JP3157455B2 - スミア除去回路 - Google Patents
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子から
取り出される画像信号に対して、固体撮像素子の垂直転
送動作に起因して発生する垂直スミアを除去するように
したスミア除去回路に関する。
取り出される画像信号に対して、固体撮像素子の垂直転
送動作に起因して発生する垂直スミアを除去するように
したスミア除去回路に関する。
【0002】
【従来の技術】固体撮像素子を用いた撮像装置において
は、固体撮像素子の露光状態を最適に保つように露光制
御手段が設けられる。この露光制御手段としては、固体
撮像素子に入射する光量を被写体の輝度に応じて制御す
る機械的な絞り機構や、固体撮像素子の電荷の蓄積時間
を被写体の輝度に応じて伸縮制御する、いわゆる電子シ
ャッタなどが知られてる。
は、固体撮像素子の露光状態を最適に保つように露光制
御手段が設けられる。この露光制御手段としては、固体
撮像素子に入射する光量を被写体の輝度に応じて制御す
る機械的な絞り機構や、固体撮像素子の電荷の蓄積時間
を被写体の輝度に応じて伸縮制御する、いわゆる電子シ
ャッタなどが知られてる。
【0003】図8は、フレーム転送方式のCCD固体撮
像素子を用いた撮像装置の構成を示すブロック図で、図
9は、その動作を説明するタイミング図である。固体撮
像素子1は、受光部1i、蓄積部1s、水平転送部1h
及び出力部1dより構成される。受光部1iは、互いに
平行に配列される垂直方向に連続する複数のシフトレジ
スタからなり、これらのシフトレジスタの各ビットが複
数の受光ビットを形成し、各受光ビットに被写体映像に
対応して発生する情報電荷を蓄積する。蓄積部1sは、
受光部1iの各シフトレジスタに連続し、且つ、ビット
数が一致する複数のシフトレジスタからなり、シフトレ
ジスタの各ビットが蓄積ビットを形成し、各蓄積ビット
に受光部部1iから転送される情報電荷を一時的に蓄積
する。水平転送部1hは、蓄積部1sの複数のシフトレ
ジスタの各出力がそれぞれ各ビットに接続される単一の
シフトレジスタからなり、蓄積部1sに蓄積される1画
面分の情報電荷を1行単位で受け取り、順次水平方向に
転送して出力する。そして、出力部1dは、電気的に独
立した容量及びその容量の電位変化を取り出すアンプか
らなり、水平転送部1hから出力される情報電荷を1ビ
ット単位で容量に受けて電圧値に変換し、画像信号Y0
(t)として出力する。
像素子を用いた撮像装置の構成を示すブロック図で、図
9は、その動作を説明するタイミング図である。固体撮
像素子1は、受光部1i、蓄積部1s、水平転送部1h
及び出力部1dより構成される。受光部1iは、互いに
平行に配列される垂直方向に連続する複数のシフトレジ
スタからなり、これらのシフトレジスタの各ビットが複
数の受光ビットを形成し、各受光ビットに被写体映像に
対応して発生する情報電荷を蓄積する。蓄積部1sは、
受光部1iの各シフトレジスタに連続し、且つ、ビット
数が一致する複数のシフトレジスタからなり、シフトレ
ジスタの各ビットが蓄積ビットを形成し、各蓄積ビット
に受光部部1iから転送される情報電荷を一時的に蓄積
する。水平転送部1hは、蓄積部1sの複数のシフトレ
ジスタの各出力がそれぞれ各ビットに接続される単一の
シフトレジスタからなり、蓄積部1sに蓄積される1画
面分の情報電荷を1行単位で受け取り、順次水平方向に
転送して出力する。そして、出力部1dは、電気的に独
立した容量及びその容量の電位変化を取り出すアンプか
らなり、水平転送部1hから出力される情報電荷を1ビ
ット単位で容量に受けて電圧値に変換し、画像信号Y0
(t)として出力する。
【0004】クロック発生回路2は、フレーム転送クロ
ック発生部2f、垂直転送クロック発生部2v、水平転
送クロック発生部2h及び基板クロック発生部2bより
構成される。フレーム転送クロック発生部2fは、垂直
同期信号VDに同期し、垂直走査のブランキング期間内
に受光部1iの情報電荷を素早く蓄積部1sへ転送する
フレーム転送クロックφfを受光部1iに供給する。垂
直転送クロック発生部2sは、フレーム転送クロックφ
fによって転送される情報電荷を蓄積部1sに取り込む
と共に、取り込んだ1画面分の情報電荷を水平同期信号
HDに同期し、水平走査のブランキング期間内に1行ず
つ水平転送部1hへ転送する垂直転送クロックφvを蓄
積部1sに供給する。水平転送クロック発生部2hは、
水平同期信号HDに同期し、垂直転送クロックφvに応
答して1行毎に水平転送部1hに取り込まれる情報電荷
を順次出力部1d側へ転送する水平転送クロックφhを
水平転送部1hに供給する。また、水平転送クロック発
生部2hでは、出力部1dの容量に1ビット単位で蓄積
される情報電荷を水平転送クロックφhに同期して排出
するリセットクロックφrが生成され、出力部1dに供
給される。そして、基板クロック発生部2bは、垂直走
査期間の途中で所定の期間立ち上げられる基板クロック
φbを固体撮像素子1の基板側に印加する。この基板ク
ロックφbは、受光部1iに蓄積される情報電荷を排出
するためのものであり、基板クロックφbによる情報電
荷の排出動作が完了してからフレーム転送クロックφf
による情報電荷の転送動作が開始されるまでの期間Lが
情報電荷の蓄積時間となる。尚、基板クロックφbが立
ち上げられる期間には、フレーム転送クロックφfが撮
像部1iのゲート電極をクロッキングし、撮像部1iの
情報電荷を効率よく排出させるようにしている。
ック発生部2f、垂直転送クロック発生部2v、水平転
送クロック発生部2h及び基板クロック発生部2bより
構成される。フレーム転送クロック発生部2fは、垂直
同期信号VDに同期し、垂直走査のブランキング期間内
に受光部1iの情報電荷を素早く蓄積部1sへ転送する
フレーム転送クロックφfを受光部1iに供給する。垂
直転送クロック発生部2sは、フレーム転送クロックφ
fによって転送される情報電荷を蓄積部1sに取り込む
と共に、取り込んだ1画面分の情報電荷を水平同期信号
HDに同期し、水平走査のブランキング期間内に1行ず
つ水平転送部1hへ転送する垂直転送クロックφvを蓄
積部1sに供給する。水平転送クロック発生部2hは、
水平同期信号HDに同期し、垂直転送クロックφvに応
答して1行毎に水平転送部1hに取り込まれる情報電荷
を順次出力部1d側へ転送する水平転送クロックφhを
水平転送部1hに供給する。また、水平転送クロック発
生部2hでは、出力部1dの容量に1ビット単位で蓄積
される情報電荷を水平転送クロックφhに同期して排出
するリセットクロックφrが生成され、出力部1dに供
給される。そして、基板クロック発生部2bは、垂直走
査期間の途中で所定の期間立ち上げられる基板クロック
φbを固体撮像素子1の基板側に印加する。この基板ク
ロックφbは、受光部1iに蓄積される情報電荷を排出
するためのものであり、基板クロックφbによる情報電
荷の排出動作が完了してからフレーム転送クロックφf
による情報電荷の転送動作が開始されるまでの期間Lが
情報電荷の蓄積時間となる。尚、基板クロックφbが立
ち上げられる期間には、フレーム転送クロックφfが撮
像部1iのゲート電極をクロッキングし、撮像部1iの
情報電荷を効率よく排出させるようにしている。
【0005】タイミング制御回路3は、垂直同期信号V
D及び水平同期信号HDに基づいて、垂直走査に同期し
たフレーム転送タイミング信号FT、垂直走査及び水平
走査に同期した垂直転送タイミング信号VT及び水平走
査に同期した水平転送タイミング信号HTを生成し、ク
ロック発生回路2の各部2f、2v、2hに供給する。
また、後述するデジタル信号処理回路6から供給される
積分データに基づいて、排出タイミング信号BTを生成
し、クロック発生回路2の基板クロック発生部2bに供
給する。この排出タイミング信号BTは、画像データD
1(n)の1画面毎の積分値を表す積分データが適正値より
大きくなった場合にはタイミングを遅らせて情報電荷の
蓄積時間Lを短くし、逆に、適正値より小さくなった場
合にはタイミングを早めて情報電荷の蓄積時間を長くす
るように生成される。これにより、固体撮像素子1の露
光状態が常に適正になるようにフィードバック制御が行
われる。
D及び水平同期信号HDに基づいて、垂直走査に同期し
たフレーム転送タイミング信号FT、垂直走査及び水平
走査に同期した垂直転送タイミング信号VT及び水平走
査に同期した水平転送タイミング信号HTを生成し、ク
ロック発生回路2の各部2f、2v、2hに供給する。
また、後述するデジタル信号処理回路6から供給される
積分データに基づいて、排出タイミング信号BTを生成
し、クロック発生回路2の基板クロック発生部2bに供
給する。この排出タイミング信号BTは、画像データD
1(n)の1画面毎の積分値を表す積分データが適正値より
大きくなった場合にはタイミングを遅らせて情報電荷の
蓄積時間Lを短くし、逆に、適正値より小さくなった場
合にはタイミングを早めて情報電荷の蓄積時間を長くす
るように生成される。これにより、固体撮像素子1の露
光状態が常に適正になるようにフィードバック制御が行
われる。
【0006】アナログ信号処理回路4は、固体撮像素子
1から出力される画像信号Y0(t)を取り込み、サンプル
ホールド、AGC(自動利得制御)等の処理を施し、所
定のフォーマットに従う画像信号Y1(t)として出力す
る。例えば、サンプルホールド処理においては、基準レ
ベルと信号レベルとが固体撮像素子1の出力動作に従う
一定の周期で交互に繰り返される画像信号Y0(t)から、
各レベルの差のみが取り出される。また、AGC処理で
は、画像信号Y1(t)の1画面内の平均レベルを適正な範
囲に納めるように画像信号Y0(t)に対する利得が調整さ
れる。A/D変換回路5は、アナログ信号処理回路4か
ら出力される画像信号Y1(t)をアナログ信号処理回路4
の処理動作(固体撮像素子1の出力動作)に同期してデ
ジタルデータに変換し、固体撮像素子1の各受光ビット
に対応した画像データD1(n)を生成する。そして、デジ
タル信号処理回路6は、画像データD1(n)を取り込み、
輪郭補正や1画面単位での積分処理、さらに、カラー撮
像の場合には、色バランスの制御やフィルタリング等の
処理を施し、新たな画像データD2(n)として出力する。
この画像データD2(n)は、D/A変換回路によりアナロ
グ値に変換されて表示装置に転送されるか、あるいは、
そのまま記録媒体に記録される。
1から出力される画像信号Y0(t)を取り込み、サンプル
ホールド、AGC(自動利得制御)等の処理を施し、所
定のフォーマットに従う画像信号Y1(t)として出力す
る。例えば、サンプルホールド処理においては、基準レ
ベルと信号レベルとが固体撮像素子1の出力動作に従う
一定の周期で交互に繰り返される画像信号Y0(t)から、
各レベルの差のみが取り出される。また、AGC処理で
は、画像信号Y1(t)の1画面内の平均レベルを適正な範
囲に納めるように画像信号Y0(t)に対する利得が調整さ
れる。A/D変換回路5は、アナログ信号処理回路4か
ら出力される画像信号Y1(t)をアナログ信号処理回路4
の処理動作(固体撮像素子1の出力動作)に同期してデ
ジタルデータに変換し、固体撮像素子1の各受光ビット
に対応した画像データD1(n)を生成する。そして、デジ
タル信号処理回路6は、画像データD1(n)を取り込み、
輪郭補正や1画面単位での積分処理、さらに、カラー撮
像の場合には、色バランスの制御やフィルタリング等の
処理を施し、新たな画像データD2(n)として出力する。
この画像データD2(n)は、D/A変換回路によりアナロ
グ値に変換されて表示装置に転送されるか、あるいは、
そのまま記録媒体に記録される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】フレーム転送方式の固
体撮像素子1においては、受光部1iの各受光ビットに
蓄積される情報電荷を蓄積部1sの蓄積ビットまで転送
する際、光を受けて常に電荷を発生している受光ビット
を通過させている。このため、受光ビット内を転送され
る過程で、不要な電荷、即ち、スミア電荷が情報電荷に
混入し、再生画面上にスミアを発生させている。例え
ば、図10に示すように、受光部1iの一部に明るいス
ポット光があたっている場合、各受光ビットに蓄積され
る情報電荷を蓄積部1sの蓄積ビットへ転送する際、ス
ポット光のあたってる部分を通過して転送される情報電
荷に多量のスミア電荷が混入することになる。これによ
って、固体撮像素子1から得られる画像信号を表示する
再生画面上では、明るい被写体の下の位置にスミアが発
生し易くなる。
体撮像素子1においては、受光部1iの各受光ビットに
蓄積される情報電荷を蓄積部1sの蓄積ビットまで転送
する際、光を受けて常に電荷を発生している受光ビット
を通過させている。このため、受光ビット内を転送され
る過程で、不要な電荷、即ち、スミア電荷が情報電荷に
混入し、再生画面上にスミアを発生させている。例え
ば、図10に示すように、受光部1iの一部に明るいス
ポット光があたっている場合、各受光ビットに蓄積され
る情報電荷を蓄積部1sの蓄積ビットへ転送する際、ス
ポット光のあたってる部分を通過して転送される情報電
荷に多量のスミア電荷が混入することになる。これによ
って、固体撮像素子1から得られる画像信号を表示する
再生画面上では、明るい被写体の下の位置にスミアが発
生し易くなる。
【0008】このようなスミアを抑圧する方法として
は、本出願人による特願平1−120908号(特開平
2−301270号)に示されるように、1行分のスミ
ア情報をラインメモリに記憶し、そのスミア情報を画像
信号の各行毎に差し引くことが考えられている。しかし
ながら、フレーム転送方式の固体撮像素子1の場合、受
光部1iの最初の行の読み出しから最後の行の読み出し
までの間に時間差があるため、画像信号に含まれるスミ
ア成分は1行毎に段階的に増加する。従って、ラインメ
モリに記憶されたスミア情報を各行毎に画像信号から差
し引いたとしても、情報電荷の読み出しの時間差に起因
するスミア成分は残される。このように残されたスミア
成分は、再生画面のコントラストを大幅に劣化させるも
のではないが、固体撮像素子1にモザイク型のカラーフ
ィルタが装着された場合に、画像信号の信号処理での色
演算において演算誤差を招く。このため、再生画面上で
色むらを発生させることになる。特に、画像信号の処理
がデジタル化されたときには、演算誤差の影響が表れ易
くなる。
は、本出願人による特願平1−120908号(特開平
2−301270号)に示されるように、1行分のスミ
ア情報をラインメモリに記憶し、そのスミア情報を画像
信号の各行毎に差し引くことが考えられている。しかし
ながら、フレーム転送方式の固体撮像素子1の場合、受
光部1iの最初の行の読み出しから最後の行の読み出し
までの間に時間差があるため、画像信号に含まれるスミ
ア成分は1行毎に段階的に増加する。従って、ラインメ
モリに記憶されたスミア情報を各行毎に画像信号から差
し引いたとしても、情報電荷の読み出しの時間差に起因
するスミア成分は残される。このように残されたスミア
成分は、再生画面のコントラストを大幅に劣化させるも
のではないが、固体撮像素子1にモザイク型のカラーフ
ィルタが装着された場合に、画像信号の信号処理での色
演算において演算誤差を招く。このため、再生画面上で
色むらを発生させることになる。特に、画像信号の処理
がデジタル化されたときには、演算誤差の影響が表れ易
くなる。
【0009】そこで本発明は、固体撮像素子から情報電
荷を読み出す際、読み出し時間の差を考慮しながら有効
にスミア成分を除去することを目的とする。
荷を読み出す際、読み出し時間の差を考慮しながら有効
にスミア成分を除去することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するために成されたもので、その特徴とするところ
は、複数の受光ビットが行方向及び列方向に配列された
受光部を有する固体撮像素子から、所定の期間に各受光
ビットに蓄積される情報電荷を一定の周期で列方向に転
送すると共に、1行ずつ順次行方向に転送出力して得ら
れる画像信号に対し、情報電荷の列方向の転送過程で混
入する垂直スミア成分を除去するスミア除去回路におい
て、上記固体撮像素子の各受光ビットに蓄積された情報
電荷量から情報電荷の蓄積時間と情報電荷の列方向への
転送周期との比に基づいて推定した各受光ビット毎のス
ミア電荷量を情報電荷の垂直転送経路にある受光ビット
の分だけ累加算し、上記固体撮像素子の各受光ビットに
蓄積される情報電荷量を表す1行単位で連続する第1の
画像データから上記累加算値を個々に差し引いて第2の
画像データを得る第1の除去回路と、上記固体撮像素子
の受光部を列方向に縦断して転送する過程で蓄積される
電荷量から上記第1の回路で累加算値を差し引いた後に
残留する電荷量を1行単位で保持し、各列の飽和エリア
の検出に応答して上記第2の画像データから上記保持値
を各列毎に選択的に差し引いて第3の画像データを得る
第2の除去回路と、を備えたことにある。
解決するために成されたもので、その特徴とするところ
は、複数の受光ビットが行方向及び列方向に配列された
受光部を有する固体撮像素子から、所定の期間に各受光
ビットに蓄積される情報電荷を一定の周期で列方向に転
送すると共に、1行ずつ順次行方向に転送出力して得ら
れる画像信号に対し、情報電荷の列方向の転送過程で混
入する垂直スミア成分を除去するスミア除去回路におい
て、上記固体撮像素子の各受光ビットに蓄積された情報
電荷量から情報電荷の蓄積時間と情報電荷の列方向への
転送周期との比に基づいて推定した各受光ビット毎のス
ミア電荷量を情報電荷の垂直転送経路にある受光ビット
の分だけ累加算し、上記固体撮像素子の各受光ビットに
蓄積される情報電荷量を表す1行単位で連続する第1の
画像データから上記累加算値を個々に差し引いて第2の
画像データを得る第1の除去回路と、上記固体撮像素子
の受光部を列方向に縦断して転送する過程で蓄積される
電荷量から上記第1の回路で累加算値を差し引いた後に
残留する電荷量を1行単位で保持し、各列の飽和エリア
の検出に応答して上記第2の画像データから上記保持値
を各列毎に選択的に差し引いて第3の画像データを得る
第2の除去回路と、を備えたことにある。
【0011】第1の回路では、情報電荷が垂直方向に1
行だけ転送される間に、各受光ビットから混入するスミ
ア電荷の量を各行毎に推定でき、その推定量を情報電荷
の転送経路にある受光ビットの数だけ加算して最終的な
出力電荷量に含まれるスミア電荷の総量を算出できる。
そして、このスミア電荷の総量を出力電荷量から差し引
くことで転送経路の差による第1のスミア成分を除去で
きる。
行だけ転送される間に、各受光ビットから混入するスミ
ア電荷の量を各行毎に推定でき、その推定量を情報電荷
の転送経路にある受光ビットの数だけ加算して最終的な
出力電荷量に含まれるスミア電荷の総量を算出できる。
そして、このスミア電荷の総量を出力電荷量から差し引
くことで転送経路の差による第1のスミア成分を除去で
きる。
【0012】第2の回路では、固体撮像素子の受光部を
列方向に縦断する間に蓄積される電荷量の内、第1の回
路で差し引くこととができずに残された電荷量により、
各受光ビットで飽和レベルを越えている分のスミア電荷
の量が検出される。そして、このスミア電荷の量を第1
の回路で第1のスミア成分が除去された出力電荷量から
差し引くことで、受光ビットの飽和による第2のスミア
成分を除去することができる。
列方向に縦断する間に蓄積される電荷量の内、第1の回
路で差し引くこととができずに残された電荷量により、
各受光ビットで飽和レベルを越えている分のスミア電荷
の量が検出される。そして、このスミア電荷の量を第1
の回路で第1のスミア成分が除去された出力電荷量から
差し引くことで、受光ビットの飽和による第2のスミア
成分を除去することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は、本発明のスミア除去回路
の構成を示すブロック図である。尚、このスミア除去回
路は、固体撮像素子の受光部の各受光ビットに蓄積され
る情報電荷の量をデジタルの画像データとして演算処理
するものであり、図8に示す撮像装置において、デジタ
ル信号処理回路6の入力側に付加される。
の構成を示すブロック図である。尚、このスミア除去回
路は、固体撮像素子の受光部の各受光ビットに蓄積され
る情報電荷の量をデジタルの画像データとして演算処理
するものであり、図8に示す撮像装置において、デジタ
ル信号処理回路6の入力側に付加される。
【0014】本発明のスミア除去回路は、固体撮像素子
での垂直転送の時間差によって発生するスミア成分を除
去する第1の除去回路10及び、第1の除去回路10で
は除去しきれない残留スミア成分を除去する第2の除去
回路20を有する。即ち、固体撮像素子の各受光ビット
に蓄積される情報電荷の転送経路の差に起因して発生す
る第1のスミア成分を除去するために第1の除去回路が
設けられる。そして、飽和状態の受光ビットがあると
き、飽和レベルを越える分の入射光量によって発生する
第2のスミア成分を第1の除去回路10で除去できない
ため、この第2のスミア成分を除去するために第2の除
去回路20が設けられる。
での垂直転送の時間差によって発生するスミア成分を除
去する第1の除去回路10及び、第1の除去回路10で
は除去しきれない残留スミア成分を除去する第2の除去
回路20を有する。即ち、固体撮像素子の各受光ビット
に蓄積される情報電荷の転送経路の差に起因して発生す
る第1のスミア成分を除去するために第1の除去回路が
設けられる。そして、飽和状態の受光ビットがあると
き、飽和レベルを越える分の入射光量によって発生する
第2のスミア成分を第1の除去回路10で除去できない
ため、この第2のスミア成分を除去するために第2の除
去回路20が設けられる。
【0015】第1の除去回路10は、減算器11、加算
器12、ラインメモリ13、乗算器14、ビットシフト
部15及び係数発生部16により構成される。減算器1
1は、1行単位で連続して入力される画像データS1(n)
から第1のスミアデータD1(n)を減算し、スミア成分を
含まない画像データS2(n)として出力する。加算器1
2は、減算器11から出力される画像データS2(n)とラ
インメモリ13から読み出される累加算データT(n)と
を加算し、その加算データをラインメモリ13に供給す
る。ラインメモリ13は、1画面分の画像データS1(n)
の入力が完了する毎にリセットされ、加算器12から入
力される加算データを1行毎に記憶する。これにより、
加算器12では1画面の画像データS2(n)が各列で累加
算され、ラインメモリ13には累加算データT(n)が記
憶されることになる。
器12、ラインメモリ13、乗算器14、ビットシフト
部15及び係数発生部16により構成される。減算器1
1は、1行単位で連続して入力される画像データS1(n)
から第1のスミアデータD1(n)を減算し、スミア成分を
含まない画像データS2(n)として出力する。加算器1
2は、減算器11から出力される画像データS2(n)とラ
インメモリ13から読み出される累加算データT(n)と
を加算し、その加算データをラインメモリ13に供給す
る。ラインメモリ13は、1画面分の画像データS1(n)
の入力が完了する毎にリセットされ、加算器12から入
力される加算データを1行毎に記憶する。これにより、
加算器12では1画面の画像データS2(n)が各列で累加
算され、ラインメモリ13には累加算データT(n)が記
憶されることになる。
【0016】乗算器14は、ラインメモリ13から読み
出される累加算データT(n)に対し、露光データL(m)に
よって決定される所定の係数kを乗算してスミア成分を
表す第1のスミアデータD1(n)を生成する。ビットシフ
ト部15は、乗算器14から入力されるスミアデータD
1(n)を下位ビット側へシフトし、スミアデータD1(n)と
画像データS1(n)との桁合わせを行う。ラインメモリ1
3に記憶された累加算データT(n)から実際のスミア量
を算出するには、累加算データT(n)に対して1以下の
小さい係数を乗算する必要があり、この乗算処理をその
まま実行すれば演算誤差が大きくなりやすくなる。そこ
で、演算誤差を小さくするため、本来のスミア量を算出
するために累加算データT(n)に乗算すべき係数を2^k
(^はべき乗を表す)倍して乗算用の係数kを設定し、
その係数kをラインメモリ13から読み出される累加算
データに乗算した後、ビットシフトによって1/2^n
とすることで、スミアデータD1(n)を算出するようにし
ている。そして、係数発生部16は、固体撮像素子の露
光状態を表す露光データL(m)に応答し、固体撮像素子
の各受光ビットでの露光期間に対応した係数を発生し、
乗算器14に供給する。
出される累加算データT(n)に対し、露光データL(m)に
よって決定される所定の係数kを乗算してスミア成分を
表す第1のスミアデータD1(n)を生成する。ビットシフ
ト部15は、乗算器14から入力されるスミアデータD
1(n)を下位ビット側へシフトし、スミアデータD1(n)と
画像データS1(n)との桁合わせを行う。ラインメモリ1
3に記憶された累加算データT(n)から実際のスミア量
を算出するには、累加算データT(n)に対して1以下の
小さい係数を乗算する必要があり、この乗算処理をその
まま実行すれば演算誤差が大きくなりやすくなる。そこ
で、演算誤差を小さくするため、本来のスミア量を算出
するために累加算データT(n)に乗算すべき係数を2^k
(^はべき乗を表す)倍して乗算用の係数kを設定し、
その係数kをラインメモリ13から読み出される累加算
データに乗算した後、ビットシフトによって1/2^n
とすることで、スミアデータD1(n)を算出するようにし
ている。そして、係数発生部16は、固体撮像素子の露
光状態を表す露光データL(m)に応答し、固体撮像素子
の各受光ビットでの露光期間に対応した係数を発生し、
乗算器14に供給する。
【0017】このような第1の除去回路10によれば、
固体撮像素子の各受光ビットに蓄積される情報電荷が1
行ずつ垂直方向に転送される毎に各受光ビットから混入
されるスミア電荷の量が順次累加算される。そして、そ
の累加算値によって情報電荷が転送される過程で混入す
る第1のスミア成分が表されるため、この値を画像デー
タS1(n)から減算することにより第1のスミア成分を除
去できる。但し、各受光ビットで混入されるスミア電荷
量は、各受光ビットから実際に読み出される情報電荷の
量に基づいて推定しているため、飽和状態となっている
受光ビットに対しては正確なスミア電荷量を推定できな
い。従って、何れかの受光ビットが飽和状態となってい
るときには、飽和レベルを越えて入射される光に起因す
る第2のスミア電荷が残留することになる。
固体撮像素子の各受光ビットに蓄積される情報電荷が1
行ずつ垂直方向に転送される毎に各受光ビットから混入
されるスミア電荷の量が順次累加算される。そして、そ
の累加算値によって情報電荷が転送される過程で混入す
る第1のスミア成分が表されるため、この値を画像デー
タS1(n)から減算することにより第1のスミア成分を除
去できる。但し、各受光ビットで混入されるスミア電荷
量は、各受光ビットから実際に読み出される情報電荷の
量に基づいて推定しているため、飽和状態となっている
受光ビットに対しては正確なスミア電荷量を推定できな
い。従って、何れかの受光ビットが飽和状態となってい
るときには、飽和レベルを越えて入射される光に起因す
る第2のスミア電荷が残留することになる。
【0018】第2の除去回路20は、フレームメモリ2
1、ラインメモリ22、アドレス発生部23、減算器2
4及び飽和エリア検出部25により構成される。フレー
ムメモリ21は、画像データS1(n)に対応して第1の除
去回路10で生成される画像データS2(n)を各受光ビッ
トの行位置及び列位置と対応付けて1画面単位で記憶す
る。ラインメモリ22は、固体撮像素子の受光部の最終
行付近に設けられる光学的黒領域内の特定行に対応する
画像データS2(n)を1行分記憶する。このラインメモリ
22に記憶される1行分画像データS2(n)は、第1の除
去回路10では除去しきれなかった第2のスミア成分を
表しており、第2のスミアデータD2(n)として減算器2
4に供給される。
1、ラインメモリ22、アドレス発生部23、減算器2
4及び飽和エリア検出部25により構成される。フレー
ムメモリ21は、画像データS1(n)に対応して第1の除
去回路10で生成される画像データS2(n)を各受光ビッ
トの行位置及び列位置と対応付けて1画面単位で記憶す
る。ラインメモリ22は、固体撮像素子の受光部の最終
行付近に設けられる光学的黒領域内の特定行に対応する
画像データS2(n)を1行分記憶する。このラインメモリ
22に記憶される1行分画像データS2(n)は、第1の除
去回路10では除去しきれなかった第2のスミア成分を
表しており、第2のスミアデータD2(n)として減算器2
4に供給される。
【0019】通常、固体撮像素子には、画像信号の基準
レベル(黒レベル)を設定できるように、受光部の周辺
領域が遮光されて光学的黒領域が設けられており、この
光学的黒領域内の受光ビットには光の入射によって発生
する情報電荷は蓄積されない。そこで、受光部の最終行
側(転送出力側と対向する側)の光学的黒領域に位置す
る受光ビットから受光部を縦断して情報電荷を転送出力
すると、スミア成分のみを取り出すことができる。正確
には、暗電流等の影響で発生するノイズ成分も加わる
が、このノイズ電荷は、全ての受光ビットでほぼ均一に
発生するため、電荷量の相対的な変化を取り出すように
している固体撮像素子ではほとんど影響を受けない。従
って、固体撮像素子から得られる画像データS1(n)の1
画面の終わりの数行によってスミア成分を検出できる。
第1の除去回路10から出力される画像データS2(n)で
は、各受光ビットから転送出力される情報電荷の量から
推定できる第1のスミア成分が除去されており、飽和状
態となっている受光ビットで飽和レベルを越えて蓄積さ
れる第2のスミア成分のみが残されている。従って、固
体撮像素子の最終行付近の特定行の受光ビットに対応し
た画像データS2(n)をラインメモリ22に記憶させるよ
うにしたことで、ラインメモリ22には第2のスミア成
分を表す第2のスミアデータD2(n)として記憶されるこ
とになる。尚、この第2のスミアデータD2(n)について
は、複数行分の画像データS2(n)の平均値として取り出
すようにすることで、より正確な値を得ることができ
る。
レベル(黒レベル)を設定できるように、受光部の周辺
領域が遮光されて光学的黒領域が設けられており、この
光学的黒領域内の受光ビットには光の入射によって発生
する情報電荷は蓄積されない。そこで、受光部の最終行
側(転送出力側と対向する側)の光学的黒領域に位置す
る受光ビットから受光部を縦断して情報電荷を転送出力
すると、スミア成分のみを取り出すことができる。正確
には、暗電流等の影響で発生するノイズ成分も加わる
が、このノイズ電荷は、全ての受光ビットでほぼ均一に
発生するため、電荷量の相対的な変化を取り出すように
している固体撮像素子ではほとんど影響を受けない。従
って、固体撮像素子から得られる画像データS1(n)の1
画面の終わりの数行によってスミア成分を検出できる。
第1の除去回路10から出力される画像データS2(n)で
は、各受光ビットから転送出力される情報電荷の量から
推定できる第1のスミア成分が除去されており、飽和状
態となっている受光ビットで飽和レベルを越えて蓄積さ
れる第2のスミア成分のみが残されている。従って、固
体撮像素子の最終行付近の特定行の受光ビットに対応し
た画像データS2(n)をラインメモリ22に記憶させるよ
うにしたことで、ラインメモリ22には第2のスミア成
分を表す第2のスミアデータD2(n)として記憶されるこ
とになる。尚、この第2のスミアデータD2(n)について
は、複数行分の画像データS2(n)の平均値として取り出
すようにすることで、より正確な値を得ることができ
る。
【0020】アドレス発生回路23は、フレームメモリ
21に対して受光ビットの行位置を示すアドレスと列位
置を示すアドレスとを供給し、フレームメモリ21に記
憶された1画面分の画像データS2(n)を1行単位で読み
出す。このアドレス発生回路23では、画像データS2
(n)を最終行の受光ビットに対応する分から順に1行目
に対応する分まで行位置を指定するようにアドレスを発
生する。これにより、画像データS2(n)は、固体撮像素
子からの読み出し順序とは逆の順序で1行毎に読み出さ
れる。同時に、ラインメモリ22に対してもフレームメ
モリ21と同一の列位置を示すアドレスを供給し、フレ
ームメモリ21から読み出される画像データS2(n)の列
位置に一致する第2のスミアデータD2(n)を読み出す。
減算器24は、フレームメモリ21から1行単位で読み
出される画像データS2(n)に対してラインメモリ22か
ら読み出されるスミアデータD2(n)を差し引いて第3の
画像データS3(n)を生成する。画像データS2(n)に含ま
れる第2のスミア成分は、飽和状態となっている受光ビ
ット部分を転送する際に発生するものであるため、各行
毎に均一なレベルとなっており、1行分のスミアデータ
D2(n)を繰り返し読み出して差し引くようにして除去す
ることができる。
21に対して受光ビットの行位置を示すアドレスと列位
置を示すアドレスとを供給し、フレームメモリ21に記
憶された1画面分の画像データS2(n)を1行単位で読み
出す。このアドレス発生回路23では、画像データS2
(n)を最終行の受光ビットに対応する分から順に1行目
に対応する分まで行位置を指定するようにアドレスを発
生する。これにより、画像データS2(n)は、固体撮像素
子からの読み出し順序とは逆の順序で1行毎に読み出さ
れる。同時に、ラインメモリ22に対してもフレームメ
モリ21と同一の列位置を示すアドレスを供給し、フレ
ームメモリ21から読み出される画像データS2(n)の列
位置に一致する第2のスミアデータD2(n)を読み出す。
減算器24は、フレームメモリ21から1行単位で読み
出される画像データS2(n)に対してラインメモリ22か
ら読み出されるスミアデータD2(n)を差し引いて第3の
画像データS3(n)を生成する。画像データS2(n)に含ま
れる第2のスミア成分は、飽和状態となっている受光ビ
ット部分を転送する際に発生するものであるため、各行
毎に均一なレベルとなっており、1行分のスミアデータ
D2(n)を繰り返し読み出して差し引くようにして除去す
ることができる。
【0021】飽和エリア検出部25は、フレームメモリ
21に記憶される画像データS2(n)で、何行目に飽和状
態の受光ビットがあるかを各列毎に検出する。そして、
飽和状態の受光ビットが検出されると、その行位置に対
応する画像データS2(n)がフレームメモリ21から読み
出されるタイミングで検出パルスDSを立ち上げる。画
像データS2(n)からの飽和状態の判定は、画像データD
2(n)が最大値あるいは最大値に近い値を示しているか否
かにより判定可能である。この検出パルスは、ラインメ
モリ22に供給され、検出パルスが立ち上げられた後に
は対応する列のスミアデータD2(n)をリセットして
「0」にする。これにより、減算器24では、飽和状態
にある受光ビットに対応する画像データD2(n)が入力さ
れるまでスミアデータD2(n)の減算が繰り返され、入力
後は減算が実質的に停止されることになる。
21に記憶される画像データS2(n)で、何行目に飽和状
態の受光ビットがあるかを各列毎に検出する。そして、
飽和状態の受光ビットが検出されると、その行位置に対
応する画像データS2(n)がフレームメモリ21から読み
出されるタイミングで検出パルスDSを立ち上げる。画
像データS2(n)からの飽和状態の判定は、画像データD
2(n)が最大値あるいは最大値に近い値を示しているか否
かにより判定可能である。この検出パルスは、ラインメ
モリ22に供給され、検出パルスが立ち上げられた後に
は対応する列のスミアデータD2(n)をリセットして
「0」にする。これにより、減算器24では、飽和状態
にある受光ビットに対応する画像データD2(n)が入力さ
れるまでスミアデータD2(n)の減算が繰り返され、入力
後は減算が実質的に停止されることになる。
【0022】画像データD2(n)で飽和状態にある受光ビ
ットから第2のスミア成分が混入するのは、飽和状態に
ある受光ビット部分を通過して転送された情報電荷のみ
である。このため、飽和受光ビットと同一の列に位置す
る受光ビットでも、飽和受光ビットよりも前の行(転送
出力側の行)では、第2のスミア成分は含まれていな
い。そこで、飽和エリア検出部25の検出パルスDSに
よってスミアデータD2(n)が減算される範囲を制限する
ようにしている。
ットから第2のスミア成分が混入するのは、飽和状態に
ある受光ビット部分を通過して転送された情報電荷のみ
である。このため、飽和受光ビットと同一の列に位置す
る受光ビットでも、飽和受光ビットよりも前の行(転送
出力側の行)では、第2のスミア成分は含まれていな
い。そこで、飽和エリア検出部25の検出パルスDSに
よってスミアデータD2(n)が減算される範囲を制限する
ようにしている。
【0023】従って、第1の除去回路10により除去し
きれなかった第2のスミア成分は、第2の除去回路によ
って除去することができ、全てのスミア成分が除去され
た画像信号S3(n)を得ることができる。尚、第2の除去
回路20においては、ラインメモリ22をフレームメモ
リ21の一部で代用させ、フレームメモリ21から読み
出される画像データS2(n)の内、第2のスミアデータD
2(n)となる分を1データ毎にラッチして減算器24に供
給するようにしてもよい。あるいは、フレームメモリ2
1をデュアルポート構成とし、画像データS2(n)と同時
に第2のスミアデータD2(n)を読み出して減算器24に
供給するようにしてもよい。
きれなかった第2のスミア成分は、第2の除去回路によ
って除去することができ、全てのスミア成分が除去され
た画像信号S3(n)を得ることができる。尚、第2の除去
回路20においては、ラインメモリ22をフレームメモ
リ21の一部で代用させ、フレームメモリ21から読み
出される画像データS2(n)の内、第2のスミアデータD
2(n)となる分を1データ毎にラッチして減算器24に供
給するようにしてもよい。あるいは、フレームメモリ2
1をデュアルポート構成とし、画像データS2(n)と同時
に第2のスミアデータD2(n)を読み出して減算器24に
供給するようにしてもよい。
【0024】また、フレームメモリ21から画像データ
S2(n)を読み出す順序については、第2の除去回路20
の回路構成上は最終行から順に1行目まで読み出すこと
が好ましいが、第1の除去回路10のからの出力順序と
同様に、1行目から順に最終行まで読み出すようにする
ことも可能である。この場合、各列毎に減算器24での
減算処理を許可するフラグを1行分設定し、飽和エリア
検出部25からの検出パルスDSに応答してフラグをた
てて飽和エリアが検出された以降の行で第2のスミアデ
ータD2(n)の減算を実行させるようにする。フレームメ
モリ21からの画像データS2(n)の読み出し順序の設定
は、第2の除去回路20から画像データS3(n)を受ける
側の都合に合わせて設定すればよい。例えば、1画面分
の画像データS3(n)を順序を問わずに取り込めばよいコ
ンピュータ機器等に対しては、最終行側から読み出しを
開始し、画像データS3(n)を所定の順序で取り込む必要
のあるNTSC方式に対応したテレビモニタ等では1行
目から読み出しを開始させるように設定する。
S2(n)を読み出す順序については、第2の除去回路20
の回路構成上は最終行から順に1行目まで読み出すこと
が好ましいが、第1の除去回路10のからの出力順序と
同様に、1行目から順に最終行まで読み出すようにする
ことも可能である。この場合、各列毎に減算器24での
減算処理を許可するフラグを1行分設定し、飽和エリア
検出部25からの検出パルスDSに応答してフラグをた
てて飽和エリアが検出された以降の行で第2のスミアデ
ータD2(n)の減算を実行させるようにする。フレームメ
モリ21からの画像データS2(n)の読み出し順序の設定
は、第2の除去回路20から画像データS3(n)を受ける
側の都合に合わせて設定すればよい。例えば、1画面分
の画像データS3(n)を順序を問わずに取り込めばよいコ
ンピュータ機器等に対しては、最終行側から読み出しを
開始し、画像データS3(n)を所定の順序で取り込む必要
のあるNTSC方式に対応したテレビモニタ等では1行
目から読み出しを開始させるように設定する。
【0025】図2は、第2の除去回路20の飽和エリア
検出部25の構成の一例を示すブロック図である。飽和
エリア検出部25は、最大値検出部31、第1〜第3の
フリップフロップ32〜34及びNANDゲート35に
より構成される。最大値検出部31は、フレームメモリ
21から読み出される画像データS2(n)を順次取り込
み、各値が最大値近くに設定される判定値を越えている
か否かを判別し、越えているときに出力を立ち上げる。
第1〜第3のフリップフロップ32〜34は、それぞれ
共通のクロックCKによって駆動され、互いに直列に接
続されて最大値検出部31の出力をCKに応答して順次
シフトするシフトレジスタを成している。NANDゲー
ト35は、第1〜第3のフリップフロップ32〜34の
各出力を入力に受け、その出力を検出パルスDSとす
る。
検出部25の構成の一例を示すブロック図である。飽和
エリア検出部25は、最大値検出部31、第1〜第3の
フリップフロップ32〜34及びNANDゲート35に
より構成される。最大値検出部31は、フレームメモリ
21から読み出される画像データS2(n)を順次取り込
み、各値が最大値近くに設定される判定値を越えている
か否かを判別し、越えているときに出力を立ち上げる。
第1〜第3のフリップフロップ32〜34は、それぞれ
共通のクロックCKによって駆動され、互いに直列に接
続されて最大値検出部31の出力をCKに応答して順次
シフトするシフトレジスタを成している。NANDゲー
ト35は、第1〜第3のフリップフロップ32〜34の
各出力を入力に受け、その出力を検出パルスDSとす
る。
【0026】最大値検出部31に入力される画像信号S
2(n)は、第2の除去回路20の減算器24に入力される
画像データS2(n)に対して1データ分先行しており、実
際に減算器24に入力されている画像データS2(n)に対
する判定結果は第2のフリップフロップ33に保持され
ている。従って、現在減算器24に入力されている画像
データS2(n)に加えて、その前後の画像データS2(n+
1)、S2(n-1)が全て判定値を越えているときに、その画
像データS2(n)が飽和レベルであると判定される。
2(n)は、第2の除去回路20の減算器24に入力される
画像データS2(n)に対して1データ分先行しており、実
際に減算器24に入力されている画像データS2(n)に対
する判定結果は第2のフリップフロップ33に保持され
ている。従って、現在減算器24に入力されている画像
データS2(n)に加えて、その前後の画像データS2(n+
1)、S2(n-1)が全て判定値を越えているときに、その画
像データS2(n)が飽和レベルであると判定される。
【0027】実際の回路では、第1の除去回路10によ
る演算処理が施されているため、画像データS2(n)が最
大値を示すことはないため、最大値検出部31ではある
程度の幅を持たせて判定できるように構成している。こ
のほかの方法としては、第1の除去回路10での演算処
理が施されていない画像データS1(n)から最大値の判定
を行い、飽和エリアを検出するようにしてもよい。
る演算処理が施されているため、画像データS2(n)が最
大値を示すことはないため、最大値検出部31ではある
程度の幅を持たせて判定できるように構成している。こ
のほかの方法としては、第1の除去回路10での演算処
理が施されていない画像データS1(n)から最大値の判定
を行い、飽和エリアを検出するようにしてもよい。
【0028】尚、この飽和エリア判定部25は、同一行
内の3列分の受光ビットを基準に判定するようにしたも
のであるが、複数の行で3列以上の受光ビットを基準に
判定するようにしてもよい。例えば、3行×3列の受光
ビットを基準に判定する場合には、図2に示す最大値検
出部31及び第1〜第3のフリップフロップ32〜34
を3組設け、尚かつ、2行分のラインメモリを接続して
画像データD2(n)を3行分同時に判定できるように構成
する。そして、全ての行で飽和エリアが同時に検出され
たときに検出パルスDSを立ち上げるように設定すれば
よい。
内の3列分の受光ビットを基準に判定するようにしたも
のであるが、複数の行で3列以上の受光ビットを基準に
判定するようにしてもよい。例えば、3行×3列の受光
ビットを基準に判定する場合には、図2に示す最大値検
出部31及び第1〜第3のフリップフロップ32〜34
を3組設け、尚かつ、2行分のラインメモリを接続して
画像データD2(n)を3行分同時に判定できるように構成
する。そして、全ての行で飽和エリアが同時に検出され
たときに検出パルスDSを立ち上げるように設定すれば
よい。
【0029】図3は、係数発生回路16に与えられる露
光データを取り出すようにした露光制御回路の構成を示
すブロック図である。この露光制御回路は、固体撮像素
子の1画面毎の受光時間を設定するものであり、図8に
示す撮像装置においては、タイミング制御回路3に含ま
れる。露光制御回路は、露光判定部41、アップダウン
カウンタ42、ステップカウンタ43及び比較器44に
より構成される。露光判定部41は、画像データを1画
面単位で積分した積分値を受けて、その積分値が適正範
囲内にあるか否かを垂直走査期間毎に判定する。この判
定の結果、積分値が適正範囲より大きくなったときには
露光抑制指示を発生し、適正範囲より小さくなったとき
には露光促進指示を発生する。アップダウンカウンタ4
2は、露光判定部41の露光抑制指示を受けてカウント
アップされ、露光促進指示を受けてカウントダウンされ
ることにより、固体撮像素子での電荷の排出タイミング
を水平走査番号として保持する。ステップカウンタ43
は、垂直同期信号VDでリセットされて水平同期信号H
Dでカウントアップされ、各垂直走査期間に水平走査番
号を計時する。そして、比較器44は、ステップカウン
タ43のカウント値がアップダウンカウンタ42のカウ
ント値に一致するタイミングで排出タイミング信号BT
を立ち上げる。この排出タイミング信号BTに基づいた
固体撮像素子の露光制御は、図9に示すとおりである。
光データを取り出すようにした露光制御回路の構成を示
すブロック図である。この露光制御回路は、固体撮像素
子の1画面毎の受光時間を設定するものであり、図8に
示す撮像装置においては、タイミング制御回路3に含ま
れる。露光制御回路は、露光判定部41、アップダウン
カウンタ42、ステップカウンタ43及び比較器44に
より構成される。露光判定部41は、画像データを1画
面単位で積分した積分値を受けて、その積分値が適正範
囲内にあるか否かを垂直走査期間毎に判定する。この判
定の結果、積分値が適正範囲より大きくなったときには
露光抑制指示を発生し、適正範囲より小さくなったとき
には露光促進指示を発生する。アップダウンカウンタ4
2は、露光判定部41の露光抑制指示を受けてカウント
アップされ、露光促進指示を受けてカウントダウンされ
ることにより、固体撮像素子での電荷の排出タイミング
を水平走査番号として保持する。ステップカウンタ43
は、垂直同期信号VDでリセットされて水平同期信号H
Dでカウントアップされ、各垂直走査期間に水平走査番
号を計時する。そして、比較器44は、ステップカウン
タ43のカウント値がアップダウンカウンタ42のカウ
ント値に一致するタイミングで排出タイミング信号BT
を立ち上げる。この排出タイミング信号BTに基づいた
固体撮像素子の露光制御は、図9に示すとおりである。
【0030】以上の露光制御回路では、固体撮像素子の
露光期間、即ち、電荷の排出タイミングが水平走査番号
としてアップダウンカウンタ42に保持されており、こ
のアップダウンカウンタ42に保持された値が露光デー
タL(m)として取り出される。例えば、NTSC方式に
対応した場合、アップダウンカウンタ42は、「1」か
ら「262」の間でカウントアップあるいはカウントダ
ウンされ、その間の値の1つが露光データとして第1の
除去回路10に与えられる。尚、この露光データL(m)
は、少なくとも1垂直走査期間の間同一データが保持さ
れ、その間は、同一の係数kが設定される。
露光期間、即ち、電荷の排出タイミングが水平走査番号
としてアップダウンカウンタ42に保持されており、こ
のアップダウンカウンタ42に保持された値が露光デー
タL(m)として取り出される。例えば、NTSC方式に
対応した場合、アップダウンカウンタ42は、「1」か
ら「262」の間でカウントアップあるいはカウントダ
ウンされ、その間の値の1つが露光データとして第1の
除去回路10に与えられる。尚、この露光データL(m)
は、少なくとも1垂直走査期間の間同一データが保持さ
れ、その間は、同一の係数kが設定される。
【0031】続いて、第1の除去回路10及び第2の除
去回路20でのスミア除去の原理を説明する。図4は、
第1の除去回路10のによるスミア除去の原理を説明す
る図で、固体撮像素子の受光ビットの各行毎の出力電荷
量Vi,jを示す。尚、この図においては、各受光ビット
が受ける光の量が全て均一である場合を示している。
去回路20でのスミア除去の原理を説明する。図4は、
第1の除去回路10のによるスミア除去の原理を説明す
る図で、固体撮像素子の受光ビットの各行毎の出力電荷
量Vi,jを示す。尚、この図においては、各受光ビット
が受ける光の量が全て均一である場合を示している。
【0032】フレーム転送方式の固体撮像素子の場合、
i行j列の受光ビットから得られる出力電荷量Vi,j
は、受光ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量をEi,j
(t)とすると、式1によって与えられる。
i行j列の受光ビットから得られる出力電荷量Vi,j
は、受光ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量をEi,j
(t)とすると、式1によって与えられる。
【0033】
【数1】
【0034】ここで、t1及びt2は、各受光ビットに
おける情報電荷の蓄積開始時刻及び蓄積終了時刻であ
り、Δtは、各受光ビットに蓄積された情報電荷がフレ
ーム転送時に1つの受光ビットを通過するのに要する時
間である。この式1で、右辺の第1項は、所定の蓄積時
間(t2−t1)中に1つの受光ビットに蓄積される情
報電荷の量を示し、第2項は、1つの受光ビットに蓄積
された情報電荷が撮像部から蓄積部までフレーム転送さ
れる過程で混入するスミア電荷の量を示している。即
ち、受光ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)
を時刻t1から時刻t2まで積分した値によって各受光
ビットに蓄積される情報電荷量が表される。そして、単
位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)をΔtの分だけ積分
した値によってフレーム転送時に情報電荷が1つの受光
ビットを通過する間にその受光ビットで発生する情報電
荷量が表され、この積分値を転送経路にある受光ビット
の分だけ加算した値によってスミア電荷量が表される。
おける情報電荷の蓄積開始時刻及び蓄積終了時刻であ
り、Δtは、各受光ビットに蓄積された情報電荷がフレ
ーム転送時に1つの受光ビットを通過するのに要する時
間である。この式1で、右辺の第1項は、所定の蓄積時
間(t2−t1)中に1つの受光ビットに蓄積される情
報電荷の量を示し、第2項は、1つの受光ビットに蓄積
された情報電荷が撮像部から蓄積部までフレーム転送さ
れる過程で混入するスミア電荷の量を示している。即
ち、受光ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)
を時刻t1から時刻t2まで積分した値によって各受光
ビットに蓄積される情報電荷量が表される。そして、単
位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)をΔtの分だけ積分
した値によってフレーム転送時に情報電荷が1つの受光
ビットを通過する間にその受光ビットで発生する情報電
荷量が表され、この積分値を転送経路にある受光ビット
の分だけ加算した値によってスミア電荷量が表される。
【0035】ここで、時刻t1から時刻t2まで、さら
には、時刻t2+nΔtまでの時間が短く、その間の入
射光量が変化しないと仮定すると、受光ビットの単位時
間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)を一定値(この値をEi,
jとする)とすることができ、式1の計算結果は式2と
なる。
には、時刻t2+nΔtまでの時間が短く、その間の入
射光量が変化しないと仮定すると、受光ビットの単位時
間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)を一定値(この値をEi,
jとする)とすることができ、式1の計算結果は式2と
なる。
【0036】
【数2】
【0037】さらに、時刻t1から時刻t2までの間に
各受光ビットに蓄積される情報電荷量、即ち、(t1−
t2)・Ei,jをSi,jに置き換えると、式2は式3に変
形される。
各受光ビットに蓄積される情報電荷量、即ち、(t1−
t2)・Ei,jをSi,jに置き換えると、式2は式3に変
形される。
【0038】
【数3】
【0039】従って、各受光ビットに真に蓄積される情
報電荷量Si,jは、式4によって与えられることにな
る。
報電荷量Si,jは、式4によって与えられることにな
る。
【0040】
【数4】
【0041】即ち、固体撮像素子の各受光ビットから得
られる出力電荷量Vi,jからスミア電荷量を差し引いた
値が各受光ビットに蓄積される情報電荷量Si,jとな
る。ここで、NTSC方式に対応した場合、フレーム転
送の周波数をサブキャリア信号の周波数とすると、Δt
は0.28μsecとなり、1水平走査期間(63.6
μsec)の約1/228となる。これにより、受光ビ
ットでの情報電荷の蓄積時間が1水平走査期間のとき
に、各受光ビットに蓄積される情報電荷量の1/228
がスミア電荷量となる。そして、情報電荷の蓄積時間が
n倍になれば、スミア電荷量の割合は1/nとなる。
られる出力電荷量Vi,jからスミア電荷量を差し引いた
値が各受光ビットに蓄積される情報電荷量Si,jとな
る。ここで、NTSC方式に対応した場合、フレーム転
送の周波数をサブキャリア信号の周波数とすると、Δt
は0.28μsecとなり、1水平走査期間(63.6
μsec)の約1/228となる。これにより、受光ビ
ットでの情報電荷の蓄積時間が1水平走査期間のとき
に、各受光ビットに蓄積される情報電荷量の1/228
がスミア電荷量となる。そして、情報電荷の蓄積時間が
n倍になれば、スミア電荷量の割合は1/nとなる。
【0042】第1の除去回路10は、上述の式4の演算
を実行するものであり、加算器12及びラインメモリ1
3の組み合わせによって右辺第2項のΣ演算が実行さ
れ、乗算器14及びビットシフト部15によって右辺第
2項の係数kの乗算が実行される。そして、ビットシフ
ト部15から取り出される演算結果を減算器11によっ
て右辺第1項に相当する画像データS1(n)から減算する
ことにより式4の演算が完了することになる。従って、
固体撮像素子で情報電荷の垂直転送に起因して発生する
スミア成分は、理論上全て除去されることになる。
を実行するものであり、加算器12及びラインメモリ1
3の組み合わせによって右辺第2項のΣ演算が実行さ
れ、乗算器14及びビットシフト部15によって右辺第
2項の係数kの乗算が実行される。そして、ビットシフ
ト部15から取り出される演算結果を減算器11によっ
て右辺第1項に相当する画像データS1(n)から減算する
ことにより式4の演算が完了することになる。従って、
固体撮像素子で情報電荷の垂直転送に起因して発生する
スミア成分は、理論上全て除去されることになる。
【0043】以上のスミア電荷の算出方法については、
実際に各受光ビットに蓄積される情報電荷量を基準に1
つの受光ビット毎のスミア電荷の量を推定しているた
め、飽和状態となった受光ビットでは正確なスミア量を
推定できない。即ち、飽和状態となっている受光ビット
では、実際の入射光量と蓄積される情報電荷量とが比例
しないため、式1が成り立たたず、出力電荷量Vi,jか
ら正確なスミア量を推定できない。従って、第1の除去
回路10では、各受光ビットに入射される光で飽和レベ
ルを越えない分により発生する第1のスミア成分のみが
除去され、飽和レベルを越える分により発生する第2の
スミア成分が画像データS2(n)に残される。
実際に各受光ビットに蓄積される情報電荷量を基準に1
つの受光ビット毎のスミア電荷の量を推定しているた
め、飽和状態となった受光ビットでは正確なスミア量を
推定できない。即ち、飽和状態となっている受光ビット
では、実際の入射光量と蓄積される情報電荷量とが比例
しないため、式1が成り立たたず、出力電荷量Vi,jか
ら正確なスミア量を推定できない。従って、第1の除去
回路10では、各受光ビットに入射される光で飽和レベ
ルを越えない分により発生する第1のスミア成分のみが
除去され、飽和レベルを越える分により発生する第2の
スミア成分が画像データS2(n)に残される。
【0044】図5は、第2の除去回路20の動作原理を
説明する図で、フレーム転送方式の固体撮像素子で発生
する第2のスミア成分の状態を示している。固体撮像素
子の受光部で飽和エリアがある場合、この飽和エリアを
通過して転送される情報電荷に限って第2のスミア成分
が重畳されることになる。この第2のスミア成分が重畳
される範囲は、飽和エリアのある列で飽和エリアよりも
転送方向で下流側の行に位置する部分(図5のハッチン
グ部分)であり、再生画面上では飽和エリアの下側に表
示される。これらの範囲の内、光学的黒領域に対応する
部分には、受光時に情報電荷が発生しないことから、ス
ミア電荷のみが蓄積される。
説明する図で、フレーム転送方式の固体撮像素子で発生
する第2のスミア成分の状態を示している。固体撮像素
子の受光部で飽和エリアがある場合、この飽和エリアを
通過して転送される情報電荷に限って第2のスミア成分
が重畳されることになる。この第2のスミア成分が重畳
される範囲は、飽和エリアのある列で飽和エリアよりも
転送方向で下流側の行に位置する部分(図5のハッチン
グ部分)であり、再生画面上では飽和エリアの下側に表
示される。これらの範囲の内、光学的黒領域に対応する
部分には、受光時に情報電荷が発生しないことから、ス
ミア電荷のみが蓄積される。
【0045】飽和エリアの受光ビットから読み出される
出力電荷量Vi,jは、各受光ビットの単位時間あたりの
蓄積電荷量Ei,jに関係なく一定となる。このため、式
1が成り立たず、飽和エリアの受光ビットを通過する際
に重畳されるスミア電荷の量の推定値は一定となる。し
かしながら、実際に飽和エリアの受光ビットを通過する
際に重畳されるスミア電荷の量は、単位時間あたりの蓄
積電荷量Ei,jに比例しているため、推定値と実際の値
との間に誤差が生じる。この誤差は、飽和エリアの受光
ビットに照射される光によって所定の露光期間に発生す
る電荷量と各受光ビットで蓄積転送可能な電荷量との差
に比例する。しかしながら、飽和エリアの受光ビットに
照射される光によって所定の露光期間に発生する電荷量
を特定する手段がないことから、その誤差を演算によっ
て算出することはできない。
出力電荷量Vi,jは、各受光ビットの単位時間あたりの
蓄積電荷量Ei,jに関係なく一定となる。このため、式
1が成り立たず、飽和エリアの受光ビットを通過する際
に重畳されるスミア電荷の量の推定値は一定となる。し
かしながら、実際に飽和エリアの受光ビットを通過する
際に重畳されるスミア電荷の量は、単位時間あたりの蓄
積電荷量Ei,jに比例しているため、推定値と実際の値
との間に誤差が生じる。この誤差は、飽和エリアの受光
ビットに照射される光によって所定の露光期間に発生す
る電荷量と各受光ビットで蓄積転送可能な電荷量との差
に比例する。しかしながら、飽和エリアの受光ビットに
照射される光によって所定の露光期間に発生する電荷量
を特定する手段がないことから、その誤差を演算によっ
て算出することはできない。
【0046】そこで、上述の光学的黒領域の受光ビット
に対応する画像データS2(n)を取り出せば、飽和エリア
で重畳されるスミア電荷の誤差を表す第2のスミア成分
が検出される。この第2のスミア成分は、同じ飽和領域
を通過して発生するものであり、同一列内では行位置に
関係なく一定である。そして、光学的黒領域の受光ビッ
トに対応する画像データS2(n)を第2のスミアデータD
2(n)としてラインメモリ22に記憶し、再生画面の下側
に位置する行の画像データS2(n)から順にスミアデータ
D2(n)を減算すことで全てのスミア成分を除去すること
が可能になる。
に対応する画像データS2(n)を取り出せば、飽和エリア
で重畳されるスミア電荷の誤差を表す第2のスミア成分
が検出される。この第2のスミア成分は、同じ飽和領域
を通過して発生するものであり、同一列内では行位置に
関係なく一定である。そして、光学的黒領域の受光ビッ
トに対応する画像データS2(n)を第2のスミアデータD
2(n)としてラインメモリ22に記憶し、再生画面の下側
に位置する行の画像データS2(n)から順にスミアデータ
D2(n)を減算すことで全てのスミア成分を除去すること
が可能になる。
【0047】以上のような処理によるスミア除去につい
て、図6に示すような4行4列に受光ビットが配置され
たフレーム転送方式の固体撮像素子を例に挙げて説明す
る。撮像部は、4ビットに分割された4本のシフトレジ
スタからなり、4行4列の受光ビットP11〜P44を構成
する。蓄積部は、受光部と同様に、4ビットに分割され
た4本のシフトレジスタからなり、各シフトレジスタが
撮像部の各シフトレジスタに直列に接続されて4行4列
の蓄積ビットQ11〜Q44を構成する。水平転送部は、4
ビットに分割された1本のシフトレジスタからなり、各
ビットが蓄積部の4本のシフトレジスタの出力を受けて
水平方向へ転送出力するように構成される。ここで、各
受光ビットP11〜P44で、2行目の2列目及び3列目の
受光ビットP22、P23が飽和状態となっており、4列目
の受光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光され
ているものとする。
て、図6に示すような4行4列に受光ビットが配置され
たフレーム転送方式の固体撮像素子を例に挙げて説明す
る。撮像部は、4ビットに分割された4本のシフトレジ
スタからなり、4行4列の受光ビットP11〜P44を構成
する。蓄積部は、受光部と同様に、4ビットに分割され
た4本のシフトレジスタからなり、各シフトレジスタが
撮像部の各シフトレジスタに直列に接続されて4行4列
の蓄積ビットQ11〜Q44を構成する。水平転送部は、4
ビットに分割された1本のシフトレジスタからなり、各
ビットが蓄積部の4本のシフトレジスタの出力を受けて
水平方向へ転送出力するように構成される。ここで、各
受光ビットP11〜P44で、2行目の2列目及び3列目の
受光ビットP22、P23が飽和状態となっており、4列目
の受光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光され
ているものとする。
【0048】所定の蓄積期間を経過して各受光ビットP
11〜P44に蓄積される情報電荷は、各シフトレジスタ内
を撮像部から蓄積部までフレーム転送され、対応する蓄
積ビットQ11〜Q44にそれぞれ蓄積される。1行目の蓄
積ビットQ11〜Q14から取り出される出力電荷量V1,1
〜V1,4は、1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積され
た情報電荷をフレーム転送の開始直後に遮光された蓄積
部内へ転送して取り出したものであるため、スミア電荷
がほとんど含まれておらず、1行目の各受光ビットに蓄
積された情報電荷量S1,1〜S1,4に一致する。2行目の
蓄積ビットQ21〜Q24から取り出される出力電荷量V2,
1〜V2,4は、2行目の受光ビットP21〜P24に蓄積され
た情報電荷を1行目の受光ビットP11〜P14を通過して
蓄積部へ転送したものであるため、2行目の受光ビット
P21〜P24に蓄積された情報電荷量S2,1〜S2,4と1行
目の受光ビットで発生するスミア電荷量とを加算した量
に一致する。ここで、2行目の受光ビットに蓄積された
情報電荷が1行目の受光ビットP11〜P14を通過する間
に混入するスミア電荷量は、所定の蓄積時間〔t2−t
1〕に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報
電荷量S1,1〜S1,4に、その蓄積時間と通過時間〔Δ
t〕との比〔k〕を掛けた値で表される。即ち、t2−
t1の時間に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積され
る情報電荷量がS1,1〜S1,4であれば、同じ受光ビット
P11〜P14においてΔtの間に発生するスミア電荷量
は、k・S1,1〜k・S1,4〔k=Δt/(t2−t
1)〕となる。このスミア電荷量は、全て第1のスミア
成分を表すものであり、第1の除去回路10によって除
去される。尚、ここでも、式2の計算と同様に、情報電
荷の蓄積開始からフレーム転送の完了までの間で各受光
ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)は変化し
ないものと仮定している。
11〜P44に蓄積される情報電荷は、各シフトレジスタ内
を撮像部から蓄積部までフレーム転送され、対応する蓄
積ビットQ11〜Q44にそれぞれ蓄積される。1行目の蓄
積ビットQ11〜Q14から取り出される出力電荷量V1,1
〜V1,4は、1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積され
た情報電荷をフレーム転送の開始直後に遮光された蓄積
部内へ転送して取り出したものであるため、スミア電荷
がほとんど含まれておらず、1行目の各受光ビットに蓄
積された情報電荷量S1,1〜S1,4に一致する。2行目の
蓄積ビットQ21〜Q24から取り出される出力電荷量V2,
1〜V2,4は、2行目の受光ビットP21〜P24に蓄積され
た情報電荷を1行目の受光ビットP11〜P14を通過して
蓄積部へ転送したものであるため、2行目の受光ビット
P21〜P24に蓄積された情報電荷量S2,1〜S2,4と1行
目の受光ビットで発生するスミア電荷量とを加算した量
に一致する。ここで、2行目の受光ビットに蓄積された
情報電荷が1行目の受光ビットP11〜P14を通過する間
に混入するスミア電荷量は、所定の蓄積時間〔t2−t
1〕に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報
電荷量S1,1〜S1,4に、その蓄積時間と通過時間〔Δ
t〕との比〔k〕を掛けた値で表される。即ち、t2−
t1の時間に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積され
る情報電荷量がS1,1〜S1,4であれば、同じ受光ビット
P11〜P14においてΔtの間に発生するスミア電荷量
は、k・S1,1〜k・S1,4〔k=Δt/(t2−t
1)〕となる。このスミア電荷量は、全て第1のスミア
成分を表すものであり、第1の除去回路10によって除
去される。尚、ここでも、式2の計算と同様に、情報電
荷の蓄積開始からフレーム転送の完了までの間で各受光
ビットの単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)は変化し
ないものと仮定している。
【0049】3行目の蓄積ビットQ31〜Q34から取り出
される出力電荷量V3,1〜V3,4は、3行目の受光ビット
P31〜P34に蓄積された情報電荷を2行目及び1行目の
受光ビットP21〜P24、P11〜P14を通過して蓄積部へ
転送したものである。このため、3行目の受光ビットP
31〜P34に蓄積される情報電荷量S3,1〜S3,4と2行目
及び1行目の受光ビットP21〜P24、P11〜P14で発生
するスミア電荷量とを加算した量に一致する。各受光ビ
ットP21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電荷の量
は、上述の算出方法により、それぞれk・S2,1〜k・
S2,4及びk・S1,4〜k・S1,4となり、これらを加算
したk・(S2,1+S1,1)〜k・(S1,1+S1,4)が出
力電荷量V3,1〜V3,4に含まれるスミア電荷量となる。
このように表されるスミア電荷量は全て第1のスミア成
分であり、第1の除去回路10により除去される。この
とき、2列目及び3列目では、2行目の受光ビットP22
〜P23が飽和状態であるため、実際に発生するスミア電
荷の量は、k・(S2,2+S1,2)+s2,2、k・(S2,3
+S1,3)+s2,3となる。この内、s2,3、s3,3が第2
のスミア成分となる。
される出力電荷量V3,1〜V3,4は、3行目の受光ビット
P31〜P34に蓄積された情報電荷を2行目及び1行目の
受光ビットP21〜P24、P11〜P14を通過して蓄積部へ
転送したものである。このため、3行目の受光ビットP
31〜P34に蓄積される情報電荷量S3,1〜S3,4と2行目
及び1行目の受光ビットP21〜P24、P11〜P14で発生
するスミア電荷量とを加算した量に一致する。各受光ビ
ットP21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電荷の量
は、上述の算出方法により、それぞれk・S2,1〜k・
S2,4及びk・S1,4〜k・S1,4となり、これらを加算
したk・(S2,1+S1,1)〜k・(S1,1+S1,4)が出
力電荷量V3,1〜V3,4に含まれるスミア電荷量となる。
このように表されるスミア電荷量は全て第1のスミア成
分であり、第1の除去回路10により除去される。この
とき、2列目及び3列目では、2行目の受光ビットP22
〜P23が飽和状態であるため、実際に発生するスミア電
荷の量は、k・(S2,2+S1,2)+s2,2、k・(S2,3
+S1,3)+s2,3となる。この内、s2,3、s3,3が第2
のスミア成分となる。
【0050】そして、4行目の蓄積ビットQ41〜Q44か
ら読み出される出力電荷量V4,1〜V4,4は、4行目の受
光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光されてい
ることから、3行目、2行目及び1行目の受光ビットP
31〜P34、P21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電
荷を加算した量に一致する。各受光ビットP31〜P34、
P21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電荷の量は、
上述の算出方法により、それぞれk・S3,1〜k・S3,
4、k・S2,1〜k・S2,4及びk・S1,1〜k・S1,4と
なり、これらを全て加算したk・(S3,1+S2,1+S1,
1)〜k・(S3,4+S2,4+S1,4)が出力電荷量V4,1
〜V4,4となる。この出力電荷量は、第1のスミア成分
を表すスミア電荷量そのものであり、第1の除去回路1
0によって除去される。ここでも、2列目及び3列目で
2行目の受光ビットP21〜P24が飽和状態であるため、
3行目の蓄積ビットQ31〜Q34からの読み出しと同様
に、実際に発生するスミア電荷の量が、k・(S3,2+
S2,2+S1,2)+s2,3、k・(S3,3+S2,3+S1,3)
+s3,3となる。この内、s2,3、s3,3が第2のスミア
成分となる。
ら読み出される出力電荷量V4,1〜V4,4は、4行目の受
光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光されてい
ることから、3行目、2行目及び1行目の受光ビットP
31〜P34、P21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電
荷を加算した量に一致する。各受光ビットP31〜P34、
P21〜P24、P11〜P14で発生するスミア電荷の量は、
上述の算出方法により、それぞれk・S3,1〜k・S3,
4、k・S2,1〜k・S2,4及びk・S1,1〜k・S1,4と
なり、これらを全て加算したk・(S3,1+S2,1+S1,
1)〜k・(S3,4+S2,4+S1,4)が出力電荷量V4,1
〜V4,4となる。この出力電荷量は、第1のスミア成分
を表すスミア電荷量そのものであり、第1の除去回路1
0によって除去される。ここでも、2列目及び3列目で
2行目の受光ビットP21〜P24が飽和状態であるため、
3行目の蓄積ビットQ31〜Q34からの読み出しと同様
に、実際に発生するスミア電荷の量が、k・(S3,2+
S2,2+S1,2)+s2,3、k・(S3,3+S2,3+S1,3)
+s3,3となる。この内、s2,3、s3,3が第2のスミア
成分となる。
【0051】このようにして得られる第2のスミア成分
については、第2の除去回路20により、飽和エリアで
ある2行目の2列目及び3列目を通過して転送される情
報電荷が蓄積される蓄積ビットQ2,3、Q3,3からの出力
電荷量V2,3、V3,3からさらに差し引くようにして全て
のスミア成分を除去することができる。受光ビットの数
が4以上である場合でも、1行進む毎にスミア電荷量を
1ビット分ずつ加算するようにすれば、スミア電荷量を
順次算出することが可能になる。
については、第2の除去回路20により、飽和エリアで
ある2行目の2列目及び3列目を通過して転送される情
報電荷が蓄積される蓄積ビットQ2,3、Q3,3からの出力
電荷量V2,3、V3,3からさらに差し引くようにして全て
のスミア成分を除去することができる。受光ビットの数
が4以上である場合でも、1行進む毎にスミア電荷量を
1ビット分ずつ加算するようにすれば、スミア電荷量を
順次算出することが可能になる。
【0052】以上のような固体撮像素子のスミア電荷量
の算出方法は、フレーム転送方式の固体撮像素子の他、
情報電荷読み出し用のシフトレジスタが各受光ビットに
隣接して配置されるインターライン方式の固体撮像素子
にも適用することができる。インターライン方式の固体
撮像素子の場合、i行j列の受光ビットから得られる出
力電荷量Vi,jは、フレーム転送方式の固体撮像素子の
場合と同様にして、式5によって与えられる。
の算出方法は、フレーム転送方式の固体撮像素子の他、
情報電荷読み出し用のシフトレジスタが各受光ビットに
隣接して配置されるインターライン方式の固体撮像素子
にも適用することができる。インターライン方式の固体
撮像素子の場合、i行j列の受光ビットから得られる出
力電荷量Vi,jは、フレーム転送方式の固体撮像素子の
場合と同様にして、式5によって与えられる。
【0053】
【数5】
【0054】ここでaは、各受光ビットからシフトレジ
スタ部への電荷の漏れ込みの割合を表す係数であり、1
未満の定数で表される。インターライン方式の固体撮像
素子の場合、各受光ビットに蓄積された情報電荷は、遮
光されたシフトレジスタ内へ直接転送されるため、フレ
ーム転送方式の固体撮像素子のように、各受光ビットに
発生する電荷がそのままスミア電荷となることはない。
しかしながら、受光ビットに隣接して配置されるシフト
レジスタに、各受光ビットから転送された情報電荷を一
時的に蓄積するようにしているため、次画面の情報電荷
を蓄積している受光ビットから漏れ出した情報電荷の一
部がスミア電荷となって情報電荷に混入する。この混入
の度合いは、各受光ビットに入射される光の強度に比例
しており、その比例係数をaとして表している。この係
数aの値は、固体撮像素子の構造や受光ビットに入射す
る光の波長によって異なるため、実際の撮像によって得
られる出力をモニタしながら最適値を決定することが好
ましい。
スタ部への電荷の漏れ込みの割合を表す係数であり、1
未満の定数で表される。インターライン方式の固体撮像
素子の場合、各受光ビットに蓄積された情報電荷は、遮
光されたシフトレジスタ内へ直接転送されるため、フレ
ーム転送方式の固体撮像素子のように、各受光ビットに
発生する電荷がそのままスミア電荷となることはない。
しかしながら、受光ビットに隣接して配置されるシフト
レジスタに、各受光ビットから転送された情報電荷を一
時的に蓄積するようにしているため、次画面の情報電荷
を蓄積している受光ビットから漏れ出した情報電荷の一
部がスミア電荷となって情報電荷に混入する。この混入
の度合いは、各受光ビットに入射される光の強度に比例
しており、その比例係数をaとして表している。この係
数aの値は、固体撮像素子の構造や受光ビットに入射す
る光の波長によって異なるため、実際の撮像によって得
られる出力をモニタしながら最適値を決定することが好
ましい。
【0055】式5は、式1と同様に、右辺の第1項が所
定の蓄積時間(t2−t1)中に1つの受光ビットに蓄
積される情報電荷の量を示し、第2項が1つの受光ビッ
トに蓄積された情報電荷がシフトレジスタ内を垂直方向
に転送されて出力される過程で混入するスミア電荷の量
を示している。即ち、受光ビットの単位時間あたりの蓄
積電荷量Ei,j(t)を時刻t1から時刻t2まで積分した
値によって各受光ビットに蓄積される情報電荷量が表さ
れる。そして、単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)を
Δtの分だけ積分した値に上述の係数aを掛けて情報電
荷が1つの受光ビットの横を通過する間にその受光ビッ
トから混入する電荷量が表される。さらに、その電荷量
を転送経路にある受光ビットの分だけ加算した値によっ
てスミア電荷量が表される。
定の蓄積時間(t2−t1)中に1つの受光ビットに蓄
積される情報電荷の量を示し、第2項が1つの受光ビッ
トに蓄積された情報電荷がシフトレジスタ内を垂直方向
に転送されて出力される過程で混入するスミア電荷の量
を示している。即ち、受光ビットの単位時間あたりの蓄
積電荷量Ei,j(t)を時刻t1から時刻t2まで積分した
値によって各受光ビットに蓄積される情報電荷量が表さ
れる。そして、単位時間あたりの蓄積電荷量Ei,j(t)を
Δtの分だけ積分した値に上述の係数aを掛けて情報電
荷が1つの受光ビットの横を通過する間にその受光ビッ
トから混入する電荷量が表される。さらに、その電荷量
を転送経路にある受光ビットの分だけ加算した値によっ
てスミア電荷量が表される。
【0056】インターライン方式の固体撮像素子におい
ても、フレーム転送方式の固体撮像素子の場合と同様
に、t1からt2、さらにはt2+nΔtまで各受光ビ
ットの単位時間あたりの蓄積電荷量Eij(t)が一定であ
ると仮定すると、各受光ビットに蓄積される情報電荷量
Si,jは、式6によって表される。
ても、フレーム転送方式の固体撮像素子の場合と同様
に、t1からt2、さらにはt2+nΔtまで各受光ビ
ットの単位時間あたりの蓄積電荷量Eij(t)が一定であ
ると仮定すると、各受光ビットに蓄積される情報電荷量
Si,jは、式6によって表される。
【0057】
【数6】
【0058】この式6によって得られる出力電荷量は、
フレーム転送方式の固体撮像素子の場合と同様に、第1
のスミア成分のみを除去する際に有効なものであり、第
2のスミア成分については、第2の除去回路20により
除去される。以上のような計算式に基づいて、本発明の
固体撮像素子のスミア電荷量の算出方法を、図7に示す
ような4行4列に受光ビットが配置されたインターライ
ン方式の固体撮像素子を例に挙げて説明する。
フレーム転送方式の固体撮像素子の場合と同様に、第1
のスミア成分のみを除去する際に有効なものであり、第
2のスミア成分については、第2の除去回路20により
除去される。以上のような計算式に基づいて、本発明の
固体撮像素子のスミア電荷量の算出方法を、図7に示す
ような4行4列に受光ビットが配置されたインターライ
ン方式の固体撮像素子を例に挙げて説明する。
【0059】4行4列に配置されたフォトダイオード
は、それぞれ受光ビットP11〜P44を構成する。これら
の受光ビットP11〜P44の各列毎に、4ビットに分割さ
れたシフトレジスタが並列に接続され、各受光ビットP
11〜P44にそれぞれ蓄積ビットQ11〜Q44が対応付けら
れる。水平転送部は、4ビットに分割された1本のシフ
トレジスタからなり、各ビットが4本のシフトレジスタ
の出力を受けて水平方向へ転送出力するように構成され
る。ここで、2行目の2列目及び3列目の受光ビットP
23、P33が飽和状態であり、4行目の受光ビットP41〜
P44が光学的黒領域として遮光されているものとする。
は、それぞれ受光ビットP11〜P44を構成する。これら
の受光ビットP11〜P44の各列毎に、4ビットに分割さ
れたシフトレジスタが並列に接続され、各受光ビットP
11〜P44にそれぞれ蓄積ビットQ11〜Q44が対応付けら
れる。水平転送部は、4ビットに分割された1本のシフ
トレジスタからなり、各ビットが4本のシフトレジスタ
の出力を受けて水平方向へ転送出力するように構成され
る。ここで、2行目の2列目及び3列目の受光ビットP
23、P33が飽和状態であり、4行目の受光ビットP41〜
P44が光学的黒領域として遮光されているものとする。
【0060】所定の蓄積期間を経過して各受光ビットP
11〜P44に蓄積される情報電荷は、それぞれ対応する蓄
積ビットQ11〜Q44に転送されて一時的に蓄積される。
1行目の蓄積ビットQ11〜Q14から取り出される出力電
荷量V1,1〜V1,4は、各蓄積ビットQ11〜Q44に蓄積さ
れる情報電荷をすぐに水平転送部へ転送して取り出した
ものであるため、スミア電荷をほとんど含んでおらず、
1行目の受光ビットに蓄積された情報電荷量S1,1〜S
1,4に一致する。2行目の蓄積ビットQ21〜Q24から取
り出される出力電荷量V2,1〜V2,4は、1行目の受光ビ
ットP11〜P14に隣接する1行目の蓄積ビットQ11〜Q
14を通過して水平転送部へ転送して取り出したものであ
る。このため、2行目の受光ビットP21〜P24に蓄積さ
れる情報電荷量S2,1〜S2,4と1行目の受光ビットP11
〜P14から漏れ込むスミア電荷量とを加算した量に一致
する。1行目の蓄積ビットQ11〜Q14を通過する間に混
入するスミア電荷量は、所定の蓄積時間〔t2−t1〕
に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報電荷
量S1,1〜S1,4に、その蓄積時間と通過時間〔Δt〕と
の比〔k〕を掛け、さらに、受光ビットP11〜P14から
蓄積ビットQ11〜Q14への電荷の漏れ込み係数〔a〕を
掛けた値で表される。即ち、t2−t1の時間に1行目
の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報電荷量がS1,
1〜S1,4であれば、同じ受光ビットP11〜P14において
Δtの間に発生する電荷量は、S1,1・Δt/(t2−
t1)〜S1,4・Δt/(t2−t1)となり、この電
荷量のa倍がスミア電荷量となる。このスミア電荷量
は、全てが第1のスミア成分であり、第1の除去回路1
0によって除去される。
11〜P44に蓄積される情報電荷は、それぞれ対応する蓄
積ビットQ11〜Q44に転送されて一時的に蓄積される。
1行目の蓄積ビットQ11〜Q14から取り出される出力電
荷量V1,1〜V1,4は、各蓄積ビットQ11〜Q44に蓄積さ
れる情報電荷をすぐに水平転送部へ転送して取り出した
ものであるため、スミア電荷をほとんど含んでおらず、
1行目の受光ビットに蓄積された情報電荷量S1,1〜S
1,4に一致する。2行目の蓄積ビットQ21〜Q24から取
り出される出力電荷量V2,1〜V2,4は、1行目の受光ビ
ットP11〜P14に隣接する1行目の蓄積ビットQ11〜Q
14を通過して水平転送部へ転送して取り出したものであ
る。このため、2行目の受光ビットP21〜P24に蓄積さ
れる情報電荷量S2,1〜S2,4と1行目の受光ビットP11
〜P14から漏れ込むスミア電荷量とを加算した量に一致
する。1行目の蓄積ビットQ11〜Q14を通過する間に混
入するスミア電荷量は、所定の蓄積時間〔t2−t1〕
に1行目の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報電荷
量S1,1〜S1,4に、その蓄積時間と通過時間〔Δt〕と
の比〔k〕を掛け、さらに、受光ビットP11〜P14から
蓄積ビットQ11〜Q14への電荷の漏れ込み係数〔a〕を
掛けた値で表される。即ち、t2−t1の時間に1行目
の受光ビットP11〜P14に蓄積される情報電荷量がS1,
1〜S1,4であれば、同じ受光ビットP11〜P14において
Δtの間に発生する電荷量は、S1,1・Δt/(t2−
t1)〜S1,4・Δt/(t2−t1)となり、この電
荷量のa倍がスミア電荷量となる。このスミア電荷量
は、全てが第1のスミア成分であり、第1の除去回路1
0によって除去される。
【0061】3行目の蓄積ビットQ31〜Q34から取り出
される出力電荷量V3,1〜V3,4は、3行目の蓄積ビット
Q31〜Q34に蓄積された情報電荷を2行目及び1行目の
受光ビットP21〜P24、P11〜P14に隣接する2行目及
び1行目の蓄積ビットQ21〜Q24、Q11〜Q14を通過し
て水平転送部へ転送して取り出したものである。このた
め、3行目の受光ビットP31〜P34に蓄積される情報電
荷量S3,1〜S3,4と2行目及び1行目の蓄積ビットQ21
〜Q24、Q11〜Q14で混入するスミア電荷量とを加算し
た量に一致する。各蓄積ビットQ21〜Q24、Q11〜Q14
で発生するスミア電荷量は、上述の算出方法により、そ
れぞれak・S2,1〜ak・S2,4及びak・S1,1〜a
k・S1,4となり、これらを加算したak・(S2,1+S
1,1)〜ak・(S2,4+S1,4)が出力電荷量V3,1〜V
3,4に含まれるスミア電荷量となる。このスミア電荷量
は、第1のスミア成分であり、第1の除去回路10によ
り除去される。このとき、2列目及び3列目では、2行
目の受光ビットP22〜P23が飽和状態であるため、実際
に発生するスミア電荷の量が、k・(S2,2+S1,2)+
s2,2、k・(S2,3+S1,3)+s2,3となり、このs2,
3、s3,3が第2のスミア成分となる。
される出力電荷量V3,1〜V3,4は、3行目の蓄積ビット
Q31〜Q34に蓄積された情報電荷を2行目及び1行目の
受光ビットP21〜P24、P11〜P14に隣接する2行目及
び1行目の蓄積ビットQ21〜Q24、Q11〜Q14を通過し
て水平転送部へ転送して取り出したものである。このた
め、3行目の受光ビットP31〜P34に蓄積される情報電
荷量S3,1〜S3,4と2行目及び1行目の蓄積ビットQ21
〜Q24、Q11〜Q14で混入するスミア電荷量とを加算し
た量に一致する。各蓄積ビットQ21〜Q24、Q11〜Q14
で発生するスミア電荷量は、上述の算出方法により、そ
れぞれak・S2,1〜ak・S2,4及びak・S1,1〜a
k・S1,4となり、これらを加算したak・(S2,1+S
1,1)〜ak・(S2,4+S1,4)が出力電荷量V3,1〜V
3,4に含まれるスミア電荷量となる。このスミア電荷量
は、第1のスミア成分であり、第1の除去回路10によ
り除去される。このとき、2列目及び3列目では、2行
目の受光ビットP22〜P23が飽和状態であるため、実際
に発生するスミア電荷の量が、k・(S2,2+S1,2)+
s2,2、k・(S2,3+S1,3)+s2,3となり、このs2,
3、s3,3が第2のスミア成分となる。
【0062】そして、4行目の蓄積ビットQ41〜Q44か
ら読み出される出力電荷量V4,1〜V4,4は、4行目の受
光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光されてい
ることから、第3行目、2行目及び1行目の蓄積Q31〜
Q34、Q21〜Q24、Q11〜Q14で発生するスミア電荷を
加算した量に一致する。各蓄積ビットQ31〜Q34、Q21
〜Q24、Q11〜Q14で発生するスミア電荷の量は、上述
の算出方法により、それぞれak・S3,1〜ak・S3,
4、ak・S2,1〜ak・S2,4及びak・S1,1〜ak・
S1,4となり、これらを全て加算した量ak・(S3,1+
S2,1+S1,1)〜ak・(S3,4+S2,4+S1,4)が出
力電荷量V4,1〜V4,4に含まれるスミア電荷量となる。
この電荷量が第1のスミア成分であり、第1の除去回路
10により除去される。ここでも、2列目及び3列目で
2行目の受光ビットP21〜P24が飽和状態であるため、
3行目の蓄積ビットQ31〜Q34からの読み出しと同様
に、実際に発生するスミア電荷の量が、ak・(S3,2
+S2,2+S1,2)+s2,3、ak・(S3,3+S2,3+S
1,3)+s3,3となり、このs2,3、s3,3が第2のスミア
成分となる。
ら読み出される出力電荷量V4,1〜V4,4は、4行目の受
光ビットP41〜P44が光学的黒領域として遮光されてい
ることから、第3行目、2行目及び1行目の蓄積Q31〜
Q34、Q21〜Q24、Q11〜Q14で発生するスミア電荷を
加算した量に一致する。各蓄積ビットQ31〜Q34、Q21
〜Q24、Q11〜Q14で発生するスミア電荷の量は、上述
の算出方法により、それぞれak・S3,1〜ak・S3,
4、ak・S2,1〜ak・S2,4及びak・S1,1〜ak・
S1,4となり、これらを全て加算した量ak・(S3,1+
S2,1+S1,1)〜ak・(S3,4+S2,4+S1,4)が出
力電荷量V4,1〜V4,4に含まれるスミア電荷量となる。
この電荷量が第1のスミア成分であり、第1の除去回路
10により除去される。ここでも、2列目及び3列目で
2行目の受光ビットP21〜P24が飽和状態であるため、
3行目の蓄積ビットQ31〜Q34からの読み出しと同様
に、実際に発生するスミア電荷の量が、ak・(S3,2
+S2,2+S1,2)+s2,3、ak・(S3,3+S2,3+S
1,3)+s3,3となり、このs2,3、s3,3が第2のスミア
成分となる。
【0063】このようにして得られる第2のスミア成分
については、第2の除去回路20により、飽和エリアで
ある2行目の2列目及び3列目を通過して転送される情
報電荷が蓄積される蓄積ビットQ2,3、Q3,3からの出力
電荷量V2,3、V3,3からさらに差し引くようにして全て
のスミア成分を除去することができる。
については、第2の除去回路20により、飽和エリアで
ある2行目の2列目及び3列目を通過して転送される情
報電荷が蓄積される蓄積ビットQ2,3、Q3,3からの出力
電荷量V2,3、V3,3からさらに差し引くようにして全て
のスミア成分を除去することができる。
【0064】
【発明の効果】本発明によれば、固体撮像素子の各受光
ビットに蓄積される情報電荷を垂直方向に転送する過程
で発生する第1のスミア成分を第1の除去回路によって
算出することができ、その算出結果を出力電荷量から順
次差し引くことで、スミア成分を効率よく除去すること
ができる。そして、飽和状態にある受光ビットにより発
生する第2のスミア成分についても、第2の除去回路に
よって除去されるため、全てのスミア成分が除去され
る。従って、固体撮像素子に受光状態に拘わらずスミア
成分の除去が可能になり、あらゆる状況において最適な
映像を再生することができる。
ビットに蓄積される情報電荷を垂直方向に転送する過程
で発生する第1のスミア成分を第1の除去回路によって
算出することができ、その算出結果を出力電荷量から順
次差し引くことで、スミア成分を効率よく除去すること
ができる。そして、飽和状態にある受光ビットにより発
生する第2のスミア成分についても、第2の除去回路に
よって除去されるため、全てのスミア成分が除去され
る。従って、固体撮像素子に受光状態に拘わらずスミア
成分の除去が可能になり、あらゆる状況において最適な
映像を再生することができる。
【図1】本発明のスミア除去回路の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図2】第2の除去回路の飽和エリア検出部の構成の一
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図3】第1の除去回路の係数発生部に露光データを供
給する露光制御回路の構成を示すブロック図である。
給する露光制御回路の構成を示すブロック図である。
【図4】第1の除去回路の動作原理を説明する図であ
る。
る。
【図5】第2の除去回路の動作原理を説明する図であ
る。
る。
【図6】フレーム転送方式の固体撮像素子の模式的平面
図である。
図である。
【図7】インターライン方式の固体撮像素子の模式的平
面図である。
面図である。
【図8】従来の撮像装置の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図9】撮像装置の動作を説明するタイミング図であ
る。
る。
【図10】フレーム転送方式の固体撮像素子に発生する
スミアの状態を表す図である。
スミアの状態を表す図である。
1 固体撮像素子 1i 撮像部 1s 蓄積部 1h 水平転送部 1d 出力部 2 クロック発生回路 2f フレーム転送クロック発生部 2v 垂直転送クロック発生部 2h 水平転送クロック発生部 2b 基板クロック発生部 3 タイミング制御回路 4 アナログ信号処理回路 5 A/D変換回路 6 デジタル信号処理回路 10 第1の除去回路 11 減算器 12 加算器 13 ラインメモリ 14 乗算器 15 ビットシフト部 16 係数発生部 20 第2の除去回路 21 フレームメモリ 22 ラインメモリ 23 アドレス発生部 24 減算器 25 飽和エリア検出部 31 データ判定器 32〜33 フリップフロップ 34 NANDゲート 41 露光判定部 42 アップダウンカウンタ 43 ステップカウンタ 44 比較器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 5/335 H04N 5/217
Claims (6)
- 【請求項1】 複数の受光ビットが行方向及び列方向に
配列された受光部を有する固体撮像素子から、所定の期
間に各受光ビットに蓄積される情報電荷を一定の周期で
列方向に転送すると共に、1行ずつ順次行方向に転送出
力して得られる画像信号に対し、情報電荷の列方向の転
送過程で混入する垂直スミア成分を除去するスミア除去
回路において、上記固体撮像素子の各受光ビットに蓄積
された情報電荷量から情報電荷の蓄積時間と情報電荷の
列方向への転送周期との比に基づいて推定した各受光ビ
ット毎のスミア電荷量を情報電荷の垂直転送経路にある
受光ビットの分だけ累加算し、上記固体撮像素子の各受
光ビットに蓄積される情報電荷を転送出力して得られる
出力電荷量を表す1行単位で連続する第1の画像データ
から上記累加算値を個々に差し引いて第2の画像データ
を得る第1の除去回路と、上記固体撮像素子の受光部を
列方向に縦断して転送する過程で蓄積される電荷量から
上記第1の除去回路で累加算値を差し引いた後に残留す
る電荷量を1行単位で保持し、各列の飽和エリアの検出
に応答して上記第2の画像データから上記保持値を各列
毎に選択的に差し引いて第3の画像データを得る第2の
除去回路と、を備えたことを特徴とするスミア除去回
路。 - 【請求項2】 上記第1の除去回路は、上記第1の画像
データから第1のスミアデータを減算して第2の画像デ
ータを生成する減算器と、この減算器から出力される上
記第2の画像データを各列毎に第1行目から順次累加算
しながら1行分の累加算データを記憶するラインメモリ
と、このラインメモリから読み出される上記累加算デー
タに上記固体撮像素子の各受光ビットでの情報電荷の蓄
積時間及び情報電荷の列方向への転送周期に応じて決定
される係数を乗算して上記第1のスミアデータを生成す
る乗算回路と、を含み、上記第2の除去回路は、上記第
2の画像データを1画面単位で記憶するフレームメモリ
と、このフレームメモリに記憶された上記第2の画像デ
ータの飽和エリアを各列毎に検出する検出部と、上記第
2の画像データの最終行付近の特定行の値または適数行
の平均値により第2のスミア成分を得て上記検出部の検
出結果に従う期間で上記第2の画像データから各列毎に
減算する減算器と、を含むことを特徴とする請求項1に
記載のスミア除去回路。 - 【請求項3】 上記第1の除去回路は、上記固体撮像素
子の各受光ビットでの情報電荷の蓄積期間を決定する露
光データに基づいて所定の係数を発生するスミア係数発
生部を含むことを特徴とする請求項2に記載のスミア除
去回路。 - 【請求項4】 上記第2の除去回路は、上記固体撮像素
子の受光部の最終行付近の特定行に対応する上記第2の
画像データまたは適数行に対応する上記第2の画像デー
タの平均値を各列毎に保持するラインメモリを含むこと
を特徴とする請求項2に記載のスミア除去回路。 - 【請求項5】 上記ラインメモリに保持された値を上記
固体撮像素子の受光部の最終行に対応する上記第2の画
像データから1行毎に順次差し引き、上記検出部で飽和
エリアが検出されたときに上記ラインメモリに保持され
た値をリセットすることを特徴とする請求項4に記載の
スミア除去回路。 - 【請求項6】 上記固体撮像素子の受光部の1行目から
順に連続する上記第2の画像データに対し、上記検出部
で飽和エリアが検出された後に上記ラインメモリに保持
された値を1行毎に順次差し引くことを特徴とする請求
項4に記載のスミア除去回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07681796A JP3157455B2 (ja) | 1996-03-29 | 1996-03-29 | スミア除去回路 |
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