JP2008109284A - 画像欠陥補正装置、画像欠陥補正方法、及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】受光素子102が所定の無効信号領域に対向しているときに、点欠陥が存在する垂直CCDで得られる輝度信号の平均値と、複数の垂直CCD103で得られる輝度信号の平均値との差分から第1の補正値を求める。同一の垂直CCD上に複数の点欠陥106,107が存在する場合に、水平CCD104から出力された輝度信号が対応するY方向位置が、複数の点欠陥の各Yアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する。複数の所定係数の中から、判定された領域に対応する所定係数を選択し、該所定係数を、前記第1の補正値に乗算して第2の補正値を算出し、この第2の補正値によって、前記水平CCDから出力された前記輝度信号を補正する。
【選択図】図1
Description
=1−PERMUT(3000,10)/(3000^10)
≒0.015=1.5%
ここでPERMUT(a,b)は、a個からb個を選ぶ順列の数とする。
また高速転送用の垂直転送パルスの周期をTf、通常転送用の垂直転送パルスの周期をTnとすると、レベルL1,L2,L3は下記式(2)〜(4)により表される。
L2=L1+Tnα=α(Tf+Tfγ+Tn) ・・・(3)
L3=L2+Tnβ=L2+Tnαγ=α(Tf+Tfγ+Tn+Tnγ)・・(4)
ところで、上記式(4)に基づき、キズ信号レベルαは、下記式(5)で表される。
ここで、周期Tf、Tnは、駆動パターンにより予め決定される。比率γに関しては、後述する調整処理によって予め決めることができる。また、レベルL3の値は、上述のように、列平均値保持部120が保持している、点欠陥106および点欠陥107が存在する垂直CCDの列の平均値から平均値BASE_LEVELを減算した値にほぼ等しい。したがって、キズ信号レベルαの実際の値が、上記式(5)に基づいて算出され得る。
K12=L2/L3 ・・・(7)
これらに上記式(2)〜(4)を代入することで下記式(8)、(9)が得られる。
K12=(Tf+Tfγ+Tn)/(Tf+Tfγ+Tn+Tnγ) ・・・(9)
なお、線キズ情報保持部118には、同一の垂直CCD(同列)に対して最大2つの点欠陥情報(線キズ情報)を保持できるとしたが、3つ以上の点欠陥情報(線キズ情報)を保持できるようにしてもよい。
以上のように、本実施の形態では、Yアドレスと垂直CCD上の点欠陥の位置との関係により、複数の所定係数から適切な係数を選択する。これによって、同一の垂直CCD上に複数の点欠陥があっても、この点欠陥による白縦線を良好に補正することができる。かくして、撮像素子の製造上の歩留まりを向上させ、デジタルビデオやデジタルカメラなどの固体撮像素子を使用する製品の製造コストを抑えることを可能にする。
なお、図1に示す画像欠陥補正装置はハードウェア構成となっているが、これに代わって、該画像欠陥補正装置を、CPU,RAM,ROM、入出力装置等から成る情報処理装置で構成するようにしてもよい。そして、上述の画像欠陥補正装置の諸機能を、該情報処理装置が制御プログラムを実行することによって実現するようにしてもよい。
102 複数の受光素子102
103 複数の垂直CCD(電荷結合素子)
104 水平CCD(電荷結合素子)
105 出力アンプ
106,107 点欠陥
108 CDSアンプ
109 A/D変換器
110 補正部(補正手段)
111 駆動部
112 画素クロック発振器
113 Xカウンタ
114 Yカウンタ
115 HDデコーダ
116 VDデコーダ
117 補正値演算部(決定手段、第1の補正値算出手段、領域判定手段、第2の補正値算出手段)
118 線キズ情報保持部
119 平均値算出部
120 列平均値保持部
Claims (13)
- 2次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも1つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置において、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するXアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するYアドレスとを決定する決定手段と、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定手段によって決定されたXアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第1の補正値を求める第1の補正値算出手段と、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するY方向位置が、前記複数の点欠陥の各Yアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定手段と、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段によって判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第1の補正値算出手段によって算出された第1の補正値に乗算して第2の補正値を算出する第2の補正値算出手段と、
前記第2の補正値算出手段によって算出された第2の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正手段と
を有することを特徴とする画像欠陥補正装置。 - 前記複数の所定係数は、静止画撮影の場合には互いに異なった値であり、動画撮影の場合には同一の値であることを特徴とする請求項1記載の画像欠陥補正装置。
- 前記Xアドレス、Yアドレス、および所定係数を対応の点欠陥に関連付けて保持するテーブルを有することを特徴とする請求項1記載の画像欠陥補正装置。
- 前記テーブルは、前記複数の垂直電荷結合素子に存在する全部の点欠陥に関するXアドレス、Yアドレス、および所定係数を保持するとともに、同一の垂直電荷結合素子に複数の点欠陥が存在する場合の該複数の点欠陥に関するXアドレス、Yアドレス、および所定係数も保持し、
前記テーブルでは、Xアドレスを昇降順にソートされ、同一Xアドレスに対応する複数のYアドレスも昇降順にソートされることを特徴とする請求項3記載の画像欠陥補正装置。 - 前記所定係数は、同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥によって発生するキズ信号の相対的なレベル比率と、前記複数の垂直電荷結合素子を駆動するパルスの周期とから決まることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の画像欠陥補正装置。
- 前記レベル比率は、前記同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥のうち、前記水平電荷結合素子に最も近い位置に存在する点欠陥を基準とした比率であることを特徴とする請求項5記載の画像欠陥補正装置。
- 2次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも1つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法において、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するXアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するYアドレスとを決定する決定ステップと、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定ステップにおいて決定されたXアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第1の補正値を求める第1の補正値算出ステップと、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するY方向位置が、前記複数の点欠陥の各Yアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定ステップと、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段において判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第1の補正値算出ステップにおいて算出された第1の補正値に乗算して第2の補正値を算出する第2の補正値算出ステップと、
前記第2の補正値算出ステップにおいて算出された第2の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正ステップと
を有することを特徴とする画像欠陥補正方法。 - 前記複数の所定係数は、静止画撮影の場合には互いに異なった値であり、動画撮影の場合には同一の値であることを特徴とする請求項7記載の画像欠陥補正方法。
- 前記画像欠陥補正装置が、前記Xアドレス、Yアドレス、および所定係数を対応の点欠陥に関連付けて保持するテーブルを有することを特徴とする請求項7記載の画像欠陥補正方法。
- 前記テーブルは、前記複数の垂直電荷結合素子に存在する全部の点欠陥に関するXアドレス、Yアドレス、および所定係数を保持するとともに、同一の垂直電荷結合素子に複数の点欠陥が存在する場合の該複数の点欠陥に関するXアドレス、Yアドレス、および所定係数も保持し、
前記テーブルでは、Xアドレスを昇降順にソートされ、同一Xアドレスに対応する複数のYアドレスも昇降順にソートされることを特徴とする請求項9記載の画像欠陥補正方法。 - 前記所定係数は、同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥によって発生するキズ信号の相対的なレベル比率と、前記複数の垂直電荷結合素子を駆動するパルスの周期とから決まることを特徴とする請求項7〜10のいずれかに記載の画像欠陥補正方法。
- 前記レベル比率は、前記同一の垂直電荷結合素子に存在する複数の点欠陥のうち、前記水平電荷結合素子に最も近い位置に存在する点欠陥を基準とした比率であることを特徴とする請求項11記載の画像欠陥補正方法。
- 2次元状に複数個配列された受光素子から、複数の垂直電荷結合素子及び少なくとも1つの水平電荷結合素子によって所定の順序で出力される輝度信号に含まれる画像欠陥を補正する画像欠陥補正装置に適用される画像欠陥補正方法を、コンピュータに実行させるためのプログラムにおいて、
前記複数の垂直電荷結合素子のうち点欠陥が存在する垂直電荷結合素子を特定するXアドレスと、該特定された垂直電荷結合素子上の点欠陥の位置を特定するYアドレスとを決定する決定ステップと、
前記受光素子が所定の無効信号領域に対向しているときに、前記決定ステップにおいて決定されたXアドレスにより特定される垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値と、前記複数の垂直電荷結合素子で得られる輝度信号の平均値との差分から第1の補正値を求める第1の補正値算出ステップと、
同一の垂直電荷結合素子上に複数の点欠陥が存在する場合に、前記水平電荷結合素子から出力された受光素子ごとの輝度信号が対応するY方向位置が、前記複数の点欠陥の各Yアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する領域判定ステップと、
前記複数の点欠陥に対応する複数の所定係数の中から、前記領域判定手段において判定された領域に対応する所定係数を選択し、該選択された所定係数を、前記第1の補正値算出ステップにおいて算出された第1の補正値に乗算して第2の補正値を算出する第2の補正値算出ステップと、
前記第2の補正値算出ステップにおいて算出された第2の補正値によって、前記水平電荷結合素子から出力された前記輝度信号を補正する補正ステップと
を有することを特徴とするプログラム。
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