JP2008097720A - 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法 - Google Patents

光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008097720A
JP2008097720A JP2006278829A JP2006278829A JP2008097720A JP 2008097720 A JP2008097720 A JP 2008097720A JP 2006278829 A JP2006278829 A JP 2006278829A JP 2006278829 A JP2006278829 A JP 2006278829A JP 2008097720 A JP2008097720 A JP 2008097720A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
partial reflection
reflection surface
laser
laser light
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006278829A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4682115B2 (ja
Inventor
Akinari Honma
亮成 本間
Takashi Takishima
俊 滝島
Hiroshi Nishikawa
博 西川
Hiroshi Kanazawa
浩 金沢
Ryoichi Nakanishi
良一 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Pentax Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pentax Corp filed Critical Pentax Corp
Priority to JP2006278829A priority Critical patent/JP4682115B2/ja
Publication of JP2008097720A publication Critical patent/JP2008097720A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4682115B2 publication Critical patent/JP4682115B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)
  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】光ピックアップを構成する半導体レーザーと有限系対物レンズとの相対的な光軸調整を、光軸ズレ調整,光軸チルト調整ともに精度良く行うことができる光軸調整装置を、提供する。
【解決手段】レーザー光源11から発したレーザー光の光路上には、第1の部分反射面12a及び第2の部分反射面14aが設置されている。また、第1の部分反射面12aによって部分反射されたレーザー光の光路上にはコーナーキューブ13が設置されている。また、コーナーキューブ13によって反射されてから第1の部分反射面12aを透過したレーザー光の光路上には、当該レーザー光を反射するミラー15,収束するレンズ16及び第3の部分反射面17aが設置されている。当該第3の部分反射面17aによって反射されたレーザー光の光路上には、撮像素子18が設置されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、光ピックアップを構成する対物レンズの半導体レーザーに対する光軸調整を行うための光軸調整装置及び光軸調整方法に、関する。
CD(コンパクトディスク)やDVDのような光ディスクに記録されている光情報を読み出したり、光ディスクに対して光情報を書き込むための各種光ディスクドライブ装置に用いられる光ピックアップは、一般に、半導体レーザーから射出されたレーザー光を、光記録媒体の記録面に収束する構成となっている。
従来、このような光ピックアップを構成する各部品が未だ十分に小型化されていなかったために、トラッキングのレスポンスを向上させるべく、光ピックアップを構成する対物レンズのみを、光ディスクの径方向に移動(トラッキング)するキャリッジ上に搭載し、残りの光学系を固定部に組み込む構成が、一般的であった。このような光学構成が採られる場合には、対物レンズの位置変化が光学性能に影響を及ぼすことを防ぐために、対物レンズとその後方の光学系との間の光路においてレーザー光が平行光となるように、無限系の対物レンズが採用されていた。
このような無限系対物レンズでは、対物レンズの光軸がレーザー光の軸(即ち、固定部側の光学系におけるコリメータレンズの光軸)に対してずれていても、対物レンズによる波面収差が変化することはない。よって、対物レンズの光軸調整は、コマ収差を抑えるために、平行光に対する対物レンズの傾きの調整(チルト調整)のみ精度良く行えば良く、他方、光軸ズレ調整は粗くても構わない。
ところで、近年、光ピックアップ光学系を構成する光学部品の素材改良や半導体レーザーや駆動回路のような回路部品の集積化が進んだため、光ピックアップ全体を小型軽量に構成することが可能となったので、光ピックアップ全体をキャリッジに搭載することが可能となった。このように光ピックアップ全体をキャリッジに搭載できると、対物レンズに入射するレーザー光を平行光にする必要がなくなるので、更なる小型軽量化のために、対物レンズを有限系とすることで、コリメータレンズを廃止することが可能となる。
特開2002−8249号公報
しかしながら、対物レンズを有限系とした場合には、対物レンズの光軸がレーザー光の軸に対して少しでもずれていると、対物レンズによって収束されるビームスポットの位置がその横倍率に応じて移動してしまうとともに、コマ収差が発生してしまう。従って、かかる有限系対物レンズの半導体レーザーに対する光軸調整においては、チルト調整に加えて、光軸ズレ調整も精度良く行わなければならない。
そこで、本発明は、光ピックアップを構成する半導体レーザーから射出されるレーザー光の中心軸に対する有限系対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を、ともに精度良く行うことを可能とする光軸調整装置,及び、このような光軸調整装置を用いて行う光軸調整方法の提供を、課題とする。
本発明は、上記課題を解決するために、以下の手段を採用した。
即ち、本発明による光ピックアップの光軸調整装置は、レーザー光を発散光として射出する半導体レーザー,及び、当該半導体レーザーから射出されたレーザー光を収束させる機能を有するとともに光軸に直交する方向の平坦面を後側に有する対物レンズを含む光ピックアップにおける、前記半導体レーザーから射出されたレーザー光の中心軸に対する前記対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を行うための光軸調整装置である。この光軸調整装置は、レーザー光を平行光として射出するレーザー光源と、前記レーザー光源から射出されたレーザー光の光路上に、当該光路に対して夫々略45度傾くととともに相互に平行となるように順番に設置された第1の部分反射面及び第2の部分反射面と、前記レーザー光源から射出されてから前記第1の部分反射面によって部分反射されたレーザー光の光路上に配置され、当該レーザーを反射するコーナーキューブと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光の光路上に配置され、当該レーザー光を、前記第1の部分反射面を透過して第2の部分反射面に向かう前記レーザー光と平行な方向へ同じ向きに反射するミラーと、前記ミラーによって反射されたレーザー光の光路上に配置され、当該レーザー光を、前記第2の部分反射面によって部分反射されたレーザー光と同軸且つ逆向きに反射する第3の部分反射面と、前記第3の部分反射面によって反射されたレーザー光の光路上に設置された撮像素子と、前記第1の部分反射面から前記第3の部分反射面までの前記レーザー光の光路上に配置され、平行光である前記レーザー光を前記撮像素子上に収束させるレンズとから、構成される。
以上のような構成を有する光軸調整装置によると、レーザー光源からレーザー光を射出させると、第1の部分反射面にてその一部が反射されて、残りが第1の部分反射面を透過して第2の部分反射面に入射する。第1の部分反射面によって反射されたレーザー光成分は、コーナーキューブによって反射されて、第1の部分反射面を透過、ミラーによって反射されるとともにレンズによって収束され、第3の部分反射面によって反射されて、撮像素子上にスポットを形成する。他方、第2の部分反射面に入射したレーザー光は、この第2の部分反射面によって反射される。
そして、この光軸調整装置によって光軸調整を行うには、前記対物レンズを設置する前に、前記レーザー光源から射出されてから前記第1の部分反射面を透過して前記第2の部分反射面によって反射されたレーザー光の中心軸が、前記半導体レーザーの発光点の中心を通るように当該半導体レーザーの位置を調整する。その後、前記対物レンズを設置して、前記平坦面によって反射されてから前記第2の部分反射面及び前記第1の部分反射面で夫々反射された前記レーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの傾きを調整する。その後、前記半導体レーザーから射出されたレーザー光が前記対物レンズを透過することによって生じた回折光が前記第2の部分反射面及び前記第3の部分反射面を透過して前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの径方向の位置を調整する。
以上のようにして調整を行うことにより、光ピックアップを構成する半導体レーザーから射出されたレーザー光の中心軸に対する対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を、正確に行うことが可能となるのである。
以下、図面に基づいて本発明による光ピックアップの光軸調整装置の実施の形態を、説明する。
<光学構成>
図1は、本発明による光軸調整装置を含む光ピックアップの組み立て作業中の状態を示す光学構成図である。即ち、図1において、枠Aによって囲まれた部分が、光ピックアップを構成する光学系(半導体レーザー1,対物レンズ2)であり(以下、「光ピックアップA」という)、枠Bによって囲まれた部分が、フィゾー干渉計等の干渉光学系3による干渉計測のために光路内に挿入される光路分離光学系(カバーガラス4,顕微鏡対物レンズ5,ミラー6)であり、それ以外の光学系が、光軸調整装置10を構成する光学部材である。以下、この光軸調整装置10の光学構成を説明するが、図1において、紙面の左右方向を「X方向」と定義し、上下方向を「Z方向」と定義するとともに、X方向及びZ方向に夫々直交する方向を「Y方向」と定義するものとする。
図1に示すように、この光軸調整装置10は、レーザー光を平行光としてX方向に向けて射出するレーザー光源11,入射角45度で入射したレーザー光の約半分を反射して残りを透過する部分反射面(第1の部分反射面)12aを内部に備えるとともに、レーザー光源11から射出されたレーザー光を図1におけるZ方向上向きに90度反射させるように当該部分反射面12aを当該レーザー光の軸に対して45度傾けた姿勢で配置された第1プリズム12,第1プリズム12によって部分反射されたレーザー光を折り返すコーナーキューブ13,第1プリズム12と同じ構造を有するとともに、レーザー光源11から射出されて第1プリズム12を透過したレーザー光の光路上において、当該レーザー光を図1におけるZ方向上向きに90度反射するように部分反射面(第2の部分反射面)14aを当該レーザー光の軸に対して45度傾けた姿勢で配置された第2プリズム14,コーナーキューブ13により折り返されて第1プリズム12を透過したレーザー光の光路上において、当該レーザー光を図1におけるX方向左向きに90度反射するように当該レーザー光の軸に対して45度傾けた状態で配置された反射ミラー15,反射ミラー15により反射されたレーザー光の光路上において、その軸と同軸に配置され、後述する撮像素子18とともにオートコリメート光学系を構成する正レンズであるレンズ16,第1プリズム12及び第2プリズム14と同じ構造を有するとともに、レンズ16を透過したレーザー光の光路上において、当該レーザー光を図1におけるZ方向下向きに90度反射するように部分反射面(第3の部分反射面)17aを当該レーザー光の軸に対して45度傾けた姿勢で配置された第3プリズム17,及び、第3プリズム17によって反射されたレーザー光の光路上における当該レーザー光のビームウェストの位置に配置された撮像素子18(エリアセンサ)から、構成されている。
レーザー光源11に内蔵されたレーザー発振器は、He−Neレーザー等の気体レーザーでも良いし、固体レーザーでも良いし、半導体レーザーでも良い。但し、半導体レーザーの場合には、半導体から発するレーザー光自体が発散光であるので、これを平行光に矯正するコリメートレンズも内蔵されている必要がある。さらに、何れの場合においても、このレーザー光源11から射出されるレーザー光のビーム径を選択的に拡大できるように、レーザー光の光路中に挿抜自在又は個々の構成レンズが光軸方向に相対移動可能であることによって拡大率が可変であるビームエキスパンダ(図示略)が、当該レーザー光源11に内蔵されている。
レーザー光源11から射出されて第1プリズム12を透過したレーザー光の軸と第2プリズム14の部分反射面14aとの交点14bと、レンズ16の光軸と第3プリズム17の部分反射面17aとの交点17bとは、Z方向に重なっている。従って、Z方向から第2プリズム14の交点14aに入射した光は、部分反射面14aにより、そのまま直進する光と、90度反射される光に分離されるが、両者は何れも、第3プリズム17における交点17bに入射角45度で入射するので、(X方向左向きに進行するロス成分を除き)部分反射面17aにより、同軸に合成されることになる。
光ピックアップAを構成する半導体レーザー1及び対物レンズ2の配置の仕方については、光軸調整手順として後で詳しく説明をするが、最終的には、第2プリズム14によって反射されたレーザー光の軸に対して、対物レンズ2の軸及び半導体レーザー1から発するレーザー光の軸が同軸となるように配置される。
対物レンズ2は、半導体レーザー1から射出されたレーザー光を一点に収束する機能を有する正レンズ(非球面レンズ)である。この対物レンズ2の外周には、円環状のフランジ2aが一体に突出形成されており、当該フランジ2aにおける半導体レーザー1から見て後側の面が、当該対物レンズ2自身の光軸に直交する平坦面2bとして、加工されている。なお、光ピックアップAには、半導体レーザー1と対物レンズ2との光軸調整が完了した後に、図示せぬ光ディスクからの反射光を読み取るための光学系等が、追加されることになる。
光路分離光学系Bは、全体として、第2プリズム14と対物レンズ2との間の光路中に、レーザー光の軸に対して直交する方向から、一体に挿入され、また、抜き出される。この光路分離光学系Bを構成する顕微鏡光学系5は、対物レンズ2によって一旦収束した光線を平行光に変換する(逆に言えば、干渉計光学系3からの平行光を対物レンズ2による像点に収束させる)レンズである。ミラー6は、顕微鏡光学系5の光軸に対して例えば45度傾いて配置され、干渉計光学系3からの平行光を90度反射させて顕微鏡光学系5に入射する反射鏡である。
<光軸調整手順>
まず、初期状態においては、図2に示すように、光軸調整装置10の上方には、未だ半導体レーザー1及び対物レンズ2が設置されていないとともに、光路分離光学系Bも光路から除去されている。そこで、作業者は、第2プリズム14のZ方向上方に、外方から入射した光をほぼ全て反射する基準面19aを有する基準器19を設置しておく。
この状態で、作業者は、レーザー光源11中の図示せぬレーザー発振器を起動するとともに図示せぬビームエキスパンダーを調整することにより、ビーム径が小さく絞られたレーザー光を、当該レーザー光源11から射出させる。すると、レーザー光源11から射出されたレーザー光は、各プリズム12,14において分離され、第3プリズム17において合成されることにより、図2に示す光路を進行することになる(図2においては、各プリズム12,14,17において不可避的にロスする成分,即ち、夫々の後段の光学系に入射されない方向へ進行する成分の図示が省略されている)。
図3乃至図5は、各プリズム12,14において特定の方向へ分離されるレーザー光の成分の光路(但し、各プリズム12,14,17において不可避的にロスする成分の図示は省略されている)のみを、他の成分から分割して図示している。即ち、図3は、第1プリズム12の部分反射面12aにおいて反射されるレーザー光の光路を示しており、図4は、第1プリズム12の部分反射面12aを透過した後に第2プリズム14の部分反射面14aにより反射され、基準器19の基準面19aにより反射されてから、第2プリズム14の部分反射面14aにより反射されるレーザー光の光路を示しており、図5は、基準面19aにより反射されて第2プリズム14の部分反射面14aに再入射した際に当該部分反射面14aを透過することによって図4に示すレーザー光から分離するレーザー光の光路を示している。
図3に示す光路を進行するレーザー光(以下,「第1レーザー光成分」という)は、第1プリズム12の部分反射面12aにより反射された後に、コーナーキューブ13に入射する。すると、コーナーキューブ13の機能に依り、第1レーザー光成分は、往路のレーザー光が入射する方向と同じ方向に反射されるので、レーザー光源11からのレーザー光の軸が部分反射面12aと交差する交点12bを通って、Z方向に透過する。そして、この第1レーザー光成分は、ミラー15により90度反射され、レンズ(オートコリメート光学系)16を透過することによって収束されつつ、(その一部の成分が部分反射面17aを透過してロスする他)第三プリズム17の部分反射面17aにて90度反射されて、撮像素子18の中心にスポットを形成する。
次に、図4に示す光路を進行するレーザー光(以下、「第2レーザー光成分」という)は、第2プリズム14の部分反射面14aにより反射された後に、基準器19の基準面19aにより反射されるが、この基準面19aに入射するレーザー光の軸に対して基準面19aが直交していれば、基準面19aによって反射された復路のレーザー光は、往路のレーザー光が進行した光路を辿って、第2プリズム14の部分反射面14aへ戻り、更に、第1プリズム12の部分反射面12aへ戻ることになる。即ち、基準面19aによって反射された復路のレーザー光の軸も、部分反射面14aの交点14b及び部分反射面12aの交点12bと交差する。第1プリズム12の部分反射面12aに再入射したレーザー光は、(その一部の成分が部分反射面12aを透過してロスする他)この部分反射面12aによってZ方向下向きに90度反射される。そして、第1レーザー光成分と合流して、ミラー15により90度反射され、レンズ(オートコリメート光学系)16を透過することによって収束されつつ、(その一部の成分が部分反射面17aを透過してロスする他)第三プリズム17の部分反射面17aにて90度反射されて、撮像素子18の中心にスポットを形成する。
次に、図5に示す光路を進行するレーザー光(以下、「第3レーザー光成分」という)は、基準面19aからの復路において、第2プリズム14の部分反射面14aを透過することにより、レンズ(オートコリメート光学系)16を経ることなく、直接、第3プリズム17に入射する。ここで、上述したように、第3プリズム17の部分反射面17aにおける交点17bは、第2プリズム14の交点14bとZ方向に重なっているので、部分反射面14aを透過したレーザー光は、(その一部の成分が部分反射面17aにより反射されてロスする他)第3プリズム17の部分反射面17aにおける交点17bを透過して、平行光のまま撮像素子18の中心近傍に入射する。
上述したように分離された各レーザー光成分は、各光学部材11〜19の位置調整が厳密になされているならば、図2に示すように、撮像素子18上の同一点(同心円状)にスポットを形成する。従って、このように3つのレーザー光成分が撮像素子18上の同一点(同心円状)にスポットを形成しているならば、光軸調整部材を構成する各光学部材の配置が上述した設置条件を満たしていることが、この後に続く作業に影響を及ぼさない範囲で保証される。即ち、第1レーザー光成分及び第2レーザー光成分のスポット同士が重なっているならば、基準面19aに入射するレーザー光の軸に対して基準面19aの方向が直交方向を向いていることが保証される。なお、各レーザー光成分の各部分12a,14a,17a及びミラー15への入射角が45度であることが設計上の目標であるが、上記条件が満たされているならば、45度から多少ずれていても、後に続く作業上問題はない。
そこで、作業者は、撮像素子18によって撮像された映像を図示せぬモニターで確認しながら、各光学部材の位置及び姿勢を適宜調整することにより、各レーザー光成分が形成するスポット同士が同軸になるようにする。このようにして調整が完了した状態では、各光学部材の配置及び各レーザー光成分の状態は、上記条件を満たしていることになる。
次に、作業者は、レーザー光源11からレーザー光を射出したまま、基準器19を除去し、その代わりに、図示せぬフレームに固定された半導体レーザー1を、当該フレームごと設置する。この際、図6及び図7に示すように、半導体レーザー1をレーザー光の軸に直交する面内(X−Y平面内)にて適宜移動させることにより、このレーザー光の中心が半導体レーザー1の発光点の中心に当たるように調整する。この際、可能な限り、半導体レーザー1によって射出されるレーザー光の中心軸が第3プリズム17からのレーザー光の軸と一致するように傾きを調整する必要があるが、この傾きは光ピックアップAの性能にはさほど影響しないので、傾きの精度が多少悪くても問題はない。この調整が完了すると、半導体レーザー1から射出されるべきレーザー光の軸が、第2乃至第3レーザー光成分の軸と合致することになる。
次に、作業者は、図8に示すように、第2プリズム14と半導体レーザー1との間の光路中(半導体レーザー1との距離が設計値となる位置)に、図示せぬフォーカシング機構に保持された対物レンズ2配置して、当該フォーカシング機構を上記フレームに取り付ける。そして、レーザー光源11中の図示せぬビームエキスパンダを操作することにより当該レーザー光源11から射出されるレーザー光のビーム径を拡大し、対物レンズ2全体がレーザー光の光路内に入るようにする。この際、対物レンズ2のレンズ面にて反射光が生じるが、この反射光は、レンズ面の形状に因り発散してしまうので、撮像素子18上にスポットを形成することはない。これに対して、対物レンズ2の平坦面2bにて生じた反射光は、レーザー光(第2レーザー光成分)の軸に直交する平面に対する当該平坦面2bの傾斜に応じた方向へ、拡散することなく反射される。従って、第2レーザー光成分の軸に直交する平面に対して当該平坦面2bが傾斜しているならば(従って、対物レンズ2の光軸が第2レーザー光成分の軸に対して傾いているならば)、この反射光がレンズ(オートコリメート光学系)16を通じて撮像素子18上に形成するスポットの位置は、第1レーザー光成分が形成するスポットの位置からずれることになる。
そこで、作業者は、撮像素子18によって撮像された映像を図示せぬモニターで確認しながら、対物レンズ2の傾き(図示せぬフォーカシング機構の傾き)を適宜調整することにより、その平坦面2bでの反射光が形成するスポットが、第1レーザー光成分によるスポットと重なるようにする。このようにして調整が完了した状態では、対物レンズの光軸が第2レーザー光成分の軸(従って、半導体レーザー1が発するレーザー光の中心軸)に対して平行となっている(チルト調整の完了,但し、光軸ズレ調整は未了)。
なお、以上のチルト調整の間、対物レンズ2の平坦面2bにて反射した反射光の一部が第3レーザー光成分の光路に沿って撮像素子18に入射するが、形成するスポットの形状はリング状であり、また、第2レーザー光成分の光路を進行するレーザー光に比べて光路が短い為に第1レーザー光成分のスポットからのずれ量が少ないので、チルト調整のための指標としては利用し難い。そのため、第2プリズム14と第3プリズム17との間を遮光しても良い。
次に、作業者は、図9に示すように、レーザー光源11中の図示せぬビームエキスパンダを操作することにより当該レーザー光源11から射出されるレーザー光のビーム径を絞る。その結果、第1レーザー光成分は、レンズ(オートコリメート光学系)16を通じて、撮像素子18上にスポットを形成し続けるが、第1プリズム12の部分反射面12aを透過する成分(第2レーザー光成分,第3レーザー光成分に相当)は平坦面12bには入射せず、発散又は吸収されてロスしてしまう。よって、図9では、その図示を省略している。
これとともに、作業者は、半導体レーザー1を作動させて、レーザー光を射出させる。すると、半導体レーザー1からのレーザー光は、図9において矢印にて示すように、対物レンズ2によって収束されて、想定される光ディスクの記録面相当の位置に一旦スポットを形成した後に、発散する。
ところで、対物レンズ2のレンズ面には、二波長互換を可能とする目的や温度補償を行う目的の為に、回折輪体構造が形成されていることが多い。本来、この回折輪体構造による回折作用により、レーザー光は、回折効率良く焦点位置に集光するはずである。ところが、回折輪体の構造を決定する際に用いたブレーズ波長と実際に使用する波長が異なると、僅かではあるが、使用する回折次数以外の回折次数の回折効率が出てくる影響に因り、本体のスポット(設計上のスポット位置)の形成位置よりも後方に、微小な光で点々と設計以外の回折光によるスポットを生じる。なお、このような回折は、意図的に形成された回折輪体構造の他、対物レンズ2のモールド成形に用いた金型の内面に存在する引き目によっても、引き起こされ得る。その結果、何れかの回折次数の回折光が、図9に示すように、第3レーザー光成分の光路に沿って、撮像素子18に入射する。但し、回折光によるスポットの形成位置は離散的であるので、撮像素子18の位置に丁度スポットが形成されるとは限らない。その場合には、図示せぬフォーカシング機構を作動させて対物レンズ2を光軸方向に若干移動させることにより、何れかのスポットが撮像素子18上に形成されるように、調整する。
このとき、対物レンズ2の光軸が、第2プリズム14の部分反射面14aにおける交点14bを通るのであれば、当該レーザー光(回折光)の主光線は、第3レーザー光成分の光路と同軸となるので、第1レーザー光成分が撮像素子18上に形成しているスポットと同位置に、回折光のスポットが形成されることになる。これに対して、対物レンズ2の光軸が、第2プリズム14の部分反射面14aにおける交点14bからずれているならば、当該レーザー光(回折光)の主光線は、第3レーザー光成分の光路に対して傾いてしまうので、当該レーザー光(回折光)が撮像素子18上に形成するスポットの位置は、第1レーザー光成分が形成するスポットからずれてしまうことになる。
そこで、作業者は、撮像素子18によって撮像された映像を図示せぬモニターで確認しながら、対物レンズ2の径方向における位置(X−Y平面内での図示せぬフォーカシング機構の位置)を適宜調整することにより、その平坦面2bでの反射光が形成するスポットを、第1レーザー光成分によるスポットと重ねる。このようにして調整が完了した状態では、対物レンズの光軸が第3レーザー光成分の軸(従って、半導体レーザー1が発するレーザー光の中心軸)と同軸になっている(光軸ズレ調整の完了)。
以上の調整の結果として、図示せぬフレームに固定された半導体レーザー1が発するレーザー光の中心軸に対して、図示せぬフォーカシング機構を介して当該フレームに固定された対物レンズ2の光軸が、同軸となる。
その後、作業者は、半導体レーザー1と対物レンズ2との間に、光ディスクの記録面上での反射光を検出するための光学系を組み込む等の作業をしたり、対物レンズ2と第2プリズム14との間に干渉計光学系3用の光路分離光学系Bを挿入して波面収差測定をすることによって、光ピックアップAを完成させる。
<実施形態の利点>
以上説明したように、本実施形態によると、光ピックアップAを構成する有限系対物レンズ2の光軸ズレ調整及びチルト調整を正確に行うことができるので、有限系対物レンズ2を用いた光ピックアップAの使いこなしが容易になる。
本発明による光ピックアップの光軸調整装置を用いて光軸調整を実施している状態を示す光学構成図ディスクドライブ装置の全体斜視図 光軸調整装置を構成する各光学部材の位置調整を行っている状態を示す光学構成図 図2における第1レーザー光成分のみを他の成分から独立して示す光学構成図 図2における第2レーザー光成分のみを他の成分から独立して示す光学構成図 図2における第3レーザー光成分のみを他の成分から独立して示す光学構成図 半導体レーザーの調整を行っている状態を示す光学構成図 調整中の半導体レーザーの正面図 対物レンズのチルト調整を行っている状態を示す光学構成図 対物レンズの光軸ずれ調整を行っている状態を示す光学構成図
符号の説明
A 光ピックアップ
1 半導体レーザー
2 対物レンズ
2b 平坦面
10 光軸調整装置
11 レーザー光源
12 第1プリズム
12a 部分反射面
13 コーナーキューブ
14 第2プリズム
14a 部分反射面
15 ミラー
16 レンズ
17 第3プリズム
17a 部分反射面

Claims (4)

  1. レーザー光を発散光として射出する半導体レーザー,及び、当該半導体レーザーから射出されたレーザー光を収束させる機能を有するとともに光軸に直交する方向の平坦面を後側に有する対物レンズを含む光ピックアップにおける、前記半導体レーザーから射出されたレーザー光の中心軸に対する前記対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を行うための光軸調整装置であって、
    レーザー光を平行光として射出するレーザー光源と、
    前記レーザー光源から射出されたレーザー光の光路上に、当該光路に対して夫々略45度傾くととともに相互に平行となるように順番に設置された第1の部分反射面及び第2の部分反射面と、
    前記レーザー光源から射出されてから前記第1の部分反射面によって部分反射されたレーザー光の光路上に配置され、当該レーザーを反射するコーナーキューブと、
    前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光の光路上に配置され、当該レーザー光を、前記第1の部分反射面を透過して第2の部分反射面に向かう前記レーザー光と平行且つ同じ向きに反射するミラーと、
    前記ミラーによって反射されたレーザー光の光路上に配置され、当該レーザー光を、前記第2の部分反射面によって部分反射されたレーザー光と同軸且つ逆向きに反射する第3の部分反射面と、
    前記第3の部分反射面によって反射されたレーザー光の光路上に設置された撮像素子と、
    前記第1の部分反射面から前記第3の部分反射面までの前記レーザー光の光路上に配置され、平行光である前記レーザー光を前記撮像素子上に収束させるレンズと
    を備えることを特徴とする光軸調整装置。
  2. 前記レーザー光源から前記第2の部分反射面までの前記レーザー光の光路上に配置され、当該レーザー光のビーム径を選択的に拡大するビームエキスパンダーを
    更に備えたことを特徴とする請求項1記載の光軸調整装置。
  3. 請求項1に記載の光軸調整装置を用いて、前記光ピックアップにおける、前記半導体レーザーから射出されたレーザー光の中心軸に対する前記対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を行う光軸調整方法であって、
    前記対物レンズを設置する前に、前記レーザー光源から射出されてから前記第1の部分反射面を透過して前記第2の部分反射面によって反射されたレーザー光の中心軸が前記半導体レーザーの発光点の中心を通るように当該半導体レーザーの位置を調整し、その後、
    前記対物レンズを設置して、前記平坦面によって反射されてから前記第2の部分反射面及び前記第1の部分反射面で夫々反射された前記レーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの傾きを調整し、その後、
    前記半導体レーザーから射出されたレーザー光が前記対物レンズを透過することによって生じた回折光が前記第2の部分反射面及び前記第3の部分反射面を透過して前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの径方向の位置を調整する
    ことを特徴とする光軸調整方法。
  4. 請求項2に記載の光軸調整装置を用いて、前記光ピックアップにおける、前記半導体レーザーから射出されたレーザー光の中心軸に対する前記対物レンズの光軸のズレ調整及びチルト調整を行う光軸調整方法であって、
    前記対物レンズを設置する前に、前記レーザー光源から射出されてから前記第1の部分反射面を透過して前記第2の部分反射面によって反射されたレーザー光の中心軸が前記半導体レーザーの発光点の中心を通るように当該半導体レーザーの位置を調整し、その後、
    前記対物レンズを設置して、前記ビームエキスパンダーによってビーム径を拡大した状態で、前記対物レンズの平坦面によって反射されてから前記第2の部分反射面及び前記第1の部分反射面で夫々反射されたレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの傾きを調整し、その後、
    前記半導体レーザーから射出されたレーザー光が前記対物レンズを透過することによって生じた回折光が、前記第2の部分反射面及び前記第3の部分反射面を透過して前記撮像素子上に形成したスポットと、前記コーナーキューブによって反射されてから前記第1の部分反射面を透過したレーザー光が前記レンズを透過することによって前記撮像素子上に形成したスポットとが互いに重なるように、前記対物レンズの径方向の位置を調整する
    ことを特徴とする光軸調整方法。
JP2006278829A 2006-10-12 2006-10-12 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法 Expired - Fee Related JP4682115B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006278829A JP4682115B2 (ja) 2006-10-12 2006-10-12 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006278829A JP4682115B2 (ja) 2006-10-12 2006-10-12 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008097720A true JP2008097720A (ja) 2008-04-24
JP4682115B2 JP4682115B2 (ja) 2011-05-11

Family

ID=39380407

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006278829A Expired - Fee Related JP4682115B2 (ja) 2006-10-12 2006-10-12 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4682115B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013065418A1 (ja) * 2011-11-01 2013-05-10 シャープ株式会社 光源ユニット調整装置の校正方法および基準器
CN110854054A (zh) * 2019-11-20 2020-02-28 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) 调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的准直光路结构
CN111458866A (zh) * 2020-04-30 2020-07-28 中国科学院西安光学精密机械研究所 用于光学镜筒的棱镜导光机构及可视化光轴指示系统
CN114035299A (zh) * 2021-11-23 2022-02-11 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种别汉棱镜穿轴装调方法
CN110854054B (zh) * 2019-11-20 2024-06-04 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) 调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的准直光路结构

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334606A (ja) * 1995-06-05 1996-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズ
JPH1091968A (ja) * 1996-07-24 1998-04-10 Asahi Optical Co Ltd 対物レンズの傾き調整装置
JPH117655A (ja) * 1997-06-19 1999-01-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 対物レンズアクチュエータ
JP2000113489A (ja) * 1998-10-07 2000-04-21 Nippon Columbia Co Ltd 光学部品及び光ピックアップ装置及び光軸傾き調整方法及び光軸傾き調整装置
JP2004062972A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置の調整方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334606A (ja) * 1995-06-05 1996-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズ
JPH1091968A (ja) * 1996-07-24 1998-04-10 Asahi Optical Co Ltd 対物レンズの傾き調整装置
JPH117655A (ja) * 1997-06-19 1999-01-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 対物レンズアクチュエータ
JP2000113489A (ja) * 1998-10-07 2000-04-21 Nippon Columbia Co Ltd 光学部品及び光ピックアップ装置及び光軸傾き調整方法及び光軸傾き調整装置
JP2004062972A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置の調整方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013065418A1 (ja) * 2011-11-01 2013-05-10 シャープ株式会社 光源ユニット調整装置の校正方法および基準器
CN110854054A (zh) * 2019-11-20 2020-02-28 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) 调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的准直光路结构
CN110854054B (zh) * 2019-11-20 2024-06-04 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) 调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的准直光路结构
CN111458866A (zh) * 2020-04-30 2020-07-28 中国科学院西安光学精密机械研究所 用于光学镜筒的棱镜导光机构及可视化光轴指示系统
CN114035299A (zh) * 2021-11-23 2022-02-11 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种别汉棱镜穿轴装调方法
CN114035299B (zh) * 2021-11-23 2024-01-23 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种别汉棱镜穿轴装调方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4682115B2 (ja) 2011-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8089850B2 (en) Optical pickup, optical disc apparatus, integrated coupling lens, integrated prism, and optical information equipment
US6192021B1 (en) Optical pickup apparatus
JP2002288873A (ja) 光情報記録再生装置
USRE43540E1 (en) Optical pickup, optical disc drive device, and optical information device
JP4682115B2 (ja) 光ピックアップの光軸調整装置及び光軸調整方法
JP3193105B2 (ja) チルトエラー検出装置
JP2003506810A (ja) 光学走査装置
JP4476760B2 (ja) 光学測定装置及び光ピックアップレンズ調整装置
JPWO2012063484A1 (ja) 光ピックアップ、傾き角度検出方法、光情報装置及び情報処理装置
JP2000339713A (ja) 光ピックアップ装置
JP2013020690A (ja) レンズ、レンズの取付方法および光ピックアップ装置
JP2008059681A (ja) 光ピックアップ装置
US8456978B2 (en) Objective lens, optical head apparatus, optical information apparatus and information processing apparatus
US9123357B2 (en) Optical pickup device
JP4036226B2 (ja) 光学ピックアップ用対物レンズの傾き検出方法、偏芯検出方法、2群対物レンズのレンズ間距離検出方法、傾き検出装置、及び検査装置
JP2009151908A (ja) 波面収差検査装置、光ピックアップ組立調整装置及び対物レンズアクチュエータ組立調整装置
KR100658888B1 (ko) 광 픽업 장치
JP4595818B2 (ja) 光ピックアップの調整方法
JP2005203081A (ja) 光ディスク用光学系
JP2007516555A (ja) 回転アームアクチュエータを有する光学ピックアップ
JP2006209906A (ja) 光ヘッド装置の製造方法およびその製造装置
JP2009070499A (ja) 光ピックアップ装置
JPH1116192A (ja) 光ディスク装置の光学系
US20070109947A1 (en) Optical pickup device
JP2006085841A (ja) 光ピックアップ

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080502

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090728

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100909

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101019

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20101105

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110118

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees