSPといった表面実装パッケージへの移行、及び鉛フリー半田への対応によるリフロー処理温度の高温化に対応できるハンダクラック性を有していないという課題を有していた。
R3、R4、及びR5は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)
で表される構造を有する化合物の含有率が該フェノール樹脂中0.5質量%以下であることを特徴とするエポキシ樹脂組成物に関する。
本発明で用いるフェノール樹脂は、前記した通り、フェノール構造部位がメチレン基を介してアルコキシナフタレン構造部位と結合した分子構造を有するフェノール樹脂である。このような構造を有するフェノール樹脂中には、通常、下記構造式(1)
R3、R4、及びR5は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)
で表される構造の化合物が含まれている。本発明は、フェノール樹脂中の該化合物の含有率を0.5質量%以下となる範囲にまで低減させることにより前記フェノール樹脂が本来有する低誘電率、低誘電正接を何等損なうことなく耐ハンダクラック性が飛躍的に改善できたものである。
(式中、R1、R2はそれぞれ独立的に、水素原子、水酸基、又は炭素原子数1〜6のアルキル基を表す。)で表される化合物が挙げられ、具体的には、フェノール、レゾルシノール、ヒドロキノンなどの無置換フェノール類、クレゾール、エチルフェノール、n−プロピルフェノール、iso−プロピルフェノール、t−ブチルフェノールなどの一置換フェノール類、キシレノール、メチルプロピルフェノール、メチルブチルフェノール、ジプロピルフェノール、ジブチルフェノールなどの二置換フェノール類が挙げられる。
(R3、R4、及びR5は水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)で表される化合物が挙げられ、具体的には、1−メトキシナフタレン、2−メトキシナフタレン、1−メチル−2−メトキシナフタレン、2,6−ジメトキシナフタレン、2,7−ジメトキシナフタレン、1−エトキシナフタレン、1,4−ジメトキシナフタレン、1−t−ブトキシナフタレン等が挙げられる。
これらの中でも特に分子末端にアルコキシナフタレン骨格を形成し易い点から2−メトキシナフタレン、及び2,7−ジメトキシナフタレンが好ましく、特に誘電特性の点から2−メトキシナフタレンが好ましい。
(式中、X及びYは、一方がメチレン基で他方が酸素原子であり、R1、R2はそれぞれ独立的に、水素原子、水酸基、又は炭素原子数1〜6のアルキル基を表し、
R3、R4、及びR5は水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)
で表される分子構造の化合物が副生成物として混入する。本発明は前記フェノール樹脂中の該化合物の含有率を0.5質量%以下とすることにより、耐ハンダクラック性が飛躍的に向上したものである。特に、耐ハンダクラック性の改善効果が顕著である点から前記フェノール樹脂中の該化合物の含有率は0.01〜0.4質量%であることが好ましい。
2)GPC:
測定装置 :東ソー株式会社製「HLC−8220 GPC」、
カラム:東ソー株式会社製ガードカラム「HXL−L」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G3000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G4000HXL」
検出器: RI(示差屈折径)
データ処理:東ソー株式会社製「GPC−8020モデルIIバージョン4.10」
測定条件: カラム温度 40℃
展開溶媒 テトラヒドロフラン
流速 1.0ml/分
標準 : 前記「GPC−8020モデルIIバージョン4.10」の測定マニュアルに準拠して、分子量が既知の下記の単分散ポリスチレンを用いた。
(使用ポリスチレン)
東ソー株式会社製「A−500」
東ソー株式会社製「A−1000」
東ソー株式会社製「A−2500」
東ソー株式会社製「A−5000」
東ソー株式会社製「F−1」
東ソー株式会社製「F−2」
東ソー株式会社製「F−4」
東ソー株式会社製「F−10」
東ソー株式会社製「F−20」
東ソー株式会社製「F−40」
東ソー株式会社製「F−80」
東ソー株式会社製「F−128」
試料 : 樹脂固形分換算で1.0質量%のテトラヒドロフラン溶液をマイクロフィルターでろ過したもの(50μl)。
4)NMR:日本電子株式会社製 「NMR GSX270」
5)MS :日本電子株式会社製 二重収束型重量分析装置 AX505H(FD505H)
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、ο-クレゾール432.0g(4.0モル)と2−メトキシナフタレン158.2g(1.0モル)と37質量%ホルムアルデヒド水溶液48.6g(0.6モル)を仕込み、シュウ酸9.0gを加えて、90℃まで昇温した。ついで37質量%ホルムアルデヒド水溶液291.9g(3.00モル)を,90℃に保ちながら3時間かけて滴下した。滴下終了後,更に90℃で5時間反応させた。反応終了後、更にメチルイソブチルケトン1500gを加え、分液ロートに移し水洗した。次いで洗浄水が中性を示すまで水洗後、有機層から未反応のο-クレゾールと2−メトキシナフタレン、及びメチルイソブチルケトンを加熱減圧下に除去し、フェノール樹脂(A−1)を得た。
得られたフェノール樹脂の軟化点は74℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は0.8dPa・s、水酸基当量は167g/eq.であった。GPC分析の結果、分子構造式(1−b)で表される構造を有する化合物の含有率は、0.22重量%であった。
得られたフェノール樹脂のGPCチャートを図1に、C13−NMRチャートを図2に、MSスペクトルを図3に示す。
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、フェノール376.0g(4.0モル)と2−メトキシナフタレン158.2g(1.0モル)を仕込み、シュウ酸2.0gを加えて、95℃まで昇温した。ついで37質量%ホルムアルデヒド水溶液223.0g(2.75モル)を95℃に保持しながら3時間かけて滴下した。滴下終了後,更に95℃で3時間反応させた。反応終了後、更にメチルイソブチルケトン1500gを加え、分液ロートに移し水洗した。次いで洗浄水が中性を示すまで水洗後、有機層から未反応のフェノールと2−メトキシナフタレン、及びメチルイソブチルケトンを加熱減圧下に除去し、フェノール樹脂(A−2)を得た。
得られたフェノール樹脂の軟化点は75℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は0.9dPa・s、水酸基当量は158g/eq.であった。GPC分析の結果、分子構造式(1−a)で表される構造を有する化合物の含有率は、0.27重量%であった。
得られたフェノール樹脂のGPCチャートを図4に示す。
実施例2において、フェノール282.0g(3.0モル)、37質量%ホルムアルデヒド水溶液356.8g(4.4モル)とした以外は同様にして、フェノール樹脂(A−3)を得た。
得られたフェノール樹脂の軟化点は110℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は16dPa・s、水酸基当量は174g/eq.であった。GPC分析の結果、分子構造式(1−a)で表される構造を有する化合物の含有率は、0.17重量%であった。
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、フェノール376.0g(4.0モル)と2−メトキシナフタレン158.2g(1.0モル)を仕込み、シュウ酸2.0gを加えて100℃まで昇温した。ついで37質量%ホルムアルデヒド水溶液223.0g(2.75モル)を,水を分留環で捕集しながら115℃で3時間かけて滴下した。滴下終了後,更に115℃で3時間反応させた。反応終了後、更にメチルイソブチルケトン1500gを加え、分液ロートに移し水洗した。次いで洗浄水が中性を示すまで水洗後、有機層から未反応のフェノールと2−メトキシナフタレン、及びメチルイソブチルケトンを加熱減圧下に除去し、フェノール樹脂(A−4)を得た。
得られたフェノール樹脂の軟化点は73℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は0.8dPa・s、水酸基当量は160g/eq.であった。GPC分析の結果、分子構造式(1−a)で表される構造を有する化合物の含有率は、0.57重量%であった。
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、フェノール282.0g(3.0モル)と2−メトキシナフタレン158.2g(1.0モル)を仕込み、シュウ酸2.0gを加えて50℃まで昇温した。ついで92質量%パラホルムアルデヒド97.8g(ホルムアルデヒド換算で3.0モル)を、2時間かけて5分割添加しながら、110℃まで昇温した。その後、140℃で更に2時間反応させた。反応終了後、更にメチルイソブチルケトン1500gを加え、分液ロートに移し水洗した。次いで洗浄水が中性を示すまで水洗後、有機層から未反応のフェノールと2−メトキシナフタレン、及びメチルイソブチルケトンを加熱減圧下に除去し、フェノール樹脂(A−5)を得た。
得られたフェノール樹脂の軟化点は77℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は1.0dPa・s、水酸基当量は168g/eq.であった。GPC分析の結果、分子構造式(1−a)で表される構造を有する化合物の含有率は、0.53重量%であった。
エポキシ樹脂として、大日本インキ化学工業製N−665−EXP(オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、エポキシ当量203g/eq)、フェノール樹脂として(A−1)〜(A−5)を用い、硬化促進剤としてトリフェニルホスフィン(TPP)、無機充填材として球状シリカ(株式会社マイクロン製S−COL)、シランカップリング剤としてγ−グリシドキシトリエトキシキシシラン(信越化学工業株式会社製「KBM−403」)、カルナウバワックス(株式会社セラリカ野田製「パール・ワックス No.1−P」)、カーボンブラックを用いて、表1に示した配合に従って調整した混合物を、2本ロールを用いて90℃の温度で5分間溶融混練して目的の組成物を作成した。得られた組成物を粉砕したものを、トランスファー成形機にて、圧力70kg/cm2、ラム速度5cm/秒、温度175℃、時間180秒でφ50mm×3(t)mmの円板状に成形したものを評価用のサンプルとして用いた。硬化性の評価を行った。硬化物の耐熱性、吸湿性、ハンダクラック性は、上記評価用サンプルを用い、以下の方法で評価した。
ガラス転移温度:粘弾性測定装置(レオメトリック社製 固体粘弾性測定装置「RSAII」、二重カレンチレバー法;周波数1Hz、昇温速度3℃/min)を用いて測定した。
尚、試験片は、前記円板状の試験片を幅5mm、長さ54mmに切り出したものとした。
<吸湿性>
85℃/85%RHの雰囲気下168時間放置し、処理前後の重量変化を測定した。
<ハンダクラック性>
10個の試験片を、85℃/85%RHの雰囲気下168時間放置し、吸湿処理を行った後、これを260℃のハンダ浴に10秒間浸漬させた際、クラックの発生した試験片の数を数えた。
Claims (4)
- エポキシ樹脂及びフェノール樹脂を必須成分とするエポキシ樹脂組成物であって、前記フェノール樹脂が、フェノール構造部位がメチレン基を介してアルコキシナフタレン構造部位と結合した分子構造を有するものであり、かつ、下記構造式(1)
R3、R4、及びR5は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜4のアルキル基、又はアルコキシ基を表す。)
で表される構造を有する化合物の含有率が該フェノール樹脂中0.5質量%以下であることを特徴とするエポキシ樹脂組成物。 - 前記フェノール樹脂が、軟化点が170℃以下、水酸基当量が120〜500g/eqのものである請求項1記載のエポキシ樹脂組成物。
- 請求項1又は2記載のエポキシ樹脂組成物を硬化してなるエポキシ樹脂硬化物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007027880A JP5035602B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007027880A JP5035602B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008189871A true JP2008189871A (ja) | 2008-08-21 |
JP5035602B2 JP5035602B2 (ja) | 2012-09-26 |
Family
ID=39750269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007027880A Active JP5035602B2 (ja) | 2007-02-07 | 2007-02-07 | エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5035602B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014208131A1 (ja) * | 2013-06-26 | 2014-12-31 | Dic株式会社 | エポキシ化合物、エポキシ樹脂、硬化性組成物、その硬化物、半導体封止材料、及びプリント配線基板 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006274236A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-10-12 | Dainippon Ink & Chem Inc | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、新規フェノール樹脂、および新規エポキシ樹脂 |
-
2007
- 2007-02-07 JP JP2007027880A patent/JP5035602B2/ja active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006274236A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-10-12 | Dainippon Ink & Chem Inc | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、新規フェノール樹脂、および新規エポキシ樹脂 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014208131A1 (ja) * | 2013-06-26 | 2014-12-31 | Dic株式会社 | エポキシ化合物、エポキシ樹脂、硬化性組成物、その硬化物、半導体封止材料、及びプリント配線基板 |
JP5679248B1 (ja) * | 2013-06-26 | 2015-03-04 | Dic株式会社 | エポキシ化合物、エポキシ樹脂、硬化性組成物、その硬化物、半導体封止材料、及びプリント配線基板 |
KR20160026847A (ko) * | 2013-06-26 | 2016-03-09 | 디아이씨 가부시끼가이샤 | 에폭시 화합물, 에폭시 수지, 경화성 조성물, 그 경화물, 반도체 봉지 재료, 및 프린트 배선 기판 |
KR102145814B1 (ko) | 2013-06-26 | 2020-08-19 | 디아이씨 가부시끼가이샤 | 에폭시 화합물, 에폭시 수지, 경화성 조성물, 그 경화물, 반도체 봉지 재료, 및 프린트 배선 기판 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5035602B2 (ja) | 2012-09-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4941804B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、新規フェノール樹脂、および新規エポキシ樹脂 | |
JP5013234B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール系樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材料 | |
WO2006025429A1 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、新規フェノール樹脂、新規エポキシ樹脂、新規フェノール樹脂の製造方法、および新規エポキシ樹脂の製造方法 | |
JP5136729B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材料 | |
JP4661033B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、半導体封止材料及び半導体装置 | |
JP2006248912A (ja) | 多価ヒドロキシ化合物、エポキシ樹脂、それらの製造方法、エポキシ樹脂組成物及び硬化物 | |
JPWO2016002241A1 (ja) | エポキシ樹脂、硬化性樹脂組成物、硬化物、半導体封止材料、半導体装置、プレプリグ、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び繊維強化成形品 | |
JP5760794B2 (ja) | ポリヒドロキシ化合物、エポキシ樹脂、熱硬化性樹脂組成物、その硬化物及び半導体封止材料 | |
JP5689230B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、半導体装置、及びエポキシ樹脂 | |
JP5380763B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、新規フェノール樹脂、新規エポキシ樹脂、新規フェノール樹脂の製造方法、および新規エポキシ樹脂の製造方法 | |
JP2005097352A (ja) | エポキシ樹脂組成物、半導体封止材料及び半導体装置 | |
JP5605629B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材 | |
JP5626566B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材料 | |
JP5233858B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、及び半導体装置 | |
JP4984451B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物及びその硬化物 | |
JP5716963B2 (ja) | ポリヒドロキシ化合物、エポキシ樹脂、熱硬化性樹脂組成物、その硬化物及び半導体封止材料 | |
JP5035602B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物及び新規フェノール樹脂 | |
JP5024605B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、新規フェノール樹脂及びその製造方法 | |
JP5590416B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材料 | |
JP5035604B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、および新規エポキシ樹脂 | |
JP2009286944A (ja) | 熱硬化性樹脂組成物、その硬化物、新規フェノール樹脂及びその製造方法 | |
JP5668987B2 (ja) | 硬化性樹脂組成物、その硬化物、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、及び半導体封止材料 | |
JP5024604B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物、その硬化物、新規エポキシ樹脂及びその製造方法 | |
JP6066158B2 (ja) | エポキシ樹脂、硬化性樹脂組成物、その硬化物、半導体封止材料、及び半導体装置 | |
JP5082492B2 (ja) | 2官能性ヒドロキシ化合物、エポキシ樹脂、それらの製造方法、エポキシ樹脂組成物、その硬化物、及び半導体封止材料 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100202 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111019 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111024 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20111221 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111227 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120223 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120420 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120607 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120620 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5035602 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |