JP2008166380A - 半導体製造工場における製造管理方法 - Google Patents
半導体製造工場における製造管理方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】半導体製造工場の製造管理方法においては、半導体製品毎に、以下の数式(3)で表される新たな付加価値レートを算出し、
付加価値レート=(半導体製品の単価−直接材料費−外注加工費)÷半導体製品のマスク枚数・・・(3)
この付加価値レートを指標として複数の半導体製品の製造優先順位を決定するものである。つまり、この付加価値レートが大きいほどその製品の製造優先順位が高いと判断する。これにより、複数の半導体製品の製造優先順位を適切かつ簡単に決定することが可能になる。
【選択図】図2
Description
スループット=売価−純変動費=売価−(直接材料費+外注加工費)・・・(1)
スループットレート=スループット÷ボトルネック工程の利用時間・・・(2)
ボトルネック工程の利用時間が少ない製品Xを作った方が利益を得やすいということになる。
この管理手法は、特に工場における製造状況が混雑している時に有効である。
半導体製品毎に、以下の数式で表される付加価値レートを算出し、
付加価値レート=(半導体製品の単価−直接材料費−外注加工費)÷特定の製造工程を半導体ウエハーが通過する回数
この付加価値レートを指標として複数の半導体製品の製造優先順位を決定することを特徴とする。
付加価値レート=(半導体製品の単価−直接材料費−外注加工費)÷半導体製品のマスク枚数・・・(3)
この付加価値レートを指標として複数の半導体製品の製造優先順位を決定するものである。つまり、この付加価値レートが大きいほどその製品の製造優先順位が高いと判断する。これにより、複数の半導体製品の製造優先順位を適切かつ簡単に決定することが可能になる。
2 組立工場
A,B,C ウエハー工場における各工程
D,E,F 組立工場における各工程
Claims (3)
- 投入された半導体ウエハーに対して複数の製造工程を施して、複数機種の半導体製品を製造する半導体製造工場における製造管理方法において、
半導体製品毎に、以下の数式で表される付加価値レートを算出し、
付加価値レート=(半導体製品の単価−直接材料費−外注加工費)÷特定の製造工程を半導体ウエハーが通過する回数
この付加価値レートを指標として複数の半導体製品の製造優先順位を決定することを特徴とする半導体製造工場における製造管理方法。 - 前記特定の製造工程はホトリソグラフィー工程であり、特定の製造工程を半導体ウエハーが通過する回数は、その半導体製品のマスク枚数であることを特徴とする請求項1に記載の半導体製造工場における製造管理方法。
- 前記直接材料費及び前記外注加工費は、ウエハー工場と組立工場における直接材料費及び前記外注加工費を合計したものであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体製造工場における製造管理方法。
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