JP2008039535A - 画像相関変位計 - Google Patents

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【課題】画像相関変位計で測定位置の特定を容易とする。
【解決手段】コヒーレント光の照明手段(レーザ20、半導体レーザ52)を備え、コヒーレント光の照明により得られるスペックル画像の相関から、測定対象の面内変位を測定する画像相関変位計において、非コヒーレント光の照明手段(白色光源40、LED光源50)を備えて、物体画像も得られるようにする。ここで、前記コヒーレント光の照明と非コヒーレント光の照明を同期して切り替えるようにすることができる。又、前記コヒーレント光の照明による動作と非コヒーレント光の照明による動作を含む動作モードを選択可能とすることができる。更に、前記物体画像を相関処理して、測定対象の位置を特定する手段(パターンマッチング回路58)を備えることができる。
【選択図】図3

Description

本発明は、コヒーレント光の照明手段を備え、コヒーレント光の照明により得られるスペックル画像の相関から、測定対象の面内変位を測定する画像相関変位計に関する。特に、測定位置を容易に特定することが可能な画像相関変位計に関する。
スケールを用いることなく、二次元変位を非接触・高分解能で検出できる変位計として、特許文献1、2や非特許文献1に記載されているように、図1に示す如く、レーザ20からコリメートレンズ22によりコリメートされたコヒーレントな光ビーム(投光ビームとも称する)24を、ワーク10等の測定対象に投光し、測定対象面11の起伏により発生したスペックルパターンを、レンズ30、ピンホール32を介して、CMOS等の固体撮像素子34で受光して、画像相関によりXY方向(図1の前後左右方向)(面内方向と称する)の変位を測定する画像相関変位計が知られている。
又、特許文献3には、レーザダイオードと(LD)発光ダイオード(LED)を併用して、画像表示装置のスペックルノイズを激減させることが記載されている。
特開2002−139485号公報 特開2006−184091号公報 特開2005−338520号公報 「ミツトヨ ナノ分解能の二次元画像エンコーダー 構造体の微小変位を非接触で測定」日経先端技術69号(2004.9.13)
しかしながら、このような画像相関変位計において得られるスペックル画像は、ICのリード部分で例示すると図2(A)に示す如くであり、図2(B)に示すような同じ部分の通常の物体画像のノイズ成分と見做されるため、例えばリード部分のエッジ等により測定位置を特定することが困難である。従って、例えば異なるスペックル画像間で測定位置を合わせるのが難しいという問題点を有していた。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、画像相関変位計における測定位置の特定を容易とすることを課題とする。
本発明は、コヒーレント光の照明手段を備え、コヒーレント光の照明により得られるスペックル画像の相関から、測定対象の面内変位を測定する画像相関変位計において、非コヒーレント光の照明手段を備え、物体画像も得られるようにして、前記課題を解決したものである。
前記コヒーレント光の照明と非コヒーレント光の照明を同期して切り替える切替手段を備えることができる。
又、前記コヒーレント光の照明による動作と非コヒーレント光の照明による動作を含む動作モードを選択する手段を備えることができる。
更に、前記物体画像を相関処理して、測定対象の特定位置を検出する手段を備えることができる。
本発明によれば、非コヒーレント光の照明により物体画像を得ることによって、測定位置の特定が容易となる。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
本発明の第1実施形態は、図1に示した従来と同様の画像相関変位計において、図3に示す如く、非コヒーレント光の照明手段である白色光源40と、該白色光源40による非コヒーレント光の照明と、コヒーレント光の照明手段であるレーザ20によるコヒーレント光の照明を切り換えるための切替機構42とを追加し、スペックル画像の測定時と、例えば目視による物体画像の観察時で、光源を切替えられるようにしたものである。
図において、44は、白色光源40の光が、スペックル画像を観測するための固体撮像素子34に入射しないようにするための遮光ガイドである。
前記白色光源40は、干渉現象が起こり難い(スペックルの発生し難い)非コヒーレント光の光源であれば良く、例えばハロゲンランプ、蛍光灯、発光ダイオード(LED)等を用いることができる。又、白色でなく単色であっても良い。
前記切替機構42は、例えば電源切替スイッチとしたり、あるいは、各光源20、40の直前に設けたシャッタ機構46、48の駆動回路とすることができる。
なお、レーザ20側は点灯したままとしたり、あるいは、シャッタ46を省略することもできる。
本実施形態においては、先ず白色光源40により測定対象面11を照明し、物体画像を観察しながら位置合せを行なった後に、切替機構42により、白色光源40をオフとするか、シャッタ48を閉じて、レーザ20により測定対象面11を照明し、従来と同様にスペックル画像を得て、面内変位を測定することができる。
次に、図4を参照して、本発明の第2実施形態を詳細に説明する。
本実施形態は、第1実施形態と同様の画像相関変位計において、固体撮像素子34と同期をとるため、非コヒーレント光の照明手段を高速でオンオフ可能なLED光源50とすると共に、コヒーレント光の照明手段を半導体レーザ52(LD)とし、同期回路54により固体撮像素子34の撮像/データ転送タイミングに合わせて、図5に例示するように光源を切り替え、スペックル画像による面内変位の測定と、物体画像の観察を短時間で交互に行なえるようにしたものである。これにより、測定と観察をほぼ同時に行なうことが可能になる。
次に、本発明の第3実施形態を詳細に説明する。
本実施形態は、第2実施形態において、更に、前記同期回路54による同期タイミングを変えることにより動作モードを変えるためのモード選択スイッチ56を設けたものである。
前記モード選択スイッチ56により、例えば次の動作モードが選択可能とされる。
(1)LED光源50をオフに固定した状態で動作させ、スペックル画像による測定処理のみを行なうモード。
(2)LED光源50をオンにするタイミングを、画像の更新がビデオレートの周期に近くなるよう、33Hz程度の周期に設定し、物体画像の更新に違和感を生じないようにするモード。この場合、全体が100Hzであれば、スペックル画像による測定は残りの66Hzで行う。
(3)図5に示したように、LED光源50と半導体レーザ52を、例えば50Hzで交互にオンオフして、測定と観察をほぼ同時に行えるようにするモード。
(4)半導体レーザ52をオフに固定した状態で動作させ、物体画像のみを出力するモード。
上記のようなモードを切替可能とすることによって、測定の状況に応じた動作が実現可能になる。
第1乃至第3実施形態において、白色光源40又はLED光源50使用時の画像(物体画像)に対して、図6に第3実施形態で例示する如く、例えばパターンマッチング回路58による画像相関処理を行なって、測定対象の位置を検出することができる。
このようにした本発明の第4実施形態における処理手順の例を図7に、タイムチャートを図8に示す。
まず図7のステップS1で、図9に例示するような比較測定したいワーク10の特定位置に、図10に示す如くマーキング12を行なう。このマーキング12は、画像のパターンマッチングで誤検出しないものであれば良く、例えばワーク10の形状自体が、リード等の特定形状であれば、マーキングを省略することもできる。
次いでステップS2でマーキング画像を記憶する。
次いでステップS3で、測定するワークを選択する。
次いでステップS4で、図8に示した如く、LED光源50を点灯し(撮像1のタイミング)、特定位置検出処理を行って(撮像2のタイミング)、図10に矢印Aで示す如く、固体撮像素子34の測定可能エリア36の中心(測定中心と称する)36Cがワーク10の特定位置、例えば中心と一致するようにする。
ステップS5で、測定中心36Cがワーク10の特定位置に導かれたと判定されたときはステップS6で、ワーク10へ力、熱等の外力を加えながら、半導体レーザ52を点灯して、面内変位を検出する(撮像3のタイミング)。
なお、1回の撮像で特定位置を測定中心に合わせることができなかった場合には、図8に破線で示す如く、LED光源を再度オンとして物体画像を再取得することもできる。
ステップS7で当該ワークの測定が終了したときには、ステップS3に戻り、次のワークを選択する。
本実施形態によれば、測定したい位置の検出が容易になると共に、測定位置の再現性を向上させることができる。
前記実施形態においては、いずれも、コヒーレント光源(20、52)と非コヒーレント光源(40、50)が別体とされていたので、照明の切替えが容易である。なお、特許文献3に記載されているような、レーザダイオードと発光ダイオードの併用光源を用いて、単一の光源でコヒーレント光の照明と非コヒーレント光の照明を行なうことも可能である。
特許文献1に記載された画像相関変位計の構成を示す断面図 従来の問題点を説明するための、同一部位の(A)スペックル画像と(B)物体画像の例を比較して示す図 本発明の第1実施形態の構成を示す断面図 同じく第2及び第3実施形態の構成を示す断面図 第2実施形態の同期タイミング例を示すタイムチャート 本発明の第4実施形態の構成を示す断面図 同じく測定手順を示す流れ図 同じく処理タイミング例を示すタイムチャート 同じく測定ワークを示す平面図 同じくワークと測定可能エリアの関係の例を示す平面図
符号の説明
10…ワーク
11…測定対象面
12…マーキング
20…レーザ
34…固体撮像素子
36…測定可能エリア
36C…測定中心
40…白色光源
42…切替機構
50…LED光源
52…半導体レーザ
54…同期回路
56…モード選択スイッチ
58…パターンマッチング回路

Claims (4)

  1. コヒーレント光の照明手段を備え、コヒーレント光の照明により得られるスペックル画像の相関から、測定対象の面内変位を測定する画像相関変位計において、
    非コヒーレント光の照明手段を備えて、物体画像も得られるようにしたことを特徴とする画像相関変位計。
  2. 前記コヒーレント光の照明と非コヒーレント光の照明を同期して切り替える切替手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載の画像相関変位計。
  3. 前記コヒーレント光の照明による動作と非コヒーレント光の照明による動作を含む動作モードを選択する手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像相関変位計。
  4. 前記物体画像を相関処理して、測定対象の特定位置を検出する手段を更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の画像相関変位計。
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