JP2008154114A - 表面実装用の水晶発振器 - Google Patents

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Abstract

【課題】ICチップの放熱効果を高め、凹部底面に設けた検査端子によって水晶振動子の特性検査を可能にする。
【解決手段】容器本体1の一方の凹部内に密封された水晶片2と、他方の凹部の底面にダイボンディングされたICチップ3とを備え、他方の凹部の底面にはアースパターン9が設けられた表面実装用の水晶発振器において、アースパターン9は電気的に独立した第1と第2パターンとからなり、第1パターンは水晶片2の励振電極の一方と接続し、第2パターンは励振電極の他方に及びアース端子12aとしての外部端子12に接続し、第1と第2パターンとを水晶振動子の一対の特性検査端子として水晶振動子の特性検査後に、第1及び第2パターンとを水晶振動子の特性検査後に、第1及び第2パターンと一対の励振電極との電気的接続が遮断され、かつ、第1と第2パターンとを接続する。
【選択図】図2

Description

本発明は両主面に凹部を有するH構造とした表面実装用の水晶発振器を技術分野とし、特に放熱効果を高めて温度補償を確実にした温度補償型の表面実装発振器(以下、温度補償発振器とする)に関する。
(発明の背景)
表面実装用の水晶発振器は小型・軽量であることから、特に携帯型の電子機器に周波数や時間の基準源として内蔵される。これらの中でも、特に温度補償発振器は温度に対する周波数安定度が高いことから、動的環境下で使用されて仕様の厳しい例えば携帯電話に周波数源として内蔵される。
(従来技術の一例)
第5図は一従来例を説明する図で、同図(a)は温度補償発振器の概ねの断面図、同図(b)は同底面図、同図(c)は水晶片の平面図である。
温度補償発振器は積層セラミックからなるH構造とした容器本体1の一方の凹部に水晶片2を、他方の凹部にICチップ3を収容してなる。水晶片2は両主面に励振電極4を有し、一端部両側に引出電極5を延出する。そして、水晶片2の一端部両側を一方の凹部底面に設けられた図示しない一対の水晶端子に導電性接着剤6によって固着する。そして、例えばシーム溶接によって金属カバー7を被せて密閉封入する。なお、一般には水晶片2が密閉封入された状態で、水晶振動子とする。
ICチップ3は図示しない発振回路と温度補償機構とを集積化し、回路機能面に各IC端子8を有する。そして、回路機能面とは反対面となる一主面が、他方の凹部底面に図示しない導電性接合剤ここでは導電性接着剤によって固着する(所謂ダイボンディング)。ICチップ3の一主面が固着される他方の凹部底面には、ICチップ3の一主面をアース電位とするアースパターン9を有する。ICチップ3の回路機能面となる他主面に設けられた各IC端子8はワイヤーボンディングによる金線10によって、水晶端子の延出した回路パターンを含めて他方の凹部底面に設けられた各内部端子11と電気的に接続する。
アースパターン9及び回路パターン(但し、水晶端子の延出した回路パターンは除く)は、容器本体1の外底面に設けられた表面実装用の各外部端子12と積層面及び端面(側面)を経て電気的に接続する。各外部端子12はアースパターン9と接続するアース端子12a及び出力、電源及びAFC端子等からなる。なお、IC端子8中のアース端子8aはワイヤーボンディングの金線10によって、例えばアースパターン9の引出部9aに接続して、外部端子としてのアース端子12aに電気的に接続する。
このようなものでは、ICチップ3の温度補償機構内の温度センサが周囲温度を検出し、これに基づく補償電圧を発振閉ループ内の例えば電圧可変容量素子に印加する。これにより、発振閉ループの負荷容量(直列等価容量)が温度に対応して変化し、発振周波数を一定にする。要するに、温度変化に伴う発振周波数の変化(周波数温度特性)を補償し、温度に対する周波数安定度を高める。なお、水晶発振器の周波数温度特性は、第6図に示したように水晶振動子(例えばATカット)の三次曲線となる周波数温度特性に依存する。なお、図中縦軸のΔf/f(ppm)は公称周波数(概ね25℃での発振周波数)に対する周波数偏差である。
この場合、ICチップ3の一主面が熱伝導性を良好とする導電性接着剤によって容器本体1の他方の凹部底面に全面的に固着されて外部端子12に導出される。これにより、ICチップ3が全面的に固着されて積層セラミックとした容器本体1からの放熱、及びアースパターン9を経ての外部端子12からの放熱によって放熱効果が高まる。したがって、例えば第7図に示したように、ICチップ3の回路機能面となる他主面をバンプ13を用いた超音波熱圧着によって固着した所謂フリップチップボンディングに比較し、ICチップ3による発熱温度を放熱しやすい。
このことから、ダイボンディングによる温度補償発振器では、ICチップ3内の温度センサの検出温度が水晶振動子の動作温度に一致するので、適切な補償電圧を電圧可変容量素子に印加して温度補償を確実にする。これに比較し、フリップチップボンディングの場合は、基本的にパンプを経ての放熱のみとなるので、ICチップ3による発熱がICチップ3内に蓄熱される。
このため、水晶振動子の動作温度と温度センサの検出温度とが異なり、例えば水晶振動子の動作温度が公称周波数となる常温25℃でも、検出温度はこれより高いα℃となる。したがって、温度補償機構は(α−25)℃分の周波数変化に応じた補償電圧を印加するので、発振周波数は公称周波数からずれることになり、温度補償が損なわれる。
これらのフリップチップボンディングによる問題は、近年の小型化例えば容器本体1の平面外形を3.2×2.5mm、高さを1.0mm以下に小さくなるほど顕著になり、逆に言えば、ダイボンディングとした放熱効果による温度補償の確実性が着目される。
特許第3251399号明細書
(従来技術の問題点)
しかしながら、上記構成のダイボンディングによる温度補償発振器では、容器本体1の他方の凹部底面にはアースパターン9を形成してICチップ3の一主面を固着する。このため、水晶振動子の振動特性を発振回路とは別個に測定器を用いて独立的に測定(検査)する特性検査端子を、凹部底面に形成できない問題があった。なお、水晶振動子の振動特性例えばクリスタルインピーダンス(CI)を予め検査することによって、後日における不慮の発振停止等を防止できる。
これに対し、フリップチップボンディングの場合は、アースパターン9を不要とするので、ICチップ3の下面となる凹部底面に特性検査端子を形成できる。しかし、前述のように、放熱効果に欠けて温度補償を損なう問題がある。また、例えば一主面側の凹部内に水晶片2とICチップ3と収容して一部屋型とした場合と同様に、容器本体の外側面に検査端子を設けることも考えられる。しかし、この場合は、容器本体1の外表面に水晶端子が露出するので、金属クズ等の接触による周波数変化等のおそれもあった。
(発明の目的)
本発明はICチップをダイボンディングして放熱効果を高めるとともに特に温度補償を確実にし、凹部底面に設けた検査端子によって水晶振動子の特性検査を可能にする表面実装発振器を提供することを目的とする。
本発明は、特許請求の範囲(請求項1)に示したように、両主面に凹部を有する容器本体と、前記凹部のうちの一方の凹部内に収容されて密閉封入された水晶片と、前記凹部のうちの他方の凹部の底面に一主面が固着されて他主面のIC端子がワイヤーボンディングによって電気的に導出され、発振回路及び温度補償機構を集積化したICチップとを備え、前記他方の凹部の底面には前記ICチップの一主面が固着されるアースパターンが設けられてアース端子としての外部端子に電気的に接続した表面実装用の水晶発振器において、前記アースパターンは分割されてそれぞれが電気的に独立した第1パターンと第2パターンとからなり、前記第1パターンは前記水晶片の一対の励振電極の一方と電気的に接続し、前記第2パターンは前記一対の励振電極の他方に及び前記アース端子としての外部端子に接続し、前記第1パターンと第2パターンとを水晶振動子の一対の特性検査端子として前記水晶振動子の特性検査後に、前記第1パターン及び前記第2パターンと前記一対の励振電極との電気的接続が遮断され、かつ、前記第1パターンと第2パターンとが電気的に接続された構成とする。
このような構成であれば、凹部底面のアースパターンが分割された第1パターンと第2パターンとを水晶片の一対の励振電極に電気的に接続するので、ICチップを凹部底面に固着する前に、第1パターンと第2パターンとを水晶振動子の特性検査端子として機能できる。そして、水晶振動子の特性検査後に、第1パターン及び第2パターンは各励振電極と電気的に遮断されて、第1パターンと第2パターンとは電気的に接続にする。そして、第2パターンはアース端子としての外部端子に接続するので、第1パターンと第2パターンは分割前のアースパターンとして機能する。
これらのことから、ICチップの一主面がアースパターンの形成された凹部底面に全面的に固着されるとともに、アースパターンがアース端子としての外部端子に導出されるので、前述したように放熱効果を高められる。これにより、温度補償機構の温度センサによる検出温度が水晶振動子の動作温度に一致して温度補償を確実にする。そして、アースパターンを分割することによって、水晶振動子の検査端子として活用して、水晶振動子の特性検査を可能にする。
但し、温度補償機構を有しない表面実装発振器であっても、例えば起動時におけるICチップによる発熱による温度を放出して水晶振動子の周波数温度特性を本来の特性にする効果も生ずるので、温度補償発振器には限定されない。
(実施態様項)
本発明の請求項2に示したように、請求項1において、前記第2パターンはさらに分割されてそれぞれが電気的に独立した第3パターンと第4パターンとからなり、前記第3パターンは前記一対の励振電極の他方と電気的に接続して前記第4パターンは前記外部端子に接続し、前記第1パターンと前記第3パターンとを前記特性検査端子として前記水晶振動子の特性検査後に、前記第1パターン及び前記第3パターンと前記一対の励振電極4との電気的接続が遮断され、かつ、前記第1パターンと前記第3パターンと前記第4パターンとが電気的に接続される。
これによれば、水晶振動子の特性検査端子は第1パターンと第3パターンとなり、いずれも外部端子としてのアース端子とは電気的に独立する。したがって、水晶振動子の特性検査の際、例えばアース端子が外部回路等と接触したとしてもその影響を防止できる。
同請求項3では、請求項1において、前記容器本体1は積層セラミックとして、前記ICチップは導電性接着剤によって前記他方の凹部に固着される。これにより、積層セラミックは熱伝導率もよく、さらに導電性接着剤は導電粒子例えばAgを含有して熱伝導率も高いので、容器本体自体からの放熱効果が高まる。
(第1実施形態)
第1図は本発明の一実施形態を説明する温度補償発振器の概ねの底面図であり、第2図及び第3図は具体的な製造過程を示す断面図あるいは底面図である。なお、前従来例と同一部分には同番号を付与してその説明は簡略又は省略する。
温度補償発振器は、前述したように、両主面に凹部を有して積層セラミックからなる容器本体1の一方の凹部に一対の励振電極4及び引出電極5を有する水晶片2を密閉封入し、他方の凹部にダイボンディングによりICチップ3を収容する「前第5図参照」。ICチップ3は発振回路及び温度センサを有する温度補償機構を集積化してなる。
そして、この実施形態では、容器本体1における他方の凹部底面のアースパターン9は、第1パターン9xと第2パターン9yに分割して形成される。第1パターン9xと第2パターン9yは凹部底面に引出部9xa、9yaを有する。そして、第1パターン9xは引出部9xaを経て、水晶片2の固着される一方の凹部底面の一対の水晶端子14の一方とスルーホールを含む導電路15によって電気的に接続する「第2図(a)参照」。
第2パターン9yは引出部9yaを経て、同様にして一対の水晶端子14の他方と電気的に接続する。要するに、第1パターン9x及び第2パターン9yは水晶端子14を経て水晶片2の一対の励振電極4と電気的に接続する。第2パターン9yは、さらに他方の凹部の4角部の外底面に設けた外部端子12としてのアース端子12aに電気的に接続する。
このようなものでは、先ず、水晶片2を一方の凹部に収容して金属カバー7を接合し、水晶片2を密閉封入した後、第1パターン9xと第2パターン9yとを特性検査端子とし、これに図示しない測定器からのプローブ16を当接して水晶振動子の振動特性を測定する「第2図(a)」。これによって、振動特性が規格を満足しない場合は、例えばクリスタルインピーダンス(CI)が規格値を超えている場合は、これを不良品として廃棄処分とする。
次に、振動特性を満足して良品としたものを対象として、例えばレーザによって、第1パターン9x及び第2パターン9yとの導電路としての引出部9xa、9yaを切断し、一対の水晶端子14との電気的接続を遮断する「第2図(a)」。そして、他方の凹部底面の第1パターン9xと第2パターン9y上に導電性接着剤17を塗布して、ICチップ3の一主面を固着する(第3図)。
この場合、導電性接着剤17によって第1パターン9xと第2パターン9yとが電気的に共通接続される。そして、第2パターン9xはアース端子12aに接続するので、共通接続された第1パターン9xと第2パターン9yとは本来のアースパターン9として機能する。最後に、ワイヤーボンディングによる金線10によってIC端子8を導出し、他方の凹部底面の回路パターンと電気的に接続する(前第5図参照)。
これらによれば、アースパターン9を分割した第1パターン9xと第2パターン9yとが水晶片2の一対の励振電極4と電気的に接続するので、第1パターン9xと第2パターン9yとを水晶振動子の特性検査端子として利用できる。そして、特性検査後に、第1パターン9xと第2パターン9yとは電気的に接続してアース端子12aに接続するので、本来のアースパターン9となる。
したがって、ICチップ3の一主面が積層セラミックとした容器本体1の凹部底面に全面的に導電性接着剤17によって固着されることによって、容器本自体からの放熱量を多くする。また、金属膜からなるアースパターン9に接続したアース端子12aによる放熱量も多くなる。これらから、ICチップ3による発熱に対する放熱効果を高められる。そして、アースパターン9を分割して一対の励振電極4に電気的に接続するので、これを特性検査端子として水晶振動子の振動特性を検査できる。
(第2実施形態)
第4図は本発明の第2実施形態を説明する温度補償水晶発振器の底面図である。なお、前実施形態と同一部分の説明は省略又は簡略する。
第2実施形態では、第1実施形態でのアースパターン9を分割してアース端子12aに接続した第2パターンをさらに分割し、電気的に独立した第3パターン9y1と第4パターン9y2とする。ここでは、第3パターン9y1の面積を第4パターン9y2のそれよりも大きくする。そして、第3パターン9y1は一対の水晶端子14(励振電極4)の他方に、引出部9yaを含む導電路15を経て接続し、第4パターン9y2はアース端子12aに導電路によって電気的に接続する。但し、アースパターン9を分割した第1パターン9xは前述のように水晶端子14の一方に電気的に接続する。
このようなものでは、一対の水晶端子(励振電極4)に接続した第1パターン9xと第3パターン9y2によって、水晶振動子の振動特性を測定(検査)する。そして、水晶振動子の特性検査後に、第1パターン9x及び第3パターン9y1の引出部9xa、9yaを切断し、一対の水晶端子との電気的接続を遮断する。そして、導電性接着剤6によって第1〜第3パターン9x、9y1、9y2を電気的に接続するとともに、ICチップ3の一主面をアースパターン9上に固着する。最後に、ワイヤーボンディングによってIC端子8と内部端子とを接続する。
これらにより、アースパターン9を分割した第1パターン9xと第2パターン9yをさらに分割した第3パターン9y1とが水晶片2の一対の励振電極4と電気的に接続するので、第1パターン9xと第3パターン9y1とを水晶振動子の特性検査端子として利用できる。そして、特性検査後に、第1パターン9xと第3パターン9y1と第4パターン9y2とは電気的に接続してアース端子12aに接続するので、本来のアースパターン9となる。
したがって、第1実施形態と同様にして、ICチップ3による発熱に対する放熱効果を高められる。そして、アースパターン9を分割して一対の励振電極4に電気的に接続するので、これを特性検査端子として利用できる。
そして、第2実施形態では、水晶振動子の特性検査時には第1パターン9x及び第3パターン9x1はアース端子12aとは電気的に遮断されて独立する。したがって、アース端子12aが特性検査中に外部の金属等に接触したとしても、電気的には何らの影響も受けないので、信頼性の高い特性結果を得られる。そして、第3パターン9y1は第4パターン9y2よりも面積を大きくするので、プローブの接触を容易にする。
なお、上記実施形態では容器本体1のICチップ3の収容される他方の凹部は4側壁面を有するものとしたが、一部の側壁の開放されてあっても、さらには4角部の脚部のみであってもよい。また、例えば容器本体の側面には温度補償機構に接続した温度補償データの書込端子が設けられる。
本発明の第1実施形態を説明する温度補償発振器の概ねの底面図である。 本発明の第1実施形態を説明する具体的な製造過程を説明する図で、同図(a)は温度補償発振器の断面図、同図(b)は底面図である。 本発明の第1実施形態を説明する具体的な製造過程を説明する温度補償発振器の断面図である。 本発明の第2実施形態を説明する温度補償発振器の底面図である。 従来例を説明する図で、同図(a)は温度補償発振器の概ねの断面図、同図(b)は同底面図、同図(c)は水晶片の平面図である。 従来例を説明する水晶振動子(表面実装発振器)の周波数温度特性図である。 他の従来例を説明する温度補償発振器の断面図である。
符号の説明
1 容器本体、2 水晶片、3 ICチップ、4 励振電極、5 引出電極、6、17 導電性接着剤、7 金属カバー、8 IC端子、9 アースパターン、10 金線、11 内部端子、12 外部端子、13 バンプ、14 水晶端子、15 導電路、16 プローブ。

Claims (3)

  1. 両主面に凹部を有する容器本体と、前記凹部のうちの一方の凹部内に収容されて密閉封入された水晶片と、前記凹部のうちの他方の凹部の底面に一主面が固着されて他主面のIC端子がワイヤーボンディングによって電気的に導出され、発振回路及び温度補償機構を集積化したICチップとを備え、
    前記他方の凹部の底面には前記ICチップの一主面が固着されるアースパターンが設けられてアース端子としての外部端子に電気的に接続した表面実装用の水晶発振器において、
    前記アースパターンは分割されてそれぞれが電気的に独立した第1パターンと第2パターンとからなり、前記第1パターンは前記水晶片の一対の励振電極の一方と電気的に接続し、前記第2パターンは前記一対の励振電極の他方に及び前記アース端子としての外部端子に接続し、
    前記第1パターンと第2パターンとを水晶振動子の一対の特性検査端子として前記水晶振動子の特性検査後に、前記第1パターン及び前記第2パターンと前記一対の励振電極との電気的接続が遮断され、かつ、前記第1パターンと第2パターンとが電気的に接続されたことを特徴とする表面実装用の水晶発振器。
  2. 請求項1において、前記第2パターンはさらに分割されてそれぞれが電気的に独立した第3パターンと第4パターンとからなり、前記第3パターンは前記一対の励振電極の他方と電気的に接続して前記第4パターンは前記外部端子に接続し、前記第1パターンと前記第3パターンとを前記特性検査端子として前記水晶振動子の特性検査後に、前記第1パターン及び前記第3パターンと前記一対の励振電極4との電気的接続が遮断され、かつ、前記第1パターンと前記第3パターンと前記第4パターンとが電気的に接続されたことを特徴とする表面実装用の水晶発振器。
  3. 請求項1において、前記容器本体1は積層セラミックとして、前記ICチップは導電性接着剤によって前記他方の凹部に固着された表面実装用の水晶発振器。
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