JP2008096119A5 - - Google Patents

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US12/346,929 US7667857B2 (en) 2006-10-05 2008-12-31 Optical displacement meter, optical displacement measuring method, optical displacement measuring program, computer-readable recording medium, and device that records the program

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Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008016066A1 (fr) * 2006-07-31 2008-02-07 Hoya Corporation Dispositif et procédé de mesure de forme de lentille, procédé de production de lentille et procédé de production de lunettes
JP5314239B2 (ja) * 2006-10-05 2013-10-16 株式会社キーエンス 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP5072336B2 (ja) * 2006-12-07 2012-11-14 株式会社キーエンス 光学式変位センサ及び光学式変位計
US7764387B2 (en) * 2007-03-02 2010-07-27 Applied Kinetics, Inc. Apparatus and method for measuring suspension and head assemblies in a stack
JP2010237054A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Toyota Motor Corp 組み付け精度測定方法および測定装置
JP5374266B2 (ja) * 2009-07-22 2013-12-25 株式会社シロク 光学式位置検出装置
EP2314987A1 (de) * 2009-10-20 2011-04-27 Siemens Aktiengesellschaft Oberflächenanalyse zur Detektierung verschlossener Löcher und Vorrichtung
EP2591332A2 (en) 2010-07-09 2013-05-15 Tribis Engineering, Inc. Tribometer
US8834073B2 (en) * 2010-10-29 2014-09-16 Corning Incorporated Transport apparatus having a measuring system and methods therefor
US20120127487A1 (en) * 2010-11-18 2012-05-24 Sergey Potapenko Methods and apparatuses for measuring the thickness of glass substrates
US9457194B2 (en) * 2011-02-21 2016-10-04 Advanced Neuromodulation Systems, Inc. Method for fabricating an implantable lead for applying electrical pulses to tissue of a patient and system for fabrication thereof
US8582963B2 (en) * 2011-06-03 2013-11-12 Applied Materials, Inc. Detection of substrate warping during rapid thermal processing
JP5832927B2 (ja) * 2012-02-17 2015-12-16 株式会社キーエンス 光学式変位計
US9163936B1 (en) * 2012-05-07 2015-10-20 Physical Optics Corporation Three-dimensional profilometer
DE102012108902B4 (de) 2012-09-21 2019-03-28 SmartRay GmbH Optischer Kopf sowie Düsenkopf mit einem optischen Kopf und Verfahren für deren Betrieb
US9248054B2 (en) 2012-11-27 2016-02-02 The Procter & Gamble Company Methods and apparatus for making elastic laminates
US9265672B2 (en) 2012-11-27 2016-02-23 The Procter & Gamble Company Methods and apparatus for applying adhesives in patterns to an advancing substrate
US9295590B2 (en) 2012-11-27 2016-03-29 The Procter & Gamble Company Method and apparatus for applying an elastic material to a moving substrate in a curved path
JP6207282B2 (ja) * 2013-07-31 2017-10-04 株式会社キーエンス 画像処理装置、画像処理システム、検査方法およびプログラム
CN103557835B (zh) * 2013-11-04 2016-01-06 福建新大陆自动识别技术有限公司 激光测距装置和方法
US9531967B2 (en) * 2013-12-31 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Dynamic range of a line scanner having a photosensitive array that provides variable exposure
US9658061B2 (en) 2013-12-31 2017-05-23 Faro Technologies, Inc. Line scanner that uses a color image sensor to improve dynamic range
US9999552B2 (en) 2014-02-28 2018-06-19 The Procter & Gamble Company Methods for profiling surface topographies of absorbent structures in absorbent articles
US20150352589A1 (en) 2014-06-05 2015-12-10 The Procter & Gamble Company Methods and Apparatus for Applying Adhesives in Patterns to an Advancing Substrate
JP6470506B2 (ja) * 2014-06-09 2019-02-13 株式会社キーエンス 検査装置
KR102238741B1 (ko) * 2015-01-06 2021-04-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 발광 상태 측정 방법 및 표시 패널의 발광 상태 보정 방법
JP6425586B2 (ja) 2015-03-04 2018-11-21 株式会社キーエンス 光学式変位計測システム、撮像条件最適化方法および撮像条件最適化プログラム
CN105937886B (zh) * 2015-03-04 2020-01-10 住友重机械工业株式会社 形状测量装置、加工装置及形状测量装置的校正方法
CN105444679B (zh) * 2015-11-14 2019-02-15 上海砺晟光电技术有限公司 可抑制激光漂移和表面倾斜的对称式激光位移传感器
US11217009B2 (en) 2015-11-30 2022-01-04 Photopotech LLC Methods for collecting and processing image information to produce digital assets
US10778877B2 (en) * 2015-11-30 2020-09-15 Photopotech LLC Image-capture device
JP6728842B2 (ja) * 2016-03-24 2020-07-22 オムロン株式会社 光学計測装置
JP6737018B2 (ja) * 2016-07-08 2020-08-05 オムロン株式会社 光学計測装置
US10861199B2 (en) * 2016-10-25 2020-12-08 Fuji Corporation System for creating component shape data for image processing, and method for creating component shape data for image processing
CN106862157B (zh) * 2017-01-13 2019-07-30 深圳市金洲精工科技股份有限公司 轮廓仪及其镜片维护方法
WO2018208710A1 (en) * 2017-05-08 2018-11-15 PlantSnap, Inc. Systems and methods for electronically identifying plant species
JP6789187B2 (ja) * 2017-07-07 2020-11-25 東京エレクトロン株式会社 基板反り検出装置及び基板反り検出方法、並びにこれらを用いた基板処理装置及び基板処理方法
US10352690B2 (en) 2017-12-18 2019-07-16 Industrial Technology Research Institute Measuring apparatus
JP6880513B2 (ja) * 2018-03-13 2021-06-02 オムロン株式会社 光学計測装置及び光学計測方法
JP7064404B2 (ja) * 2018-08-13 2022-05-10 株式会社キーエンス 光学式変位計
WO2020037387A1 (en) * 2018-08-18 2020-02-27 Insfor - Innovative Solutions For Robotics Ltda. - Me System for the inspection and monitoring of moving pipelines
US11707548B2 (en) 2018-10-09 2023-07-25 The Procter & Gamble Company Absorbent article comprising a lotion resistant polymeric filler composition
US10430980B1 (en) * 2018-10-22 2019-10-01 North Inc. Systems, devices, and methods for displaying visual symbols
JP7219057B2 (ja) * 2018-11-09 2023-02-07 株式会社キーエンス 変位測定装置
JP7219059B2 (ja) * 2018-11-09 2023-02-07 株式会社キーエンス 変位測定装置
JP7193308B2 (ja) * 2018-11-09 2022-12-20 株式会社キーエンス プロファイル測定装置
JP7503412B2 (ja) * 2020-04-10 2024-06-20 株式会社キーエンス 光学式変位センサ
JP7560387B2 (ja) 2021-03-09 2024-10-02 株式会社キーエンス 光学式変位計測システム、処理装置、光学式変位計測方法および光学式変位計測プログラム
JP2023015886A (ja) 2021-07-20 2023-02-01 株式会社キーエンス 形状検査装置、処理装置、高さ画像処理方法および高さ画像処理プログラム
CN113692215A (zh) * 2021-07-30 2021-11-23 广州佳帆计算机有限公司 一种贴片元件位置可调整系统、方法及装置
TWI882368B (zh) * 2023-06-27 2025-05-01 盟立自動化股份有限公司 用於電阻尺的診斷方法及診斷系統
CN117433454B (zh) * 2023-12-15 2024-03-22 成都匠泰建筑工程设计有限公司 一种景观园林面积计量设备

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6337742B2 (en) * 1988-04-28 2002-01-08 Pruftechnik Dieter Busch Ag Device for ascertaining the relative position of a reference axis of an object relative to a reference beam, in particular a laser beam
JPH03209112A (ja) * 1990-01-11 1991-09-12 Nissan Motor Co Ltd ３次元形状測定装置
JPH045507A (ja) * 1990-04-23 1992-01-09 Mitsubishi Electric Corp 形状測定装置
JP2953154B2 (ja) * 1991-11-29 1999-09-27 日本電気株式会社 形状合成方法
US5668631A (en) * 1993-12-20 1997-09-16 Minolta Co., Ltd. Measuring system with improved method of reading image data of an object
US5784168A (en) * 1995-07-03 1998-07-21 U.S. Philips Corporation Position detection system for an object with at least five degrees of freedom
JP3525964B2 (ja) * 1995-07-05 2004-05-10 株式会社エフ・エフ・シー 物体の三次元形状計測方法
US5789743A (en) * 1996-07-03 1998-08-04 U.S. Philips Corporation Optical scanning device, and apparatus provided with such a device, employing scanning element having reflective measuring reference face
JPH1023311A (ja) * 1996-07-05 1998-01-23 Canon Inc 画像情報入力方法及び装置
JPH10105721A (ja) * 1996-09-30 1998-04-24 Honda Motor Co Ltd 画像の位置検出方法
JPH10267648A (ja) 1997-03-28 1998-10-09 Keyence Corp 光学式変位計
JP3377027B2 (ja) * 1997-12-19 2003-02-17 日立プラント建設株式会社 非接触式立体形状計測装置
JP4638077B2 (ja) * 2000-05-22 2011-02-23 株式会社ミツトヨ 走査型広域被検面形状解析装置
JP4656745B2 (ja) * 2001-03-09 2011-03-23 西松建設株式会社 トンネル坑内の形状測定方法
JP3575693B2 (ja) * 2001-03-25 2004-10-13 オムロン株式会社 光学式計測装置
CH695914A5 (de) * 2002-05-17 2006-10-13 Hera Rotterdam Bv Vorrichtung und Verfahren zur optischen Erfassung von Gegenständen.
JP4209709B2 (ja) 2003-03-20 2009-01-14 株式会社キーエンス 変位計
DE10313191A1 (de) * 2003-03-25 2004-10-07 Gutehoffnungshütte Radsatz Gmbh Verfahren zur berührungslosen dynamischen Erfassung des Profils eines Festkörpers
JP4679073B2 (ja) * 2004-05-18 2011-04-27 株式会社ブリヂストン タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置
JP4430466B2 (ja) 2004-06-22 2010-03-10 株式会社キーエンス 光学式変位計
GB2422015B (en) * 2005-02-01 2007-02-28 Taylor Hobson Ltd A metrological instrument
JP5154134B2 (ja) * 2006-10-05 2013-02-27 株式会社キーエンス 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム
JP5314239B2 (ja) * 2006-10-05 2013-10-16 株式会社キーエンス 光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

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