JP2008132517A - レーザ照射装置及びレーザ加工方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 1本のレーザビームを分岐させない状態と、複数本のレーザビームに分岐させる状態とを容易に切り替えることができるレーザ照射装置を提供する。
【解決手段】 ビーム経路切替器が、第1の状態と第2の状態とを切り替える。第1の状態では、レーザ光源から出射されたレーザビームを、第1の経路に伝搬させる。第2の状態では、第2の経路に伝搬させる。第1のビーム分岐器が、第2の経路を伝搬するレーザビームの一部を、第3の経路に分岐させる。第1のビーム合流器が、第3の経路を伝搬するレーザビームを、第1の経路を伝搬するレーザビームに合流させる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、レーザ照射装置及びレーザ加工方法に関し、特に1本のレーザビームから分岐された複数本のレーザビームを加工対象物に照射するレーザ照射装置、及びそれを用いたレーザ加工方法に関する。
プリント配線基板等の穴あけ加工に、レーザビームが用いられる。生産性向上のために、レーザ発振器から出射された1本のレーザビームを複数本のレーザビームに分岐させて、複数の被加工点に同時に穴を形成する技術が、下記の特許文献1及び2に開示されている。
特開2005−74479号公報 特開2002−11584号公報
1本のレーザビームを分岐させると、レーザビーム1本あたりの強度は低下する。パルスレーザビームで穴あけ加工を行う場合、1パルスあたりのエネルギ密度(パルスエネルギ密度)を、穴あけ加工を行うために必要な最小のパルスエネルギ密度(しきい値)以上にしなければならない。加工しやすい材料(しきい値の低い材料)を加工する場合には、1本のレーザビームを複数本のレーザビームに分岐させて加工を行うことにより、加工時間を短くすることができる。ところが、1本のレーザビームではしきい値以上のパルスエネルギ密度が確保できるが、2本に分岐させると、各々のレーザビームのパルスエネルギ密度がしきい値未満になってしまうような材料を加工する場合には、2本に分岐させて加工を行うことができない。
1本のレーザビームでなければ加工できない材料と、分岐させた複数のレーザビームで加工可能な材料とが、一つの加工対象物内に混在する場合、1本のレーザビームを入射させる状態と、分岐後の複数のレーザビームを入射させる状態とを切り替えることができれば便利である。従来のレーザ加工装置では、この切替を行うために、種々の光学素子の配置を変える必要がある。光学素子の配置を変えると、光軸調整等に時間を要するため、装置の稼働率の低下につながる。
本発明の目的は、1本のレーザビームを分岐させない状態と、複数本のレーザビームに分岐させる状態とを容易に切り替えることができるレーザ照射装置を提供することである。本発明の他の目的は、このレーザ照射装置を用いてレーザ加工を行う方法を提供することである。
本発明の一観点によると、
レーザ光源から出射されたレーザビームを、第1の経路に伝搬させる第1の状態と、第2の経路に伝搬させる第2の状態とが、制御信号によって切り替わるビーム経路切替器と、
前記第2の経路を伝搬するレーザビームの一部を、第3の経路に分岐させる第1のビーム分岐器と、
前記第3の経路を伝搬するレーザビームを、前記第1の経路を伝搬するレーザビームに合流させる第1のビーム合流器と
を有するレーザ照射装置が提供される。
本発明の他の観点によると、
レーザビームによって相対的に穴が形成されやすい材料からなる下地部材の上に、レーザビームによって相対的に穴が形成されにくい材料からなる表面層が形成された加工対象物を準備する工程と、
上述のレーザ照射装置のビーム経路切替器を第1の状態として、前記第1の経路を伝搬するレーザビームを前記加工対象物上の第1の被加工点に入射させて、該第1の被加工点の表面層を除去する工程と、
前記ビーム経路切替器を第1の状態に維持し、前記第1の経路を伝搬するレーザビームを前記加工対象物上の第2の被加工点に入射させて、該第2の被加工点の表面層を除去する工程と、
前記ビーム経路切替器を第2の状態にし、前記第1のビーム合流器で合成された後の第1の経路を伝搬するレーザビームを前記第1の被加工点に入射させると同時に、前記第2のビーム分岐器で分岐された後の第2の経路を伝搬するレーザビームを前記第2の被加工点に入射させて、第1及び第2の被加工点の下地部材に穴を形成する工程と
を有するレーザ加工方法が提供される。
ビーム経路切替器が第1の状態のとき、第1の経路に沿ってレーザビームが出射される。第2の状態のときは、第1の経路と第2の経路とに沿って2本のレーザビームが出射される。1本のレーザビームを用いた加工と、2本のレーザビームを用いた加工とを、容易に切り替えて実施することができる。
図1に、第1の実施例によるレーザ照射装置の概略図を示す。レーザ光源1が、直線偏光されたレーザビームを出射する。レーザ光源1から出射されたレーザビームが、ビーム伝搬光学系10に入射する。レーザ光源1として、種々のレーザ発振器、例えば炭酸ガスレーザ、Nd:YAGレーザ、エキシマレーザ等を用いることができる。また、レーザ発振器は、連続発振するものでもよいし、パルス発振するものでもよい。
ビーム伝搬光学系10は、レーザ光源1から出射されたレーザビームを、第1の経路p1に沿って出射させる第1の状態と、第1の経路p1及び第2の経路p2に沿って出射させる第2の状態とを切り替えることができる。第1の経路p1に沿って出射されたレーザビームが、第1のガルバノスキャナ31及び第1のfθレンズ33を経由して、加工対象物40に入射する。第2の経路p2に沿って出射されたレーザビームが、第2のガルバノスキャナ32及び第2のfθレンズ34を経由して、加工対象物40の異なる位置に入射する。加工対象物40は、XYステージ35に保持されている。
第1及び第2のガルバノスキャナ31、32は、それぞれ第1の経路p1及び第2の経路p2を伝搬するレーザビームを2次元方向に走査する。第1及び第2のfθレンズ33、34は、レーザビームを加工対象物40の表面に集光する。
ビーム伝搬光学系10は、音響光学偏向器(ビーム経路切替器)11、半波長板17、第1の部分反射鏡14、及び第1の偏光ビームスプリッタ(第1のビーム合流器)18を含む。音響光学偏向器は、音響光学偏向器(AOD)で構成され、第1のビーム合流器18は、偏光ビームスプリッタで構成される。レーザ光源1から出射されたレーザビームが、音響光学偏向器に入射する。入射するレーザビームの偏光方向が、図1の紙面に平行であるとする。制御装置20が、音響光学偏向器に制御信号sigを送信する。制御信号sigが入力されていない期間は、音響光学偏向器に入射したレーザビームはそのまま直進し、第1の経路p1に沿って伝搬する。この状態を「第1の状態」と呼ぶこととする。制御信号sigが入力されている期間は、音響光学偏向器に入射したレーザビームは回折され、第2の経路p2に沿って伝搬する。この状態を「第2の状態」と呼ぶこととする。なお、一般的に回折効率は100%ではないため、第2の状態のときに、一部の漏れ成分は、第1の経路p1に出射される。
第1の経路p1を伝搬するレーザビームは、折り返しミラー13で反射される。折り返しミラー13と第1のガルバノスキャナ31との間の第1の経路p1上に、第1の偏光ビームスプリッタ18が配置されている。第1の偏光ビームスプリッタ18は、第1の経路p1を伝搬するレーザビームが、p偏光になる姿勢で配置されている。このため、第1の経路p1を伝搬するレーザビームは、第1の偏光ビームスプリッタ18を透過し、第1のガルバノスキャナ31に入射する。
第2の経路p2を伝搬するレーザビームは、折り返しミラー12で反射され、半波長板17に入射する。半波長板17は、レーザビームの偏光方向を90°旋回させる。すなわち、半波長板17を通過して第2の経路p2に沿って伝搬するレーザビームの偏光方向は、紙面に垂直になる。
半波長板17を通過したレーザビームの一部の成分が、第1の部分反射鏡14を透過して第2の経路p2に沿って伝搬すると共に、他の成分が、第1の部分反射鏡14で反射されて第3の経路p3に沿って伝搬する。第1の部分反射鏡14を透過したレーザビームは、第2のガルバノスキャナ32に入射する。
第1の部分反射鏡14で反射されて第3の経路p3に沿って伝搬するレーザビームは、第1の偏光ビームスプリッタ18に入射する。第1の偏光ビームスプリッタ18は、第3の経路p3を伝搬するレーザビームを反射して第1の経路p1を伝搬するレーザビームに合流させるような姿勢で配置されている。半波長板17は、音響光学偏向器11から第1の偏光ビームスプリッタ18までの第2の経路p2上及び第3の経路p3上のいずれに配置してもよい。
図2Aに、音響光学偏向器11が第1の状態のときのレーザビームの伝搬経路を示し、図2Bに、音響光学偏向器11が第2の状態のときのレーザビームの伝搬経路を示し、図3に、タイミングチャートの一例を示す。音響光学偏向器11に入射するレーザビームの経路をA、音響光学偏向器11を直進したレーザビームの経路をB、音響光学偏向器11で回折されたレーザビームの経路をC、第1の偏光ビームスプリッタ18を経由してビーム伝搬光学系10から出射する経路をD、第1の部分反射鏡14を透過してビーム伝搬光学系10から出射する経路をEと表記する。
図3に示すように、音響光学偏向器11に入射する経路上において、パルスレーザビームは一定の繰り返し周波数を持つ。
図2Aに示すように、音響光学偏向器11が第1の状態のとき、音響光学偏向器11に入射するレーザビームは、そのまま直進して経路Bに沿って伝搬する。その後、折り返しミラー13で反射され、偏光ビームスプリッタ18を透過する。これにより、経路Dに沿って、ビーム伝搬光学系10から出射される。レーザビームは経路Cを伝搬しないため、経路Eに沿ってレーザビームが出射されることはない。
図2Bに示すように、音響光学偏向器11が第2の状態のとき、音響光学偏向器11に入射するレーザビームの大部分、例えば約90%の成分が回折され、経路Cに現れる。残りの漏れ成分、例えば約10%の成分が、経路Bに現れる。経路Bを伝搬する漏れ成分は、第1の偏光ビームスプリッタ18に入射する。経路Cに沿って伝搬するレーザビームは、半波長板17で偏光方向を90°変えられる。半波長板17を透過したレーザビームの一部は、第1の部分反射鏡14を透過して、経路Eに沿ってビーム伝搬光学系10から出射される。他の成分は、第1の部分反射鏡14で反射されて第3の経路p3に沿って伝搬し、第1の偏光ビームスプリッタ18に入射する。第3の経路p3に沿って伝搬するレーザビームは、第1の偏光ビームスプリッタ18に対してs偏光であるため、第1の偏光ビームスプリッタ18で反射され、経路Bに沿って伝搬する漏れ成分に合流する。合流後のレーザビームが、ビーム伝搬光学系10から経路Dに沿って出射される。
第1の部分反射鏡14の反射率を44%に設定しておくと、経路Dに沿って出射するレーザビームの強度と、経路Eに沿って出射するレーザビームの強度とが、ほぼ等しくなる。このように、音響光学偏向器11の回折効率に応じて、第1の部分反射鏡14の反射率を調節することにより、ビーム伝搬光学系10から出射される2本のレーザビームの強度をほぼ等しくすることができる。
また、第1の実施例では、音響光学偏向器11が第2の状態のときにビーム伝搬光学系10から出射される2本のレーザビームのうち1本のレーザビームの経路を、音響光学偏向器11が第1の状態のときにビーム伝搬光学系10から出射される1本のレーザビームの経路と一致させることができる。さらに、第1の実施例では、音響光学偏向器11が第1の状態のときに、第1の経路p1に漏れる成分をも有効に利用することができる。
また、第1の実施例では、音響光学偏向器11に与える制御信号sigによって、第1の状態と第2の状態とが切り替えられるため、状態の切替を瞬時に行うことができる。より具体的には、10ns以下の短い時間で状態の切り替えを行うことが可能である。状態の切替時に光学素子の取替えや移動を伴わないため、光軸の再調整を行う必要がない。
図4に、第2の実施例によるレーザ照射装置の概略図を示す。以下、図1に示した第1の実施例によるレーザ照射装置との相違点について説明する。
第1の部分反射鏡14を透過したレーザビームの第2の経路p2上に、さらに、他の部分反射鏡45が配置されている。部分反射鏡45で反射したレーザビームが、折り返しミラー46で反射されて、ビーム伝搬光学系10から出射される。
音響光学偏向器11が第1の状態のときには、第1の実施例の場合と同様に、第1の偏光ビームスプリッタ18を透過した1本のレーザビームが、ビーム伝搬光学系10から出射される。音響光学偏向器が第2の状態の時には、第1の偏光ビームスプリッタ18で合流されたレーザビーム、部分反射鏡45を透過したレーザビーム、及び折り返しミラー46で反射されたレーザビームの3本のレーザビームが、ビーム伝搬光学系10から出射される。このように、1本のレーザビームのみが出射する状態と、3本のレーザビームが出射する状態とを切り替えることができる。
第1の部分反射鏡14の反射率、及び第2の部分反射鏡45の反射率を調整することにより、3本のレーザビームの光強度を揃えることができる。
図5に、第3の実施例によるレーザ照射装置の概略図を示す。以下、図1に示した第1の実施例によるレーザ照射装置との相違点について説明する。
折り返しミラー13と第1の偏光ビームスプリッタ18との間の第1の経路p1上に、第2の部分反射鏡51が配置されている。第1の経路p1を伝搬するレーザビームの一部が第2の部分反射鏡52で反射されて、第4の経路p4に沿って伝搬する。第4の経路p4に沿って伝搬するレーザビームは、折り返しミラー52で反射されて、第2の偏光ビームスプリッタ60に入射する。
半波長板17と第1の部分反射鏡14との間の第2の経路p2上に、第3の部分反射鏡55が配置されている。第2の経路p2を伝搬するレーザビームの一部が第3の部分反射鏡55で反射されて、第5の経路p5に沿って伝搬し、折り返しミラー56で反射される。折り返しミラー56で反射された後の第5の経路p5上に第4の部分反射鏡58が配置されている。第4の部分反射鏡58は、第5の経路p5を伝搬するレーザビームの一部を反射して、第6の経路p6に沿って伝搬させる。
第6の経路p6を伝搬するレーザビームは、第2の偏光ビームスプリッタ60に入射する。第2の偏光ビームスプリッタ60は、折り返しミラー52で反射されて第4の経路p4を伝搬するレーザビームがp偏光になり、第4の部分反射鏡58で反射されて第6の経路p6を伝搬するレーザビームがs偏光になる姿勢で配置されている。このため、第6の経路p6を伝搬するレーザビームが、第2の偏光ビームスプリッタ60で反射されて、第4の経路p4を伝搬するレーザビームに合流される。
音響光学偏向器11が第1の状態のとき、ビーム伝搬光学系10から、第1の経路p1及び第4の経路p4に沿ってレーザビームが出射する。第2の部分反射鏡51の反射率を50%とすることにより、2本のレーザビームの強度を同一にすることができる。音響光学偏向器11が第2の状態のとき、ビーム伝搬光学系10から、第1の経路p1、第2の経路p2、第4の経路p4、及び第5の経路p5に沿ってレーザビームが出射される。音響光学偏向器の回折効率が90%のとき、第2の部分反射鏡51及び第3の部分反射鏡55の反射率を50%とし、第1の部分反射鏡14及び第4の部分反射鏡58の反射率を44%に設定すると、4本のレーザビームの強度を揃えることができる。
このように、第3の実施例では、2本のレーザビームが出射する状態と、4本のレーザビームが出射する状態とを切り替えることができる。
次に、図6A及び図6Bを参照して、第4の実施例によるレーザ照射装置について説明する。
図6Aに、第4の実施例によるレーザ照射装置のビーム伝搬光学系10の概略図を示す。ビーム伝搬光学系10は、電気光学変調器70、第1の偏光ビームスプリッタ71、部分反射鏡77、及び第2の偏光ビームスプリッタ75を含む。レーザ光源1から出射されたレーザビームが、電気光学変調器70に入射する。レーザ光源1から出射されたレーザビームは、直線偏光されている。偏光方向が、図6Aの紙面に平行であるとする。電気光学変調器70は、制御装置20からの制御を受けて、レーザビームの偏光方向を変化させない第1の状態と、偏光方向を90°旋回させる第2の状態とのいずれかをとり得る。図6Aは、電気光学変調器70が第1の状態であるときのレーザビームの経路を示し、図6Bは、電気光学変調器70が第2の状態であるときのレーザビームの経路を示す。
電気光学変調器70を透過したレーザビームが、第1の偏光ビームスプリッタ71に入射する。第1の偏光ビームスプリッタ71は、電気光学変調器70が第1の状態のとき、図6Aに示すようにレーザビームを直進させ、電気光学変調器70が第2の状態のとき、図6Bに示すようにレーザビームを反射するような姿勢で配置されている。
第1の偏光ビームスプリッタ71を直進したレーザビームは、折り返しミラー74で反射され、第2の偏光ビームスプリッタ75を直進して、ビーム伝搬光学系10から出射される。
第1の偏光ビームスプリッタ71で反射されたレーザビームは、部分反射鏡77で2本のレーザビームに分岐される。部分反射鏡77を透過したレーザビームは、そのままビーム伝搬光学系10から出射される。部分反射鏡77で反射されたレーザビームは、第2の偏光ビームスプリッタ75で反射されて、ビーム伝搬光学系10から出射される。
電気光学変調器70が第1の状態のときに、第2の偏光ビームスプリッタ75を透過したレーザビームの経路と、電気光学変調器70が第2の状態のときに、第2の偏光ビームスプリッタ75で反射されレーザビームの経路とが一致するように、第2の偏光ビームスプリッタ75の姿勢が調整されている。
第4の実施例においても、第1の実施例の場合と同様に、ビーム伝搬光学系10から1本のレーザビームが出射される第1の状態と、2本のレーザビームが出射される第2の状態とを瞬時に切り替えることができる。部分反射鏡77の反射率を50%に設定しておくことにより、2本のレーザビームの強度を等しくすることができる。
次に、図7A〜図7Dを参照して、第1の実施例によるレーザ照射装置を用いて穴あけ加工を行う方法について説明する。なお、第4の実施例によるレーザ照射装置を用いても、同様の方法で加工を行うことができる。
図7Aに示すように、穴を形成すべき被加工点が行列状に配置された加工対象物40を準備する。加工対象物40は、レーザビームによって相対的に加工しやすい材料からなる下地部材と、その上に形成された相対的に加工しにくい材料からなる表面層とを含む。レーザビームによって加工されやすいということは、アブレーションさせるために必要なパルスエネルギ密度の下限値(しきい値)が低いことを意味する。加工対象物40の例として、樹脂層の上に銅層が形成されたプリント配線基板等が挙げられる。加工対象物40を、図1に示したXYステージ35に載置する。
図2Aに示したように、音響光学偏向器11を第1の状態にして、1本のパルスレーザビームが出射される状態にする。この状態で、パルスレーザビームを出射させながら、図1に示した第1のガルバノスキャナ31を駆動することにより、1列目の被加工点81aの表面層に穴を形成し、下地部材を露出させる。
図7Bに示すように、XYステージ35を駆動して加工対象物40を行方向に移動させる。音響光学偏向器11を第1の状態に維持して、2列目の被加工点81bの表面層に穴を形成し、下地部材を露出させる。
図7Cに示すように、音響光学偏向器11を第2の状態に設定し、ビーム伝搬光学系10から2本のレーザビームを出射させながら、第1のガルバノスキャナ31及び第2のガルバノスキャナ32を動作させる。これにより、1列目の被加工点81a及び2列目の被加工点81bの下地部材に穴を形成する。下地部材は、表面層よりも加工しやすい材料で形成されているため、2本のレーザビームに分岐させても、十分なパルスエネルギ密度を確保することができる。
図7Dに示すように、加工対象物40を移動させて、3列目の被加工点81cの加工を開始する。3列目及び4列目の被加工点は、1列目及び2列目の被加工点と同様の方法で加工される。
上記加工方法では、図7Cに示した工程で、2列が同時に加工される。また、図7Bに示した1本のレーザビームで加工を行う工程から、図7Cに示した2本のレーザビームで加工を行う工程に、瞬時に移行することができる。このため、生産性の向上を図ることが可能になる。図1に示したビーム伝搬光学系10から出射される第1の経路p1から第2の経路p2に向かって(図1において右から左に向かって)加工対象物40を移動させることにより、加工対象物40を後戻りさせること無く加工を行うことが可能になる。この方法は、特に、ロール状に巻かれた加工対象物を一方向に移動させながら加工を行う場合に、有効である。
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
第1の実施例によるレーザ照射装置の概略図である。 (2A)は、第1の実施例によるレーザ照射装置のAODが第1の状態のときのレーザビームの経路を示す概略図であり、(2B)は、AODが第2の状態のときのレーザビームの経路を示す概略図である。 第1の実施例によるレーザ照射装置のタイミングチャートである。 第2の実施例によるレーザ照射装置の概略図である。 第3の実施例によるレーザ照射装置の概略図である。 第4の実施例によるレーザ照射装置の概略図である。 第1の実施例によるレーザ照射装置を用いた加工を行う途中段階における加工対象物の平面図である。
符号の説明
1 レーザ光源
10 ビーム伝搬光学系
11 音響光学偏向器(ビーム経路切替器)
12、13 折り返しミラー
14 第1の部分反射鏡(第1のビーム分岐器)
17 半波長板
18 第1の偏光ビームスプリッタ(第1のビーム合流器)
20 制御装置
31 第1のガルバノスキャナ
32 第2のガルバノスキャナ
33 第1のfθレンズ
34 第2のfθレンズ
35 XYステージ
40 加工対象物
45 他の部分反射鏡
46 折り返しミラー
51 第2の部分反射鏡(第2のビーム分岐器)
52 折り返しミラー
55 第3の部分反射鏡(第3のビーム分岐器)
56 折り返しミラー
58 第4の部分反射鏡(第4のビーム分岐器)
60 第2の偏光ビームスプリッタ(第2のビーム合流器)
81a、81b、81c 被加工点

Claims (6)

  1. レーザ光源から出射されたレーザビームを、第1の経路に伝搬させる第1の状態と、第2の経路に伝搬させる第2の状態とが、制御信号によって切り替わるビーム経路切替器と、
    前記第2の経路を伝搬するレーザビームの一部を、第3の経路に分岐させる第1のビーム分岐器と、
    前記第3の経路を伝搬するレーザビームを、前記第1の経路を伝搬するレーザビームに合流させる第1のビーム合流器と
    を有するレーザ照射装置。
  2. 前記ビーム経路切替器は、前記第2の状態のとき、レーザビームの漏れ成分が、前記第1の経路を伝搬し、前記第1の状態のとき、前記第2の経路には漏れ成分が伝搬しない請求項1に記載のレーザ照射装置。
  3. 前記ビーム経路切替器が、前記第2の状態のとき、前記第1の経路を伝搬する漏れ成分と、前記第3の経路を伝搬するレーザビームとが合流した後のレーザビームの強度が、前記第1のビーム分岐器で分岐された後の第2の経路を伝搬するレーザビームの強度と等しくなるように、前記第1のビーム分岐器の分岐比率が調整されている請求項2に記載のレーザ照射装置。
  4. さらに、前記ビーム経路切替器から前記第1のビーム合流器までの前記第2の経路及び第3の経路上に、レーザビームの偏光方向を90°旋回させる偏光方向制御素子が配置されており、
    前記第1のビーム合流器が、偏光ビームスプリッタである請求項1乃至3のいずれか1項に記載のレーザ照射装置。
  5. さらに、前記ビーム経路切替器から前記第1のビーム合流器までの間の第1の経路を伝搬するレーザビームの一部を、第4の経路に分岐させる第2のビーム分岐器と、
    前記ビーム経路切替器から前記第1のビーム分岐器までの間の第2の経路を伝搬するレーザビームの一部を第5の経路に分岐させる第3のビーム分岐器と、
    前記第5の経路を伝搬するレーザビームの一部を第6の経路に分岐させる第4のビーム分岐器と、
    前記第4の経路を伝搬するレーザビームに前記第6の経路を伝搬するレーザビームを合流させる第2のビーム合流器と
    を有する請求項1または2に記載のレーザ照射装置。
  6. レーザビームによって相対的に穴が形成されやすい材料からなる下地部材の上に、レーザビームによって相対的に穴が形成されにくい材料からなる表面層が形成された加工対象物を準備する工程と、
    前記請求項1に記載されたレーザ照射装置のビーム経路切替器を第1の状態として、前記第1の経路を伝搬するレーザビームを前記加工対象物上の第1の被加工点に入射させて、該第1の被加工点の表面層を除去する工程と、
    前記ビーム経路切替器を第1の状態に維持し、前記第1の経路を伝搬するレーザビームを前記加工対象物上の第2の被加工点に入射させて、該第2の被加工点の表面層を除去する工程と、
    前記ビーム経路切替器を第2の状態にし、前記第1のビーム合流器で合成された後の第1の経路を伝搬するレーザビームを前記第1の被加工点に入射させると同時に、前記第2のビーム分岐器で分岐された後の第2の経路を伝搬するレーザビームを前記第2の被加工点に入射させて、第1及び第2の被加工点の下地部材に穴を形成する工程と
    を有するレーザ加工方法。
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