JP2008111757A - 微細粒子成分分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】大気をサンプリングするサンプリング装置11と、サンプリング装置11でサンプリングされたサンプリングガス1中から目的とする粒径のナノメータサイズの微細粒子2を分級して送出する静電式の分級器12と、分級器12から送出された微細粒子2のうちの一部を吸着すると共に、吸着した当該微細粒子2の成分を送出する濃縮装置15と、分級器12からの微細粒子2の成分及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分を分析するレーザイオン化飛行時間型の質量分析装置14と、分級器12からの微細粒子2及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分のいずれか一方を質量分析装置14に送給するように切り換える三方制御弁16A〜16Cを備えて微細粒子成分分析装置10を構成した。
【選択図】図1
Description
制御装置19は、当初、図2Aに示すように、分級器12の試料送出口と質量分析装置14の装置本体14aの試料受入口との間のみを連絡させるように前記三方制御弁16Aを調整し、分級器12の試料送出口と濃縮装置15の試料受入口との間のみを連絡させるように前記三方制御弁16Bを調整し、濃縮装置15の試料送出口と系外との間のみを連絡させるように前記三方制御弁16Cを調整する。
このようにして前記濃縮装置15の吸収剤15cに前記微細粒子2を所定時間(例えば、20分)吸着すると、前記制御装置19は、予め入力されたタイムチャートに基づいて、図2Bに示すように、濃縮装置15のキャリアガス送給装置15eとキャピラリ管15bとの間のみを連絡させるように前記三方制御弁16Bを調整し、濃縮装置15の試料送出口と質量分析装置14の装置本体14aの試料受入口との間のみを連絡させるように前記三方制御弁16A,16Cを調整する。
2 微細粒子
3 キャリアガス
4 雰囲気ガス
5 レーザ光
10 微細粒子成分分析装置
11 サンプリング装置
12 分級器
13 粒子数計測装置
14 レーザイオン化飛行時間型質量分析装置
14a 装置本体
14b レーザ発振器
15 濃縮装置
15a ケーシング
15b キャピラリ管
15c 吸着剤
15d 光線輻射ヒータ
15e キャリアガス送給装置
15f 雰囲気ガス送給装置
16A〜16C 三方制御弁
17 分離カラム
18 温度センサ
19 制御装置
Claims (10)
- ガス中の微細粒子の成分を分析する微細粒子成分分析装置であって、
前記ガスをサンプリングするガスサンプリング手段と、
前記ガスサンプリング手段でサンプリングされた前記ガス中から目的とする粒径の前記微細粒子を分級して送出する分級手段と、
前記分級手段から送出された前記微細粒子のうちの一部を蓄積すると共に、蓄積した当該微細粒子の成分を送出する濃縮手段と、
前記分級手段からの前記微細粒子の成分及び前記濃縮手段からの前記微細粒子の成分を分析する分析手段と
を備えていることを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項1において、
前記分級手段からの前記微細粒子及び前記濃縮手段からの前記微細粒子の成分のいずれか一方を前記分析手段に送給するように切り換える切換手段を備えている
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記濃縮手段が、
前記微細粒子を吸着する吸着剤と、
前記吸着剤を加熱する加熱手段と、
前記吸着剤にキャリアガスを送給するキャリアガス送給手段と
を備えていることを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項3において、
前記濃縮手段の前記加熱手段が、光線の輻射により加熱する光線輻射ヒータである
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項4において、
前記濃縮手段が、
前記吸着剤と前記光線輻射ヒータとの間の雰囲気を更新する雰囲気更新手段を備えている
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項4又は請求項5において、
前記濃縮手段の前記吸着剤を複数の規定温度に段階的に維持するように前記光線輻射ヒータを制御する制御手段を備えている
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項3から請求項6のいずれかにおいて、
前記吸着剤が、ガラスウール、表面をシラン処理したガラスビーズ、珪藻土系化合物のうちのいずれかである
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項1から請求項7のいずれかにおいて、
前記濃縮手段と前記分析手段との間に分離カラムを備えている
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項1から請求項8のいずれかにおいて、
前記分級手段が、静電式の分級器である
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。 - 請求項1から請求項9のいずれかにおいて、
前記分析手段が、レーザイオン化飛行時間型の質量分析装置である
ことを特徴とする微細粒子成分分析装置。
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