JP2008043436A - 磁気共鳴診断装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 磁気共鳴スペクトルの測定を行ったスライス範囲に対応したスライス位置についてのスライス画像が常に存在するようにする。
【解決手段】 再構成部13は制御部17の制御の下に、撮像範囲に関して被検体Pのマルチスライス画像を生成する。制御部17は、上記の撮像範囲の内側にスペクトロスコピー用のスライス範囲を決定する。再構成部13は制御部17の制御の下に、上記のスライス範囲の上に設定されるボクセルに関して被検体Pの磁気共鳴スペクトルを測定する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、磁気共鳴イメージング(MRI)と磁気共鳴スペクトロスコピー(MRS)とを行う磁気共鳴診断装置に関する。
この種の装置は、例えば特許文献1などによって知られている。
この種の装置では、ユーザはMRIにより撮像された画像を参照しながらMRSによる測定を行う位置を指定できるようになっている。このため、1枚のスライス画像に対応したスライス範囲をMRSによる測定を行う位置とする限りは、スライス画像とMRS測定結果とが関連付いており、両者を参照しながらの診断を行うことが可能である。
特開2001−187038
ところが、近年はマルチスライスによる3次元でのスペクトロスコピー収集(3DMRS収集)への要求が大きくなっている。この3DMRS収集を行う場合、MRIにおいてもマルチスライス撮像を行うことが有効であるが、これらの3DMRS収集とマルチスライス撮像とは個別に行われる。
このため、スペクトロスコピー収集を行ったスライス範囲に対応したスライス位置についてのスライス画像が存在しない場合がある。そしてこのような場合には、スライス画像とMRS測定結果との両者を参照しながらの診断を行うことができない。
本発明はこのような事情を考慮してなされたものであり、その目的とするところは、磁気共鳴スペクトルの測定を行ったスライス範囲に対応したスライス位置についてのスライス画像が常に存在するようにすることができる磁気共鳴診断装置を提供することにある。
以上の目的を達成するために第1の本発明は、撮像範囲に関して被検体のマルチスライス画像を生成する手段と、前記撮像範囲の内側にスペクトロスコピー用のスライス範囲を決定する決定手段と、前記スライス範囲の上に設定されるボクセルに関して前記被検体の磁気共鳴スペクトルを測定する手段とを備え照磁気共鳴診断装置を構成した。
前記の目的を達成するために第2の本発明は、スペクトロスコピー用のスライス範囲を決定する決定手段と、前記スライス範囲の上に設定されるボクセルに関して前記被検体の磁気共鳴スペクトルを測定する手段と、前記ボクセルの位置と一致するスライス位置に関して前記被検体のスライス画像を生成する生成手段とを備えて磁気共鳴診断装置を構成した。
本発明によれば、磁気共鳴スペクトルの測定を行ったスライス範囲に対応したスライス位置についてのスライス画像が常に存在するようにすることが可能となる。
以下、図面を参照して本発明の第1乃至第3の実施形態について説明する。
図1は第1乃至第3の実施形態に係る磁気共鳴診断装置の構成を示す図である。この図1に示す磁気共鳴診断装置は、静磁場磁石1、傾斜磁場コイル2、傾斜磁場電源3、寝台4、寝台制御部5、RFコイルユニット6a,6b,6c、送信部7、選択回路8、受信部9および計算機システム10を具備する。
静磁場磁石1は、中空の円筒形をなし、内部の空間に一様な静磁場を発生する。この静磁場磁石1としては、例えば永久磁石、超伝導磁石等が使用される。
傾斜磁場コイル2は、中空の円筒形をなし、静磁場磁石1の内側に配置される。傾斜磁場コイル2は、互いに直交するX,Y,Zの各軸に対応する3種のコイルが組み合わされている。傾斜磁場コイル2は、上記の3種のコイルが傾斜磁場電源3から個別に電流供給を受けて、磁場強度がX,Y,Zの各軸に沿って傾斜する傾斜磁場を発生する。なお、Z軸方向は、例えば静磁場と同方向とする。X,Y,Z各軸の傾斜磁場は、例えば、スライス選択用傾斜磁場Gs、位相エンコード用傾斜磁場Geおよびリードアウト用傾斜磁場Grにそれぞれ対応される。スライス選択用傾斜磁場Gsは、任意に撮影断面を決めるために利用される。位相エンコード用傾斜磁場Geは、空間的位置に応じて磁気共鳴信号の位相を変化させるために利用される。リードアウト用傾斜磁場Grは、空間的位置に応じて磁気共鳴信号の周波数を変化させるために利用される。
被検体Pは、寝台4の天板4aに載置された状態で傾斜磁場コイル2の空洞(撮影口)内に挿入される。寝台4は、寝台制御部5により駆動され、天板4aをその長手方向(図1中における左右方向)および上下方向に移動する。通常、この長手方向が静磁場磁石1の中心軸と平行になるように寝台4が設置される。
RFコイルユニット6aは、1つまたは複数のコイルを円筒状のケースに収容して構成される。RFコイルユニット6aは、傾斜磁場コイル2の内側に配置される。RFコイルユニット6aは、送信部7から高周波パルス(RFパルス)の供給を受けて、高周波磁場を発生する。
RFコイルユニット6b,6cは、天板4a上に載置されたり、天板4aに内蔵されたり、あるいは被検体Pに装着される。そして撮影時には、被検体Pとともに傾斜磁場コイル2の空洞内に挿入される。RFコイルユニット6b,6cとしては、アレイコイルが利用される。すなわちRFコイルユニット6b,6cは、それぞれ複数の要素コイルを備える。RFコイルユニット6b,6cに備えられた要素コイルはそれぞれ、被検体Pから放射される磁気共鳴信号を受信する。要素コイルのそれぞれの出力信号は、個別に選択回路8に入力される。受信用のRFコイルユニットは、RFコイルユニット6b,6cに限らず、様々なタイプのものが任意に装着可能である。また受信用のRFコイルユニットは、1つまたは3つ以上が装着されても良い。
送信部7は、発振部、位相選択部、周波数変換部、振幅変調部および高周波電力増幅部を有している。発振部は、静磁場中における対象原子核に固有の共鳴周波数の高周波信号を発生する。位相選択部は、上記高周波信号の位相を選択する。周波数変換部は、位相選択部から出力された高周波信号の周波数を変換する。振幅変調部は、周波数変調部から出力された高周波信号の振幅を例えばシンク関数に従って変調する。高周波電力増幅部は、振幅変調部から出力された高周波信号を増幅する。そしてこれらの各部の動作の結果として送信部7は、ラーモア周波数に対応するRFパルスをRFコイルユニット6aに供給する。
選択回路8は、RFコイルユニット6b,6cから出力される多数の磁気共鳴信号のうちのいくつかを選択する。そして選択回路8は、選択した磁気共鳴信号を受信部9へ与える。どのチャネルを選択するかは、計算機システム10から指示される。
受信部9は、前段増幅器、位相検波器およびアナログディジタル変換器を有する処理系を複数チャネル備えている。これら複数チャネルの処理系へは、選択回路8が選択する磁気共鳴信号がそれぞれ入力される。前段増幅器は、磁気共鳴信号を増幅する。位相検波器は、前置増幅器から出力される磁気共鳴信号の位相を検波する。アナログディジタル変換器は、位相検波器から出力される信号をディジタル信号に変換する。受信部9は、各処理系により得られるディジタル信号をそれぞれ出力する。
計算機システム10は、インタフェース部11、データ収集部12、再構成部13、記憶部14、表示部15、入力部16および制御部17を有している。
インタフェース部11には、傾斜磁場電源3、寝台制御部5、送信部7、受信部9および選択回路8等が接続される。インタフェース部11は、これらの接続された各部と計算機システム10との間で授受される信号の入出力を行う。
データ収集部12は、受信部9から出力されるディジタル信号を収集する。データ収集部12は、収集したディジタル信号、すなわち磁気共鳴信号データを、記憶部14に格納する。
再構成部13は、記憶部14に記憶された磁気共鳴信号データに対して、後処理、すなわちフーリエ変換等の再構成を実行し、被検体P内の所望核スピンのスペクトラムデータあるいは画像データを求める。
記憶部14は、磁気共鳴信号データと、スペクトラムデータあるいは画像データとを、患者毎に記憶する。
表示部15は、スペクトラムデータあるいは画像データ等の各種の情報を制御部17の制御の下に表示する。表示部15としては、液晶表示器などの表示デバイスを利用可能である。
入力部16は、オペレータからの各種指令や情報入力を受け付ける。入力部16としては、マウスやトラックボールなどのポインティングデバイス、モード切替スイッチ等の選択デバイス、あるいはキーボード等の入力デバイスを適宜に利用可能である。
制御部17は、CPUやメモリ等を有しており、本実施形態の磁気共鳴診断装置を総括的に制御する。制御部17は、マルチスライス撮像における撮像範囲を考慮してMRS用のスライス範囲を決定する機能、あるいはMRS用のスライス範囲を考慮してスライス画像を撮像するスライス位置を決定する機能の少なくともいずれか一方を備える。さらに制御部17は、互いに対応するスライス位置およびスライス範囲についてのスライス画像およびMRS測定結果を関連付けて表す画像を生成する機能を備える。
以上のように、第1乃至第3の実施形態に係る磁気共鳴診断装置は、共通の構成を有する。そして各実施形態の相違は、制御部17による処理の違いに伴う磁気共鳴診断装置の動作の違いにある。以下、各実施形態に係る磁気共鳴診断装置の動作について詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図2は第1の実施形態における制御部17の処理手順を示すフローチャートである。
ステップSa1において制御部17は、MRIによるマルチスライス撮像を行うように各部を制御する。このマルチスライス撮像は、周知の手順により行われ、最終的には複数枚のスライス画像が再構成部13により生成される。
ステップSa2において制御部17は、スライス面内でのMRS測定を行う範囲(以下、MRS測定範囲と称する)を決定する。具体的には制御部17は、マルチスライス撮像により得られたスライス画像の1枚を表示部15に表示させる。図3はここで表示部15に表示させるスライス画像21の一例を示す図である。マルチスライス撮像により得られた複数のスライス画像のいずれを表示の対象とするかは、例えば予め定められた条件に基づいて決めたり、ユーザにより選択させたりすることができる。ユーザは入力部16を操作して、例えば図3に示すような範囲22を指定する。そうすると制御部17は、その指定された範囲をMRS範囲として決定する。
ステップSa3において制御部17は、ユーザにより指定されるMRS測定のスライス範囲(以下、指定スライス範囲と称する)を判定する。具体的には制御部17は、マルチスライス撮像における撮像範囲の指定を受け付ける際に使用した画像を表示部15に表示させる。図4はここで表示部15に表示させる画像31の一例を示す図である。ユーザは入力部16を操作して、例えば図4に示すような範囲32を指定する。そうすると制御部17は、その指定された範囲を指定スライス範囲とする。
なお、図3において破線で示す枠線23および図4に破線で示す枠線33は、MRSのためにMR信号の収集を行う領域(以下、MRS撮像領域と称する)を表す。図3において破線で示すグリッド線24および図4に破線で示すグリッド線34は、MRS用のボクセルの境界を表す。MRS撮像範囲は、ユーザにより指定される縦方向,横方向,奥行き方向のぞれぞれについてのボクセルの数と1つのボクセルの大きさとに基づいて決定される。なお奥行き方向は、マルチスライス撮像におけるスライス方向と同じ方向である。ボクセルの奥行き方向の幅は、マルチスライス撮像におけるスライスの中心間隔の整数倍に定められる。
ステップSa4において制御部17は、指定スライス範囲に含まれるボクセルのそれぞれの奥行き方向の中心の位置(以下、ボクセル中心位置と称する)がマルチスライス撮像におけるスライス位置のいずれかに一致するように指定スライス範囲を移動させる。ただし、指定スライス範囲の移動量は最小限に抑えるようにする。例えば、奥行き方向に並んだボクセルのうちの指定スライス範囲の両端に位置する2つのボクセルから、マルチスライス撮像の撮像範囲の端部に近いほうのボクセルを選択し、この選択したボクセルの中心位置を最寄りのスライス位置に一致させるように指定スライス範囲を移動させる。なお、各ボクセルの中心位置が最寄りのスライス位置に一致しているならば、制御部17は指定スライス範囲をそのままの位置とする。かくして、指定スライス範囲に含まれるボクセルの中心位置とスライス位置のいずれかとが図4に示すように一致するようになる。なお図4において符号35を付して示した枠は、マルチスライス撮像におけるスライス位置の一例を表している。
ステップSa5において制御部17は、ステップSa4において移動させたのちの指定スライス位置をMRS測定のスライス範囲に決定する。
ステップSa6およびステップSa7において制御部17は、スライス範囲の変更が指定されるか、あるいはMRSの実行が指示されるのを待ち受ける。もし、変更を指示する操作が入力部16にて行われたならば、制御部17はステップSa3乃至ステップSa5を再度行って、その変更指示に応じてスライス範囲を決定し直す。そしてMRSの実行を指示する操作が入力部16にて行われたならば、制御部17はステップSa7からステップSa8へ進む。
ステップSa8において制御部17は、MRスペクトルを収集する。すなわち制御部17は、ステップSa2で決定したMRS範囲とステップSa5で決定したスライス範囲とにより定まる領域に含まれるボクセルのそれぞれに関してMRスペクトルを測定するように各部を制御する。MRスペクトルの測定は、周知の手順により行われ、最終的には再構成部13によりMRスペクトルが求められる。
ステップSa9において制御部17は、例えば図5に示すように、ステップSa1で得られたスライス画像41と、ステップSa8で得られたMRスペクトルを表したMRS画像42とを並べた参照用画像40を表示部15に表示させる。前述したようにMRS用のボクセルのそれぞれのボクセル中心位置をいずれかのスライス位置に一致させているために、MRS画像のそれぞれに関して、スライス方向についての同一位置のスライス画像が必ず有るので、制御部17はそれらの画像を選択する。なお画像41には、ステップSa2で決定したMRS範囲を表す枠43を重畳して表している。図5の例では、1スライスにおいて16個のボクセルがMRS範囲に含まれていることが分かる。画像42は、これら16個のボクセルのそれぞれに関して測定されたMRスペクトルを表した16個のグラフをボクセルの配列と同じ配列で配置して表したものである。
かくしてユーザは、図5に示す参照用画像を参照することにより、スライス方向についての同一位置に関するスライス画像およびMRS画像を比較参照することができ、効率的な診断を行うことが可能である。
(第2の実施形態)
図6は第2の実施形態における制御部17の処理手順を示すフローチャートである。
ステップSb1において制御部17は、あるスライス面内でのMRS範囲を決定する。具体的には制御部17は、位置決め用に撮像されたスライス画像上で、前記第1の実施形態におけるステップSa2と同様にしてMRS範囲を決定する。
ステップSb2において制御部17は、前記第1の実施形態におけるステップSa3と同様にして指定スライス範囲を判定する。
ステップSb3において制御部17は、ステップSb2において判定した指定スライス位置をそのままMRS測定のスライス範囲に決定する。
ステップSb4において制御部17は、MRスペクトルを収集する。すなわち制御部17は、ステップSb1で決定したMRS範囲とステップSb3で決定したスライス範囲とにより定まる領域に含まれるボクセルのそれぞれに関して、MRスペクトルを測定する。
ステップSb5において制御部17は、指定スライス範囲に含まれるボクセルのそれぞれのボクセル中心位置をスライス位置に決定する。指定スライス範囲内での奥行き方向のボクセルが1つのみであれば、1つのスライス位置が決定される。指定スライス範囲での奥行き方向に複数のボクセルが並んでいる場合には、複数のスライス位置が決定されることになる。
ステップSb6において制御部17は、ステップSb5において決定したスライス位置に関するスライス画像をMRIにより撮像する。このとき、ステップSb5において決定したスライス位置とは異なるスライス位置に関するスライス画像も撮像するようにしても良い。
ステップSb7において制御部17は、例えば図5に示すように、ステップSb6で得られたスライス画像41と、ステップSb4で得られたMRスペクトルを表したMRS画像42とを並べた参照用画像40を表示部15に表示させる。前述したようにMRS用のボクセルのそれぞれのボクセル中心位置に一致させてスライス位置を決定しているために、MRS画像のそれぞれに関して、スライス方向についての同一位置のスライス画像が必ず有るので、制御部17はそれらの画像を選択する。
かくしてユーザは、図5に示す画像を参照することにより、スライス方向についての同一位置に関するスライス画像およびMRS画像を比較参照することができ、効率的な診断を行うことが可能である。
(第3の実施形態)
図7は第3の実施形態における制御部17の処理手順を示すフローチャートである。
ステップSc1において制御部17は、MRIによるマルチスライス撮像を行う。このマルチスライス撮像は、周知の手順により行うことができる。
ステップSc2において制御部17は、MRS測定範囲を前記第1の実施形態におけるステップSa2と同様にして決定する。
ステップSc3において制御部17は、指定スライス範囲を前記第1の実施形態におけるステップSa3と同様にして判定する。
ステップSc4において制御部17は、指定スライス範囲のうちでマルチスライス撮像の撮像範囲に重複する範囲のみをMRS測定のスライス範囲に決定する。
ステップSc5およびステップSc6において制御部17は、スライス範囲の変更が指定されるか、あるいはMRSの実行が指示されるのを待ち受ける。もし、変更を指示する操作が入力部16にて行われたならば、制御部17はステップSc3およびステップSc4を再度行って、その変更指示に応じてスライス範囲を決定し直す。そしてMRSの実行を指示する操作が入力部16にて行われたならば、制御部17はステップSc6からステップSc7へ進む。
ステップSc7において制御部17は、MRスペクトルを収集する。すなわち制御部17は、ステップSc2で決定したMRS範囲とステップSc4で決定したスライス範囲とにより定まる領域に含まれるボクセルのそれぞれに関して、MRスペクトルを測定する。
ステップSc8において制御部17は、例えば図5に示すように、ステップSc1で得られたスライス画像41と、ステップSc7で得られたMRスペクトルを表したMRS画像42とを並べた参照用画像を表示部15に表示させる。ただし、第1および第2の実施形態と異なり、ここではMRS用のボクセルのそれぞれのボクセル中心位置とスライス位置とを無関係に決定している。そこで制御部17は、MRS画像42に対応するボクセルのボクセル中心位置に最寄りのスライス位置に関するスライス画像を選択して表示させる。従って、スライス画像41とMRS画像42とではスライス方向の位置がずれることがあるが、MRS測定のスライス範囲を撮像範囲に重複する範囲に制限しているから、上記のずれ量はマルチスライス撮像におけるスライス中心間の距離の1/2以下に抑えられる。
かくしてユーザは、図5に示す参照用画像を参照することにより、スライス方向についてのほぼ同一位置に関するスライス画像およびMRS画像を比較参照することができ、効率的な診断を行うことが可能である。
この実施形態は、次のような種々の変形実施が可能である。
第1または第2の実施形態では、ボクセルの位置とスライス画像の位置とは、例えばそれぞれの端部位置などのような中心位置以外の位置を一致させるようにしても良い。
スライス範囲は、ユーザの指定に拠らずに自動的に決定しても良い。例えば、マルチスライス撮像の撮像範囲に対して一定の割合の範囲をスライス範囲として決定するようにすれば良い。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
本発明の第1乃至第3の実施形態に係る磁気共鳴診断装置の構成を示す図。 図1に示す制御部17の第1の実施形態における処理手順を示すフローチャート。 MRS測定範囲を決定するために図1中の表示部15にて表示するスライス画像21の一例を示す図。 指定スライス範囲を判定するために図1中の表示部15にて表示する画像31の一例を示す図。 図1中の表示部15にて表示する参照用画像40の一例を示す図。 図1に示す制御部17の第2の実施形態における処理手順を示すフローチャート。 図1に示す制御部17の第3の実施形態における処理手順を示すフローチャート。
符号の説明
1…静磁場磁石、2…傾斜磁場コイル、3…傾斜磁場電源、4…寝台、5…寝台制御部、6a,6b,6c…RFコイルユニット、7…送信部、8…選択回路、9…受信部、10…計算機システム、11…インタフェース部、12…データ収集部、13…再構成部、14…記憶部、15…表示部、16…入力部、17…制御部。

Claims (9)

  1. 撮像範囲に関して被検体のマルチスライス画像を生成する手段と、
    前記撮像範囲の内側にスペクトロスコピー用のスライス範囲を決定する決定手段と、
    前記スライス範囲の上に設定されるボクセルに関して前記被検体の磁気共鳴スペクトルを測定する手段とを具備したことを特徴とする磁気共鳴診断装置。
  2. 前記決定手段は、前記スライス範囲に含まれるボクセルの位置が前記マルチスライス画像のスライス位置に一致するように前記スライス範囲を決定することを特徴とする請求項1に記載の磁気共鳴診断装置。
  3. 前記決定手段は、前記スライス範囲に含まれるボクセルの中心位置が前記マルチスライス画像のスライス中心位置に一致するように前記スライス範囲を決定することを特徴とする請求項1に記載の磁気共鳴診断装置。
  4. 前記決定手段は、上記条件の範囲内でユーザの指示に応じて前記スライス範囲を決定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の磁気共鳴診断装置。
  5. 前記マルチスライス画像に含まれる1つのスライス画像と、このスライス画像の位置に最も近い位置のボクセルに関して測定された前記磁気共鳴スペクトルとを関連付けて表す画像を生成する手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の磁気共鳴診断装置。
  6. 前記マルチスライス画像に含まれる1つのスライス画像と、このスライス画像の中心位置に最も近い中心位置を持つボクセルに関して測定された前記磁気共鳴スペクトルとを関連付けて表す画像を生成する手段をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の磁気共鳴診断装置。
  7. スペクトロスコピー用のスライス範囲を決定する決定手段と、
    前記スライス範囲の上に設定されるボクセルに関して被検体の磁気共鳴スペクトルを測定する手段と、
    前記ボクセルの位置と一致するスライス位置に関して前記被検体のスライス画像を生成する生成手段とを具備したことを特徴とする磁気共鳴診断装置。
  8. 前記生成手段は、前記ボクセルの中心位置と一致するスライス中心位置のスライス画像を生成することを特徴とする請求項7に記載の磁気共鳴診断装置。
  9. 前記磁気共鳴スペクトルと前記スライス画像とを関連付けて表す画像を生成する手段をさらに備えることを特徴とする請求項7に記載の磁気共鳴診断装置。
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