JP2010078339A - 3次元形状計測装置および方法並びにプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】被写体にパターン光を照射することにより取得した画像を用いて、被写体の3次元形状を正確に計測する。
【解決手段】プロジェクタ4から所定方向に偏光されたパターン光を出射して被写体に照射する。被写体におけるパターン光の反射光は、フィルタ部14,15により所定方向に直交する方向に偏光されて、第1および第2のカメラ2,3に入射する。これにより、第1および第2のカメラ2,3が基準画像および参照画像を取得し、演算部5が画素の対応付けを行うことにより、被写体の3次元形状を計測する。
【選択図】図1
【解決手段】プロジェクタ4から所定方向に偏光されたパターン光を出射して被写体に照射する。被写体におけるパターン光の反射光は、フィルタ部14,15により所定方向に直交する方向に偏光されて、第1および第2のカメラ2,3に入射する。これにより、第1および第2のカメラ2,3が基準画像および参照画像を取得し、演算部5が画素の対応付けを行うことにより、被写体の3次元形状を計測する。
【選択図】図1
Description
本発明は、被写体の3次元形状を計測する3次元形状計測装置および方法並びに3次元形状計測方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関するものである。
一般にステレオ法またはステレオ3次元画像計測法等と称される距離測定方法は、異なる位置に設けられた少なくとも2台以上のカメラ(1台の基準カメラおよびその他の参照カメラ)を用いて被写体を撮影し、これにより取得された複数の計測用画像(基準カメラによる基準画像および参照カメラによる参照画像)の間で画素を対応付け、対応付けられた基準画像上の画素と、参照画像上の画素との位置の差(視差)に三角測量の原理を適用することにより、基準カメラまたは参照カメラから当該画素に対応する被写体上の点までの距離を計測するものである。
したがって、被写体の表面全体に対応するすべての画素までの距離を測定すれば、被写体の形状や奥行きという3次元形状を計測することが可能となる。なお、1台のカメラのみを使用して異なる位置において撮影を行うことにより複数の画像を取得して、被写体の3次元形状を計測することも可能である。
また、光の反射を用いて被写体までの距離を測定するTOF(Time Of Flight)方式の距離測定方法を用いて、撮影装置から被写体までの距離を測定して、被写体の3次元形状を計測することが行われている(特許文献1参照)。TOF方式を用いた測距は、具体的には強度変調された測距光を被写体に向けて照射し、この変調周期における0、π/2、π、3π/2の4つの位相において反射光を受光して受光光量に応じた受光信号を得、受光信号に基づいて測距光と反射光との位相の遅れ(位相差)を、撮影装置に設けられた撮像素子の受光素子毎に検出して距離情報を算出し、この距離情報を各画素の画素値とする被写体の3次元形状を計測するものである。
また、プロジェクタから明暗のピッチが倍々に変化するパターン光を被写体に照射して撮影を行うことにより、測定対象空間の各点を2進数コードによって符号化して距離を測定する空間コード化法も提案されている。空間コード化法においては、パターン光を照射した対象物は、カメラによりパターンが異なる複数の濃淡画像として撮影され、濃淡画像上の各画素は、0,1の2進数コードにより表されることとなる。空間コード化法は、この2進数コードに基づいて測定対象上の点におけるパターン光の投影方向を求め、三角測量の原理により測定対象点における3次元位置を算出することにより、被写体の3次元形状を計測する手法である。
ここで、ステレオ法においては、図8に示すように、基準画像G1上のある点Paに写像される実空間上の点は、点P1,P2,P3というように点Cからの視線上に複数存在するため、実空間上の点P1 ,P2 ,P3 等の写像である直線(エピポーラ線)上に、点Paに対応する参照画像G2R上の点Pa′が存在することに基づいて画素の対応付けが行われる。なお、図8において点Cは基準カメラの視点、点C′は参照カメラの視点である。
しかしながら、ステレオ法においては、被写体が人物の顔のように濃淡、形状および色等の局所的な特徴がない場合には、画素の対応付けを行うことにより対応点を求めることができないという問題がある。このような問題を解決するために、被写体にランダムドットパターン、格子状パターン、バーコード状パターン等のパターン光を照射し、パターン光の位置に基づいて対応点を求める手法が提案されている(特許文献2,3参照)。
一方、被写体に光を照射し、その反射光を受光する場合において、反射光には正反射光と拡散反射光とが含まれる。ここで、正反射と拡散反射は光学的に特性が異なるため、分離して一方を選択的に利用することがある。このため、照射光を所定方向に偏光し、受光光を所定方向に直交する方向に偏光することにより、反射光における正反射光の成分を除去して被写体を撮影する手法が提案されている(特許文献4参照)。
特開2006−84429号公報
特開2004−212385号公報
特開2000−283752号公報
特開平11−326057号公報
上述したステレオ法等により、照射したパターン光による被写体での拡散反射の強度を取得して被写体の3次元形状の計測を行う際に、被写体にパターン光を照射する場合においては、被写体におけるパターン光の反射光にも正反射光および拡散反射光が含まれる。しかしながら、パターン光の反射光に正反射光が含まれると、被写体を撮影する位置によって、画像に含まれるパターンの輝度に違いが生じるため、被写体までの距離を正確に測定できなくなってしまうという問題がある。
本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、被写体にパターン光を照射することにより取得した画像を用いて、被写体の3次元形状を正確に計測することを目的とする。
本発明による3次元形状計測装置は、被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段と、
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測する計測手段とを備えたことを特徴とするものである。
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測する計測手段とを備えたことを特徴とするものである。
所定方向と異なる方向としては、偏光方向が異なることにより、入射されるパターン光の反射光の光量を低減できる方向であればよいが、所定方向と直交する方向であることが好ましい。
なお、本発明による3次元形状計測装置においては、前記照射手段を、前記パターン光および通常光を切り替え可能に発光する手段とし、
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時および前記通常光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段をさらに備えるものとしてもよい。
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時および前記通常光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段をさらに備えるものとしてもよい。
通常光とは、パターンを有さず、また偏光もされていない光をいう。
また、本発明による3次元形状計測装置においては、前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段をさらに備えるものとしてもよい。
また、本発明による3次元形状計測装置においては、前記照射手段を、光を発光する光源、該光を分割するに際し、該分割により得られる一方の光を前記所定方向に偏光して分割する分割手段、該分割された光のうちの他方の光の偏光方向を前記所定方向に回転する回転手段、該偏光方向が回転された後の前記他方の光を前記一方の光と合成する合成手段、および前記合成後の光を前記パターン光に変換する変換手段とを備えるようにしてもよい。
また、本発明による3次元形状計測装置においては、前記画像取得手段を、前記被写体を撮影することにより複数の前記計測用画像を取得する少なくとも1つの撮影手段を有するものとし、
前記計測手段を、前記計測用画像に含まれる前記パターン光の位置に基づいて、前記複数の計測用画像における画素の対応付けを行って、前記被写体までの距離を算出する手段としてもよい。
前記計測手段を、前記計測用画像に含まれる前記パターン光の位置に基づいて、前記複数の計測用画像における画素の対応付けを行って、前記被写体までの距離を算出する手段としてもよい。
また、本発明による3次元形状計測装置においては、前記照射手段を、所定周期にて強度が時間的に変化するように変調された前記パターン光を前記被写体に照射する手段とし、
前記画像取得手段を、前記反射光の光量に応じた受光信号を出力する1以上の受光素子を有する撮影手段を有するものとし、
前記計測手段を、前記受光信号から得られる前記計測用画像に基づいて、前記被写体までの距離を算出する手段としてもよい。
前記画像取得手段を、前記反射光の光量に応じた受光信号を出力する1以上の受光素子を有する撮影手段を有するものとし、
前記計測手段を、前記受光信号から得られる前記計測用画像に基づいて、前記被写体までの距離を算出する手段としてもよい。
本発明による3次元形状計測方法は、所定方向に偏光されたパターン光を被写体に照射し、
前記被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光し、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測することを特徴とするものである。
前記被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光し、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測することを特徴とするものである。
なお、本発明による3次元形状計測方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとして提供してもよい。
本発明による3次元形状計測用撮影装置は、被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段と、
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段を備えたことを特徴とするものである。
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段を備えたことを特徴とするものである。
本発明によれば、所定方向に偏光されたパターン光が被写体に照射され、被写体によるパターン光の反射光が所定方向と異なる方向に偏光され、この偏光光に基づいて取得された計測用画像に含まれるパターン光に基づいて、被写体の3次元形状が計測される。これにより、画像取得手段に入射される光から、被写体におけるパターン光の正反射光の成分を低減することができるため、計測用画像におけるパターン光の輝度の相違を低減でき、その結果、被写体の3次元形状を精度よく計測することができる。
とくに、被写体を撮影することにより複数の計測用画像を取得し、複数の計測用画像に含まれるパターン光の位置に基づいて、複数の計測用画像における画素の対応付けを行って被写体の3次元形状を計測する場合において、複数の計測用画像における対応するパターン光の輝度の相違を低減できるため、ステレオ法を用いての被写体の3次元形状の計測を精度よく行うことができる。
ここで、被写体の3次元形状は、被写体上の各点までの距離情報のみしか有さない。このため、被写体の輝度情報および/または色情報が必要な場合、別途被写体を撮影して、被写体の2次元画像を取得する必要がある。この場合、本発明においては、照射手段からのパターン光の発光を停止したり、明るさを補うために照射手段から通常光を発光して被写体を撮影することが可能である。しかしながら、画像取得手段に入射される光は偏光手段により偏光されたものとなるため光量が少なくなり、その結果、露光時間が長くなったり、照射手段から照射する通常光の明るさを大きくしたりする必要がある。
このため、パターン光の発光を停止したり、通常光を発光したりして2次元画像を取得するための撮影を行う場合には、偏光手段を被写体の反射光の光路上から退避させることにより、画像取得手段に入射される光量を大きくすることができるため、露光時間を長くしたり、通常光の発光量を大きくしたりする必要がなくなり、その結果、容易に2次元画像を取得することができる。
また、光源から発光された光を分割し、分割された光の偏光方向を所定方向に揃えた後に合成し、合成後の光をパターン光に変換することにより、偏光されているにも拘わらずパターン光の光量を大きくすることができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図1は本発明の第1の実施形態による3次元形状計測装置の外観斜視図である。図1に示すように本実施形態による3次元形状計測装置1は、第1のカメラ2、第2のカメラ3、プロジェクタ4、演算部5、モニタ6および入力部7を備える。
第1および第2のカメラ2,3は、所定間隔を空けかつ所定の輻輳角を持って配置されており、演算部5からの指示に応じて、被写体をそれぞれ異なる位置から撮影することにより、被写体の3次元形状の計測に使用する基準画像G1および参照画像G2をそれぞれ取得する。なお、取得した基準画像G1および参照画像G2は演算部5に入力されて、被写体の3次元形状の計測に用いられる。ここで、3次元形状計測用の基準画像G1および参照画像G2のみならず、色情報を有する2次元画像を取得する指示がなされる場合もある。この場合は第1のカメラ2のみにより撮影を行うことにより2次元画像を取得するものとする。なお、第1および第2のカメラ2,3が画像取得手段に相当する。
プロジェクタ4は、演算部5からの指示により、ランダムドットパターン等の所定のパターンからなるパターン光を被写体に向けて照射するためのものであり、LED等の白色光を発する光源11、光源11から発せられた光をパターン光に変換する第1のフィルタ部12、およびパターン光を偏光するための第2のフィルタ部13を備える。なお、プロジェクタ4および後述する照射制御部21が照射手段に相当する。
第1のフィルタ部12は、円盤12A上においてその中心を挟んだ対向する位置に、透過する光が所定パターンを有するものとなるようにパターンが印刷されたパターンフィルタ12Bおよび透明フィルタ12Cが取付けられることにより構成されている。円盤12Aは、モータ12Dにより、その中心を通り光源11から発せられた光の光路X0に平行な回転軸の周囲に回転可能とされている。これにより、演算部5からの指示によって、パターンフィルタ12Bおよび透明フィルタ12Cを、光路X0上に切り替えて配置することが可能とされている。
第2のフィルタ部13は、円盤13A上においてその中心を挟んだ対向する位置に、パターン光を図中x方向に偏光するための偏光フィルタ13Bおよび透明フィルタ13Cが取付けられることにより構成されている。円盤13Aは、モータ13Dにより光路X0に平行な回転軸の周囲に回転可能とされている。これにより、演算部5からの指示によって、偏光フィルタ13Bおよび透明フィルタ13Cを光路X0上に切り替えて配置することが可能とされている。
そして、パターンフィルタ12Bおよび偏光フィルタ13Bを光路X0上に位置せしめることにより、プロジェクタ4から出射される光は、x方向に偏光されたパターン光となる。なお、第1および第2のフィルタ部12,13の配置を逆にし、光源11から発せられた光を偏光した後にパターン光に変換してもよい。
第1のカメラ2の前面にはフィルタ部14が配設されている。フィルタ部14は、円盤14A上においてその中心を挟んだ対向する位置に、被写体により反射されたパターン光を図中y方向に偏光するための偏光フィルタ14Bおよび透明フィルタ14Cが取付けられることにより構成されている。円盤14Aは、モータ14Dにより、その中心を通り第1のカメラ2に入射する光の光路X1に平行な回転軸の周囲に回転可能とされている。これにより、演算部5からの指示によって、偏光フィルタ14Bおよび透明フィルタ14Cを光路X1上に切り替えて配置することが可能とされている。
第2のカメラ3の前面にはフィルタ部15が配設されている。フィルタ部15は、円盤15A上においてその中心を挟んだ対向する位置に、被写体により反射されたパターン光を図中y方向に偏光するための偏光フィルタ15Bおよび透明フィルタ15Cが取付けられることにより構成されている。円盤15Aは、モータ15Dにより、その中心を通り第2のカメラ3に入射する光の光路X2に平行な回転軸の周囲に回転可能とされている。これにより、演算部5からの指示によって、偏光フィルタ15Bおよび透明フィルタ15Cを光路X2上に切り替えて配置することが可能とされている。なお、フィルタ部14,15、および後述する第2のフィルタ制御部25が偏光手段および偏光制御手段に相当する。
演算部5は、被写体の3次元形状の計測のために必要な演算を行うとともに、第1のカメラ2、第2のカメラ3およびプロジェクタ4の駆動を制御する。
図2は演算部5の構成を示す概略ブロック図である。図2に示すように演算部5は、プロジェクタ4における光源11の駆動を制御する照射制御部21、第1のフィルタ部12の駆動を制御する第1のフィルタ制御部22、第2のフィルタ部13の駆動を制御する第2のフィルタ制御部23、第1および第2のカメラ2,3の動作を制御する撮影制御部24、フィルタ部14,15の駆動を制御する第3のフィルタ制御部25、パターン光が照射された被写体を撮影することにより取得された基準画像G1および参照画像G2を用いて被写体の3次元形状を計測する計測部26、および演算部5の全体の動作を制御する全体制御部27を備え、照射制御部21、第1のフィルタ制御部22、第2のフィルタ制御部23、撮影制御部24、第3のフィルタ制御部25、計測部26および全体制御部27が、モニタ6および入力部7とともにバス28により接続されている。
全体制御部27は、CPU27A、作業領域となるRAM27Bおよび操作/制御プログラムを含む各種情報が記憶されているROM27Cからなる。
照射制御部21は、入力部7への指示に基づく全体制御部27からの指示により、光源11のオン、オフを制御する。
第1のフィルタ制御部22は、操作者が行った入力部7への指示に基づく全体制御部27からの指示に応じて、第1のフィルタ部12のパターンフィルタ12Bおよび透明フィルタ12Cのいずれかを光路X0上に位置せしめるために、モータ12Dを回転する指示を行う。
第2のフィルタ制御部22は、操作者が行った入力部7への指示に基づく全体制御部27からの指示に応じて、第2のフィルタ部13の偏光フィルタ13Bおよび透明フィルタ13Cのいずれかを光路X0上に位置せしめるために、モータ13Dを回転する指示を行う。
撮影制御部24は、入力部7から3次元形状計測の指示がなされている場合、被写体を撮影して基準画像G1および参照画像G2を取得する指示を第1および第2のカメラ2,3に対して行う。また、入力部7から2次元画像取得の指示がなされている場合、被写体を撮影して2次元画像を取得する指示を第1のカメラ2に対して行う。
第3のフィルタ制御部25は、操作者が行った入力部7への指示に基づく全体制御部27からの指示に応じて、フィルタ部14,15の偏光フィルタ14B,15Bおよび透明フィルタ14C,15Cのいずれかを光路X1,X2上に位置せしめるために、モータ14D,15Dを回転する指示を行う。
計測部26は、パターン光が照射された被写体を撮影することにより第1および第2のカメラ2,3が取得した基準画像G1および参照画像G2に基づいて、被写体の3次元形状を計測する。すなわち、基準画像G1および参照画像G2上にマッチングウィンドウを設定し、エピポーラ線の情報を用いて、基準画像G1および参照画像G2上の画素の対応付けを行って対応点を求める。ここで、計測部26は、第1および第2のカメラ2,3のレンズの光路と撮像面との位置関係を表す内部パラメータ、並びに第1および第2のカメラ2,3の位置関係を表す外部パラメータをROM27Cに記憶しており、内部パラメータおよび外部パラメータを参照して画素の対応付けを行って対応点を求める。なお、内部パラメータおよび外部パラメータは、あらかじめカメラキャリブレーションにより求められ、ROM27Cに記憶されている。そして、計測部26は、画素の対応付けが終了すると、対応点に基づいて被写体の3次元形状を算出し、算出結果を距離画像としてモニタ6に出力する。
次いで、第1の実施形態において行われる処理について説明する。図3および図4は第1の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。まず、全体制御部27が、被写体に光を照射して撮影を行う指示が入力部7からなされているか否かを判定する(ステップST1)。ステップST1が肯定されると、照射制御部21が光源11をオンとし(ステップST2)、さらに全体制御部27が、パターン光を照射する指示が入力部7からなされているか否かを判定する(ステップST3)。
ステップST3が肯定されると、被写体にパターン光を照射して3次元形状計測用の画像を取得する指示がなされていることから、全体制御部27がプロジェクタ4に対するパターン光発光の設定を行い(ステップST4)、第1および第2のカメラ2,3に対する偏光光を受光する設定を行う(ステップST5)。
すなわち、全体制御部27からの指示により、第1のフィルタ制御部22が、パターンフィルタ12Bが光源11から発せられる光の光路X0上に位置するように第1のフィルタ部12を回転させる指示を、モータ12Dに対して行う。また、第2のフィルタ制御部23が、偏光フィルタ13Bが光路X0上に位置するように第2のフィルタ部13を回転させる指示を、モータ13Dに対して行う。また、第3のフィルタ制御部25が、偏光フィルタ14B,15Bが第1および第2のカメラ2,3に入射する光の光路X1,X2上にそれぞれ位置するようにフィルタ部14,15を同期させて回転させる指示を、モータ14D,15Dに対して行う。
これにより、光源11から発せられた光は、パターンフィルタ12Bによりパターン光に変換され、さらに偏光フィルタ13Bによりx方向に偏光されて被写体に照射される。一方、被写体において反射されたパターン光は、偏光フィルタ14B,15Bによりy方向に偏光され、第1および第2のカメラ2,3に入射する。偏光フィルタ13Bの偏光方向と偏光フィルタ14B,15Bの偏光方向とは90度異なるため、被写体において反射したパターン光のうちの拡散光および環境光は第1および第2のカメラ2,3に入射するが、パターン光の正反射光は第1および第2のカメラ2,3には入射しないこととなる。
次いで撮影制御部24が第1および第2のカメラ2,3により撮影を行い(ステップST6)、計測部26が基準画像G1および参照画像G2の画素の対応付けを行って対応点を求める(ステップST7)。そして、計測部26は対応点に基づいて被写体の3次元形状を算出し(ステップST8)、算出結果である距離画像をモニタ6に表示し(ステップST9)、処理を終了する。
一方、ステップST3が否定されると、全体制御部27は、3次元形状計測の指示が入力部7からなされているか否かを判定し(ステップST10)、ステップST10が肯定されると、被写体を明るくするためにパターン光ではない通常光を被写体に照射して3次元形状計測用の画像を取得する指示がなされていることから、プロジェクタ4に対する通常光発光の設定を行い(ステップST11)、第1および第2のカメラ2,3に対する通常光を受光する設定を行う(ステップST12)。
すなわち、全体制御部27からの指示により、第1のフィルタ制御部22が、透明フィルタ12Cが光路X0上に位置するように第1のフィルタ部12を回転させる指示をモータ12Dに対して行う。また、第2のフィルタ制御部23が、透明フィルタ13Cが光路X0上に位置するように第2のフィルタ部13を回転させる指示を、モータ13Dに対して行う。また、第3のフィルタ制御部25が、透明フィルタ14C,15Cが光路X1,X2上にそれぞれ位置するようにフィルタ部14,15を同期させて回転させる指示をモータ14D,15Dに対して行う。
これにより、光源11から発せられた光は、透明フィルタ12C,13Cを透過して被写体に照射される。一方、被写体において反射された光は、透明フィルタ14C,15Cを透過して第1および第2のカメラ2,3に入射する。この後、ステップST6の処理に進む。
ステップST10が否定されると、被写体を明るくするためにパターン光ではない通常光を被写体に照射して2次元画像を取得する指示がなされていることから、全体制御部27は、プロジェクタ4に対する通常光発光の設定を行い(ステップST13)、第1のカメラ2に対する通常光を受光する設定を行う(ステップST14)。
すなわち、全体制御部27からの指示により、第1のフィルタ制御部22が、透明フィルタ12Cが光路X0上に位置するように第1のフィルタ部12を回転させる指示をモータ12Dに対して行う。また、第2のフィルタ制御部23が、透明フィルタ13Cが光路X0上に位置するように第2のフィルタ部13を回転させる指示をモータ13Dに対して行う。また、第3のフィルタ制御部25が、透明フィルタ14Cが第1のカメラ2に入射する光の光路X1上に位置するようにフィルタ部14を回転させる指示を、モータ14Dに対して行う。
これにより、光源11から発せられた光は、透明フィルタ12C,13Cを透過して被写体に照射される。一方、被写体により反射された光は、透明フィルタ14Cを透過して第1のカメラ2に入射する。
次いで撮影制御部24が第1のカメラ2により撮影を行い(ステップST15)、2次元画像をモニタ6に表示し(ステップST16)、処理を終了する。
一方、ステップST1が否定されると、何ら光を照射することなく被写体を撮影して3次元形状計測用の画像を取得する指示がなされていることから、照射制御部21が光源をオフとし(ステップST17)、全体制御部27が3次元形状計測の指示がなされているか否かを判定する(ステップST18)。ステップST18が肯定されると、何ら光を照射することなく3次元形状計測用の画像を取得する指示がなされていることから、全体制御部27は、第1および第2のカメラ2,3に対する通常光を受光する設定を行う(ステップST19)。
すなわち、全体制御部27からの指示により、第3のフィルタ制御部25が、透明フィルタ14C,15Cが光路X1,X2上にそれぞれ位置するようにフィルタ部14,15を同期させて回転させる指示をモータ14D,15Dに対して行う。これにより、被写体により反射された光は、透明フィルタ14C,15Cを透過して第1および第2のカメラ2,3に入射する。この後、ステップST6の処理に進む。なお、この場合、第1および第2のフィルタ12,13に対しては何ら制御を行っていないが、いずれかのフィルタを光路X0上に位置させるようにしてもよい。
ステップST18が否定されると、何ら光を照射することなく2次元画像を取得する指示がなされていることから、全体制御部27は、第1のカメラ2に対する通常光を受光する設定を行う(ステップST20)。すなわち、全体制御部27からの指示により、第3のフィルタ制御部25が、透明フィルタ14Cが光路X1上に位置するようにフィルタ部14を同期させて回転させる指示を、モータ14Dに対して行う。これにより、被写体からの光は、透明フィルタ14Cを透過して第1のカメラ2に入射する。この後、ステップST15の処理に進む。
このように、本実施形態によれば、x方向に偏光されたパターン光が被写体に照射され、被写体によるパターン光の反射光がy方向に偏光され、この偏光光に基づいて取得された基準画像G1および参照画像G2に含まれるパターン光に基づいて、被写体の3次元形状が計測される。これにより、第1および第2のカメラ2,3に入射される光から、被写体におけるパターン光の正反射光の成分を除去することができるため、基準画像G1および参照画像G2におけるパターン光の輝度の相違を低減でき、その結果、被写体の3次元形状を精度よく測定することができる。
とくに、基準画像G1および参照画像G2に含まれるパターン光の位置に基づいて、基準画像G1および参照画像G2における画素の対応付けを行って被写体の3次元形状を計測する場合においては、基準画像G1および参照画像G2における対応するパターン光の輝度の相違を低減できるため、ステレオ法を用いての被写体の3次元形状の計測を精度よく行うことができる。
また、パターン光の発光を停止したり、通常光を発光したりして2次元画像を取得するための撮影を行う場合には、フィルタ部14の偏光フィルタ14Aを第1のカメラ2に入射する光の光路X1から退避させるようにしたため、第1のカメラ2に入射される光量を大きくすることができる。したがって、露光時間を長くしたり、通常光の発光量を大きくしたりする必要がなくなり、その結果、容易に2次元画像を取得することができる。
なお、上記第1の実施形態においては、2台のカメラを使用しているが、3台以上のカメラを使用し、複数の画像を用いて被写体の3次元形状を計測してもよい。
次いで、本発明の第2の実施形態について説明する。なお、第2の実施形態においてはプロジェクタの構成のみが第1の実施形態と異なるため、ここではプロジェクタの構成についてのみ説明する。図5は本発明の第2の実施形態による3次元形状計測装置におけるプロジェクタの構成を示す図である。図5に示すように第2の実施形態による3次元形状計測装置のプロジェクタ4Aは、LED等の光を発する光源41、光源41から発せられた光L0を偏光方向が直交する2つの光L1,L2に分割するための偏光ビームスプリッタ42、光L2の光路を光L1と平行にするためのミラー43、ミラー43により反射された光L2の偏光方向を光L1と一致させるための回転子44、回転子44により偏光方向が回転された光L2′の光路を光L1に向けて90度変更するためのミラー45、光L2′と光L1とを合成するハーフミラー46、および第1の実施形態と同様の第1のフィルタ部12を備える。
また、プロジェクタ4Aは、光源41と偏光ビームスプリッタ42との間における、光源41から発せられた光の光路X0上に出し入れ自在に配置されたミラー47、ミラー47により反射された光L0の光路を変更するためのミラー48,49および光路X0上に配置されたハーフミラー50を備える。
第2の実施形態によるプロジェクタ4Aにおいては、パターン光を出射する場合には、ミラー47を光L0の光路から退避させる。これにより、光源41から発せられた光L0は、偏光ビームスプリッタ42により光L1,L2に分割される。なお、光L1の偏光方向はx方向、光L2の偏光方向はy方向となる。光L2はミラー43により光路が変更され、回転子44により偏光方向が光L1と一致するx方向となるように回転される。そして、偏光方向がx方向となった光L2′はミラー45により光路が変更され、ハーフミラー46により光L1と合成され、第1のフィルタ部12およびハーフミラー50を透過して、プロジェクタ4Aから出射される。
一方、通常光を出射する場合には、図6に示すようにミラー47を光L0の光路X0上に位置せしめる。これにより、光源41から発せられた光L0は、ミラー47により反射され、さらにミラー48,49により反射され、最後にハーフミラー50により光路X0上に光路が変更されて、プロジェクタ4Aから出射される。
このようにプロジェクタ4Aを構成することにより、プロジェクタ4Aから発せられるパターン光の光量を第1の実施形態の2倍とすることができるため、より正確に被写体の3次元形状を計測することができる。
次いで、本発明の第3の実施形態について説明する。図7は本発明の第3の実施形態によるによる3次元形状計測装置の外観斜視図である。なお、図7において第1の実施形態と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。
第3の実施形態による3次元形状計測装置1Aは、TOF方式の距離測定法により被写体の3次元形状を計測するためのものであり、光源11に代えて、光を発する光源51を有するプロジェクタ4Bを備えるとともに、第1のカメラ2およびフィルタ部14のみを備えてなる。なお、演算部5は、光源51から発せられる光を所定周期により変調する変調制御部、および上述したTOF方式の距離測定方法によりカメラ2に設けられた撮像素子の受光素子毎に距離情報を算出することにより被写体の3次元形状を計測する計測部を備えてなる。
このようにTOF方式の距離測定法を用いる場合においても、光源51から出射される光を第1のフィルタ12によりパターン光に変換するとともに、第2のフィルタ13により偏光して、偏光されたパターン光を被写体に照射することが可能である。また、パターン光の照射時において、第1のカメラ2に入射される光を、パターン光の偏光方向と直交する方向に偏光することにより、変調されたパターン光の被写体による正反射光が第1のカメラ2に入射することを防止できる。このため、TOF方式により距離測定法を用いた場合においても、被写体における正反射光の第1のカメラ2への入射を防止することができるため、被写体の3次元形状を精度よく計測することができる。
なお、上記第3の実施形態においては、プロジェクタ4Bとして、第2の実施形態におけるプロジェクタ4Aを用いることも可能である。これにより、変調されたパターン光の光量をより大きくすることができる。
また、上記第3の実施形態において、2次元画像を取得する場合には、フィルタ部14の透明フィルタ14Cを光軸X1上に位置せしめればよい。
また、上記第3の実施形態においては、TOF方式の距離測定法により被写体の3次元形状を計測しているが、上述した空間コード化法を用いて距離を測定する場合にも適用できる。この場合、光源51に代えて、第1および第2の実施形態と同様の光源11,41を使用し、第1のフィルタ12に用いるパターンフィルタ12Aとして、明暗のピッチが倍々に変化する多数のフィルタを用意しておき、明暗のピッチが異なるパターン光を順次被写体に照射して、被写体の3次元形状を計測するようにすればよい。
以上、本発明の実施形態に係る装置1について説明したが、コンピュータを、上記の第1のフィルタ制御部22、第2のフィルタ制御部23、撮影制御部24、第3のフィルタ制御部25および計測部26に対応する手段として機能させ、図3,4に示すような処理を行わせるプログラムも、本発明の実施形態の1つである。また、そのようなプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体も、本発明の実施形態の1つである。
1,1A 3次元形状計測装置
2,3 カメラ
4,4A,4B プロジェクタ
5 演算部
6 モニタ
7 入力部
11,41,51 光源
12 第1のフィルタ部
13 第2のフィルタ部
14,15 フィルタ部
21 照射制御部
22 第1のフィルタ制御部
23 第2のフィルタ制御部
24 撮影制御部
25 第3のフィルタ制御部
26 計測部
27 全体制御部
2,3 カメラ
4,4A,4B プロジェクタ
5 演算部
6 モニタ
7 入力部
11,41,51 光源
12 第1のフィルタ部
13 第2のフィルタ部
14,15 フィルタ部
21 照射制御部
22 第1のフィルタ制御部
23 第2のフィルタ制御部
24 撮影制御部
25 第3のフィルタ制御部
26 計測部
27 全体制御部
Claims (9)
- 被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段と、
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測する計測手段とを備えたことを特徴とする3次元形状計測装置。 - 前記照射手段が、前記パターン光および通常光を切り替え可能に発光する手段であり、
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時および前記通常光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1記載の3次元形状計測装置。 - 前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1記載の3次元形状計測装置。
- 前記照射手段は、光を発光する光源、該光を分割するに際し、該分割により得られる一方の光を前記所定方向に偏光して分割する分割手段、該分割された光のうちの他方の光の偏光方向を前記所定方向に回転する回転手段、該偏光方向が回転された後の前記他方の光を前記一方の光と合成する合成手段、および前記合成後の光を前記パターン光に変換する変換手段とを備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載の3次元形状計測装置。
- 前記画像取得手段は、前記被写体を撮影することにより複数の前記計測用画像を取得する少なくとも1つの撮影手段を有し、
前記計測手段は、前記計測用画像に含まれる前記パターン光の位置に基づいて、前記複数の計測用画像における画素の対応付けを行って、前記被写体までの距離を算出する手段であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載の3次元形状計測装置。 - 前記照射手段は、所定周期にて強度が時間的に変化するように変調された前記パターン光を前記被写体に照射する手段であり、
前記画像取得手段は、前記反射光の光量に応じた受光信号を出力する1以上の受光素子を有する撮影手段を有し、
前記計測手段は、前記受光信号から得られる前記計測用画像に基づいて、前記被写体までの距離を算出する手段であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載の3次元形状計測装置。 - 所定方向に偏光されたパターン光を被写体に照射し、
前記被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光し、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測することを特徴とする3次元形状計測方法。 - 所定方向に偏光されたパターン光を被写体に照射する手順と、
前記被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する手順と、
前記計測用画像に含まれる前記パターン光に基づいて、前記被写体の3次元形状を計測する手順とを有することを特徴とする3次元形状計測方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。 - 被写体を撮影することにより、該被写体の3次元形状を計測するための計測用画像を取得する画像取得手段と、
所定方向に偏光されたパターン光を前記被写体に照射する照射手段と、
前記画像取得手段に入射される、前記被写体による前記パターン光の反射光を前記所定方向と異なる方向に偏光する偏光手段と、
前記画像取得手段に入射される前記反射光の光路上に、前記偏光手段を出し入れ可能に移動する偏光制御手段であって、前記照射手段による前記パターン光の発光時に前記偏光手段を前記反射光の光路上に位置せしめ、前記照射手段による前記パターン光の発光停止時に前記偏光手段を前記反射光の光路上から退避させる偏光制御手段を備えたことを特徴とする3次元形状計測用撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008243824A JP2010078339A (ja) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | 3次元形状計測装置および方法並びにプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008243824A JP2010078339A (ja) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | 3次元形状計測装置および方法並びにプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010078339A true JP2010078339A (ja) | 2010-04-08 |
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ID=42208982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008243824A Abandoned JP2010078339A (ja) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | 3次元形状計測装置および方法並びにプログラム |
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JP (1) | JP2010078339A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012002780A (ja) * | 2010-06-21 | 2012-01-05 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 形状計測装置、形状計測方法、および半導体パッケージの製造方法 |
WO2016027797A1 (ja) * | 2014-08-19 | 2016-02-25 | 国立大学法人徳島大学 | ゴーストイメージングを利用した物質測定装置 |
KR20180065896A (ko) * | 2016-12-07 | 2018-06-18 | 한국전자통신연구원 | 3차원 정보 생성 장치 |
JP2020176849A (ja) * | 2019-04-15 | 2020-10-29 | キヤノン株式会社 | 3次元計測装置及び3次元計測方法 |
US11733362B2 (en) | 2018-06-08 | 2023-08-22 | Fanuc Corporation | Distance measuring apparatus comprising deterioration determination of polarizing filters based on a reflected polarized intensity from a reference reflector |
-
2008
- 2008-09-24 JP JP2008243824A patent/JP2010078339A/ja not_active Abandoned
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