JP2008076284A - 光学式エンコーダの原点検出方法 - Google Patents

光学式エンコーダの原点検出方法 Download PDF

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Abstract

【課題】スケール移動に伴うセンサ信号変化の規則に応じた演算処理を施すことにより、簡単な構成で原点検出を可能とする。
【解決手段】原点検出を次のステップで行う。
(S1)原点検出開始。スケールを移動させ信号発生させる。
(S2)デジタル信号DBの立ち上りと立ち下りタイミングでアナログ信号Aの信号を検出することで、アナログ信号Aの最大値Amaxと最小値Aminを検出する。
(S3)(Amax+Amin)/2からアナログ信号Aの中心電圧を求める。
(S4)SA=(現在の中心電圧−6個前の中心電圧)を演算する。
(S5)SA>閾値LV1になるパルス値のときのデジタル信号DAの立ち上りを原点とする。
このようにして、デジタル信号の或る特定のパルスエッジを原点位置とすることにより、精度の良い原点位置を得ることが可能となる。
【選択図】図8

Description

本発明は、変位測定や角度測定に用いられる光学式エンコーダの原点検出方法に関するものである。
光学式エンコーダは基本的に、第1の光学格子が形成されたメインスケールと、これに対向して配置され第2の光学格子が形成されたインデックススケールとから成る。そして、メインスケールに光を照射する光源と、メインスケールの光学格子を透過又は反射し、更にインデックススケールの光学格子を透過した光を受光する受光素子とを備えている。
この種の光学式エンコーダにおいて、インデックススケールを兼ねて受光素子アレイを用いる方式は、特許文献1に提案されている。また、本発明者らもこの構成のエンコーダとして、特許文献2などを出願している。
この構成のエンコーダはインクリメンタル型と云われ、スケールの移動に対しパルスの増減により、その移動量を検出することが可能となる。このインクリメンタル型の問題として、回転角度の絶対位置が分からず、絶対位置を検出するセンサが別途に必要になる問題がある。
これを回避する手段として、次の方式が考えられている。図17は特許文献3に開示されたインクリメンタル式のエンコーダにおける絶対位置を検出するためにスケール1のパターンの透過率を示している。スケール1aは透過率1であるのに対し、スケール1b、1c、1d・・・と徐々に透過率が下がっている。
図18はこのスケール1を用いたとき、センサをスケール1の透過率の変化している部分が通過したときに得られる信号変化であり、A、Bはセンサから得られるアナログ2相信号から成るエンコーダ信号である。
ここで、スケール1のパターンの透過率が徐々に下がってゆくことにより信号振幅が低下し、この変化を検出することにより絶対位置を検出できる。
特公平6−56304号公報 特開2003−161645号公報 特開平10−318790号公報
上述の従来例で示したようなエンコーダの絶対位置検出手段では、信号振幅を検出する方法として、得られるエンコーダ信号の1周期よりも十分に細かいタイミングでサンプリングする。そこから得られる信号のピークとバレイの電圧を求めなければならず、高速なAD変換器などの回路規模の大きな回路が必要となる。
また、スケールに透過率の異なる部分を安定して造ることが困難であり、実際の振幅変化もかなりのばらつきが発生するという問題がある。
本発明の目的は、上述の問題点を解消し、スケール移動に伴うセンサ信号変化の規則に応じた演算処理を施すことにより、簡単な構成で原点検出を可能とする光学式エンコーダの原点検出方法を提供することにある。
上述目的を達成するための本発明に係る光学式エンコーダの原点検出方法の技術的特徴は、光学格子を形成したスケールと、該スケールに対して相対移動可能に設けると共に前記光学格子のピッチに関係付けして配設した複数の受光素子と、前記スケールを介して前記受光素子に光を照射する光源とを有する光学式エンコーダにおいて、前記スケールの光学格子に光学的に不連続部分を設け、該不連続部分に該当する光束が前記受光素子を通過するときに発生する一定区間分の変化を検出し、該区間で発生した変化を検出して演算を行い、該演算結果により原点位置を検出することにある。
本発明に係る光学式エンコーダの原点検出方法によれば、絶対位置検出を行う際に受光素子のセグメント数とスケールの不連続部分との関係を基に、アナログ中心電圧の変化点を検出して、原点を求めることを可能とする。
また、この構成によれば、エンコーダ信号と原点信号が同じスケールから得られる同期信号のため、精度の良い原点信号であり、かつ原点用の余分な部品が不要なため、安価な原点位置検出機能付きエンコーダが得られる。
本発明を図1〜図16に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
図1は反射型スケールとしてマイクロルーフミラーアレイを用いた構成のエンコーダの構成図であり、発光部11、受光部12、移動体であるスケール13から成る。発光部11で発光した光が、細かい間隔の反射部分13aと非反射部分13bを持つスケール13で反射して、図2に示す受光部12のフォトダイオード14の列上に明暗の分布を与える。図1のスケール13は極く一部のみを図示しているが、実際にはスケール13は進行方向に長く、反射部分13aが所定周期で並んだ領域の一部に反射部分が欠落している非反射部分13bがある。
この構成においては、特にスケール13がマイクロルーフミラーアレイでなく、単に反射部分と非反射部分を持つ構成であっても、信号レベルは異なるものの、同様な光の明暗の分布が受光部12上に形成される。
図2の受光部12においては、多数のフォトダイオード14が配列されており、4個のフォトダイオード14で1組とされる測定部分が複数個存在している。この4個のフォトダイオード14で1組を成す測定部分が、スケール13の明暗1周期分の長さに対応しており、この1組の測定部分を1セグメントと称し、図2においては6セグメントとされている。この4個のフォトダイオード14から得られる信号を演算することで、位相が90°ずれた2相の正弦波信号を得ることが可能となる。
スケール13を介して受光部12に戻ってきた光の強度の強い部分Laがスケールピッチと或る関係で分布し、受光部12側は1セグメントに光の強度が強い部分Laが存在する。本実施例では、スケール13に非反射部分13bを設けているため、光の強度の強い部分La中に光の弱い部分Lbが発生する。
この構成によれば、反射光がスケール13の非反射部分13bによって完全に1つ欠落したとしても、他のフォトダイオード14が存在するために、ほぼフォトダイオード14が残っている割合で信号振幅が得られる。例えば、本実施例では6個の光強度が強い部分Laを受ける構成になっており、そのうちの1つが欠落しているので、通常に対し5/6の光量が得られることになる。
図3は本実施例の処理回路構成図であり、1セグメントの4個のフォトダイオード14a〜14dの後段にそれぞれ電流電圧変換器が接続されている。フォトダイオード14a〜14dからはそれぞれ位相が90°ずれた信号が出力され、フォトダイオード14aと14c、14bと14dのそれぞれ位相が180°ずれた信号がアナログ増幅器21a〜21dに接続されている。アナログ増幅器21a〜21dの出力はコンパレータ22a、22bのプラスとマイナスに入力して2値化され、A相、B相のデジタル信号DA、DBが出力されている。更に、アナログ増幅器21a〜21dの出力は差動増幅器23a、23bに接続され、A相、B相のアナログ信号A、Bが出力されている。このような構成とすることで、センサ出力としてアナログ信号のゼロクロスポイントで切換わるデジタル信号が得られる。
図4はこの回路から得られた信号の波形図である。デジタル信号DA、DBはアナログ信号A、Bのゼロクロスポイントにおいて生成されており、しかもアナログ信号A、Bは位相は90°ずれているため、デジタル信号DBの立上りと立下りはアナログ信号Aの最大値と最小値になる。従って、デジタル信号DBのパルスエッジのタイミングでアナログ信号Aを取り込めば、アナログ信号Aの1周期の中の最大値と最小値が得られる。アナログ信号Aの振幅とA相の中心電圧は、最大値をAmax、最小値をAminとすると、次の式からそれぞれ求めることができる。
振幅=Amax−Amin
中心電圧=(Amax+Amin)/2
図5は図2の受光部12を用いて、スケール13側の非反射部分13bが1スリット分であるときのデジタル信号DA、DBの立ち上りと立下りのパルスのタイミングにより検出したA相アナログ信号Aの検出信号を示している。デジタル信号DA、DBの立ち上がりと立下りのパルスを合わせると、1周期に4個の信号が得られることになる。
例えば、回転型のスケール13で1回転に1000パルス得られるとすると、スケール13の1回転で図5の1周期当たりの4個の信号が1000個得られるので、合計では4000個のデータを検出することになる。
図5において、振幅(Amax−Amin)が小さくなっている個所が6周期分ある。これは、スケール13の非反射部分13bが通過したときに発生する現象で、受光部12上には通常6セグメント分の光の明暗が得られるが、1ピッチ分欠落しており、光が戻ってこない分がある。そのために、振幅がその比率5/6に下がっている。ここで、図5のアナログ信号Aが最小値Aminから最大値Amaxになっているときの中心電圧Aの(Amin+Amax)/2をプロットしたのが、黒丸の点である。
図6は中心電圧を拡大して表示した状態を示し、中心電圧はスケール13の非反射部分13bが受光部12上を横切った瞬間に上又は下に変化している。フォトダイオード14により得られたアナログ信号A、Bの並びに対し、アナログ信号A側から非反射部分13bが横切ったときは下側に出て、アナログ信号B側から横切ったときは上側に出る。ただし、信号特性はフォトダイオード14の結線によっても変わるので、一概にこの傾向で信号が出力されるとは限らない。
図6では、スケール13がグラフ図の横軸の0側から80側に移動しているときに、先ずレベルが下がる部分が発生し、次にレベルが上がる部分が発生する。このレベルが下がる部分と上がる部分は、非反射部分13bが受光部12の端を横切るときに発生するので、6セグメントの構成のときには、6ピッチ分の間隔で信号レベルの高い所と低い個所が形成される。
図7は図6のデータの6個前のデータとの差を求めた値を示すグラフ図である。図6から分かるように、中心電圧のレベルが上がる個所と下がる個所は、ちょうど6個(=セグメント数分)ずれているので、その差を求めることで、より大きく信号変化位置を取り出すことが可能となる。
従って、信号処理としては得られた中心電圧のデータの6個前のデータの差が、或る閾値レベル(LV1)を越えたときが原点であるとすれば、原点位置が分かる。
図8はこの検出方法のアルゴリズムのフローチャート図である。
(ステップS1)原点検出開始。スケール13を移動させ信号発生させる。
(ステップS2)デジタル信号DBの立ち上りと立ち下りタイミングでアナログ信号Aの信号を検出することで、アナログ信号Aの最大値Amaxと最小値Aminを検出する。
(ステップS3)(Amax+Amin)/2からアナログ信号Aの中心電圧を求める。
(ステップS4)SA=(現在の中心電圧−6個前の中心電圧)を演算する。
(ステップS5)SA>閾値LV1になるパルス値のときのデジタル信号DAの立ち上りを原点とする。
このようにして、デジタル信号の或る特定のパルスエッジを原点位置とすることにより、精度の良い原点位置を得ることが可能となる。
従来は中心電圧の最大値max又は最小値minの位置を求め、或る区間のデータを保存し、大小比較や微分処理などを行っていたため、処理が複雑となる。しかし本実施例では、このように単純に6個前のデータとの差が或る閾値レベルを超えているかどうかを確認するだけなので、単純かつ確実に原点位置を求めることができる。
以上の説明では、フォトダイオード14のセグメント数が6個のときの信号変化について述べたが、例えば受光部12が5セグメントならば5個前のデータとの差を求めればよい。つまり、セグメント数との関係により、幾つ前のデータとの差を求めればよいかが決まる。
図9は実施例2におけるエンコーダの構成図を示し、図1ではスケール13のスリットの非反射部分13bが1個としたのに対し、実施例2においては連続した2個所に非反射部分13b、13b’が設けられている。
図10は非反射部分13bが2個になったときのデジタル信号DA、DBのパルスエッジにおいて、A相アナログ信号Aを取り込んだときの信号波形及び中心電圧の部分のグラフ図である。
図11はアナログ信号Aの中心電圧を拡大して表示したものである。実施例1と異なるのは、中心電圧レベルが高くなる部分と低くなる部分が、それぞれ2個連続して得られることである。この図11から分かるように、中心電圧のレベルが上がる個所と下がる個所は、ちょうど6個(=セグメント数分)ずれており、かつ欠落部が2つになっているので、そのまま6個前のデータとの差を求めると、ピーク部分が2個になる。
図12はデータの5個前のデータとの差を求めた値を示すグラフ図である。本実施例2では、5個前のデータとの差を求めており、検出信号の演算結果がピークになる部分は1個所になり、原点位置の検出が可能となる。従って、信号処理としては得られた中心電圧のデータの5個前のデータの差が、或る閾値レベル(LV2)を越えたときに原点とすることで原点位置が分かる。
n個前のデータとの差を求めるという演算処理をする場合に、演算処理回路としてはn個のデータを記憶しておく必要があり、nの数が増えるほど記憶容量が必要になる。本実施例2は2個の非反射部分13b、13b’を設けることで、この記憶量を減らすことが可能となり、演算処理回路の簡略化が可能となる。
ここでは、スケール13の1回転に1個所の原点位置を求めるための演算方法を示している。しかし、6個前のデータとすると、スケール13の1回転に2パルス分の原点信号が得られるので、これを利用した演算処理を施し、ゾーン的な信号として使用するという手段も考えられる。
ここでは、セグメント数−非反射部分の数+1の差データを演算処理したが、セグメント数+非反射部分の数−1の差データからでも、原点位置を求めることは可能である。
実施例1、2においては、データは0から順にデータが増えてゆくとして、求めていた中心電圧はアナログ信号Aが最小値minから最大値maxに移行している区間のデータから(Amin+Amax)/2の演算をして求めている。
ただし、スケール13の移動方向が逆になったり、データを取り込むときに、特に最小値minから最大値maxへ移行している区間のデータであることを考えずに、2個ずつのデータをサンプリングすることがある。この場合に、(Amin+Amax)/2の演算すると、図13に示すように左から右に向かっているときを基準にして、最大値maxから最小値minに移行している区間のデータから演算すると、図14に示すように中心電圧の変化が観察されない。
従って、必ずA相アナログ信号Aが最小値minから最大値maxに移行している区間のデータから中心電圧(Amin+Amax)/2の演算をするように、データを取り込む順番を例えば最小値Aminからにするとかを決める必要がある。従って、最初に求めたデータが最小値Aminのデータか最大値Amaxのデータであるかを知る手段を要し、回路又は演算処理部が複雑になる。
実施例3はこの現象を回避するためのものである。アナログ信号Aが最小値minから最大値maxに移行している区間のデータから(Amin+Amax)/2の演算と、信号Aが最大値maxから最小値minに移行している区間のデータから同様の演算の両方を入力データとする。そして、従来6セグメントの受光部12のときに、6個前のデータとの差を求めていたのに対し、12個前のデータとの差を取るようにしている。
図15は上述した最小値min→最大値max→最小値min→・・・と双方の区間のデータを取り込んだグラフ図である。このように、双方の区間のデータを取り込むことにより、確実に中心電圧の変化が現れる。
図16は図15で得られたデータ配列で、12個前のデータとの差を求めたときのグラフ図である。このグラフ図では、演算した結果が原点が至ったときに高いレベルになるので、処理回路としては12個前のデータとの差を求めた結果が、或る閾値レベル(LV1)を越えたときに原点位置であると判断する。従って、原点位置に至ったときにカウンタをリセットしたり、そのときのアナログ信号Aに同期させた原点信号を出力することが可能となる。
実施例1の光学式エンコーダの構成図である。 受光部のパターンと検出される光の明暗パターンとの説明図である。 処理回路構成図である。 得られたデジタル信号とアナログ信号の波形図である。 処理回路により検出した信号及び演算結果のグラフ図である。 中心電圧の推移のグラフ図である。 原点信号のグラフ図である。 原点検出アルゴリズムのフローチャート図である。 実施例2のエンコーダの構成図である。 処理回路により検出した信号及び演算結果のグラフ図である。 中心電圧の推移のグラフ図である。 原点信号のグラフ図である。 処理回路により検出した信号及び演算結果のグラフ図である。 実施例3の中心電圧の推移のグラフ図である。 中心電圧の推移のグラフ図である。 原点信号のグラフ図である。 従来の光学式エンコーダのスケール部の構成図である。 スケールの透過率の変化部分がセンサを通過しているときのエンコーダ信号出力波形図である。
符号の説明
11 発光部
12 受光部
13 スケール
13a 反射部分
13b、13b’ 非反射部分
14 フォトダイオード
21 アナログ増幅器
22 コンパレータ
23 差動増幅器
A、B アナログ信号
DA、DB デジタル信号

Claims (8)

  1. 光学格子を形成したスケールと、該スケールに対して相対移動可能に設けると共に前記光学格子のピッチに関係付けして配設した複数の受光素子と、前記スケールを介して前記受光素子に光を照射する光源とを有する光学式エンコーダにおいて、前記スケールの光学格子に光学的に不連続部分を設け、該不連続部分に該当する光束が前記受光素子を通過するときに発生する一定区間分の変化を検出し、該区間で発生した変化を検出して演算を行い、該演算結果により原点位置を検出することを特徴とする光学式エンコーダの原点検出方法。
  2. 前記受光素子のセグメントの数と前記スケールの不連続部分の関係から前記区間の変化を検出することを特徴とする請求項1に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  3. 前記受光素子のセグメント数と前記スケールの不連続部分の大きさの関係から決まる一定間隔データの差分を求め、該差分値が目標範囲に入ったときを前記原点位置とすることを特徴とする請求項1に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  4. 前記受光素子から得られる前記一定間隔データは、前記受光素子から得られる信号の1周期の中の最大値、最小値から演算した中心電圧とすることを特徴とする請求項3に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  5. 前記演算において、前記スケールの不連続部分の大きさが1周期のとき、前記受光素子のセグメント数が差分をとる間隔が等しくなることを特徴とする請求項1に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  6. 前記中心電圧データを前記スケールの移動の1ピッチ分通過したときに得られる検出信号の最小値から最大値の区間のときの中心電圧データと、前記検出信号が最大値から最小値の区間のときの中心電圧データとの2つのデータを用いることで、前記原点位置を検出することを特徴とする請求項4に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  7. 前記中心電圧を前記スケールの移動の1ピッチ分に1個のデータを取り込み、前記不連続部分が前記スケールの明暗スリットn個分のときの区間データ数が(セグメント数−n+1)の関係により演算して、前記原点位置を検出することを特徴とする請求項4に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
  8. 前記中心電圧を前記スケールの移動の1ピッチ分に1個のデータを取り込み、前記不連続部分が前記スケールの明暗スリットn個分のときの区間データ数が(セグメント数+n−1)の関係により演算して、前記原点位置を検出することを特徴とする請求項4に記載の光学式エンコーダの原点検出方法。
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