JP2008076391A - 角度測定システム、およびこの角度測定システムを製造するための方法 - Google Patents
角度測定システム、およびこの角度測定システムを製造するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008076391A JP2008076391A JP2007239146A JP2007239146A JP2008076391A JP 2008076391 A JP2008076391 A JP 2008076391A JP 2007239146 A JP2007239146 A JP 2007239146A JP 2007239146 A JP2007239146 A JP 2007239146A JP 2008076391 A JP2008076391 A JP 2008076391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scale
- ring
- angle
- measuring system
- outer ring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 37
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 20
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 27
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 14
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 14
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000002679 ablation Methods 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/22—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Rolling Contact Bearings (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】目盛りリング、および外側リングに沿って、それぞれ1つの走行面が形成され、目盛りリングの走行面は、外側リングの走行面よりも小さな軌道半径を有している。外側リングの走行面は、目盛りリングの走行面に相対して位置して、且つ転動体が、これら両方の走行面の間に、軸受装置が半径方向に遊びの無いように配設されている。角度スケールは、目盛りリングの上で、第1の領域内における角度スケールの幾何学的な模様が、第2の領域内における角度スケールの幾何学的な模様と、軸受装置の半径方向の振れに依存して相違するように形成されている。角度スケールは、走査ヘッドによって走査可能である。
【選択図】図2
Description
および、軸受部の半径方向の振れ、もしくは揺動誤差によって影響される。
上記に従って、この角度測定システムは、軸受装置、および走査ヘッドを有しており、その際、この軸受装置が、目盛りリング、外側リング、および転動体から成り、その際、この目盛りリングが、この外側リングに対して相対的に、軸線を中心として回転可能である。
この目盛りリング、およびこの外側リングに沿って、それぞれ1つの走行面が形成されており、その際、この目盛りリングの走行面は、この外側リングの走行面よりも小さな軌道半径を有している。
この外側リングの走行面は、この目盛りリングの走行面に相対して位置しており、その際、これら転動体が、これら両方の走行面の間に、軸受装置が半径方向に遊びの無いようにして配設されており、即ち、如何なる半径方向の軸受遊びも有していない。
更に、角度スケールは、直接的に、この目盛りリングの上で、第1の領域内におけるこの角度スケールの幾何学的な模様が、第2の領域内におけるこの角度スケールの幾何学的な模様と、この軸受装置の半径方向の振れに依存して相違しているように形成されている。その際、この角度スケールは、この走査ヘッドによって走査可能である。
その後、この外側リングの走行面がこの目盛りリングの走行面に相対して位置し、且つ、転動体がこれら両方の走行面の間に配設されているようにしての、軸受装置の組み立ての工程が続いている。この工程は、この軸受装置が半径方向に遊びの無いように行なわれる。
次いで、目盛りリングおよび外側リングが、目盛り装置の、相対的に互いに回転可能な要素、例えばステーターブロックおよび軸に対して固定される。
更なる方法の工程において、直接的にこの目盛りリングの上への角度スケールの形成の工程が行なわれ、その際、この工程において、この目盛りリングが、この外側リングに対して相対的に、この目盛り装置内において、軸線を中心として回転される。
この構造様式に相応して、角度スケール1.12は、比較的に大きな外周の上に形成され、このことは、もちろん、角度測定システムの精度を向上する。
1.1 目盛りリング
1.11 走行面
1.12 角度スケール
1.13 内側壁
1.14 外套面
1.2 第2の構造部材
1.21 走行面
2 外側リング
2.11 走行面
3 転動体、 球体
4 走査ヘッド
5 フランジ
6 連結装置
7 封隙リング
8 ケーシング蓋
10 軸
12 軸受装置
20 ステーターブロック
30 レーザー装置
100 目盛り装置
A 軸線
h 軸線方向の大きさ
H 最大の大きさ
r 軌道半径
y 内側半径
Y 最大の外側半径
U1 領域
U2 領域
Claims (19)
- 軸受装置(12)、および走査ヘッド(4)を備えている角度測定システムであって、その際、この軸受装置(12)が、
− 目盛りリング(1.1)、
− 外側リング(2)、および、
− 転動体(3)、
を備えており、その際、この目盛りリング(1.1)が、この外側リング(2)に対して相対的に、軸線(A)を中心として回転可能であり、且つ、
この目盛りリング(1.1)、およびこの外側リング(2)に沿って、それぞれ1つの走行面(1.11、2.11)が形成されており、その際、この目盛りリング(1.1)の走行面(1.11)が、この外側リング(2)の走行面(2.11)よりも小さな軌道半径(r)を有しており、
この外側リング(2)の走行面(2.11)が、この目盛りリング(1.1)の走行面(1.11)に相対して位置しており、且つ、これら転動体(3)が、これら両方の走行面(1.11、2.11)の間に、軸受装置(12)が半径方向に遊びの無いようにして配設されており、
角度スケール(1.12)が、直接的に、この目盛りリング(1.1)の上で、第1の領域(U1)内におけるこの角度スケール(1.12)の幾何学的な模様が、第2の領域(U2)内におけるこの角度スケール(1.12)の幾何学的な模様と、この軸受装置(12)の半径方向の振れに依存して相違しているように形成されており、および、
この角度スケール(1.12)がこの走査ヘッド(4)によって走査可能であるように構成されていることを特徴とする角度測定システム。 - 角度スケール(1.12)は、目盛りリング(1.1)の外套側面に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の角度測定システム。
- 角度スケール(1.12)は、1つの方向成分でもって軸線(A)に対して平行に整向されていることを特徴とする請求項2に記載の角度測定システム。
- 目盛りリング(1.1)の軸線方向の大きさは、半径方向に、互いに異なるように構成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- 目盛りリング(1.1)は、この目盛りリングの最大の軸線方向の大きさ(H)を、この目盛りリングの内側壁(1.13)において有していることを特徴とする請求項1から4のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- その領域の上に角度スケール(1.12)が形成されている、目盛りリング(1.1)の該領域(1.14)は、少なくとも部分的に、半径方向に、外側リング(2)の最小の内側直径の外側に設けられていることを特徴とする請求項1から5のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- 目盛りリング(1.1)は、外側リング(2)を部分的に囲繞していることを特徴とする請求項1から6のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- 角度スケール(1.12)は、半径方向の方向成分を有して整向されていることを特徴とする請求項1から7のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- 軸受装置(12)は、軸線方向に遊びが無いことを特徴とする請求項1から8のいずれか一つに記載の角度測定システム。
- 走査ヘッド(4)によって走査可能である角度スケール(1.12)を有する、角度測定システムを製造するための方法であって、その際、
この角度測定システムが、目盛りリング(1.1)、外側リング(2)、および転動体(3)を備えている軸受装置(12)を有しており、および、この目盛りリング(1.1)が、軸線(A)を中心として、この外側リング(2)に対して回転可能である様式の、上記角度測定システムを製造するための方法において、
以下の工程:即ち、
− 目盛りリング(1.1)、および外側リング(2)の製造の工程、
その際、この目盛りリング(1.1)、およびこの外側リング(2)に沿って、それぞれ1つの精密に加工された走行面(1.11、2.11)が形成され、その際、この目盛りリング(1.1)の走行面(1.11)が、この外側リング(2)の走行面(2.11)よりも小さな軌道半径(r)を有している、
− この外側リング(2)の走行面(2.11)がこの目盛りリング(1.1)の走行面(1.11)に相対して位置し、且つ、これら転動体(3)がこれら両方の走行面(1.11、2.11)の間に、軸受装置(12)が半径方向に遊びの無いようにして配設されているようにしての、軸受装置(12)の組み立ての工程、
− 目盛り装置(100)の相対的に互いに回転可能な要素(10、20)に対する、この目盛りリング(1.1)、および外側リング(2)の固定の工程、
− 直接的にこの目盛りリング(1.1)の上への角度スケール(1.12)の形成の工程、
その際、この工程において、この目盛りリング(1.1)が、この外側リング(2)に対して相対的に、この目盛り装置(100)内において、軸線(A)を中心として回転される、
から成ることを特徴とする、角度測定システムを製造するための方法。 - 走行面(1.11、2.11)は、ホーニングプロセス、研磨プロセス、または、ラップ仕上げプロセスを用いて加工されることを特徴とする請求項10に記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 目盛りリング(1.1)は、切削により、この目盛りリングの軸線方向の大きさが、半径方向に、互いに異なるように製造されることを特徴とする請求項10または11に記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 軸受装置(12)の組み立ての際に、目盛りリング(1.1)と外側リング(2)との間の半径方向の予緊張が発生されることを特徴とする請求項10から12のいずれか一つに記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 軸受装置(12)の組み立ての際に、同様に目盛りリング(1.1)と外側リング(2)との間の軸線方向の予緊張も発生されることを特徴とする請求項13に記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 外側リング(2)は、間接的に、目盛りリング(1.1)の上への角度スケール(1.12)の形成のために、連結装置(6)を介して、目盛り装置(100)の1つの要素(20)に固定され、その際、
この連結装置(6)が、この角度スケール(1.12)の形成の後、この角度測定システム内に残ることを特徴とする請求項10から14のいずれか一つに記載の、角度測定システムを製造するための方法。 - 角度スケール(1.12)は、アブレーションプロセスを用いて形成されることを特徴とする請求項10から15のいずれか一つに記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- アブレーションプロセスは、レーザーアブレーションプロセスであることを特徴とする請求項16に記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 角度スケール(1.12)は、1つの方向成分でもって、軸線(A)に対して平行に、目盛りリング(1.1)の上に形成されることを特徴とする請求項10から17のいずれか一つに記載の、角度測定システムを製造するための方法。
- 角度スケール(1.12)は、半径方向の方向成分でもって、目盛りリング(1.1)の上に形成されることを特徴とする請求項10から17のいずれか一つに記載の、角度測定システムを製造するための方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102006044359.4 | 2006-09-20 | ||
DE102006044359A DE102006044359A1 (de) | 2006-09-20 | 2006-09-20 | Winkelmesssystem und Verfahren zu dessen Herstellung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008076391A true JP2008076391A (ja) | 2008-04-03 |
JP2008076391A5 JP2008076391A5 (ja) | 2010-07-08 |
JP4966140B2 JP4966140B2 (ja) | 2012-07-04 |
Family
ID=38458279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007239146A Active JP4966140B2 (ja) | 2006-09-20 | 2007-09-14 | 角度測定システム、およびこの角度測定システムを製造するための方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7676935B2 (ja) |
EP (1) | EP1903316B1 (ja) |
JP (1) | JP4966140B2 (ja) |
CN (1) | CN101149258B (ja) |
AT (1) | ATE422044T1 (ja) |
DE (2) | DE102006044359A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2106144A1 (en) | 2008-03-24 | 2009-09-30 | Fujitsu Limited | Method, apparatus, and system for inserting a recovery point in a moving image |
JP2013024757A (ja) * | 2011-07-22 | 2013-02-04 | Mitsutoyo Corp | 目盛誤差算出装置、目盛誤差校正装置、及び目盛誤差算出方法 |
JP2014224816A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mitbeschrankter Haftung | 角度測定装置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7546689B2 (en) * | 2007-07-09 | 2009-06-16 | Hexagon Metrology Ab | Joint for coordinate measurement device |
DE102008032419A1 (de) * | 2008-07-10 | 2010-01-14 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Drehgeber und Baureihe von Drehgebern |
DE102009056355A1 (de) * | 2009-11-30 | 2011-06-01 | Schaeffler Technologies Gmbh & Co. Kg | Wälzlager mit einer Maßverkörperung |
CN102607520B (zh) * | 2012-03-23 | 2014-03-26 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | 一种检测激光晶体倾斜角度以及倾斜方向的装置 |
WO2014141025A1 (de) * | 2013-03-10 | 2014-09-18 | Hoche Randolf Karl | Verfahren zum aufbringen einer struktur auf ein element, insbesondere auf ein element eines winkelmesssystems |
DE102014203516A1 (de) * | 2014-02-27 | 2015-08-27 | Schaeffler Technologies AG & Co. KG | Wälzlager mit einer integrierten Winkelmesseinrichtung |
EP2982933B1 (en) * | 2014-08-07 | 2021-03-24 | SALVAGNINI ITALIA S.p.A. | Apparatus and method for measuring a bending angle of a workpiece |
CN104457523A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-03-25 | 柳州科路测量仪器有限责任公司 | 角度表 |
CN104913758B (zh) * | 2015-06-16 | 2017-05-10 | 安徽省百基机电科技有限公司 | 一种轴承套圈大批量检测装置 |
CN112461071B (zh) * | 2020-11-20 | 2023-12-01 | 中国人民解放军63698部队 | 一种惯导设备重复安装误差的测量方法 |
CN113280781B (zh) * | 2021-05-25 | 2022-02-11 | 西安交通大学 | 一种嵌入式角位移在线测量方法及装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01235812A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気式ロータリーエンコーダの製造方法 |
JPH10160514A (ja) * | 1996-11-26 | 1998-06-19 | Yaskawa Electric Corp | ロータリエンコーダ |
JP2001520395A (ja) * | 1997-10-17 | 2001-10-30 | ビショップ イノヴェーション リミテッド | 光学トルクトランスデュサーの製造方法 |
JP2003184901A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Koyo Seiko Co Ltd | パルサーリング付き軸受の製造方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3036005A1 (de) * | 1980-09-24 | 1982-05-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur herstellung einer codescheibe fuer optische winkelschrittgeber bzw. winkelcodierer |
DE3706277C2 (de) * | 1986-02-28 | 1995-04-27 | Canon Kk | Drehungsmeßgeber |
WO1992021479A1 (en) * | 1991-06-06 | 1992-12-10 | Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha | Method of indexing attachment and system therefor |
DE4228719A1 (de) * | 1992-08-28 | 1994-03-03 | Schaeffler Waelzlager Kg | Kapazitiver Lenkwinkelsensor für ein Kraftfahrzeug |
DE19640895B4 (de) * | 1996-10-04 | 2007-07-12 | Schaeffler Kg | Wälzlager mit einer integrierten Drehzahlmeßeinrichtung |
FR2768221B1 (fr) * | 1997-09-11 | 1999-10-08 | Skf France | Procede de fabrication d'un codeur optique pour palier a roulement et palier a roulement correspondant |
FR2791103B1 (fr) * | 1999-03-17 | 2001-04-13 | Skf France | Palier a roulement instrumente |
JP2001012967A (ja) * | 1999-04-28 | 2001-01-19 | Asahi Optical Co Ltd | エンコーダおよび磁気式エンコーダを搭載した測量機 |
JP2001255335A (ja) * | 2000-03-09 | 2001-09-21 | Ntn Corp | 回転検出機能付軸受 |
JP4360762B2 (ja) * | 2001-03-23 | 2009-11-11 | 株式会社リコー | 光学式エンコーダ装置 |
ATE443246T1 (de) * | 2004-09-29 | 2009-10-15 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Verfahren zur herstellung und montage eines körpers mit einer winkelskalierung |
-
2006
- 2006-09-20 DE DE102006044359A patent/DE102006044359A1/de not_active Withdrawn
-
2007
- 2007-06-01 DE DE502007000411T patent/DE502007000411D1/de active Active
- 2007-06-01 EP EP07010846A patent/EP1903316B1/de active Active
- 2007-06-01 AT AT07010846T patent/ATE422044T1/de not_active IP Right Cessation
- 2007-09-13 US US11/855,059 patent/US7676935B2/en active Active
- 2007-09-14 JP JP2007239146A patent/JP4966140B2/ja active Active
- 2007-09-20 CN CN2007101527623A patent/CN101149258B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01235812A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気式ロータリーエンコーダの製造方法 |
JPH10160514A (ja) * | 1996-11-26 | 1998-06-19 | Yaskawa Electric Corp | ロータリエンコーダ |
JP2001520395A (ja) * | 1997-10-17 | 2001-10-30 | ビショップ イノヴェーション リミテッド | 光学トルクトランスデュサーの製造方法 |
JP2003184901A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Koyo Seiko Co Ltd | パルサーリング付き軸受の製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2106144A1 (en) | 2008-03-24 | 2009-09-30 | Fujitsu Limited | Method, apparatus, and system for inserting a recovery point in a moving image |
JP2013024757A (ja) * | 2011-07-22 | 2013-02-04 | Mitsutoyo Corp | 目盛誤差算出装置、目盛誤差校正装置、及び目盛誤差算出方法 |
JP2014224816A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mitbeschrankter Haftung | 角度測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1903316A1 (de) | 2008-03-26 |
DE102006044359A1 (de) | 2008-04-03 |
ATE422044T1 (de) | 2009-02-15 |
US7676935B2 (en) | 2010-03-16 |
DE502007000411D1 (de) | 2009-03-19 |
EP1903316B1 (de) | 2009-01-28 |
CN101149258A (zh) | 2008-03-26 |
CN101149258B (zh) | 2011-03-09 |
US20080066327A1 (en) | 2008-03-20 |
JP4966140B2 (ja) | 2012-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4966140B2 (ja) | 角度測定システム、およびこの角度測定システムを製造するための方法 | |
JP2008076391A5 (ja) | ||
US7482575B2 (en) | Rotary optical encoder employing multiple subencoders with common reticle substrate | |
US7199355B2 (en) | Methods and apparatuses for the exact determination of an angle of rotation | |
WO2012050130A1 (ja) | エンコーダ、駆動装置及びロボット装置 | |
JP2011133286A (ja) | ロータリーエンコーダ | |
JP2018059714A (ja) | 偏芯算出方法、ロータリエンコーダ、ロボットアーム及びロボット装置 | |
US20190017848A1 (en) | Method of manufacturing rotary scale, rotary scale, rotary encoder, driving apparatus, image pickup apparatus and robot apparatus | |
US20110006758A1 (en) | Angle measuring system and method for producing an angle measuring system | |
JP2020008581A (ja) | スピンドルまたは回転テーブルのための測定装置 | |
KR20170027337A (ko) | 다이렉트 드라이브 모터의 제조 방법, 및 지그 | |
US9035232B2 (en) | Method for working out the eccentricity and the angular position of a rotating element and device for carrying out such a method | |
JPH0378620A (ja) | インクリメンタルロータリーエンコーダ | |
EP3488187B1 (en) | Magnetic position sensor mounting arrangement | |
US11187516B2 (en) | Angle measuring device | |
JP7464446B2 (ja) | 角度測定機構および角度測定機構の動作方法 | |
US8604778B2 (en) | Angle measuring system | |
JP2011112471A (ja) | 磁気エンコーダおよび回転検出装置 | |
JP5212732B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
JP5200587B2 (ja) | ロータリーエンコーダ付きモータおよびモータ | |
WO2019216327A1 (ja) | エンコーダ及びその組立方法、駆動装置、並びに車両用操舵装置 | |
JP4293058B2 (ja) | 回転速度検出装置 | |
JP2009288123A (ja) | 回転検出装置付き軸受 | |
JP2018128459A (ja) | 要素、特に角度測定システムの要素に構造を付加する方法 | |
JP2008310564A (ja) | 回転型有限角度検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100517 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100525 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120113 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120228 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120330 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4966140 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150406 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |