JP2008060393A - 板状物品のピックアップ装置 - Google Patents

板状物品のピックアップ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008060393A
JP2008060393A JP2006236458A JP2006236458A JP2008060393A JP 2008060393 A JP2008060393 A JP 2008060393A JP 2006236458 A JP2006236458 A JP 2006236458A JP 2006236458 A JP2006236458 A JP 2006236458A JP 2008060393 A JP2008060393 A JP 2008060393A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
adhesive sheet
semiconductor chip
laser light
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006236458A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4766258B2 (ja
Inventor
Ryoji Koseki
良治 小関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibuya Corp
Original Assignee
Shibuya Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibuya Kogyo Co Ltd filed Critical Shibuya Kogyo Co Ltd
Priority to JP2006236458A priority Critical patent/JP4766258B2/ja
Publication of JP2008060393A publication Critical patent/JP2008060393A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4766258B2 publication Critical patent/JP4766258B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【解決手段】 対象となる特定の半導体チップ2の接着範囲Bに対して下方側から紫外線領域の波長のレーザ光Lを照射し、照射スポットSを接着範囲B内で移動させる。これにより、接着シート3における接着範囲Bの粘着力を完全に消失させる。
その後、吸着コレット34によって半導体チップ2を吸着保持して上昇させると、半導体チップ2は極めて容易に粘着シート3からピックアップされる。
【効果】 半導体チップ2Aの大きさや形状が変更されて紫外線の照射範囲が変更されても、特定の半導体チップ2Aの接着範囲だけにレーザ光Lを照射することができる。
【選択図】 図4

Description

本発明は板状物品のピックアップ装置に関し、より詳しくは、例えば半導体チップを粘着シートからピックアップする場合に好適な板状物品のピックアップ装置に関する。
従来、粘着シートに接着された半導体チップ等の板状物品を粘着シートからピックアップするためのピックアップ装置は知られており、また、このようなピックアップ装置として、粘着シートに対して紫外線を照射することで該粘着シートの粘着力を低下させるものが提案されている(例えば特許文献1、特許文献2)。
すなわち、特許文献1の装置においては、粘着シートの下方からピックアップするチップに対応するUV粘着層のみに選択的に紫外線を照射するようにしている。さらに、光拡散板を粘着シートの下方に配置し、光拡散板を介して紫外線を粘着シートに照射することも提案されている。
また、特許文献2の装置においては、紫外線ランプを首振り走査させながら薄板状の半導体ウエハが粘着支持される粘着テープに対して紫外線を照射するようにしている。
特開2005−302203号公報 特開2001−290000号公報
ところで、上述した従来の装置においては、それぞれ次のような欠点があった。
すなわち、特許文献1の装置においては、紫外線を照射する光源と上方側のチップとの間に遮蔽部材を配置してあり、その遮蔽部材を用いて粘着シートの1個の半導体チップに対応する接着箇所に紫外線が照射されるようにしている。このため、形状や大きさが異なる複数種類の全てのチップに対応するには上記遮蔽部材の照射窓の大きさを変更できる機構を設けたり、チップの形状や大きさに応じて遮蔽部材を交換したりしなければならなかった。
また、特許文献2は、一つの半導体チップごとに紫外線を照射するものではなく、薄板状の半導体ウエハ全体に紫外線を照射するようにしていた。そして、この特許文献2の装置においては、光源として紫外線ランプを用いているので、特定部分に紫外線を集光することが困難であるため、紫外線の照射時間が長くなっていた。
さらに、一つの半導体チップに対して紫外線を照射するものではないことから、粘着シートからピックアップすべき特定の半導体チップ以外の半導体チップも接着シートから剥離してしまう。そのため、ピックアップすべき特定の半導体チップを保持手段によって吸着保持してピックアップする際には、該特定の半導体チップとその隣接位置の半導体チップとが相互に接触して、それらの半導体チップが損傷するという欠点が指摘されていたものである。
上述した事情に鑑み、請求項1に記載した本発明は、表面に複数の板状物品を接着して支持するとともに裏面側から紫外線が照射されると上記板状物品を接着した表面の粘着力が低下する粘着シートと、この粘着シートの周囲を支持する支持手段と、上記粘着シートに対してその裏面から紫外線を照射する紫外線照射手段と、上記板状物品を吸着保持する吸着保持手段とを備えて、上記紫外線照射手段によって粘着シートにおけるピックアップすべき特定の板状物品が接着している接着範囲に紫外線を照射して粘着力を低下させて、上記吸着保持手段によって上記特定の板状物品を粘着シートからピックアップするようにした板状物品のピックアップ装置において、
上記紫外線照射手段は、紫外線領域の波長のレーザ光を発振するレーザ発振器と、該レーザ発振器から発振されたレーザ光を板状物品の接着範囲よりも小さな照射スポットに集光させる集光手段と、上記粘着シートにおける板状物品の接着範囲内でレーザ光の照射スポットを移動させる走査手段とを備えることを特徴とするものである。
上述した構成によれば、生産品種の変更等により粘着シートに接着されて供給される板状物品の種類が変更されても、粘着シートの特定の板状物品の接着範囲だけに確実にレーザ光を照射することができる。したがって、特定の板状物品の隣接位置にある板状物品の接着範囲に対してレーザ光が照射されることは無く、粘着シートから板状物品をピックアップする際に隣り合う複数の板状物品が当接して損傷することを防止することができる。
また、一枚の粘着シートに複数種類の板状物品が接着されている場合であっても容易に対応することができる。
以下、図面に従って本発明の実施例を説明すると、図1ないし図2において1はピックアップ装置であり、このピックアップ装置1は多数の半導体チップ2を1個ずつ吸着保持して粘着テープ3からピックアップして次工程へ供給するようになっている。なお、この図1の左右方向となる水平方向をX軸方向とし、このX軸方向と水平面において直交する方向をY軸方向とし、上下方向をZ軸方向として説明する。
ピックアップ装置1は、薄板状の一枚の半導体ウエハから切り出された多数の半導体チップ2を支持する支持部材4と、この支持部材4をX−Y軸方向に移動させる支持手段5と、支持部材4上の半導体チップ2を上方側から撮影する撮影手段6と、半導体チップ2の裏面である下方側に設置される支持部材4に向けて紫外線領域のレーザ光Lを照射する紫外線照射手段7と、半導体チップ2をその表面である上方側から吸着保持する吸着保持手段8とを備えており、このピックアップ装置1は制御装置9によって制御されるようになっている。
図3に示すように、支持部材4に支持される半導体ウエハ2Aは図示しない切断装置によって格子状の切断線に沿って切断されることで、方形をした各半導体チップ2に切り出されている。半導体ウェハ2Aの厚さは20〜700μmであり、各半導体チップ2の形状は仕様に合わせて自由に変更することが可能となっている。
なお、切断装置は、上記支持部材4によって支持された半導体ウェハ2Aをウォ―タジェット加工やレーザ加工、またはウォータージェット内にレーザ光を導光して切断するハイブリッドレーザ加工などのダイシング方法を用いて、薄板状の半導体ウエハ2Aを上述したような方形の半導体チップ2に切断するようになっている。
切断装置は、各支持部材4に取り付けた半導体ウェハ2Aを上述したように多数の半導体チップ2に切断したら、支持部材4に接着保持された状態で半導体チップ2をピックアップ装置1に供給するようになっており、ピックアップ装置1は支持部材4に保持されている各半導体チップ2を上記吸着保持手段8によって一枚ずつ図示しない次工程の装置に供給するようになっている。
図1〜図3に示すように、支持部材4は、リング状のウェハリング11と、該ウェハリング11に張りわたされた紫外線硬化性UVテープからなる上記粘着シート3とから構成されている。粘着シート3の表面(上面)に上記半導体ウエハ2Aが接着保持されており、その半導体ウエハ2Aは粘着シート3に接着されたままで上述したように切断装置によって多数の半導体チップ2Aに切断されている。このように、各半導体チップ2は、粘着シート3の粘着力によってその表面に接着保持されている。
粘着シート3は紫外線照射手段7から紫外線が照射されると粘着力がほとんど無くなるようになっている。
そして、後に詳述するが、本実施例においては、ピックアップすべき特定の半導体チップ2を接着した接着範囲Bの粘着シート3の粘着力を低下させてから、半導体チップ2を吸着保持手段8で吸着保持してピックアップするようにしているので、特定の半導体チップ2Aを粘着シート3からピックアップする際に、ピックアップすべき特定の半導体チップ2の周辺の半導体チップ2は粘着シート3に安定的に保持状態を維持されるようになっている。
上記支持手段5は、Y軸方向に設けられた第1レール13上を移動するY軸テーブル14と、該Y軸テーブル14上にX軸方向に設けられた第2レール15上を移動するX軸テーブル16と、該X軸テーブル16上に設けられ、上記ウェハリング11を水平に支持するリング支持部材17とを備えている。さらに、リング支持部材17の内方には全ての半導体チップ2Aの接着範囲を含む大きさをした光散乱板18が、粘着シート3の裏面に重合するように支持手段5に設けられている。
この光散乱板18の裏面(下面)はブラスト加工などによって微小な凹凸を形成された散乱面となっている。そのため、レーザ光Lを光散乱板18を透過させることによって、レーザ光Lの断面方向中央部に集中するエネルギーを分散させて粘着テープ3に照射させるようになっている。このようにすることで、粘着テープ3から半導体チップ2をピックアップした際に、その裏面に粘着テープ3の粘着剤が残渣として付着しないようにしている。
上記支持手段5は上記支持部材4をX−Y軸方向に移動させることができ、それによって上記吸着保持手段8によって吸着保持しようとする特定の半導体チップ2を、ピックアップ位置Aに位置させるようになっている。
次に、上記撮影手段6は従来公知のCCDカメラであり、ピックアップ位置Aの上方に鉛直下方を向けて配置されている。そして撮影手段6は支持部材4上の半導体チップ2を撮影し、その画像を上記制御装置9に送信するようになっている。
制御装置9では撮影手段6によって撮影された画像をもとにして、画像処理により半導体ウェハ2Aの外形線(図3参照)を認識して、上記特定の半導体チップ2の形状と位置とを認識するとともに、認識した半導体チップ2の形状と大きさより、この半導体チップ2が上記粘着シート3に接着されている範囲を接着範囲Bとして認識するようになっている。
図2に示すように、上記紫外線照射手段7は、紫外線領域の波長のレーザ光Lを発振するレーザ発振器21と、レーザ光Lの照射スポットSを移動させる走査手段22と、レーザ光Lを集光する集光手段としてのfθレンズ23と、レーザ光Lを特定の半導体チップ2の裏面側に導光する導光手段24とを備えている。
レーザ発振器21から発振された紫外線領域のレーザ光Lが光散乱板18を透過して粘着シート3に照射されると、該レーザ光Lの照射スポットSで、粘着シート3の低分子粘着剤の架橋が進行してその粘着力がほぼ完全に無くなるようになっている。そして、走査手段22によって1つの半導体チップ2の接着範囲B内でレーザ光Lの照射スポットSを移動させることで、1つの半導体チップ2の接着範囲Bの粘着シート3の粘着力を低下させるようにしている。
上記走査手段22は、半導体チップ2の接着範囲Bにおけるレーザ光Lの照射スポットSをX軸方向に移動させる第1ガルバノミラー25と、照射スポットSをY軸方向に移動させる第2ガルバノミラー26とを備えており、これら第1、第2ガルバノミラー25,26は上記制御装置9によって制御されるようになっている。
fθレンズ23は、走査手段22と粘着シート3の間に位置するように設けられ、レーザ発振器21より発振されたレーザ光Lが上記走査手段22と導光手段24を介して半導体チップ2の裏面側に照射された際に、そのレーザ光Lの照射スポットSが上記接着範囲Bよりも十分に狭い範囲となるように集光されるようになっている(図4、図5参照)。
このとき、照射スポットSでのレーザ光Lのエネルギー強度が高くなりすぎてしまうのを防止するために、粘着シート3の裏面に光散乱板18を配置している。レーザ光Lは光散乱板18を透過することでエネルギーが散乱されてレーザ光Lの断面中央部のエネルギー強度が低くなり、その状態で粘着シート3に照射されるようになっている。
なお、このように本実施例では、光散乱板18を用いてレーザ光Lのエネルギーを分散させるようにしているが、レーザ発振器21と第1ガルバノミラー25との間にビームホモジナイザを設けてエネルギーを分散させるようにしてもよい。
つぎに上記導光手段24は、レーザ発振器21から発振されて走査手段22を通過してきたレーザ光Lをピックアップ位置Aにある半導体チップ2の裏面側に導光する2枚のベンドミラー27,28を備えている。
なお、上記fθレンズ23は上記ベンドミラー27,28の間に設置されており、図4に示すように、レーザ光Lの焦点が粘着シート3の裏面に設けた光散乱板18の下面近傍に位置するように設置されている。
そして制御装置9は、図4および図5に示すように、上記走査手段22の第1ガルバノミラー25と第2ガルバノミラー26の作動を制御することで、レーザ光Lを接着範囲Bに照射する際の照射スポットSを移動させるようにしている。すなわち、この図5は光散乱板18を省略した状態の底面図を示したものであり、先ず照射スポットSが接着範囲Bにおける左上の隅からX軸方向にレーザ光Lの光径の1/2ずつ変位するようにレーザ光Lをパルス照射する。そして、右上の隅まで到達すると、そこからレーザ光Lの光径の2/3の寸法だけY軸方向における図面上の下方側へ変位させてからX軸方向の左方側へレーザ光Lの光径の1/2寸法ずつ変位させる。
このように、概略ジグザグの移動軌跡となるように接着範囲B全体に対してレーザ光Lが照射されるようにレーザ光Lを走査させることで、接着範囲Bの粘着シート3の粘着力がほぼ完全になくなるようにしている。
また、接着範囲Bに対してレーザ光Lを走査させる方法としては、図6に示すように、先ず最初に照射されるレーザ光Lの照射スポットSの位置を接着範囲Bの中心に設定して、そこから照射スポットSを外側に広がる方形のらせん状の移動軌跡を描くように移動させてもよい。或いは、照射スポットSの移動軌跡は、中心から外側に向けて広がる丸い螺旋状の移動軌跡となるように設定しても良い。なお、上述したようにレーザ光Lをパルス状に照射させているが、連続的に照射させても良い。
そして、上述したレーザ光Lの照射スポットSの移動軌跡は、上記撮影手段6が半導体チップ2の形状を認識し、かつその接着範囲Bを認識すると、制御装置9は半導体チップ2の接着範囲Bに最適な照射スポットSの移動軌跡を自動的に設定するようになっている。
次に、図1ないし図2において、吸着保持手段8は、図示しないフレームに取り付けられて可動アーム31をX−Y軸方向に移動させるアクチュエータ32と、可動アーム31の先端部に昇降機構33を介して上下動可能に取り付けられて半導体チップ2の表面側を吸着保持する吸着コレット34とを備えている。吸着コレット34は図示しない負圧発生手段に接続されている。アクチュエータ32、昇降機構33および上記負圧発生手段の作動は、制御装置9によって制御されるようになっている。
制御装置9はアクチュエータ32を作動させることで、可動アーム31を介して吸着コレット34をピックアップ位置Aの直上まで移動させるとともに、昇降機構33を作動させて吸着コレット34を所要量だけ下降させるようにしている。そのときには、制御装置9は上記負圧発生手段により吸着コレット34に負圧を導入しているので、吸着コレット34の下端部によってピックアップ位置Aにある半導体チップ2の上面が吸着保持されるようになっている。
また、このときまでには、ピックアップ位置Aとなる半導体チップ2の箇所の粘着シート3の接着範囲Bはレーザ光Lが照射されて粘着力がほとんどなくなっている。そのため、この後、制御装置9が、昇降機構33を介して半導体チップ2を保持した吸着コレット34を上昇させると、半導体チップ2は粘着シート3から極めて容易にピックアップされるようになっている。そして、その後、制御装置9は、可動アーム31を介して吸着コレット34を所要量だけ水平移動させることで、吸着保持した半導体チップ2を後工程における解放位置まで移送し、その後、制御装置9は負圧発生手段からの吸着コレット34への負圧の導入を停止するので、吸着コレット34による半導体チップ2の保持状態が解放されるようになっている。
以上の構成を有する本実施例のピックアップ装置1の作動を説明する。
先ず最初に、ピックアップ装置1の前工程に位置する切断装置において半導体ウエハ2Aからダイシング加工された多数の半導体チップ2Aは、支持部材4の粘着シート3に接着保持された状態でピックアップ装置1へ供給されて、支持部材4は上記支持手段5に保持される。
そして、支持手段5ではY軸テーブル14およびX軸テーブル16を移動させることで、ピックアップすべき特定の半導体チップ2を撮影手段6の真下のピックアップ位置Aに移動させる。
このとき、上記吸着保持手段8における吸着コレット34を昇降機構33により上方に位置させておき、また可動アーム31を介して吸着コレット34をピックアップ位置A上から外れた位置へ退避させておく。
この状態で撮影手段6はピックアップ位置Aに位置する半導体チップ2を含む範囲を撮影し、制御装置9は撮影された画像から特定の半導体チップ2の外形を認識して、半導体チップ2の形状と大きさを認識する。
さらに制御装置9は、認識した半導体チップ2の形状と大きさを該半導体チップ2の接着範囲Bであると認識し、該接着範囲B内で上記紫外線照射手段7によるレーザ光Lの照射スポットSを走査させる移動軌跡を設定する。
次に、制御装置9はレーザ発振器21から発振されるレーザ光Lの照射スポットSが半導体チップ2の接着範囲Bの四隅の一箇所付近に照射されるように、走査手段22の第1、第2ガルバノミラー25、26を移動させて、紫外線照射手段7を作動させレーザ発振器21から紫外線領域の波長のレーザ光Lを発振する。
引き続いて、制御装置9は走査手段22を制御して図4に示すような接着範囲B内においてジグザグの移動軌跡を描くように照射スポットSを移動させる。これにより、上記照射スポットSの移動軌跡に沿って粘着シート3の粘着剤の架橋が進行して,接着範囲B全域の粘着シート3の粘着力が低下してその粘着力がほとんど無くなる。
このレーザ光Lの照射と平行して、制御装置9は上記吸着保持手段8のアクチュエータ32と昇降機構33を作動させて、可動アーム31を介して吸着コレット34をピックアップ位置Aにある半導体チップ2の上方に移動させるとともに吸着コレット34を下降させ、負圧発生手段を介して吸着コレット34に負圧を導入し、吸着コレット34によってピックアップ位置Aの半導体チップ2を吸着保持させておく。
この後、上記接着範囲Bの全域にレーザ光Lが照射されると、制御装置9により、昇降機構33を介して吸着コレット34を上昇させて、それに吸着保持された半導体チップ2は粘着シート3から極めて容易にピックアップされる。その後,制御装置9は、可動アーム31を介して吸着コレット34を次工程の解放位置まで移動させ、さらに負圧発生手段からの吸着コレット34への負圧の導入を停止させるので、該半導体チップ2は図示しない次工程の解放装置に供給される。
そして、制御装置9は、支持手段5によって次にピックアップすべき新たな半導体チップ2がピックアップ位置Aに位置されると、紫外線照射手段7によって上述したようにしてピックアップ位置Aに位置する半導体チップ2Aの粘着シート3の裏面の接着範囲Bにレーザ光Lを照射させるとともに照射スポットSを移動させる。これにより、ピックアップ位置Aにある半導体チップ2の接着範囲Bの粘着シート3は、その粘着力がほぼなくなるまで低下する。
また、制御装置9は、可動アーム31を介して吸着コレット34をピックアップ位置Aにある半導体チップ2の上方まで移動させるとともに、昇降機構33により吸着コレット34を下降させて、吸着コレット34に負圧を導入させる。これにより、吸着コレット34によって半導体チップ2が吸着保持される。
その後、制御装置9によって昇降機構33を介して吸着コレット34が上昇されると該吸着コレット34に保持された半導体チップ2は粘着シートから極めて容易にピックアップされる。その後、可動アーム31を介して吸着コレット34及びそれに保持された半導体チップ2は次工程の解放位置へ移送されてから保持状態を解放される。
このようにして、取り上げようとする半導体チップ2Aのピックアップ位置Aへの移動、半導体チップ2の接着範囲Bにおける粘着テープ3裏面へのレーザ光Lの照射と、吸着コレット34による半導体チップ2の吸着保持と、さらに半導体チップ2Aを粘着シート3から取り上げてから次工程への移送という作業が繰り返されることで、ピックアップ位置Aに位置される半導体チップ2が順次粘着テープ3からピックアップされるようになっている。
次に、図7は本発明の第2実施例を示したものである。すなわち、上記第1実施例においては、支持部材4のウエハリング11に取り付けた粘着シート3の半導体チップ2が接着保持されている範囲の全てを含む裏面に光散乱板18を重合させて配置していたが、この第2実施例においては、光散乱板42をピックアップ位置Aにある半導体チップ2の接着範囲とその周辺のみをカバーする大きさとしたもので、紫外線照射手段7におけるケーシング7Aの上部に筒状の支持ブラケット41を固定して、その支持ブラケット41の上部開口41Aに光散乱板42を水平に連結している。その他の構成は第1実施例と同じであり、それと対応する部材にはそれぞれ同じ部材番号を付している。
このような第2実施例であっても上述した第1実施例と同様の作用効果を得ることができる。
なお、上述した各実施例においては、まず最初に粘着テープ3の接着範囲Bに対してレーザ光Lを照射することで、接着範囲Bの粘着テープ3の粘着力を低下させているときに、吸着コレット34で半導体チップ2を吸着保持しているが、粘着シート3にレーザ光Lを照射する前に吸着コレット34により半導体チップ2Aを吸着保持しても良いし、特定の半導体チップ2Aの接着範囲B全域にレーザ光Lを照射した後に吸着コレット34を下降させて半導体チップ2Aを吸着保持するようにしても良い。
また、上述した実施例においては、走査手段22における2つのガルバノミラー25,26を作動させてレーザ光Lの照射スポットSを接着範囲B内で移動させているが、その他の方法で上記照射スポットSを移動させることも可能である。例えば、上記紫外線照射手段7を、上記レーザ発振器21と、発振されたレーザ光Lの横断面における強度分布を均一にするビームホモジナイザや、レーザ光Lが上記接着範囲Bに照射されるように導光する複数のベンドミラーとからなる導光手段24と、これらレーザ発振器21および導光手段24を一体的に平行移動させる上記走査手段22としてのX−Yテーブルとから構成するようにしてもよい。
本実施例の一実施例を示す正面図。 図1のII―II沿う要部の断面図。 図1に示した要部の平面図。 図1の要部の拡大図。 図4における光散乱板18を省略した状態の底面図。 図1に示した紫外線照射手段7によって粘着シート3にレーザ光Lを照射する場合の他の実施例を示す底面図。 本発明の第2実施例を示す正面図。
符号の説明
1…ピックアップ装置 2…半導体チップ(板状物品)
3…粘着シート 7…紫外線照射手段
8…吸着保持手段 21…レーザ発振器
22…走査手段 23…fθレンズ(集光手段)
A…ピックアップ位置 B…接着範囲
L…レーザ光 S…照射スポット

Claims (3)

  1. 表面に複数の板状物品を接着して支持するとともに裏面側から紫外線が照射されると上記板状物品を接着した表面の粘着力が低下する粘着シートと、この粘着シートの周囲を支持する支持手段と、上記粘着シートに対してその裏面から紫外線を照射する紫外線照射手段と、上記板状物品を吸着保持する吸着保持手段とを備えて、
    上記紫外線照射手段によって粘着シートにおけるピックアップすべき特定の板状物品が接着している接着範囲に紫外線を照射して粘着力を低下させて、上記吸着保持手段によって上記特定の板状物品を粘着シートからピックアップするようにした板状物品のピックアップ装置において、
    上記紫外線照射手段は、紫外線領域の波長のレーザ光を発振するレーザ発振器と、該レーザ発振器から発振されたレーザ光を板状物品の接着範囲よりも小さな照射スポットに集光させる集光手段と、上記粘着シートにおける板状物品の接着範囲内でレーザ光の照射スポットを移動させる走査手段とを備えることを特徴とする板状物品のピックアップ装置。
  2. 上記粘着シートと上記集光手段の間にレーザ光を散乱させる光散乱板を設けて、該光散乱板を透過させたレーザ光を上記粘着シートにおける板状物品の接着範囲に照射させることを特徴とする請求項1に記載の板状物品のピックアップ装置。
  3. 上記紫外線照射手段は、レーザ光の断面方向における強度分布を均一にするビームホモジナイザを備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の板状物品のピックアップ装置。
JP2006236458A 2006-08-31 2006-08-31 板状物品のピックアップ装置 Expired - Fee Related JP4766258B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006236458A JP4766258B2 (ja) 2006-08-31 2006-08-31 板状物品のピックアップ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006236458A JP4766258B2 (ja) 2006-08-31 2006-08-31 板状物品のピックアップ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008060393A true JP2008060393A (ja) 2008-03-13
JP4766258B2 JP4766258B2 (ja) 2011-09-07

Family

ID=39242774

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006236458A Expired - Fee Related JP4766258B2 (ja) 2006-08-31 2006-08-31 板状物品のピックアップ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4766258B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009150929A1 (ja) * 2008-06-12 2009-12-17 リンテック株式会社 光照射装置及び光照射方法
JP2009295741A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Yamaha Motor Co Ltd 部品移載方法及び部品移載装置
JP2012199443A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd ダイボンダ及び半導体製造方法
JP2019071371A (ja) * 2017-10-11 2019-05-09 三菱電機株式会社 半導体ピックアップ装置
JP2019531603A (ja) * 2016-09-29 2019-10-31 ミュールバウアー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディトゲゼルシャフト 少なくとも部分的に強磁性の電子コンポーネントを支持体から基板へ非接触で引きわたす装置と方法
JP2020061529A (ja) * 2018-10-12 2020-04-16 三井化学株式会社 電子装置の製造方法および粘着性フィルム

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200129340A (ko) 2019-05-08 2020-11-18 삼성전자주식회사 전사 장치 및 이를 이용한 마이크로 led 디스플레이의 제조 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004047770A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Sony Corp ウエーハのダイシング方法
JP2005303203A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Nec Machinery Corp チップピックアップ方法および装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004047770A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Sony Corp ウエーハのダイシング方法
JP2005303203A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Nec Machinery Corp チップピックアップ方法および装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009295741A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Yamaha Motor Co Ltd 部品移載方法及び部品移載装置
WO2009150929A1 (ja) * 2008-06-12 2009-12-17 リンテック株式会社 光照射装置及び光照射方法
JP2009297636A (ja) * 2008-06-12 2009-12-24 Lintec Corp 光照射装置及び光照射方法
US8222620B2 (en) 2008-06-12 2012-07-17 Lintec Corporation Light irradiation apparatus and light irradiation method
TWI467690B (zh) * 2008-06-12 2015-01-01 Lintec Corp Light irradiation device and light irradiation method
JP2012199443A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd ダイボンダ及び半導体製造方法
JP2019531603A (ja) * 2016-09-29 2019-10-31 ミュールバウアー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディトゲゼルシャフト 少なくとも部分的に強磁性の電子コンポーネントを支持体から基板へ非接触で引きわたす装置と方法
JP2019071371A (ja) * 2017-10-11 2019-05-09 三菱電機株式会社 半導体ピックアップ装置
JP2020061529A (ja) * 2018-10-12 2020-04-16 三井化学株式会社 電子装置の製造方法および粘着性フィルム
JP7250468B2 (ja) 2018-10-12 2023-04-03 三井化学株式会社 電子装置の製造方法および粘着性フィルム
JP7250468B6 (ja) 2018-10-12 2023-04-25 三井化学株式会社 電子装置の製造方法および粘着性フィルム

Also Published As

Publication number Publication date
JP4766258B2 (ja) 2011-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5307384B2 (ja) ウエーハの分割方法
JP4942313B2 (ja) ウエーハのレーザー加工方法
JP4766258B2 (ja) 板状物品のピックアップ装置
US7605058B2 (en) Wafer dividing method
JP2009123835A (ja) 半導体デバイスの製造方法
JP2009064905A (ja) 拡張方法および拡張装置
JP4977432B2 (ja) ヒ化ガリウムウエーハのレーザー加工方法
JP2010027857A (ja) 半導体デバイスの製造方法
JP2009272421A (ja) デバイスの製造方法
JP2008042110A (ja) ウエーハの分割方法
JP2016213318A (ja) ウエーハの加工方法
JP5860219B2 (ja) レーザー加工装置
TW201618173A (zh) 晶圓的加工方法
JP4833657B2 (ja) ウエーハの分割方法
KR20140118757A (ko) 웨이퍼 가공 방법
JP2022079812A (ja) チャックテーブル及びレーザー加工装置
JP2008227276A (ja) ウエーハの分割方法
JP4678512B2 (ja) 板状物品のピックアップ方法およびその装置
JP2006324373A (ja) チップのピックアップ装置およびピックアップ方法
JP4532358B2 (ja) 半導体チップの製造方法
JP2012178523A (ja) ウエーハの分割方法
JP2006108281A (ja) 電子部品ピックアップ方法および電子部品搭載方法ならびに電子部品搭載装置
JP2009277778A (ja) ウエーハの分割方法
JP6935257B2 (ja) ウエーハの加工方法及びウエーハの加工に用いる補助具
JP2006222179A (ja) チップ搭載装置およびチップ搭載方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090630

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100819

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110308

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110428

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110518

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110531

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140624

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees