JP2008113196A - 信号検知回路 - Google Patents

信号検知回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2008113196A
JP2008113196A JP2006294562A JP2006294562A JP2008113196A JP 2008113196 A JP2008113196 A JP 2008113196A JP 2006294562 A JP2006294562 A JP 2006294562A JP 2006294562 A JP2006294562 A JP 2006294562A JP 2008113196 A JP2008113196 A JP 2008113196A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
voltage
complementary
circuit
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006294562A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4979344B2 (ja
Inventor
Hideki Uchiki
英喜 内木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2006294562A priority Critical patent/JP4979344B2/ja
Priority to TW096140001A priority patent/TWI409478B/zh
Priority to US11/976,497 priority patent/US7944246B2/en
Publication of JP2008113196A publication Critical patent/JP2008113196A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4979344B2 publication Critical patent/JP4979344B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45475Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/453Controlling being realised by adding a replica circuit or by using one among multiple identical circuits as a replica circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/78A comparator being used in a controlling circuit of an amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45138Two or more differential amplifiers in IC-block form are combined, e.g. measuring amplifiers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

【課題】相補信号線対を伝送させる微小振幅デジタル信号の状態を、正確に、製造工程を複雑化させることなく識別することのできる信号検知回路を提供する。
【解決手段】相補信号(Drt,Drb;10,11)を高入力インピーダンスで受け、その電圧レベルが異なる差分信号(Ref1,Ref2;12,13)の加算値に対応する電流を全波整流回路(AWR)で生成する。この全波整流回路で生成された電流加算/電圧変換後の出力信号(20,21)を、電圧比較器(CMP)で比較する。この電圧比較器の出力信号(30)は、所定時間以上同一の状態にあるかをタイマ(TMR)で検出し、該検出結果を示す信号(40)を生成する。
【選択図】図1

Description

この発明は、信号検知回路に関し、特に、微小振幅の差動信号を検知する信号検知回路に関する。
データ通信分野においては、高速で信号が伝送される。伝送信号としては、高速かつ低消費電流のために、小振幅の差動信号が用いられる。差動信号は、1対の相補的な信号で構成され、基準電位を中心として、一方がハイレベル、他方がローレベルに設定される。1つの信号を転送する場合に比べて信号振幅を2倍にすることができ、高速デジタル通信の伝送信号として通常利用される。
データ伝送時、送信側と受信側でデータの同期を取る必要がある。この同期確立のために、クロック信号が用いられる。クロック信号の伝送方式としては、送信側から受信側へ、データと別の信号線を用いて同期様のクロック信号を転送する方式がある。また、これに代えて、送信データ列にクロック信号を埋込んで受信側へ送信するクロック埋込み方式がある。8b/10b方式等のクロック埋込み方式の場合、受信側において受信データ列からクロック信号を抽出してクロック信号を再生する。このようなくロック埋込み方式の場合、データ転送中であるかそうでないかの判別のために、データ非転送時には、所定のパターンのデータが繰返し転送される。たとえばフレーム同期方式などにおいては、デジタル信号を送受信しない場合においては、所定のフラグパターンを繰返し送受信する。
また、差動信号をデータとしてシリアルに伝送する8b/10b方式などにおいては、データ伝送路が正常状態であっても、送受信を行なわない状態では、デジタル信号線対は、中間電圧レベルの基準電圧レベルに維持される。伝送路の相補信号線の電位が基準電位から異なるときに、送信が行なわれたと受信側において判定して、送信データの入力(受信)が行なわれる。
このような伝送路を利用するデータ通信方式においては、送信側が未接続状態、伝送線が断線状態、また送信側における故障などにより、通信状態が正常でないことを検知する必要がある。このような伝送路の状態の検知のために、受信側に入力された信号の振幅が所定時間以上規定値以下であるか測定する信号検知回路が利用される。
また、信号線が、無信号伝送時に基準電圧レベルに維持され、データ伝送時に、信号線の電位が変化する伝送方式においては、データの同期確立のために、無信号状態と信号送信状態とを識別する必要がある。
このような伝送路の状態を検知する信号検知回路の一例が、特許文献1(特開2000−83069号公報)に示されている。この特許文献1に示される構成においては、差動信号を伝送する信号線(相補信号線の対)と内部信号検知ノードの間に、交差結合されるMOSトランジスタ(絶縁ゲート型電界効果トランジスタ)が設けられる。すなわち、一方のMOSトランジスタのゲートおよびソースが相補信号線を構成する第1および第2の信号線に接続され、他方のMOSトランジスタが、ゲートおよびソースが大2および第1の信号線にそれぞれ接続される。この信号検知ノードは、無信号時、たとえば電源電圧レベルのハイ側電源電圧Vhレベルにプリチャージされる。
相補信号線対は、ともに、無信号状態時においては、ハイ側電源電圧Vhと、ロー側電源電圧Vlの間の中間電圧(Vh+Vl)/2の電圧レベルに維持される。従って、無信号状態においては、これらの交差結合されるMOSトランジスタは、ソースおよびゲートが同一電位となり、オフ状態を維持し、この交差結合されるMOSトランジスタには電流は流れない。信号伝送時、差動信号を伝送する第1および第2の信号線に電圧差が生じる。応じて、交差結合されるMOSトランジスタの一方を介して電流が流れ、信号検知ノードの電位が変化する。この信号検知ノードの電圧変化または電流が流れるのを検知して、信号受信状態を検知し、入力回路を駆動する。
この特許文献1に示される構成においては、送信側は、クロック信号の半周期ごとにデータ送信および出力ハイインピーダンス状態となる。したがって、1クロックサイクルにおいて半サイクルだけ相補信号線対が送信データに応じて駆動される。受信側においては、この交差結合されるMOSトランジスタを用いて相補信号線の電圧差を検知することにより、信号受信検知信号を生成する。入力回路は、この信号受信検知信号に同期して活性化されて、受信信号を取込む。また、これに代えて、信号受信期間中、内部に設けられるクロック発生回路を発生し、受信データの先頭から、この内部のクロック発生器からの内部クロック信号に同期して受信データ列を取込む。
この特許文献1の信号検知回路を利用すれば、差動信号を伝送する信号線が無信号状態にあるかを識別することが可能となる。
特開2000−83069号公報
高速でかつ低消費電力でデジタル信号を送受信する場合、伝送信号の振幅はできるだけ小さくするのが望ましい。この微小振幅の差動信号を検知する場合、特許文献1に示される構成を利用する場合には、交差結合される差動MOSトランジスタのそれぞれのしきい値電圧をできるだけ小さくする必要がある。したがって、この受信検知用のMOSトランジスタのしきい値電圧を、他の回路のMOSトランジスタのしきい値電圧と異ならせる必要があり、製造工程が増加し、応じてコストが増大するという問題が生じる。
また、この差動信号を伝達する相補信号線対の第1および第2の信号線は、それぞれ交差結合される第1および第2のMOSトランジスタのソースノードに結合される。第1および第2の信号線は、また、これらの第2および第1のMOSトランジスタのゲートに接続される。したがって、信号伝送時、第1の信号線がハイレベルで、第2の信号線がローレベルの場合、第2のMOSトランジスタが導通して、第2の信号線へ電流を流す。この第2のMOSトランジスタからの電流は、微小振幅の差動信号の振幅を小さくする方向に機能し、正確に、受信信号を検知することができなくなる可能性がある。特に、データ受信時、信号検知MOSトランジスタにより、第1および第2の信号線がともにハイ側へ駆動される場合、後に、たとえば第1および第2の信号線を短絡により、その電位をイコライズしても、基準電圧が、元の中間電圧(Vh+Vl)/2に復帰せず、これよりも高いハイ側電源電圧Vh方向にずれる。このような状態となると、以後、受信信号を正確に検知することができなくなる問題が生じる。
また、特許文献1に示される構成においては、この交差結合されるMOSトランジスタの各々のしきい値電圧により、この検知可能な差動信号の振幅が規定される。この場合、検知可能な信号振幅は固定される。したがって、たとえばインターフェイス規格が異なり、信号振幅が異なる場合においては、新たに信号検知回路を作製し直す必要がある。
また、無信号状態により、送信/受信のデータ伝送路の異常を検出する場合、この異常検知の判定基準を、その使用環境に応じて柔軟に設定するのが困難である。特許文献1においては、信号伝送路の電圧レベルの検出により伝送データの同期を確立する構成については検討しているものの、信号線の異常を検出する構成については何ら考慮していない。
それゆえに、この発明の目的は、微小振幅の差動信号の有無を正確に検知することのできる信号検知回路を提供することである。
この発明の他の目的は、無信号状態の判別時の判定基準を柔軟に設定するとともに、正確に、無信号状態を検知することのできる信号検知回路を提供することである。
この発明に係る信号検知回路は、要約すれば、差動信号を高インピーダンスで受け、この差動信号の差分値に対応する信号と電圧レベルの異なる差動基準電圧の差分値に対応する信号とに基づいて、差動信号振幅が、無信号状態と異なる状態にあるかを判定する。
この発明の1つの形態においては、この信号検知回路は、相補入力信号を高インピーダンスで受ける入力回路と、電圧レベルの異なる第1および第2の参照電圧の差分値に対応する信号を生成する参照回路と、これらの入力回路および参照回路の出力信号を比較する内部入力信号生成回路を備える。入力回路は、この相補入力信号の差分値に対応する信号を生成する。内部入力信号生成回路は、これらの入力回路および参照回路の出力信号を比較し、この比較結果に従って相補入力信号の論理レベルを示す信号を生成する。
本発明の別の形態においては、信号検知回路は、相補入力信号と相補参照電圧に従って相補出力信号を生成する入力回路と、この入力回路の出力信号に従って内部信号を生成する内部信号生成回路を備える。入力回路は、相補入力信号をゲートに受ける第1のトランジスタ対と相補参照電圧をゲートに受ける第2のトランジスタ対とを含み、これらのトランジスタ対それぞれを流れる電流を差動的に増幅して相補出力信号を生成する。内部信号生成回路は、この入力回路の相補出力信号を比較し、この比較結果に応じて相補入力信号の論理レベルを示す信号を生成する。
好ましくは、この参照電圧の差分値は、調整可能とされる。また、これに代えて、好ましくは、入力回路および増幅回路の出力信号振幅は変更可能とされる。
差動信号をハイインピーダンスで受けており、この相補信号線対に電流が流れる経路は存在しない。したがって、この差動信号を伝達する相補信号線対の中心電位が、ともにハイ側電源電圧レベルに向かって上昇するのが抑制できる。これにより、正確に、受信信号の存在を検知することができる。
また、トランジスタ対を利用して、この参照電圧との比較に基づいており、差動信号振幅が小さい場合でも、正確に検出を行なうことができ、またトランジスタ対のしきい値電圧を、小さくすることは要求されず、製造工程が増加するのを抑制することができる。
また、参照電圧差またはこの入力信号生成回路への入力信号振幅を可変とすることにより、受信信号の振幅判定基準値を変更することもでき、微小振幅デジタル信号を確実に検出することが可能となる。
[実施の形態1]
図1は、この発明の実施の形態1に従う信号検知回路の全体の構成を概略的に示す図である。図1において、信号検知回路は、相補信号線1tおよび1b上を伝達される差動信号Drt,Drbの差分値と基準電圧Ref1およびRef2の差分値とに従って、これらの差分値の大小を示す信号20および21を生成する入力回路と、入力回路の出力相補信号20および21に従って、差動信号Drt,Drbの論理レベルを示す信号40を生成する内部信号生成回路4を含む。
差動信号Drt,Drbは、信号伝送時、基準電圧(コモンレベル)を中心としてハイ側およびロー側にほぼ同一振幅ΔV変化する相補信号で構成される。従って、差動信号Drt,Drbの振幅は、2・ΔVで与えられる。以下の説明において、信号DrtおよびDrbを個々に示すときには、相補信号と称す。
入力回路2は、入力端PIおよびNIを介して与えられる差動信号DrtおよびDrbを差動的に増幅するプリアンプPA1と、基準電圧Ref1およびRef2を差動的に増幅するプリアンプPA2と、プリアンプPA1の相補出力信号10および11とプリアンプPA2の相補信号12および13をそれぞれ加算(全波整流)して相補信号20および21を生成する全波整流回路AWRを含む。
基準電圧Ref1およびRef2は、可変基準電圧発生回路VRGから生成される。この基準電圧Ref1およびRef2の電圧レベルを可変とすることにより、差動信号の振幅が変化する場合にも適応して、正確に差動信号が伝送されているかを識別する。
基準電圧発生回路VRGからの基準電圧Ref1およびRef2の差分値は、相補信号DrtおよびDrbの差分値(差動信号の振幅)の検出しきい値を規定する。この基準電圧Ref1およびRef2の差分値(Ref2−Ref1)と差動信号の振幅(Drt−Drb)は、有意の信号(データ信号)の伝送時には、次式の関係を満たす:
(Ref2−Ref1)<|Drt−Drb|)。
上式が満たされていないときには、有意の信号が転送されておらず、入力端PIおよびNIにそれぞれ結合される相補信号線1tおよび1rは、無信号状態であると判定する。
プリアンプPA1は、その内部構成は後に詳細に説明するが、高入力インピーダンスを有し、入力端(パッド)PIおよびNIに伝達される信号DrtおよびDrbの電圧レベルに影響は及ぼさない。具体的に、プリアンプPA1は、差動信号Drt,DrbをMOSトランジスタのゲートに受ける。プリアンプPA2は、プリアンプPA1と同様の構成を有する。プリアンプPA1およびPA2を利用することにより、中心値(コモンレベル)が同じ差動電圧を生成する。
全波整流回路AWRは、比較参照電圧としてプリアンプPA1及びPA2の出力信号10−13を受けて、プリアンプPA1の相補出力信号10および11の加算値に対応する信号とプリアンプPA2の相補出力信号12および13の加算値とに対応する信号21を生成する。この全波整流回路AWRは、その構成は後に詳細に説明するが、電流加算/電圧変換機能を備え、その出力信号20および21には、差動信号の振幅情報および基準電圧差分値情報を保存する。この全波整流回路AWRは、プリアンプPA1およびPA2の出力信号10、11および12、13の出力信号をMOSトランジスタ(絶縁ゲート型電界効果トランジスタ)のゲートに受けるすなわち高入力インピーダンスで受けて、各電流加算を行なう。従って、プリアンプPA1およびPA2の出力信号の電圧レベルに従って電流加算を行なって、その結果を電圧信号に変換する構成を、比較的簡易な回路構成を利用して、容易に実現することができる。
内部信号生成回路4は、全波整流回路AWRからの加算出力信号20および21の大小を比較する電圧比較器CMPと、電圧比較器CMPの出力信号を30に従って、所定の振幅を有する差動信号Drt,Drbが与えられたかを検出するタイマTMRを含む。
電圧比較器CMPは、全波整流回路ARWの出力信号20および21の大小を比較する回路構成であればよい。タイマTMRは、所定時間内に、電圧比較器CMPの出力信号30が、所定時間以上Hレベルとなるかを判定し、その判定結果に応じて出力信号40の論理レベルを設定する。具体的には、タイマTMRは、電圧比較器CMPの出力信号30が、所定時間以上Lレベル(論理ローレベル)にあれば、その出力信号40をHレベルに設定し、この電圧比較器CMPの出力信号30が、Lレベル期間が所定時間未満のときには、その出力信号40を、Hレベル(論理ハイレベル)に設定する。全波整流回路AWRの出力信号20および21は、それぞれ差動信号Drt,Drbの振幅情報および基準電圧Ref1,Ref2の差分値情報を含んでいる。従って、電圧比較器CMPでこれらの信号20および21を比較することにより、入力差動信号Drt,Drbの振幅が、基準電圧Ref1,Ref2の差分値により規定される値より大きいかを識別することできる。
以上から、電圧比較器CMPの出力信号をタイマTMRでモニタすることにより、所定の振幅以上の有意の差動信号が伝送されていない状態が、所定時間以上継続しているかを判定することができる。これにより、無信号状態が所定時間以上継続しているかを識別することができ、伝送路の異常検出を行なうことができる。
また、電圧比較器の出力信号30を利用することにより、有意の差動信号の伝送タイミング(振幅変化タイミング)を検出することが可能となる。応じて、この電圧比較器CMPの出力信号30を用いて、伝送信号に対する同期を確立することが可能となる。以下、具体的構成について説明する。
図2は、図1に示す基準電圧発生回路VRGの構成を概略的に示す図である。図2において、基準電圧発生回路VRGは、ハイ側電源ノードとロー側電源ノードの間に直列に接続される抵抗素子Z1−Z3を含む。ノードND1から、基準電圧Ref2が出力され、ノードND2に基準電圧Ref1が生成される。これらの抵抗素子Z1−Z3は、抵抗値が変更可能である。すなわち、抵抗値設定回路RSKにより、これらの抵抗素子Z1−Z3の抵抗値を設定することができる。
(可変)基準電圧発生回路VRGの構成としては、たとえば、以下の構成を利用することができる。すなわち、可変抵抗素子Z1−Z3それぞれを、複数の直列に接続される単位抵抗素子で構成し、これらの単位抵抗素子と並列にスイッチングトランジスタを設ける。これらのスイッチングトランジスタを、抵抗値設定回路RSKの出力信号に従って選択的に導通/遮断状態に設定する。これにより、可変抵抗素子Z1−Z3の抵抗値を所望の値に設定することができる。抵抗値設定回路RSKは、レジスタ回路で構成して、その記憶値がたとえばシステムコントローラにより設定可能とされてもよく、また、ヒューズプログラム回路のように、ヒューズ素子の選択的溶断によりスイッチングトランジスタ制御信号が固定的に生成される構成とされてもよい。レジスタ回路の記憶値を利用する場合、システム実装後において、動作環境に応じて最適値に基準電圧Ref1およびRef2の電圧レベルを設定することができる。
また、スイッチングトランジスタに代えて、各単位抵抗素子と並列にヒューズ素子を接続し、これらのヒューズ素子を選択的に溶断/非溶断状態に設定することにより、各抵抗素子Z1−Z3の抵抗値が設定されてもよい。このヒューズ素子のプログラムを利用する場合には、各製造工程での素子の特性のバラツキを補正して、所望の電圧レベルの基準電圧を生成することができる。
また、抵抗素子Z1−Z3の抵抗値を変更することにより、基準電圧Ref1およびRef2の差分値(Ref2−Ref1)の大きさを適宜変更することができる。この基準電圧の差分値(Ref2−Ref1)は、差動信号Drt,Drbの振幅の判定基準値であり、信号状態識別時の判定基準値を、所望の値に設定することができる。
図3は、図1に示すプリアンプPA1およびPA2の構成の一例を示す図である。図3においては、これらのプリアンプPA1およびPA2は同一構成を有するため、プリアンプPA1の構成を代表的に示す。
図3において、プリアンプPA1は、バイアス電圧Vbiasに従ってハイ側電源ノードからノードND3およびND4へそれぞれ定電流を供給するPチャネルMOSトランジスタPQ1およびPQ2と、ノードND3およびND4の間に接続される抵抗素子RZ4を含む。この抵抗素子RZ4は、比較的小さな抵抗値を有し、無信号状態時、ノードND3およびND4を同電位に維持する。差動動作時には、この抵抗素子RZ4は、電流帰還路を形成して、出力信号を、入力差動信号の振幅値に応じてほぼ直線的に変化させる。
プリアンプPA1は、さらに、入力端NI上の信号電圧レベルに応じてノードND3から電流を放電するPチャネルMOSトランジスタPQ3と、入力端PI上の信号電圧に応じて、ノードND4から電流を放電するPチャネルMOSトランジスタPQ4と、MOSトランジスタPQ3からの放電電流を電圧に変換する抵抗素子RZ5と、MOSトランジスタPQ4からの放電電流を電圧に変換する抵抗素子RZ6とを含む。
ノードND5に、出力信号11が生成され、ノードND6に出力信号10が生成される。基準電圧を用いるプリアンプPA2の場合、図3において括弧内に示すように、MOSトランジスタPQ3およびPQ4は、それぞれ、ゲートが、入力端NIおよびPIに代えて、それぞれ基準電圧Ref2およびRef1を受けるように結合される。また、出力信号12および13は、それぞれノードND6およびND5に生成される。
次に、この図3に示すプリアンプPA1の動作について、簡単に説明する。MOSトランジスタPQ1およびPQ2は、サイズ(チャネル幅Wとチャネル長Lの比、W/L)が同じであり、バイアス電圧Vbiasに規定される同じ大きさの電流を供給する。また、MOSトランジスタPQ3およびPQ4は、サイズが同じである。
無信号状態時においては、入力端NIおよびPIは、ハイ側電圧Vhおよびロー側電圧Vlの中間電圧(Vh+Vl)/2のレベルに維持される。この状態においては、MOSトランジスタPQ1およびPQ2は、バイアス電圧Vbiasをゲートに受けて、所定の大きさの電流を常時供給する。MOSトランジスタPQ3およびPQ4は、その電流駆動力は同じであり、MOSトランジスタPQ3およびPQ4から、同じ大きさの電流が、それぞれ抵抗素子RZ5およびRZ6へ供給される。これらの抵抗素子Z5およびZ6は、その抵抗値が同じである。したがって、この場合、出力信号10および11の電圧レベルは同じである。
データ伝送が行なわれると、ある大きさの振幅を有する差動信号が与えられ、入力端NIおよびPIの電圧レベルに差が生じる。今、入力端PIの電圧レベルが、入力端NIの電圧レベルよりも高い状態を考える。この場合、MOSトランジスタPQ3の電流駆動力が、無信号時よりも大きくなり、MOSトランジスタPQ4の電流駆動力が、無信号時よりも小さくなる。したがって、MOSトランジスタPQ4は、MOSトランジスタPQ2から供給される電流をすべて放電できず、ノードND4の電圧レベルが上昇する。一方、MOSトランジスタPQ3は、駆動電流量が増大し、そノードND3の電圧レベルが低下し始める。
抵抗素子RZ4は、ノードND3およびND4に生じた電圧差により、ノードND4からノードND3へ電流を供給し、このノードND4の電圧低下を抑制する。応じて、MOSトランジスタPQ3は、そのゲート−ソース間電圧が入力端NIの信号に応じて設定され、電流駆動力が、入力端NIの信号により設定される。一方、ノードND4の電圧上昇により、抵抗素子RZ4が電流をノードND3へ供給し、ノードND4の電圧上昇を抑制する。従って、MOSトランジスタPQ4において、ノードND4の電圧上昇によりゲート電圧の上昇が相殺される状態を防止することができ、ゲート電圧(入力端PIの信号電圧)に応じた電圧を抵抗素子RZ6へ供給することができる。
すなわち、等価的に、MOSトランジスタPQ4の駆動電流量の低下分が、MOSトランジスタPQ3へ供給され、MOSトランジスタPQ3の駆動電流量が増大する。
応じて、抵抗素子RZ5の電圧レベルは、抵抗素子RZ6の電圧レベルよりも高くなる。すなわち、出力信号10の電圧レベルが、出力信号11の電圧レベルよりも低くなる。この抵抗素子RZ4の電流帰還により、プリアンプPA1の出力信号を、ほぼ直線的に入力差動信号の振幅に応じて変化させることができ、また、力信号10および11の電圧レベルを、無信号状態の中間値から相補的に変化させることができる。
これらの出力信号10および11の電圧レベルは、入力端PIおよびNIの相補信号において電圧差が生じると、その電圧差に応じて変化する。これにより、入力端PIおよびNIの差動信号の振幅を反転増幅した信号を、プリアンプPA1から出力することができる。
プリアンプPA2の場合には、基準電圧Ref2およびRef1の差分値に応じて、出力信号12および13の電圧レベルが、設定される。実際の動作時には、基準電圧Ref1およびRef2の電圧レベルは一定に維持される。したがって、プリアンプPA2の出力信号12および13の電圧レベルも一定に維持され、その差分値も一定に維持される。この一定の差分値が、入力差動信号の振幅判定基準として利用される。
また、同じ構成および特性のプリアンプPA1およびPA2を利用することにより、基準電圧Ref2およびRef1の中間電圧レベルが、差動信号のコモンレベル(中間値)と異なる場合でも、その差分値に応じた信号を生成することができる。したがって、基準電圧Ref1およびRef2としては、この差動信号DrtおよびDrbの中間電圧レベルと独立に、その電圧レベルを設定することが可能である。
また、プリアンプPA1においては、入力端PIおよびNIは、MOSトランジスタPQ4およびPQ3のゲートに接続されている。これらのMOSトランジスタPQ3およびPQ4のゲートは、入力ハイインピーダンス状態であり、プリアンプPA1の増幅動作は、入力端NIおよびPIの信号振幅に何ら悪影響は及ぼさない。したがって、正確に、入力端NIおよびPIの信号電圧レベルの差分に応じた信号を生成することができる。また、入力端PIおよびNIも、信号伝送時に正確に中間値(コモンレベル)に設定することができ、正確に信号/データの伝送タイミングを検出することが可能となる。
また、抵抗素子RZ4を利用することにより、入力差動信号を正確に差動増幅することができる。また、MOSトランジスタPQ3およびPQ4は、ノードND3およびND4は、ハイ側電源電圧レベルに維持されており、ゲート−ソース間電圧が、十分に維持される。無信号状態時、ノードND3およびND4の電圧レベルは十分高い電圧レベルであり、この入力端NIおよびPIの電圧変化に応じて高速に応答して電流変化を生じさせることができ、そのしきい値電圧の絶対値を小さくすることは要求されない。従って、他の回路素子のPチャネルMOSトランジスタと同一製造工程でプリアンプを製造することが可能となり、製造工程が複雑となるのを防止することができる。
図4は、図1に示す全波整流回路AWRの構成の一例を示す図である。図4において全波電流回路AWRは、ノードND7とロー側電源ノードの間に接続されるMOSトランジスタNQ1およびNQ2と、ノードND8とロー側電源ノードの間に並列に接続されるNチャネルMOSトランジスタNQ3およびNQ4を含む。MOSトランジスタNQ1およびNQ2は、それぞれ、ゲートに、図1に示すプリアンプPA1の出力信号10および11を受ける。MOSトランジスタNQ3およびNQ4は、それぞれ、ゲートに、図1に示すプリアンプPA2の出力信号12および13を受ける。
全波整流回路AWRは、さらに、ハイ側電源ノードとノードND7の間に接続される抵抗素子RZ7と、ノードND8とハイ側電源ノードの間に接続される抵抗素子RZ8を含む。ノードND7およびND8から、出力信号20および21が生成される。ハイ側電源ノードには、電源電圧VDDが供給される。ロー側電源ノードには、図3に示すプリアンプと同様、接地電圧VSSが与えられる。
この図4に示す全波整流回路AWRの構成の場合、MOSトランジスタNQ1およびNQ2が、プリアンプPA1の出力信号10および11の電圧レベルに応じた電流をロー側電源ノードへ放電する。MOSトランジスタNQ3およびNQ4も、同様、プリアンプPA2の出力信号12および13の電圧レベルに応じた電流を、ノードND8からロー側電源ノードへ放電する。したがって、これらのノードND7およびND8には、プリアンプPA1の相補出力信号10および11の加算値に応じた電流が流れ、また、ノードND8には、プリアンプPA2の相補出力信号12および13の加算値に応じた電流が流れる。これにより、入力差動信号の電圧加算値と基準電圧の加算値の大小に応じた信号を生成することができる。以下に説明するように、これらの加算値に応じた電流は、入力差動信号の振幅情報および基準電圧の差分値情報を含んでいる。以下、全波整流回路AWRの動作について具体的に説明する。
図5は、全波整流回路AWRにおけるMOSトランジスタNQ1およびNQ2のゲート電圧−ドレイン電流特性を示す図である。図5において、MOSトランジスタNQ1およびNQ2は、ゲートに信号10および11の電圧V(10)およびV(11)を受け、それぞれドレイン電流I(10)およびI(11)を駆動する。
これらの電圧V(10)およびV(11)の中間値(コモンレベル)Vcom1は、信号受信時において{V(10)+V(11)}/2の電圧レベルに設定される。電圧V(10)およびV(11)は、それぞれ、コモンレベルVcom1に対して電圧差ΔV1を有する。
なお、図5において、電圧Vtnは、MOSトランジスタNQ1およびNQ2のしきい値電圧を示す。これらのMOSトランジスタNQ1およびNQ2のドレイン電流は、ゲート電圧に応じた自乗特性を有する。
図6は、図5に示す全波整流回路ARWのMOSトランジスタNQ3およびNQ4のゲート電圧−ドレイン電流特性を示す図である。この図6において、MOSトランジスタNQ3およびNQ4は、ゲートに信号12および13の電圧V(12)およびV(13)を受け、それぞれ電流I(12)およびI(13)を駆動する。この電圧V(12)およびV(13)の中心値Vcom2は、電圧{V(12)+V(13)}/2で与えられる。電圧Vtnは、これらのMOSトランジスタNQ3およびNQ4のしきい値電圧である。MOSトランジスタNQ1−NQ4のサイズ(チャネル幅とチャネル長の比)は等しくされ、また、しきい値電圧Vtnも等しくされる。
今、中間電圧Vcom1およびVcom2が等しい状態を仮定する。信号受信時においては、V(11)−V(10)>V(13)−V(12)の関係が満たされる。この状態においては、MOSトランジスタのドレイン電流の自乗特性から次式が求められる。
Figure 2008113196
したがって、VDD−V(20)=R・I(20)
>VDD−V(21)=R・I(21)
上式において記号^は、自乗を示す。また、Rは、抵抗素子RZ7およびRZ8の抵抗値を示す。
したがって、この全波整流回路ARWの出力振幅(VDD−V(20),VDD−V(21))と、プリアンプPA1およびPA2の入力の電圧振幅(V(PI)−V(NI),V(Ref2)−V(Ref1))の大小関係は保存される。
この入力端PIおよびNIにおける入力信号の振幅が、基準電圧Ref2−Ref1の振幅(Ref2−Ref1)よりも小さい場合には、出力電圧V(20)およびV(21)の電圧レベルが逆に変化するだけで、同様、この入力端に与えられる差動信号Drt,Drbと基準電圧の振幅関係は、全波整流回路AWRの出力において保存される。
したがって、この全波整流回路AWRにおいて、それぞれの信号電圧の加算値を電流信号に変換し、この加算値に対応する電流/電圧を比較することにより、入力差動信号の振幅が、基準電圧が規定する振幅よりも大きくなったかを識別することができる。
図1に示す電圧比較器CAPの出力信号30は、この全波整流回路AWRの出力信号20および21の電圧レベルの高低に応じた電圧レベルとなる。すなわち、相補信号DrtおよびDrbの差分値(差動信号の振幅)が、基準電圧の差分値よりも大きくなる場合には、電圧比較器CMPの出力信号30がHレベルとなり、無信号状態のときには、この電圧比較器CMPの出力信号30は、Lレベルとなる。この電圧比較器CMPの出力信号のLレベルの持続期間を、タイマTMRで検出する。
図7は、図1に示すタイマTMRの構成の一例を示す図である。図7において、タイマTMRは、ハイ側電源電源ノードと出力ノードND9の間に直列に接続されるPチャネルMOSトランジスタPQ5およびPQ6と、出力ノードND9とロー側電源ノードの間に接続されるNチャネルMOSトランジスタNQ5を含む。
MOSトランジスタPQ5は、ゲートにバイアス電圧Vbiasを受け、一定の電流を供給する電流源として機能する。MOSトランジスタPQ6およびNQ5は、それぞれのゲートに、電圧比較器の出力信号30を受ける。
タイマTMRは、さらに出力ノードND9とロー側電源ノードの間に接続される容量素子Cを含む。この容量素子Cを、バイアス電圧Vbiasで規定される電流で充電し、その充電電圧レベルにより、信号30のLレベル期間を検知する。
なお、図7において、容量素子Cの充電電流を規定するバイアス電圧Vbiasを示すが、このバイアス電圧Vbiasは、図3に示すバイアス電圧Vbiasと同一電圧レベルでなくてもよい。
図8は、図7に示すタイマTMRの動作を示す信号波形図である。以下、図8を参照して、図7に示すタイマTMRの動作について説明する。
時刻ta以前において、電圧比較器の出力信号30がHレベルのときには、MOSトランジスタNQ5がオン状態、MOSトランジスタPQ6がオフ状態である。したがって、容量素子Cは、ロー側電源電圧レベルに放電され、ノードND9の電圧レベルは、論理ローレベル(Lレベル)である。
時刻taにおいて、信号30がLレベルに低下すると、MOSトランジスタNQ5がオフ状態、MOSトランジスタPQ6がオン状態となる。応じて、MOSトランジスタPQ5およびPQ6を介して、ハイ側電源ノードから容量素子Cへ電流が供給される。この容量素子Cの充電電流は、バイアス電圧Vbiasにより規定されるMOSトランジスタPQ5の電流駆動力により決定される。
この状態において、ノードND9は、容量素子Cの容量値とバイアス電圧Vbiasが規定する定電流Iにより決定される速度で、その電圧レベルが徐々に上昇する。次に電圧比較器の出力信号30がHレベルに立上がる時刻tbまでの時間が十分長い場合、ノードND9の電圧レベルは判定基準レベルVtを超え、最終的に電源電圧VDDレベルまで充電される。
時刻tbにおいて、電圧比較器の出力信号30がHレベルに立上がると、MOSトランジスタNQ5がオン状態となり、高速で容量素子Cを放電し、ノードND9の電圧レベルはLレベルとなる。
時刻tcから時刻tdの短時間、電圧比較器の出力信号30が、Lレベルに駆動された状態を考える。この場合、容量素子Cは、短期間充電されるだけであり、その電圧レベルは、判定基準電圧Vtよりも低い電圧レベルである。この状態においては、信号30が、時刻tbにおいてHレベルに立上ると、ノードND9は即座に、Lレベルに駆動される。
したがって、この容量素子Cの充電電圧レベルを検出することにより、複雑な回路構成を利用することなく、無信号状態であるかデータ信号が送信されているかを識別することができる。
この信号30は、無信号状態のときにLレベルとされる。時刻taから判定基準値Vtを越えるまでの期間を適宜設定することにより、信号伝送時のデータ間の間隔と信号線路の異常状態の識別を正確に行なうことができる。この判定基準値Vtは、次段の検出部(ドライバ)の入力論理しきい値であり、この次段の検出部入力論理しきい値と容量素子Cの容量値とMOSトランジスタPQ5の充電電流とにより、無信号状態が線路の異常によるものかを決定する判断時間を設定する。
次段回路において、このノードND9の電圧レベルに応じて、無信号状態を検知して、必要な処理を実行する。
なお、電圧比較器30の出力信号を利用すれば、データ受信部において受信データの同期用クロック信号を再生することができる。すなわち、先の特許文献1に示されるように、データ送信時に、データがクロック信号の半サイクル期間転送され、クロック信号の半サイクルごとに、データ信号がハイインピーダンス状態に設定される場合、図8に示す時刻tdの出力信号30の立ち上がりは、送信データを受信を検出したことを示しており、この信号30の立ち上がりを利用することにより、受信信号の電圧レベルに悪影響を及ぼすことなく、入力データ信号取込タイミング信号を生成することができる。
[変更例]
図9は、この発明の実施の形態1の変更例の信号検知回路の構成を概略的に示す図である。この図9に示す信号検知回路の構成は、以下の点で、図1に示す信号検知回路とその構成が異なる。すなわち、入力回路2において、プリアンプPA1およびPA2は設けられていない。入力端PIおよびNIが、全波整流回路AWRに結合され、また、可変基準電圧発生回路VRGからの基準電圧Ref1およびRef2が、全波整流回路AWRにそれぞれ信号12および13に代えて与えられる。
この図9に示す信号検知回路の他の構成は、図1に示す構成と同じであり、対応する部分には同一参照番号を付し、その詳細説明は省略する。
この図9に示す構成においては、基準電圧と差動信号は以下の関係を満たす:
(Drt+Drb)/2=(Ref1+Ref2)/2
すなわち、基準電圧Ref1およびRef2の振幅の中間電圧(コモンレベル)は、差動信号Drt,Drbの振幅の中間値(コモンレベル)と等しくされる。この場合、プリアンプを用いて、このコモンレベルVcomを、互いに等しくする変換操作を行なう必要はない。
したがって、この図9に示す信号検知回路を用いても、全波整流回路AWRは、MOSトランジスタのゲートに入力差動信号を受けており、先の図1に示す信号検知回路と同様の作用効果を得ることができる。また、プリアンプを設ける必要がなく、回路のレイアウト面積および消費電流が低減される。
以上のように、この発明の実施の形態1に従えば、相補信号をゲート受け差動増幅器(MOSトランジスタのゲートで信号を受ける増幅器)で増幅し、また、基準電圧の差分値を生成し、これらの相補信号および相補基準電圧を各々差分値を保存するように電流加算し、この加算値情報の大小を比較している。したがって、正確に、入力差動信号に影響を及ぼすことなく、微小振幅の相補信号の存在を検知することができる。
また、これらの基準電圧Ref1およびRef2の電圧レベルを調整することにより、基準電圧の差分値ΔV2を調整することができ、応じて、相補信号対の差分値、すなわち差動信号の振幅の検知しきい値を調整することができる。
[実施の形態2]
図10は、この発明の実施の形態2に従う信号検知回路の全体の構成を概略的に示す図である。この図10に示す信号検知回路は、以下の点で、図1に示す信号検知回路とその構成が異なる。すなわち、入力回路2において、全波整流回路AWRとして、カレントミラー型全波整流回路CAWRが用いられる。このカレントミラー型全波整流回路CAWRにおいては、プリアンプPA1からの出力信号10および11との加算値とプリアンプPA2の出力信号12および13の加算値とに従ってカレントミラー動作による差動増幅を行なって、相補出力信号20および21を生成する。
この図10に示す信号検知回路の他の構成は、図1に示す信号検知回路の構成と同じであり、対応する部分には同一の参照番号を付し、その詳細説明は省略する。
図11は、図10に示すカレントミラー型全波整流回路CAWRの構成の一例を示す図である。図11において、カレントミラー型全波整流回路CAWRは、ハイ側電源ノードに結合され、カレントミラー回路を構成するPチャネルMOSトランジスタPQ10およびPQ11を含む。MOSトランジスタPQ10は、ゲートおよびドレインがノードND10に結合され、そのソースがハイ側電源ノードに結合される。
MOSトランジスタPQ11は、ゲートがノードND10に結合され、ドレインがノードND11に結合される。MOSトランジスタPQ10が、このカレントミラー回路のマスタを構成する。これらのMOSトランジスタPQ10およびPQ11はサイズが等しく、MOSトランジスタPQ11には、MOSトランジスタPQ10を流れる電流のミラー比1の電流が流れる。
カレントミラー型全波整流回路CAWRは、さらに、ノードND10とロー側電源ノードの間に並列に接続されるNチャネルMOSトランジスタNQ10およびNQ11と、ノードND11とロー側電源ノードの間に並列に接続されるNチャネルMOSトランジスタNQ12およびNQ13を含む。
MOSトランジスタNQ10およびNQ11は、それぞれ、ゲートに図10に示すプリアンプPA1の出力信号10および11を受ける。MOSトランジスタNQ12およびNQ13は、それぞれ、ゲートに、図10に示すプリアンプPA2の出力信号12および13を受ける。
この図11に示すカレントミラー型全波整流回路CAWRにおいては、ノードND10には、MOSトランジスタNQ10およびNQ11を流れる電流の加算値に等しい電流I(20)が流れる。同様、ノードND11においても、MOSトランジスタNQ12およびNQ13を流れる電流の加算値に等しい電流I(21)が流れる。したがって、図4に示す電流の表記を利用すると、次式が得られる。
I(20)=I(10)+I(11)、
I(21)=I(12)+I(13).
MOSトランジスタPQ10およびPQ11は、カレントミラー回路を構成し、同じ大きさの電流をノードND10およびND11へ流す。電流I(20)が、電流I(21)よりも大きい場合には、MOSトランジスタNQ12およびNQ13は、この電流をすべて放電できず、ノードND11の電圧V(21)が上昇する。すなわち、入力差動信号の振幅が基準電圧(参照電圧)の差分値よりも大きい場合には、信号21はハイレベルとなり、信号20がローレベルとなる。
一方、電流I(20)が、電流I(21)よりも小さい場合には、逆に、ノードND11の電圧V(21)がノードND10の電圧V(20)よりも低くなる。従って、無信号状態の時には、信号21がローレベル、信号20がハイレベルとなる。
ノードND10およびND11の信号20および21の電圧V(20)およびV(21)の電圧差は、したがって電流値I(10)+I(11)と、電流加算値I(12)+I(13)の加算値の差に比例する。この場合、MOSトランジスタPQ10およびPQ11を介して流れる電流は等しくとなるものの、ノードND10およびND11の放電電流量が異なる。出力信号20および21の電圧V(20)およびV(21)は、次の関係式を満たす:
V(20)−V(21)∝I(20)−I(21)
∝I(10)+I(11)−I(12)−I(13).
この関係式に対して、先の実施の形態1において式(1)を求めたときと同様に,MOSトランジスタのドレイン電流の自乗特性を適用することにより、実施の形態1と同様に、出力電圧V(20)およびV(21)において差動信号の振幅および基準電圧の差分値を保存することができる。したがって、入力差動信号振幅が、基準電圧差分値よりも大きいか小さいかを、この出力信号20および21の電圧レベルにより識別することができる。このカレントミラー回路(MOSトランジスタPQ10およびPQ11)を利用することにより、その差動動作により、電流加算値を高速で増幅して相補信号を生成することができる。
内部信号生成回路4の動作は、実施の形態1と同様である。したがって、この無信号状態を、高感度のカレントミラー型全波整流回路を利用することにより、より正確に識別することができる。
[変更例]
図12は、この発明の実施の形態2に従う信号検知回路のカレントミラー型全波整流回路CAWRの変更例を示す図である。この図12に示すカレントミラー型全波整流回路CAWRは、ハイ側電源ノードから定電流をノードND12に供給する電流源PチャネルMOSトランジスタPQ12と、ノードND12に共通にそのソースノードが結合され、それぞれ信号10、11、12および13をゲートに受けるPチャネルMOSトランジスタPQ13、PQ14、PQ15およびPQ16を含む。
MOSトランジスタPQ13およびPQ14のドレインノードは、共通にノードND13に結合される。MOSトランジスタPQ15およびPQ16のドレインは、共通にノードND14に結合される。MOSトランジスタPQ13およびPQ14に、電流I(10)およびI(11)がそれぞれ流れる。MOSトランジスタPQ15およびPQ16に電流I(12)およびI(13)がそれぞれ流れる。ノードND13および14に、出力信号21および20が、それぞれ、生成される。
カレントミラー型全波整流回路CAWRは、さらに、カレントミラー回路を構成するNチャネルMOSトランジスタNQ14およびNQ15を含む。MOSトランジスタNQ14は、ゲートおよびドレインがノードND13に結合され、ソースがロー側電源ノードに接続されて、カレントミラー回路のマスタとして動作する。MOSトランジスタNQ15は、ノードND14とロー側電源ノードの間に結合され、かつそのゲートがノードND13に結合される。MOSトランジスタNQ14およびNQ15には、これらのサイズは等しくされており、同じ大きさの電流を流す。
この図12に示すカレントミラー型全波整流回路CAWRの構成においては、MOSトランジスタNQ14を介して電流I(10)+I(11)が流れる。一方、ノードND14には、電流I(12)+I(13)が、MOSトランジスタPQ15およびPQ16を介して流れる。MOSトランジスタNQ14およびNQ15は、同じ大きさの電流を流す。したがって、ノードND14の電圧レベルは、加算電流I(10)+I(11)と加算電流I(12)+I(13)の差分値に応じた電圧レベルとなる。
振幅検出トランジスタとして、Pチャネルトランジスタが利用されていても、ドレイン電流はNチャネルMOSトランジスタと同様の自乗特性を有し、先の実施の形態1と同様の式で、加算電流の差分値を表現することができる。従って、この加算電流の差分値には、入力差動信号の振幅ΔV1と基準電圧の差分値ΔV2の大小関係が保存される。
従って、相補信号10および11の差分値ΔV1が、基準電圧12および13の差分値ΔV2よりも大きい場合には、ノードND13を流れる電流がノードND14を流れる電流よりも大きくなり、ノードND14からの信号20の電圧レベルは、ノードND13からの信号21の電圧レベルよりも低くなる。逆に、入力相補信号10および11の振幅が基準電圧12および13の差分値よりも小さい場合には、ノードND13を流れる電流が、ノードND14を流れる電流よりも大きくなる。応じて、MOSトランジスタNQ14およびNQ15のカレントミラー動作により、ノードND14からの信号20の電圧レベルが、ノードND13からの信号21の電圧レベルよりも高くなる。
次段の電圧比較器CMPで、信号20および21の電圧レベルを比較することにより、正確に、相補信号振幅が、基準電圧値の差分値以上あるかを判定することができる。
図11および図12に示す構成において、電源電圧VDDの電圧レベルとコモンレベルVcom(=(Vh+Vl)/2)の電圧レベルの関係に応じて、カレントミラー型全波整流回路CAWRの最も感度のよい領域で動作する構成を利用する。
このカレントミラー型全波整流器を利用することにより、その差動増幅動作により、高感度でかつ高速で入力差動信号と基準電圧の差分値との大小比較を行なうことが可能となる。
以上のように、この発明の実施の形態2に従えば、電流加算値を差動増幅するカレントミラー型全波整流回路を利用しており、高速でかつ正確に、この相補入力信号の差分値の大きさを識別することができる。また、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
なお、この実施の形態2においても、基準電圧Ref1およびRef2の中間電圧レベルが、差動信号Drt,Drbのコモンレベルと同じ場合には、プリアンプPA1およびPA2は設ける必要はない。
[実施の形態3]
図13は、この発明の実施の形態3に従う信号検知回路の全体の構成を概略的に示す図である。この図13に示す信号検知回路の構成は、以下の点で、図1に示す信号検知回路とその構成が異なる。すなわち、入力回路2において、プリアンプPA2へ与えられる電圧V1およびV2は、その電圧レベルが固定される。一方、プリアンプPA1およびPA2の出力信号10−13を受ける全波整流回路は、出力振幅可変全波整流回路VAWRで構成される。この出力振幅可変全波整流回路VAWRにより、比較基準振幅を調整し、応じて差動信号Drt,Drbの振幅の検知しきい値を調整する。
図14は、この図13に示す出力振幅可変全波整流回路VAWRの構成の一例を示す図である。図14に示す出力振幅可変全波整流回路VAWRの構成は、図1示す全波整流回路AWRの構成と以下の点でその構成が異なる。すなわち、ハイ側電源ノードとノードND7の間に可変抵抗素子Z10が接続され、ハイ側電源ノードとノードND8の間に可変抵抗素子Z11が接続される。これらの可変抵抗素子Z10およびZ11の抵抗値は、抵抗値設定回路RSKKによって設定される。可変抵抗素子Z10およびZ11の構成としては、たとえば先の図2に示す基準電圧発生回路の可変抵抗素子の構成と同様の構成が利用される。すなわち、各単位抵抗素子に並列に接続されるスイッチング素子を、抵抗値設定回路RSKKの出力信号により選択的に導通/非導通状態に設定する。この抵抗値設定データは、たとえば、抵抗値設定回路RSKKがレジスタ回路で構成された場合、そのレジスタ回路の格納値を初期設定することにより行なわれてもよい。
また、この抵抗値設定回路RSKKが、たとえばプログラマブルROM(読出専用メモリ)で構成され、この記憶値が、各用途に応じて可変とされて、プログラムを各フィールドで実行して記憶値を設定し、その記憶値に従って可変抵抗素子Z10およびZ11の抵抗値が設定されてもよい(スイッチングトランジスタの選択的導通/非導通状態の設定が行われても良い)。また、ヒューズ素子を用いて、可変抵抗素子Z10およびZ11の抵抗値の調整が行われても良い。
図14に示す出力振幅可変全波整流回路VAWRの他の構成は、先の図4に示す全波整流回路AWRの構成と同じであり、対応する部分には同一参照番号を付し、その詳細説明は省略する。
図14に示す出力振幅可変全波整流回路VAWRを利用した場合、MOSトランジスタNQ1およびNQ2を流れる電流の加算値I(20)とMOSトランジスタNQ3およびNQ4を流れる電流I(12)およびI(13)の加算値I(21)については、可変抵抗素子Z10およびZ11の抵抗値をR(10)およびR(11)とすると、先の式(1)を求めたときと同様にして、次の関係が得られる:
V(21)−V(20)
=R(11)・I(21)−R(10)・I(20)
∝2・(A−1)(Vcom+Vtn)^2
+2・(A・ΔV1^2−ΔV2^2)、
ここで、Aは、可変抵抗素子Z11およびZ10の抵抗値R(11)およびR(10)の比、R(10)/R(11)を示す。
Vcomは、差動信号のコモンレベル(基準値)を示し、Vtnは、MOSトランジスタNQ1−NQ4のしきい値電圧である。したがって、上式の最終辺の第1項は、定数である。
プリアンプPA2の出力信号12および13の差分値ΔV2も、その値は固定値(V1−V2)に対応する固定値である。したがって、差動信号の振幅ΔV1は、抵抗素子Z10およびZ11の比Aに応じて調整することができる。すなわち、出力信号20および21の電圧レベルV(20)およびV(21)の大小の判定に対して、この抵抗比Aの値を調整することにより差動信号の振幅ΔV1を、基準電圧の差分値ΔV2に対して拡大/縮小することができ、差動信号の差分値ΔV1の判定基準レベルを調整することができる。
すなわち、差動信号の振幅ΔV1の判定は、次の関係に基づいて行なわれる:
Figure 2008113196
ただし、K=Vcom+Vtn.
上述のように、相補信号の全波整流(電流加算)を行なう全波整流回路の出力振幅を変更可能とすることにより、この差動信号振幅の判定基準を最適値に設定することができ、各用いられる用途または動作環境に応じて最適値に判定基準を設定することができる。
なお、この実施の形態3においても、固定基準電圧V1およびV2のコモンレベル(中間値)が、差動信号DrtおよびDrbのコモンレベルと同じ電圧Vcomの場合には、プリアンプPA1およびPA2は特に用いる必要はない。
以上のように、この発明の実施の形態3に従えば、全波整流回路における出力信号の振幅を変更可能としており、固定電圧レベルの基準電圧を利用しても、正確に、この差動信号振幅の検知判定しきい値を最適値に設定することができる。
[実施の形態4]
図15は、この発明に従う信号検知回路を含む通信システムの構成の一例を示す図である。図15において、通信システムは、送信部100と、受信部110とを含む。送信部100と受信部110の間に、相補信号線対1tおよび1rが設けられる。通常、シリアルデータ転送モードにおいては、送信および受信が異なる信号線を介して行なわれ、伝送線路としては、全二重方式のデータ伝送路が設けられる。したがって、この相補信号線1tおよび1rは、送信部100から受信部110への一方方向のデータ転送路である。この相補信号線対1t,1rが、複数対設けられてもよい。
受信部110においては、相補信号線対1tおよび1rに結合される信号検知回路112と、相補信号線1tおよび1rを介して転送されるデータ信号を受信する受信バッファ114とを含む。この信号検知回路112は、先の実施の形態1から3において説明した構成のいずれかを有し、相補信号線1tおよび1rが、所定時間以上無信号状態にあるかを識別する機能を有する。
受信部110は、さらに、信号検知回路112からの出力信号を受けて通信制御を行なう通信制御回路116と、受信バッファ114から転送されたデータを処理して内部へ転送する次段回路118を含む。
通信制御回路116は、この信号検知回路112のタイマ出力信号(40)が、無信号状態を示している場合、伝送路にまたは送信部110の接続不良などのバス異常があると判定し、次段回路118の動作停止および必要な異常検出処理を実行する。
図15においては、受信バッファ114が、また、信号検知回路112からの出力信号を受けるように示す。この場合、受信バッファ114は、相補信号線対1t,1rに異常無信号状態が生じている場合、受信バッファ114は、動作停止状態とされて、出力ハイインピーダンス状態に維持されてもよい。
また、受信バッファ114は、この信号検知回路112に含まれる電圧比較器の出力信号を、データ取込のクロック信号として用いてデータの取込を行なうように構成されてもよい。すなわち、相補信号線1tおよび1rを介して相補信号が転送される場合、クロック信号の半サイクルデータ信号が転送され、残りの半サイクルは相補信号線1tおよび1rが中間電圧(コモンレベル)に設定される。従って、このデータ転送時に、相補信号線1tおよび1rの電圧変化を検出することにより、受信データ信号の存在およびサンプリングタイミングを検出することができる。すなわち、信号検知回路内の電圧比較器の出力信号をトリガとして受信バッファ114においてデータのサンプリング(取り込み)を行なうことにより、相補信号線1tおよび1rを介して転送されるデータ信号を確実に取り込むことができる。この場合、通信制御回路116が、信号検知回路112の電圧比較器の出力信号に従って、受信バッファ114の動作を制御してもよい。
この図15に示す通信システムは、たとえば演算処理システムにおけるプロセッサとメモリまたはプロセッサとプロセッサのように、データを相補信号線対を介して転送する構成であればよい。また、1つの半導体チップ上のメモリ回路において、送信部100が、内部データ読出回路であり、相補信号線対1t,1rが内部データ伝送路であり、受信部110は、データを外部へ出力する出力回路であってもよい。この場合、受信バッファ114は、内部のデータ読出回路(送信部100)から読出されたデータを順次転送する内部読出バッファとして構成され、次段回路118が、最終段の出力バッファとして構成される。半導体チップ内部での信号伝播遅延の影響を抑制して内部データ信号を正確に取り込んで、データを転送することができる。
また、相補信号線1tおよび1rにおいて、伝送信号の振幅が小さくなる場合においても、信号検知回路112においてデータ振幅検出しきい値を調整することにより、正確に振幅が減衰したデータ信号を検出することができる。
したがって、この発明に従う信号検知回路112は、ボードまたはチップ上で相補信号線対を介してデータを転送するシステム/装置において適用することができる。
以上のように、この発明の実施の形態3に従えば、信号検知回路の出力信号に従って転送データを受信する受信バッファの動作を制御しており、伝送線路の影響を抑制して正確にデータ信号を転送するシステムを構築することができる。
[実施の形態5]
図16は、この発明の実施の形態5に従う信号検知回路の構成を概略的に示す図である。この図16に示す信号検知回路は、以下の点で、その構成が、図1に示す信号検知回路と構成が異なる。すなわち、基準電圧発生回路RGAが、2組の基準電圧Refa,RefbおよびRefc,Refdを生成する。これらの基準電圧は、それぞれ電圧レベルが異なる。
プリアンプPA2の前段に、基準電圧RefaおよびRefbの一方を切換制御信号SWCTLに従って選択するセレクタ120と、基準電圧RefcおよびRefdの一方を切換制御信号SWCTLに従って選択するセレクタ121とが設けられる。セレクタ120および121が選択する電圧が比較参照電圧としてプリアンプPA2に与えられる。セレクタ120および121が選択する基準電圧の組、たとえば(Refa,Refc)および(Refb,Refd)は、差分値が同じであるが、プリアンプPA2の出力12および13の極性(コモンレベルに関して)を反転させる。すなわち、これらの基準電圧は以下の関係を満たす:
Refa>Refc, Refb<Refd.
これらの基準電圧の組の中間値(コモンレベル)は同一であってもよく、また異なっていてもよい。プリアンプPA2により、コモンレベルの相違は吸収することができる。
この図16に示す信号検知回路の他の構成は、図1に示す信号検知回路の構成と同じであり、対応する部分には同一参照符号/番号を付して、それらの詳細説明は省略する。
プリアンプPA2は、図3にその構成が示されるように、差動増幅動作を行なう。また、全波整流器AWRも、その構成を図4等に示すように差動増幅動作を行なう。通常、差動増幅器においては、素子(トランジスタ)特性のばらつきにより、オフセットが存在する。従って、入力信号の電圧レベルが固定される場合、差動増幅後の出力にオフセットが存在し、所望の電圧レベルの差動出力を得ることができなくなる可能性がある。
例えば、プリアンプPA2の出力信号12が、オフセットにより高いレベルにシフトした場合、全波整流器AWRに与えられる参照電圧の差分値が結果的に増大する。この状態では、データ信号が転送されていても無信号状態と誤判定する可能性がある。全波整流器AWRにおいても、そのプリアンプPA2の出力信号(比較)参照電圧12,13の電圧レベルが固定される場合、同様、オフセットにより、比較判定基準が固定的にずれ、正確な判定を行なうことができなくなる可能性がある。
セレクタ120および121を利用して、プリアンプPA2に対する基準電圧の電圧レベルを切換えることにより、プリアンプPA2の出力信号(参照電圧)12および13の極性を切換えることにより、このプリアンプPA2のオフセットを相殺して、正確な判定基準を生成する。同様、全波整流器AWRにおいても、与えられる比較参照電圧12および13の電圧レベルを切換えることにより、これらの入力参照電圧12および13をゲートに受けるトランジスタの素子特性のばらつきに起因するオフセットを相殺することができ、正確な判定動作(差動増幅動作)を行なうことができる。
プリアンプPA1については、転送相補信号DrtおよびDrbは、データ伝送時には、その極性が転送データ毎に異なる可能性が高く(同一論理値のデータが連続して転送される可能性は小さい)、このようなオフセットはデータ転送時において相殺されるため、特に問題は生じない。
セレクタ120および121に対する切換制御信号SWCTLは、データ転送クロック信号の周期を考慮して適切な周期で、セレクタ120および121の選択信号を切換えるように生成されればよい。この切換制御信号SWCTLは、たとえば図15に示す通信制御回路116から生成されればよい。この基準電圧の切換タイミングは、データ転送時、相補信号線1tおよび1rがコモンレベルに復帰している期間に行なってもよく、伝送データと同期して基準電圧を切換えても良い。入力差動信号と同期して基準電圧を切換える場合、内部においてデータ転送クロック信号と同一周波数の内部クロック信号を生成するクロック発生器を設け、データ伝送を検出すると、このクロック発生器を活性化して、内部のクロック信号に同期して切換制御信号SWCTLを生成する。
以上のように、この発明の実施の形態5に従えば、比較基準の参照電圧の極性を切換えるように構成しているため、差動増幅器のオフセットを相殺して、正確な入力差動信号の振幅の検出を行なうことができる。
なお、実施の形態5においても、実施の形態1と同様に基準電圧発生回路RGAの出力する基準電圧の電圧レベルが調整可能とされてもよく、また、実施の形態3と同様に、基準電圧発生回路の出力する基準電圧の電圧レベルが固定され、全波整流器の出力電圧振幅が可変とされてもよい。また、セレクタ120および121が選択する基準電圧の組のコモンレベルが、入力差動信号のコモンレベルと同一とされる場合には、実施の形態1の変更例と同様、プリアンプPA1およびPA2が、なくても良い。
[実施の形態6]
図17は、この発明の実施の形態6に従う信号検知回路の応用の構成を概略的に示す図である。図17に示す構成においては、入力信号INに従って相補信号OUTおよびOUTNを生成するドライバ130の利得を、このドライバ130の出力信号の振幅に従って調整する。ドライバ130への入力信号INは、差動信号であってもよい。このドライバ130は、入力信号に従って相補信号OUTおよびOUTNを生成して図示しない信号線を駆動することが要求されるだけであり、通信インタフェースの送信部のバスドライバであってもよく、集積回路装置内部の内部データバスを駆動するドライバであってもよい。ドライバ130は、可変利得増幅機能を有する回路構成であればよい。
このドライバ130の利得制御のために、スケルチ134が設けられる。このスケルチ134は、実施の形態1から3および5の信号検知回路のいずれかの構成と同様、全波整流器、および電圧比較器を少なくとも有し、利得制御の場合、電圧比較器CMPの出力信号が利用される。
スケルチ134は、基準電圧発生回路132の出力する基準電圧Ref1およびRef2トドライバ130の出力する相補信号OUTおよびOUTNとを受け、これらの差分値を比較し、その比較結果に従ってドライバ130の利得を制御する。
すなわち、スケルチ134は、ドライバ130の出力相補信号OUTおよびOUTNの差分値(差動信号の振幅)が基準電圧Ref1およびRef2の差分値よりも小さい時には、ドライバ130の利得を大きくし、逆の時には、ドライバ130の利得を維持する。これにより、ドライバ130の出力相補信号OUTおよびOUTNの振幅を、所定値以上に維持することができ、動作環境によるドライバ130の出力信号線または入力信号線の負荷のバラツキの影響を抑制して、所望の振幅の信号を伝送することができる。
また、ドライバ130の利得を動作環境に応じて調整することができ、最悪ケースを想定してドライバ130の利得を固定的に設定する必要がなく、ドライバの必要以上の消費電流を低減することができる。
ドライバ130の利得の調整は、ドライバ130の電流源トランジスタの駆動電流量を調整することにより、容易に行なうことができる。すなわち、ドライバ130において、複数の電流源トランジスタを並列に設け、これらの電流源トランジスタを、スケルチ134の出力信号に従って(電圧比較器の出力信号に従って)選択的に導通/非導通状態に設定する。
なお、基準電圧発生回路132の出力する基準電圧は、図17においては、その電圧レベルが可変とされている。しかしながら、これらの基準電圧Ref1およびRef2の電圧レベルが可変とされて、スケルチ134内部で、全波整流回路の出力信号の振幅を調整する構成が利用されてもよい。また、実施の形態5と同様、基準電圧発生回路132からの複数組からの基準電圧を選択してスケルチに与える構成が利用されてもよい。
また、ドライバ130に相補信号が与えられる場合には、スケルチ134において設けられるタイマの出力信号に従ってドライバ130を選択的に非活性状態に設定してもよい。すなわち、無信号状態が所定時間以上継続するとき、ドライバ130の相補出力信号OUTおよびOUTNは同一電圧レベルであり、差分値が基準電圧の差分値以下である。従って、信号伝送が行われていない時をスケルチ134内のタイマで検出して、ドライバ130の電流源トランジスタをオフ状態に設定する。これにより、無信号時の消費電流を低減することができる。
以上のように、この発明の実施の形態6に従えば、ドライバの相補出力信号の振幅と基準電圧の差分値との大小に応じて、ドライバの利得を調整している。従って、動作環境に応じて適応的に利得を調整して正確に信号を伝送することができ、次段回路(受信部)での誤動作を防止することができる。
この発明に係る信号検知回路は、一般に、相補信号を転送する回路に対して適用することができる。微小振幅の信号の伝送路に適用することにより、正確に微小信号の存在を検出することができる。特に、データをシリアルに、相補信号線対を介して転送するシステムに対して適用することができる。たとえば、シリアルATAまたはPCIエキスプレスなどのシリアル伝送モードで高速でデータ伝送を行なうインターフェイス回路の受信部に適用することにより、正確に、信号伝送状態を識別することができる。
この発明の実施の形態1に係る信号検知回路の全体の構成概略的に示す図である。 図1に示す基準電圧発生回路の構成の一例を示す図である。 図1に示すプリアンプの構成の一例を示す図である。 図1に示す全波整流回路の構成の一例を示す図である。 図4に示す全波整流回路の差動信号振幅と加算電流の関係を示す図である。 図4に示す全波整流回路における基準電圧振幅と加算電流の関係を示す図である。 図1に示すタイマの構成の一例を示す図である。 図7に示すタイマの動作を示す信号波形図である。 この発明の実施の形態1の変更例の信号検知回路の構成を示す図である。 この発明の実施の形態2に従う信号検知回路の構成を示す図である。 図10に示すカレントミラー型全波整流回路の構成の一例を示す図である。 図10に示すカレントミラー型全波整流回路の他の構成を示す図である。 この発明の実施の形態3に従う信号検知回路の構成を概略的に示す図である。 図13に示す出力信号可変全波整流回路の構成の一例を示す図である。 この発明の実施の形態4に従う通信システムの構成の一例を示す図である。 この発明の実施の形態5に従う信号検知回路の全体の構成を概略的に示す図である。 この発明の実施の形態6に従う信号検知回路の用途の一例の構成を示す図である。
符号の説明
1t,1b 相補信号線、PI,NI 入力段、VRG 基準電圧発生回路、PA1,PA2 プリアンプ、AWR 全波整流回路、CMP 電圧比較器、TMR タイマ、2 入力回路、4 内部信号形成回路、Z1−Z3 可変抵抗素子、RZ4−RZ8 抵抗素子、Z10,Z11 可変抵抗素子、PQ1−PQ6,PQ10−PQ16 PチャネルMOSトランジスタ、NQ1−NQ5,NQ10−NQ15 NチャネルMOSトランジスタ、CAWR カレントミラー型全波整流回路、VAWR 出力振幅可変全波整流回路、120,121 セレクタ、130 ドライバ、132 基準電圧発生回路、134 スケルチ。

Claims (11)

  1. 相補入力信号および相補参照電圧をそれぞれ高インピーダンスで受け、前記相補入力信号の電流加算信号および前記相補参照電圧の電流加算信号を生成し、かつこれらの電流加算信号をそれぞれ第1および第2の電圧信号に変換して出力する入力回路、
    前記入力回路の出力する第1および第2の電圧信号を比較し、該比較結果に従って、前記相補入力信号の差分値および前記相補参照電圧の差分値の大小を示す信号を生成する電圧比較回路を備える、信号検知回路。
  2. 前記相補入力信号は、相補信号線対を介して転送され、
    前記入力回路は、
    前記相補入力信号をゲートに受ける第1のトランジスタ対を含み、前記第1のトランジスタ対のゲート電圧を差動的に増幅して相補信号を生成する第1のプリアンプと、
    前記第1のプリアンプの出力する相補信号を電流加算し、該加算結果を電圧信号に変換して出力する第1の加算回路と、
    前記第1および第2の参照電圧をゲートに受ける第2のトランジスタ対を含み、前記第2のトランジスタ対のゲート電圧を差動的に増幅して相補信号を生成する第2のプリアンプと、
    前記第2のプリアンプの出力する相補信号を電流加算し、かつ電流加算信号を電圧信号に変換して出力する第2の加算回路とを含む、請求項1記載の信号検知回路。
  3. 前記相補入力信号は、相補信号線を介して転送され、
    前記入力回路は、
    前記相補入力信号をゲートに受ける第1のトランジスタ対を含み、前記相補入力信号を電流加算し、該加算電流信号を第1の電圧信号に変換して出力する第1の加算回路と、
    前記第1および第2の参照電圧をゲートに受ける第2のトランジスタ対を含み、前記第1および第2の参照電圧を電流加算し、該電流加算値を第2の電圧信号に変換して出力する第2の加算回路を備える、請求項1記載の信号検知回路。
  4. 相補入力信号をゲートに受ける第1のトランジスタ対と相補参照電圧をゲートに受ける第2のトランジスタ対とを含み、前記第1のトランジスタ対および前記第2のトランジスタ対をそれぞれ流れる電流を差動的に増幅して相補出力信号を生成する入力回路、および
    前記入力回路の相補出力信号を比較し、該比較結果に応じた信号を生成する電圧比較回路を備える、信号検知回路。
  5. 前記入力回路は、さらに、
    相補信号線路を転送される差動信号をゲートに受ける第3のトランジスタ対を含み、前記差動信号を差動増幅して前記相補入力信号を生成する第1のプリアンプと、
    電圧レベルの異なる第1および第2の基準電圧をゲートに受ける第4のトランジスタ対を含み、前記第1および第2の基準電圧を差動的に増幅して前記相補参照電圧を生成する第2のプリアンプを備える、請求項4記載の信号検知回路。
  6. 前記電圧比較回路の出力信号に従って、前記相補入力信号の差分値が前記相補参照電圧の差分値よりも小さい時間が予め定められた時間以上継続しているかを判定するタイマ回路をさらに備える、請求項1または4に記載の信号検知回路。
  7. 前記タイマは、前記電圧比較回路の出力信号に従って充電される容量素子を備える、請求項6記載の信号検知回路。
  8. 前記入力回路は、さらに、前記相補参照電圧の電圧レベルを調整する回路を備える、請求項1または4に記載の信号検知回路。
  9. 前記相補参照電圧の電圧レベルは、固定であり、
    前記第1および第2の加算回路は、出力電圧信号の電圧レベルを変更する回路をさらに含む、請求項1記載の信号検知回路。
  10. 前記入力回路は、
    複数組の基準電圧を生成する基準電圧発生回路と、
    前記相補参照電圧の極性を変更する様に、前記基準電圧発生回路の生成する基準電圧の組を選択するセレクタをさらに備える、請求項1または4に記載の信号検知回路。
  11. 前記相補入力信号は、前記電圧比較回路の出力信号に従って利得が調整されるドライバから生成される、請求項1または4に記載の信号検知回路。
JP2006294562A 2006-10-30 2006-10-30 信号検知回路 Expired - Fee Related JP4979344B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006294562A JP4979344B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 信号検知回路
TW096140001A TWI409478B (zh) 2006-10-30 2007-10-25 信號檢測電路
US11/976,497 US7944246B2 (en) 2006-10-30 2007-10-25 Signal detecting circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006294562A JP4979344B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 信号検知回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008113196A true JP2008113196A (ja) 2008-05-15
JP4979344B2 JP4979344B2 (ja) 2012-07-18

Family

ID=39329386

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006294562A Expired - Fee Related JP4979344B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 信号検知回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7944246B2 (ja)
JP (1) JP4979344B2 (ja)
TW (1) TWI409478B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010219882A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Hitachi Ltd 信号レベル変換回路および位相同期回路
US8212589B2 (en) 2009-07-06 2012-07-03 Renesas Electronics Corporation Circuit, apparatus, and method for signal transfer
JP2018514997A (ja) * 2015-03-30 2018-06-07 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated プログラマブル高速イコライザ及び関連方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5025171B2 (ja) * 2005-09-29 2012-09-12 エスケーハイニックス株式会社 差動増幅装置
KR101514963B1 (ko) * 2008-12-30 2015-05-11 주식회사 동부하이텍 데이터 수신 장치 및 방법
JP2010213246A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Ricoh Co Ltd 受信装置、駆動装置、画像形成装置
JP5306166B2 (ja) * 2009-12-21 2013-10-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 通信装置
US8854130B2 (en) * 2012-06-25 2014-10-07 Silicon Laboratories Inc. DC-coupled peak detector
TWI533600B (zh) * 2013-07-09 2016-05-11 晨星半導體股份有限公司 差動轉單端轉換器裝置及方法
JP7242124B2 (ja) * 2018-07-26 2023-03-20 エイブリック株式会社 電圧検出回路、半導体装置及び製造方法
US10734956B1 (en) * 2019-11-06 2020-08-04 Texas Instruments Incorporated Signal detection circuit
CN111208347A (zh) * 2020-03-16 2020-05-29 成都纳能微电子有限公司 高速差分信号幅值检测电路

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000083069A (ja) * 1998-07-10 2000-03-21 Hitachi Ltd 半導体装置のデジタル信号伝送回路、微少信号センス回路、およびデジタル信号伝送回路または微少信号センス回路を用いた半導体装置
US20050040864A1 (en) * 2003-08-18 2005-02-24 International Business Machines Corporation Apparatus and method for detecting loss of high-speed signal
US20050104628A1 (en) * 2003-11-18 2005-05-19 Toru Tanzawa Signal level detector and amplification factor control system using signal level detector
US20070271054A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-22 Minhan Chen Signal Detector with Calibration Circuit Arrangement

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3623004B2 (ja) * 1994-03-30 2005-02-23 松下電器産業株式会社 電圧レベル変換回路
JP4623556B2 (ja) * 2004-08-13 2011-02-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 信号検出回路

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000083069A (ja) * 1998-07-10 2000-03-21 Hitachi Ltd 半導体装置のデジタル信号伝送回路、微少信号センス回路、およびデジタル信号伝送回路または微少信号センス回路を用いた半導体装置
US20050040864A1 (en) * 2003-08-18 2005-02-24 International Business Machines Corporation Apparatus and method for detecting loss of high-speed signal
US20050104628A1 (en) * 2003-11-18 2005-05-19 Toru Tanzawa Signal level detector and amplification factor control system using signal level detector
JP2005151331A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Toshiba Corp 信号強度検波回路およびそれを用いた増幅率制御システム。
US20070271054A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-22 Minhan Chen Signal Detector with Calibration Circuit Arrangement

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010219882A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Hitachi Ltd 信号レベル変換回路および位相同期回路
US8212589B2 (en) 2009-07-06 2012-07-03 Renesas Electronics Corporation Circuit, apparatus, and method for signal transfer
JP2018514997A (ja) * 2015-03-30 2018-06-07 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated プログラマブル高速イコライザ及び関連方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI409478B (zh) 2013-09-21
US20080100347A1 (en) 2008-05-01
TW200831931A (en) 2008-08-01
JP4979344B2 (ja) 2012-07-18
US7944246B2 (en) 2011-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4979344B2 (ja) 信号検知回路
KR100456663B1 (ko) 입력 회로, 출력 회로, 입출력 회로 및 입력 신호 처리 방법
US7586336B2 (en) Method and circuit for squelch detection in serial communications
KR101548780B1 (ko) 전자 회로
US7778374B2 (en) Dual reference input receiver of semiconductor device and method of receiving input data signal
US6396309B1 (en) Clocked sense amplifier flip flop with keepers to prevent floating nodes
KR100967481B1 (ko) 데이터 전송 시스템
US20080088365A1 (en) Semiconductor device and method for decreasing noise of output driver
US8896348B2 (en) Semiconductor apparatus
US20200042488A1 (en) Embedded universal serial bus 2 repeater
US8542035B2 (en) Squelch detection circuit
US10018680B2 (en) Semiconductor device, battery monitoring system, and method for activating semiconductor device
CN112562753A (zh) 参考电压训练电路以及包括其的半导体设备
US7737748B2 (en) Level shifter of semiconductor device and method for controlling duty ratio in the device
US7518411B2 (en) Data receiving apparatus using semi-dual reference voltage
US6937664B1 (en) System and method for multi-symbol interfacing
KR102618526B1 (ko) 수신기, 이를 포함하는 수신 회로, 반도체 장치 및 반도체 시스템
KR20160105085A (ko) 고속 통신을 위한 버퍼 회로를 포함하는 인터페이스 회로, 이를 포함하는 반도체 장치 및 시스템
US20020105357A1 (en) Digital data coincidence determining circuit
KR100940842B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 듀티 싸이클 보정 회로
US8476933B2 (en) Receiver circuit of semiconductor apparatus and method for receiving signal
CN110164491B (zh) 缓冲电路以及包括缓冲电路的半导体装置和系统
JP4679278B2 (ja) 半導体装置
JP2009194600A (ja) 検出回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091001

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20100526

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120308

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120410

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120417

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150427

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4979344

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees