JP2008032958A - Lighting inspection device and lighting inspection method for display panel - Google Patents

Lighting inspection device and lighting inspection method for display panel Download PDF

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Ikuhisa Maeda
育久 前田
Masaji Nakazono
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lighting inspection device for a display panel that can inspect the display performance of the display panel, especially color unevenness by removing an influence of a warp of the display panel as much as possible even when the display panel warps. <P>SOLUTION: A spacer 24 is provided so as to be disposed in a region corresponding to a predetermined region of a lower substrate 11, the predetermined region including an electrode part. A probe 32 has a surface part (a surface abutting on the electrode part) which can abut on only the predetermined region including the electrode part on a surface of the lower substrate 11. When the lower substrate 11 warps, a correction range of the warp becomes small even if the probe 32 presses the lower substrate 11 when abutting on the electrode part. Namely, the warp is difficult to correct. When color unevenness is detected, the color unevenness is highly likely to be caused by a failure of a liquid crystal panel 1. Namely, the liquid crystal display panel 1 can exhibit desired performance, and the color unevenness is less likely to be generated owing to correction of warp. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、表示パネルの色むら等を検出するための検査に使用される検査装置および検査方法であって、特に、表示パネルを点灯させることによって検査を行う表示パネルの点灯検査装置および点灯検査方法に関する。   The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method used for inspection for detecting color unevenness and the like of a display panel, and in particular, a display panel lighting inspection apparatus and a lighting inspection for performing inspection by lighting the display panel Regarding the method.

液晶表示パネルを検査する点灯検査装置における検査信号出力装置として、液晶表示パネルの電極端子(例えば、走査電極端子や信号電極端子)に印加する検査用の駆動信号を発生する駆動信号発生部と、駆動信号発生部が発生した駆動信号を伝達するプローブとを有し、プローブを電極端子に当接させることによって、全ての電極端子に駆動信号を供給するように構成されたものがある(例えば、特許文献1参照。)。なお、このような検査を全点灯検査という。以下、全点灯検査を単に点灯検査という。   As a test signal output device in a lighting inspection device for inspecting a liquid crystal display panel, a drive signal generator for generating a test drive signal to be applied to an electrode terminal (for example, a scan electrode terminal or a signal electrode terminal) of the liquid crystal display panel; There is a probe that transmits a drive signal generated by the drive signal generator, and is configured to supply a drive signal to all the electrode terminals by bringing the probe into contact with the electrode terminals (for example, (See Patent Document 1). Such an inspection is called a full lighting inspection. Hereinafter, the full lighting test is simply referred to as a lighting test.

また、特許文献2に記載されているように、検査対象の液晶表示パネルがステージに載置され、その状態で、検査信号出力装置におけるプローブを液晶表示パネルの電極端子に対して下降させる。プローブが液晶表示パネルの電極端子に当接すると、電極端子に駆動信号が供給される。   Further, as described in Patent Document 2, a liquid crystal display panel to be inspected is placed on a stage, and in this state, the probe in the inspection signal output device is lowered with respect to the electrode terminals of the liquid crystal display panel. When the probe comes into contact with the electrode terminal of the liquid crystal display panel, a drive signal is supplied to the electrode terminal.

特開2004−144697号公報(段落0028−0029、図1)Japanese Patent Laying-Open No. 2004-144697 (paragraphs 0028-0029, FIG. 1) 特開2003−166901号公報(段落0012−0015、図1)JP 2003-166901 A (paragraphs 0012-0015, FIG. 1)

図5および図6は、特許文献1,2に記載されているような点灯検査装置を用いて液晶表示パネルの点灯検査を行う様子を模式的に示す説明図である。図5(B)には、液晶表示パネル1および点灯検査装置を図5(A)に示されるように眺めた場合とは視点を90°変えて眺めた場合の液晶表示パネル1および点灯検査装置が示されている。すなわち、図5(B)には、図5(A)における右側から眺めた場合の液晶表示パネル1および点灯検査装置が示されている。また、図6(A)には、検査信号出力装置33におけるプローブ34が下側基板11に設けられている電極端子に接している状態が示されている。   FIG. 5 and FIG. 6 are explanatory diagrams schematically showing how the liquid crystal display panel is inspected for lighting using the lighting inspection apparatus described in Patent Documents 1 and 2. FIG. FIG. 5B shows the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device when the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device are viewed with a viewpoint changed by 90 ° from the case where the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device are viewed as shown in FIG. It is shown. That is, FIG. 5 (B) shows the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device as viewed from the right side in FIG. 5 (A). FIG. 6A shows a state where the probe 34 in the inspection signal output device 33 is in contact with the electrode terminal provided on the lower substrate 11.

液晶表示パネル1は、下側基板11と上側基板12とが対向し、それらの間に液晶が封入された構成を有する。そして、下側基板11には、上側基板12と対向しない部分がある。その部分には、液晶表示パネル1に配設された電極に駆動信号を与える駆動用ICがCOG(Chip On Glass )実装される。ただし、点灯検査は、駆動用ICが実装される前に実行される。   The liquid crystal display panel 1 has a configuration in which a lower substrate 11 and an upper substrate 12 face each other, and liquid crystal is sealed between them. The lower substrate 11 has a portion that does not face the upper substrate 12. In this portion, a driving IC for applying a driving signal to the electrodes arranged on the liquid crystal display panel 1 is mounted by COG (Chip On Glass). However, the lighting inspection is performed before the driving IC is mounted.

液晶表示パネル1は、ステージ21上に配置されたステージ22,23の上に載置される。図5に示す例では、駆動用ICの実装位置(具体的には、実装位置の裏面)がステージ23上に位置し、液晶表示パネル1における駆動用ICの実装位置の反対側がステージ22上に位置するように、液晶表示パネル1が載置されている。   The liquid crystal display panel 1 is placed on stages 22 and 23 disposed on the stage 21. In the example shown in FIG. 5, the mounting position of the driving IC (specifically, the back surface of the mounting position) is located on the stage 23, and the opposite side of the driving IC mounting position in the liquid crystal display panel 1 is on the stage 22. The liquid crystal display panel 1 is placed so as to be positioned.

検査信号出力装置33は、駆動用ICに代わって駆動信号を出力する駆動信号生成部31と、駆動信号生成部31からの駆動信号を下側基板11に設けられている電極端子に伝達するための導電性部材によるプローブ34とを備えている。そして、駆動信号生成部31から駆動信号が出力されている状態で、検査信号出力装置33が昇降機構(図示せず)によって、下側基板11に設けられている電極端子に向かって下降する。図6(A)に示すように、プローブ34が下側基板11に設けられている電極端子に当接すると、駆動信号生成部31からの駆動信号が電極端子に入力される。   The inspection signal output device 33 transmits a drive signal from the drive signal generation unit 31 to an electrode terminal provided on the lower substrate 11 and outputs a drive signal instead of the drive IC. And a probe 34 made of a conductive member. Then, in a state where the drive signal is output from the drive signal generation unit 31, the inspection signal output device 33 is lowered toward the electrode terminal provided on the lower substrate 11 by the lifting mechanism (not shown). As shown in FIG. 6A, when the probe 34 comes into contact with the electrode terminal provided on the lower substrate 11, the drive signal from the drive signal generation unit 31 is input to the electrode terminal.

液晶表示パネル1において、電極に断線が全く生じていなければ、液晶表示パネル1の全画素が同じ明るさで点灯する。断線が生じている電極がある場合には、その電極に関わる画素が点灯しない。また、断線が生じていなくても、色むらの原因になる不具合(電極の形成不良など)が生じていれば、全画素が同じ明るさにはならない。なお、例えば、液晶表示パネル1が複数の走査電極と複数の信号電極とがマトリクス状に配されているパネルである場合には、検査信号出力装置33から、全ての走査電極に走査信号として同じ電圧が印加され、全ての信号電極にオン電圧として同じ電圧が印加される。   In the liquid crystal display panel 1, all the pixels of the liquid crystal display panel 1 are lit with the same brightness if no disconnection occurs in the electrodes. When there is an electrode in which a disconnection occurs, a pixel related to the electrode is not lit. Even if no disconnection occurs, all pixels do not have the same brightness as long as a defect that causes color unevenness (such as defective electrode formation) occurs. For example, when the liquid crystal display panel 1 is a panel in which a plurality of scanning electrodes and a plurality of signal electrodes are arranged in a matrix, the inspection signal output device 33 applies the same scanning signal to all the scanning electrodes. A voltage is applied, and the same voltage is applied as an on-voltage to all signal electrodes.

液晶表示パネルを作製したときに、液晶表示パネル1に反りが生ずることがある。反り量(例えば、液晶表示パネル1において、端部を基準にした場合の、反りが生じている部分における最も凸の箇所または最も凹も箇所の高さ)が数μm(例えば、5μm)である。反りは、下側基板11と上側基板12とをシール材を介して熱圧着する際の圧力の不均一や、下側基板11と上側基板12との間に介在するスペーサの不均一分布等によって生ずる。1つの液晶表示パネル1において、複数箇所において反りが生じている場合、それらの反り量および反りの方向はばらばらである。また、複数の液晶表示パネル1の間でも、反り量および反りの方向はばらばらである。   When the liquid crystal display panel is manufactured, the liquid crystal display panel 1 may be warped. The amount of warpage (for example, in the liquid crystal display panel 1, the height of the most convex portion or the most concave portion in the warped portion when the end portion is used as a reference) is several μm (for example, 5 μm). . The warpage is caused by non-uniform pressure when thermocompression bonding the lower substrate 11 and the upper substrate 12 with a sealing material, non-uniform distribution of spacers interposed between the lower substrate 11 and the upper substrate 12, or the like. Arise. In a single liquid crystal display panel 1, when warping occurs at a plurality of locations, the amount of warping and the direction of warping are different. Further, even between the plurality of liquid crystal display panels 1, the amount of warping and the direction of warping are different.

図6(B)に示すように、反りが下側基板11における電極端子が設けられている部分(電極部)にまで及んでいる場合に、図5および図6(A)に示されたような点灯検査を実施すると、反りが矯正された状態になって、すなわち下側基板11が平坦になって、電極部に駆動信号が入力されることがある。   As shown in FIG. 6B, when the warping reaches the portion (electrode portion) where the electrode terminal is provided on the lower substrate 11, as shown in FIG. 5 and FIG. When a proper lighting inspection is performed, the warping may be corrected, that is, the lower substrate 11 may become flat, and a drive signal may be input to the electrode portion.

特に、人手でプローブ34を電極部に当接させるような点灯検査が行われるときには、検査信号出力装置33の押下によって反りが矯正された状態になりやすい。また、図6(B)に示すように反りが生じている場合に、液晶表示パネル1が上から押下されると反りがなくなる方向に容易に撓むので、人手を介さずに所定の機構で自動的にプローブ34を電極部に当接させるような点灯検査が行われるときにも、反りが矯正された状態になりやすい。   In particular, when a lighting inspection is performed in which the probe 34 is brought into contact with the electrode portion by hand, the warp tends to be corrected by pressing the inspection signal output device 33. In addition, when the warp is generated as shown in FIG. 6B, the liquid crystal display panel 1 is easily bent in a direction in which the warp disappears when pressed from above, so that a predetermined mechanism can be used without intervention. Even when a lighting inspection is performed in which the probe 34 is automatically brought into contact with the electrode portion, the warp tends to be corrected.

液晶表示パネル1において微小な反りが生じていても、表示性能的には問題がないことが多い。逆に、反った状態で安定している液晶表示パネル1における反りを矯正すると、安定している状態が崩れるので、色むら等が生じやすくなる。すると、反りが矯正された状態で点灯検査が行われたときに色むらが検出されると、液晶表示パネル1の不具合に起因して色むらが生じたのか、それとも、液晶表示パネル1自体は所望の性能を発揮できるものであるが反りが矯正されたことに起因して色むらが生じたのか判別することができない。   Even if the liquid crystal display panel 1 is slightly warped, there is often no problem in display performance. On the other hand, when the warpage in the liquid crystal display panel 1 that is stable in the warped state is corrected, the stable state is broken, and thus uneven color or the like is likely to occur. Then, if the color unevenness is detected when the lighting inspection is performed with the warp corrected, whether the color unevenness has occurred due to the malfunction of the liquid crystal display panel 1, or the liquid crystal display panel 1 itself is Although the desired performance can be exhibited, it cannot be determined whether the color unevenness has occurred due to the correction of the warp.

そこで、本発明は、表示パネルにおいて反りが生じていても、その影響をできるだけ排除して、表示パネル自体の表示性能、特に、色むらの有無を検査することができる表示パネルの点灯検査装置および点灯検査方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention eliminates the influence as much as possible even if the display panel is warped, and the display performance of the display panel, particularly a display panel lighting inspection device capable of inspecting the presence or absence of color unevenness, and It aims at providing the lighting inspection method.

本発明による表示パネルの点灯検査装置は、表示パネルの基板に形成されている電極部に駆動信号を与えて表示パネルの点灯状態を検査する点灯検査装置であって、表示パネルを保持する保持部と、駆動信号を出力する駆動信号生成部を有する検査信号出力装置とを備え、保持部は、表示パネルの裏面で電極部を含む所定領域に相当する領域にのみ当接可能な表面部を有するスペーサ部材を含み、検査信号出力装置は、駆動信号生成部が出力した駆動信号を電極部に伝達する部材であって、表示パネルの表面で電極部を含む所定領域にのみ当接可能な表面部を有する信号伝達部材を含むことを特徴とする。   A lighting inspection apparatus for a display panel according to the present invention is a lighting inspection apparatus for inspecting a lighting state of a display panel by applying a drive signal to an electrode part formed on a substrate of the display panel, and a holding part for holding the display panel And an inspection signal output device having a drive signal generation unit that outputs a drive signal, and the holding unit has a surface portion that can contact only a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion on the back surface of the display panel. The inspection signal output device includes a spacer member, and the inspection signal output device is a member that transmits the drive signal output from the drive signal generation unit to the electrode unit, and can be contacted only with a predetermined region including the electrode unit on the surface of the display panel. It is characterized by including the signal transmission member which has.

信号伝達部材は、非シリコン系弾性部材で形成されていることが好ましい。   The signal transmission member is preferably formed of a non-silicon elastic member.

本発明による表示パネルの点灯検査方法は、表示パネルを保持する保持部と、駆動信号を出力する駆動信号生成部を有する検査信号出力装置とを用い、表示パネルの基板に形成されている電極部に駆動信号を与えて表示パネルの点灯状態を検査する点灯検査方法であって、保持部に、表示パネルの裏面で電極部を含む所定領域に相当する領域にのみ当接可能な表面部を有するスペーサ部材を設け、検査信号出力装置に、駆動信号生成部が出力した駆動信号を電極部に伝達する部材であって、表示パネルの表面で電極部を含む所定領域にのみ当接可能な表面部を有する信号伝達部材を設け、スペーサ部材の表面部を基準として、信号伝達部材の表面部が表示パネルの板厚に所定の反り量を加算した量に相当する位置になるように検査信号出力装置を設定した後に、信号伝達部材を電極部に当接させることを特徴とする。   The display panel lighting inspection method according to the present invention uses a holding unit for holding a display panel and an inspection signal output device having a drive signal generation unit for outputting a drive signal, and an electrode unit formed on a substrate of the display panel. A lighting inspection method for inspecting the lighting state of the display panel by supplying a driving signal to the holding portion, wherein the holding portion has a surface portion that can contact only a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion on the back surface of the display panel A surface member that is provided with a spacer member and transmits the drive signal output from the drive signal generator to the inspection signal output device to the electrode unit, and can contact only a predetermined region including the electrode unit on the surface of the display panel The signal transmission member is provided, and with the surface portion of the spacer member as a reference, the surface portion of the signal transmission member is located at a position corresponding to the amount obtained by adding a predetermined amount of warpage to the plate thickness of the display panel. After setting the, characterized in that is brought into contact with the signal transmission member to the electrode part.

本発明によれば、表示パネルにおいて反りが生じていても、その影響を受けないようにして、表示パネル自体の色むらの有無等の表示性能を検査することができる。   According to the present invention, even if the display panel is warped, the display performance such as color unevenness of the display panel itself can be inspected without being affected by the warp.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1は、本発明の第1の実施の形態の点灯検査装置を用いて液晶表示パネルの点灯検査を行う様子を模式的に示す説明図である。図1(B)には、図1(A)に示されるように液晶表示パネル1および点灯検査装置を眺めた場合とは視点を90°変えて眺めた場合の液晶表示パネル1および点灯検査装置が示されている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is an explanatory view schematically showing a state in which a lighting inspection of a liquid crystal display panel is performed using the lighting inspection device according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1B, as shown in FIG. 1A, the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device when the viewpoint is changed by 90 ° from the case where the liquid crystal display panel 1 and the lighting inspection device are viewed. It is shown.

液晶表示パネル1は、下側基板11と上側基板12とが対向し、それらの間に液晶が封入された構成を有する。そして、下側基板11には、上側基板12と対向しない部分がある。その部分には、液晶表示パネル1に配設された電極に駆動信号を与える駆動用ICが実装される。また、図1には、下側基板11の裏側(上側基板12に対向する側とは逆側)に設けられている偏光板13、および上側基板12の表側(下側基板11に対向する側とは逆側)に設けられている偏光板14も示されている。   The liquid crystal display panel 1 has a configuration in which a lower substrate 11 and an upper substrate 12 face each other, and liquid crystal is sealed between them. The lower substrate 11 has a portion that does not face the upper substrate 12. In this portion, a driving IC for applying a driving signal to the electrodes disposed on the liquid crystal display panel 1 is mounted. In FIG. 1, the polarizing plate 13 provided on the back side of the lower substrate 11 (the side opposite to the side facing the upper substrate 12) and the front side of the upper substrate 12 (side facing the lower substrate 11). The polarizing plate 14 provided on the opposite side) is also shown.

液晶表示パネル1は、ステージ21上に配置されたステージ22と、ステージ23の上部に設けられているスペーサ24の上に載置される。図1に示す例では、電極部がスペーサ24上に位置し、液晶表示パネル1における電極部の反対側がステージ22上に位置するように、液晶表示パネル1が載置されている。ステージ21,22,23およびスペーサ24は、液晶表示パネル1を保持する保持部に相当し、スペーサ24は、液晶表示パネル1の裏面で電極部を含む所定領域に相当する領域にのみ当接可能な表面部(電極部の裏面に対する当接面)を有するスペーサ部材に相当する。なお、検査時に、偏光板13がいずれの部材にも接触しないようにステージ21,22,23が形成されているので、検査時に偏光板13が損傷されることは防止される。   The liquid crystal display panel 1 is placed on a stage 22 disposed on the stage 21 and a spacer 24 provided on the stage 23. In the example shown in FIG. 1, the liquid crystal display panel 1 is placed so that the electrode portion is located on the spacer 24 and the opposite side of the electrode portion in the liquid crystal display panel 1 is located on the stage 22. The stages 21, 22, and 23 and the spacer 24 correspond to a holding portion that holds the liquid crystal display panel 1, and the spacer 24 can abut only on a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion on the back surface of the liquid crystal display panel 1. This corresponds to a spacer member having a smooth surface portion (a contact surface with respect to the back surface of the electrode portion). Since the stages 21, 22, and 23 are formed so that the polarizing plate 13 does not come into contact with any member during inspection, the polarizing plate 13 is prevented from being damaged during inspection.

検査信号出力装置30は、駆動用ICに代わって駆動信号を出力する駆動信号生成部31と、駆動信号生成部31からの駆動信号を下側基板11に設けられている電極端子に伝達するための導電性部材によるプローブ(信号伝達部材)32とを備えている。駆動信号生成部31から駆動信号が出力されている状態で、検査信号出力装置30が昇降機構(図示せず)によって、下側基板11に設けられている電極端子に向かって下降する。プローブ32が下側基板11に設けられている電極端子に当接すると、駆動信号生成部31からの駆動信号が電極端子に入力される。   The inspection signal output device 30 transmits a drive signal from the drive signal generation unit 31 to the electrode terminal provided on the lower substrate 11 and outputs a drive signal instead of the drive IC. And a probe (signal transmission member) 32 made of a conductive member. While the drive signal is output from the drive signal generator 31, the inspection signal output device 30 is lowered toward the electrode terminal provided on the lower substrate 11 by an elevating mechanism (not shown). When the probe 32 comes into contact with the electrode terminal provided on the lower substrate 11, the drive signal from the drive signal generation unit 31 is input to the electrode terminal.

なお、一例として、プローブ32は、非シリコン系の導電性弾性体(例えば、非シリコン系導電ゴム)で形成されている。非シリコン系の導電性弾性体によるプローブ32を用いた場合には、当然ながら、電極端子にシリコン系物質が付着することはない。検査後に、下側基板11における駆動用ICの実装部に駆動用ICが実際に実装されるが、その際に、一般に異方性導電膜を介して駆動用ICが実装される。電極端子にシリコン系物質が付着していると異方性導電膜の剥離が生じやすくなる。しかし、この実施の形態では、異方性導電膜の剥離の可能性が低減する。   As an example, the probe 32 is formed of a non-silicon conductive elastic body (for example, a non-silicon conductive rubber). When the probe 32 made of a non-silicon type conductive elastic body is used, naturally, no silicon type material adheres to the electrode terminal. After the inspection, the driving IC is actually mounted on the mounting portion of the driving IC on the lower substrate 11. At this time, the driving IC is generally mounted via an anisotropic conductive film. When the silicon-based material is attached to the electrode terminal, the anisotropic conductive film is easily peeled off. However, in this embodiment, the possibility of peeling of the anisotropic conductive film is reduced.

そして、液晶表示パネル1を目視することによって、または、液晶表示パネル1の表示面を撮像装置で撮像して表示装置に表示させて表示装置を目視することによって、もしくは撮像結果を画像処理することによって、電極の断線や色むらの発生を検出する。   Then, by visually observing the liquid crystal display panel 1, or by imaging the display surface of the liquid crystal display panel 1 with an imaging device and displaying the image on the display device, or performing image processing on the imaging result. Thus, the occurrence of electrode disconnection or color unevenness is detected.

図2は、下側基板11の表面(上側基板12に対向する側の面)における駆動用ICの実装部の周辺の一例を示す平面図である。図2に示す例では、駆動用ICの実装部41の一方側に、信号入力端子部42が形成されている。信号入力端子部42は、液晶表示パネル1の外部から画像信号等を入力するための端子部である。また、駆動用ICの実装部41の他方側に、多数の電極端子を含む電極部43が設けられている。電極端子は、液晶表示パネル1の表示部に配設されている電極に接続され、駆動用ICからの駆動信号(点灯検査時には、検査信号出力装置30の駆動信号生成部31からの駆動信号)を電極に供給する。   FIG. 2 is a plan view showing an example of the periphery of the mounting portion of the driving IC on the surface of the lower substrate 11 (the surface facing the upper substrate 12). In the example shown in FIG. 2, a signal input terminal portion 42 is formed on one side of the mounting portion 41 of the driving IC. The signal input terminal unit 42 is a terminal unit for inputting an image signal or the like from the outside of the liquid crystal display panel 1. In addition, an electrode portion 43 including a large number of electrode terminals is provided on the other side of the mounting portion 41 of the driving IC. The electrode terminal is connected to an electrode disposed in the display unit of the liquid crystal display panel 1 and is driven by a driving IC (at the time of lighting inspection, a driving signal from the driving signal generating unit 31 of the inspection signal output device 30). Is supplied to the electrode.

この実施の形態では、点灯検査時に下側基板11における電極部43を含む所定領域に相当する領域(具体的には、電極部43を含む所定領域の裏面)に表面部(スペーサ24の上面)が位置するように、スペーサ24が設けられている。なお、スペーサ24の断面積は、電極部43の面積程度(余裕をもって電極部43の面積よりもやや広いことが好ましい。)である。すなわち、電極部43を含む所定領域は、電極部43よりもやや広いことが好ましい。一例として、スペーサ24として厚さ70μm、幅20mmの銅フィルムを用いた。また、プローブ32は、下側基板11の表面で電極部43を含む所定領域にのみ当接可能な表面部(電極部43に対する当接面)を有する。プローブ32の表面部が当接する所定領域のサイズは、スペーサ24が当接する所定領域のサイズと略等しい。   In this embodiment, the surface portion (upper surface of the spacer 24) is a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion 43 in the lower substrate 11 (specifically, the back surface of the predetermined region including the electrode portion 43) in the lighting inspection. A spacer 24 is provided so that is positioned. The cross-sectional area of the spacer 24 is about the area of the electrode portion 43 (preferably slightly larger than the area of the electrode portion 43 with a margin). That is, it is preferable that the predetermined region including the electrode part 43 is slightly wider than the electrode part 43. As an example, a copper film having a thickness of 70 μm and a width of 20 mm was used as the spacer 24. Further, the probe 32 has a surface portion (contact surface with respect to the electrode portion 43) that can contact only a predetermined region including the electrode portion 43 on the surface of the lower substrate 11. The size of the predetermined area where the surface portion of the probe 32 abuts is substantially equal to the size of the predetermined area where the spacer 24 abuts.

ここで、下側基板11に反りがある場合を考える。スペーサ24は下側基板11における電極部43に相当する領域にのみ位置するので、プローブ32が電極部43に接触するときに下側基板11を押圧したとしても、図5に示されたような下側基板11における広い範囲において裏側にステージ23が存在する場合に比べて、反りの矯正範囲は狭くなる。すなわち、反りが矯正されにくくなる。   Here, consider a case where the lower substrate 11 is warped. Since the spacer 24 is located only in a region corresponding to the electrode portion 43 in the lower substrate 11, even if the lower substrate 11 is pressed when the probe 32 contacts the electrode portion 43, as shown in FIG. 5. Compared with the case where the stage 23 exists on the back side in a wide range of the lower substrate 11, the correction range of the warp becomes narrower. That is, it becomes difficult to correct the warpage.

従って、色むらが検出されると、その色むらは、液晶表示パネル1の不具合に起因している可能性が高い。すなわち、液晶表示パネル1自体は所望の性能を発揮できるものであるが反りが矯正されたことに起因して色むらが発生する可能性が低くなる。   Therefore, when color unevenness is detected, it is highly possible that the color unevenness is caused by a malfunction of the liquid crystal display panel 1. That is, although the liquid crystal display panel 1 itself can exhibit desired performance, the possibility of uneven color due to the correction of the warp is reduced.

なお、ここでは、一体化されたプローブ32を例にして説明したが、図3(A)に示すように、複数の部位32A,32B,32Cを有するプローブを用いてもよい。部位32A,32Cは、例えば、走査電極に印加される駆動信号を電極端子に供給し、部位32Bは、例えば、信号電極に印加される駆動信号を電極端子に供給する。その場合、駆動用ICは、一辺側から、走査電極に印加される駆動信号と信号電極に印加される駆動信号とを出力するように構成されている。また、図3(B)に示すように、さらに多数の部位を有するプローブを用いてもよい。   Here, the integrated probe 32 has been described as an example. However, as shown in FIG. 3A, a probe having a plurality of portions 32A, 32B, and 32C may be used. The parts 32A and 32C supply, for example, a drive signal applied to the scan electrode to the electrode terminal, and the part 32B supplies, for example, a drive signal applied to the signal electrode to the electrode terminal. In that case, the driving IC is configured to output a driving signal applied to the scanning electrode and a driving signal applied to the signal electrode from one side. Further, as shown in FIG. 3B, a probe having a larger number of sites may be used.

また、駆動用ICとして、一辺(長辺)側から走査電極に印加される駆動信号を電極端子に供給し、長辺に直交する2つの辺(短辺)側から走査電極に印加される駆動信号を電極端子に供給するように構成されたものを使用する場合にも本発明を適用することができる。その場合には、プローブ32の断面は、コ字状に形成される。   Further, as a driving IC, a driving signal applied to the scanning electrode from one side (long side) is supplied to the electrode terminal, and driving is applied to the scanning electrode from two sides (short side) orthogonal to the long side. The present invention can also be applied to the case where a device configured to supply a signal to an electrode terminal is used. In that case, the cross section of the probe 32 is formed in a U-shape.

(実施の形態2)
第1の実施の形態では、検査信号出力装置30は昇降機構(図示せず)によって上下方向(垂直方向)に移動するように構成されていた。しかし、垂直方向に移動可能であって、かつ、水平方向にも移動可能な移動機構を備えている場合には、さらなる効果を得ることができる点灯検査を実施することができる。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, the inspection signal output device 30 is configured to move in the vertical direction (vertical direction) by an elevating mechanism (not shown). However, when a moving mechanism that can move in the vertical direction and also in the horizontal direction is provided, a lighting test that can obtain further effects can be performed.

例えば、反りが発生しているが液晶表示パネル1自体は所望の性能を発揮できる程度の反り量αが最大5μmであるとする。その場合、スペーサ24の表面部を基準として、プローブ32の表面部(電極部43への当接面)が下側基板11の[板厚+α]の位置にまでくるように検査信号出力装置30を下降させる。そして、ステージ21,22およびスペーサ24に液晶表示パネルをセットした後、プローブ32の表面部が電極部43に相当する位置にくるように、検査信号出力装置30を平行移動する。   For example, it is assumed that the warp amount α that allows the liquid crystal display panel 1 itself to exhibit desired performance is 5 μm at the maximum although warpage has occurred. In that case, with the surface portion of the spacer 24 as a reference, the inspection signal output device 30 so that the surface portion of the probe 32 (contact surface to the electrode portion 43) reaches the position of [plate thickness + α] of the lower substrate 11. Is lowered. Then, after setting the liquid crystal display panel on the stages 21 and 22 and the spacer 24, the inspection signal output device 30 is translated so that the surface portion of the probe 32 comes to a position corresponding to the electrode portion 43.

すると、図4(A),(B)に示すように、液晶表示パネル1の反り量がα以下であれば、プローブ32の表面部は電極部に相当する位置にまで移動される。そして、上記のような点灯検査が実行される。しかし、反り量がαを越える場合には、プローブ32は液晶表示パネル1の側面に阻害されて電極部に相当する位置にまで到達できない。なお、スペーサ24の表面部を基準としてプローブ32の表面部が下側基板11の[板厚+α]の位置に設定されてもよいが、[板厚+αに対して余裕をもった値であるβ(α<β)]の位置に検査信号出力装置30を設定することが好ましい。   Then, as shown in FIGS. 4A and 4B, if the amount of warpage of the liquid crystal display panel 1 is less than or equal to α, the surface portion of the probe 32 is moved to a position corresponding to the electrode portion. Then, the lighting inspection as described above is performed. However, when the amount of warpage exceeds α, the probe 32 is blocked by the side surface of the liquid crystal display panel 1 and cannot reach the position corresponding to the electrode portion. The surface portion of the probe 32 may be set at the position [plate thickness + α] of the lower substrate 11 with the surface portion of the spacer 24 as a reference, but this is a value having a margin with respect to [plate thickness + α]. It is preferable to set the inspection signal output device 30 at a position of β (α <β)].

以上のことから、検査信号出力装置30を、スペーサ24の表面部を基準としてプローブ32の表面部が下側基板11の[板厚+α]または[板厚+β]の位置にまでくるように設定することによって、点灯検査の際に、許容量を越える反りを有する液晶表示パネル1を検出することができる。   From the above, the inspection signal output device 30 is set so that the surface portion of the probe 32 reaches the position of [plate thickness + α] or [plate thickness + β] of the lower substrate 11 with the surface portion of the spacer 24 as a reference. By doing so, it is possible to detect the liquid crystal display panel 1 having a warp exceeding an allowable amount in the lighting inspection.

なお、上記の各実施の形態では、表示パネルとして液晶表示パネルを例にしたが、有機ELパネルなど他の表示パネルを検査する際にも、本発明を適用することができる。   In each of the above embodiments, the liquid crystal display panel is taken as an example of the display panel, but the present invention can also be applied when inspecting other display panels such as an organic EL panel.

本発明は、表示パネルの色むらなどを検出するために点灯検査を行う用途に好適に適用され、特に、製造時に反りが生ずる可能性がある表示パネルの点灯検査を行う場合に有用である。   The present invention is suitably applied to an application for performing a lighting inspection to detect color unevenness of the display panel, and is particularly useful when performing a lighting inspection of a display panel that may be warped during manufacturing.

第1の実施の形態の点灯検査装置を用いて液晶表示パネルの検査を行う様子を模式的に示す説明図。Explanatory drawing which shows typically a mode that a liquid crystal display panel is test | inspected using the lighting test | inspection apparatus of 1st Embodiment. 駆動用ICの実装部の周辺の一例を示す平面図。The top view which shows an example of the periphery of the mounting part of driving IC. プローブの他の例を示す説明図。Explanatory drawing which shows the other example of a probe. 第1の実施の形態を説明するための説明図。Explanatory drawing for demonstrating 1st Embodiment. 従来の点灯検査装置を用いて液晶表示パネルの検査を行う様子を模式的に示す説明図。Explanatory drawing which shows typically a mode that a liquid crystal display panel is test | inspected using the conventional lighting test | inspection apparatus. 従来の点灯検査装置を用いて液晶表示パネルの検査を行う様子を模式的に示す説明図。Explanatory drawing which shows typically a mode that a liquid crystal display panel is test | inspected using the conventional lighting test | inspection apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 液晶表示パネル
11 下側基板
12 上側基板
13,14 偏光板
21,22,23 ステージ
24 スペーサ
30 検査信号出力装置
31 駆動信号生成部
32 プローブ
41 実装部
42 信号入力端子部
43 電極部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Liquid crystal display panel 11 Lower board | substrate 12 Upper board | substrate 13,14 Polarizing plate 21,22,23 Stage 24 Spacer 30 Inspection signal output device 31 Drive signal generation part 32 Probe 41 Mounting part 42 Signal input terminal part 43 Electrode part

Claims (3)

表示パネルの基板に形成されている電極部に駆動信号を与えて表示パネルの点灯状態を検査する表示パネルの点灯検査装置において、
表示パネルを保持する保持部と、駆動信号を出力する駆動信号生成部を有する検査信号出力装置とを備え、
前記保持部は、表示パネルの裏面で電極部を含む所定領域に相当する領域にのみ当接可能な表面部を有するスペーサ部材を含み、
前記検査信号出力装置は、前記駆動信号生成部が出力した駆動信号を電極部に伝達する部材であって、表示パネルの表面で電極部を含む所定領域にのみ当接可能な表面部を有する信号伝達部材を含む
ことを特徴とする点灯検査装置。
In a display panel lighting inspection device for inspecting the lighting state of the display panel by applying a drive signal to the electrode part formed on the substrate of the display panel,
A holding unit that holds the display panel, and an inspection signal output device that includes a drive signal generation unit that outputs a drive signal;
The holding portion includes a spacer member having a surface portion that can contact only a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion on the back surface of the display panel;
The inspection signal output device is a member that transmits the drive signal output from the drive signal generation unit to the electrode unit, and has a surface part that can contact only a predetermined region including the electrode part on the surface of the display panel. A lighting inspection device comprising a transmission member.
信号伝達部材は、非シリコン系弾性部材で形成されている
請求項1記載の点灯検査装置。
The lighting inspection device according to claim 1, wherein the signal transmission member is formed of a non-silicon elastic member.
表示パネルを保持する保持部と、駆動信号を出力する駆動信号生成部を有する検査信号出力装置とを用い、表示パネルの基板に形成されている電極部に駆動信号を与えて表示パネルの点灯状態を検査する表示パネルの点灯検査方法において、
前記保持部に、表示パネルの裏面で電極部を含む所定領域に相当する領域にのみ当接可能な表面部を有するスペーサ部材を設け、
前記検査信号出力装置に、前記駆動信号生成部が出力した駆動信号を電極部に伝達する部材であって、表示パネルの表面で電極部を含む所定領域にのみ当接可能な表面部を有する信号伝達部材を設け、
前記スペーサ部材の表面部を基準として、前記信号伝達部材の表面部が表示パネルの板厚に所定の反り量を加算した量に相当する位置になるように前記検査信号出力装置を設定した後に、前記信号伝達部材を電極部に当接させる
ことを特徴とする表示パネルの点灯検査方法。
Lighting state of the display panel by applying a driving signal to the electrode part formed on the substrate of the display panel using a holding unit for holding the display panel and an inspection signal output device having a driving signal generating unit for outputting a driving signal In the display panel lighting inspection method for inspecting
The holding portion is provided with a spacer member having a surface portion that can contact only a region corresponding to a predetermined region including the electrode portion on the back surface of the display panel,
A signal that is a member that transmits the drive signal output by the drive signal generation unit to the electrode unit to the inspection signal output device, and that has a surface part that can contact only a predetermined region including the electrode part on the surface of the display panel. A transmission member,
After setting the inspection signal output device so that the surface portion of the signal transmission member is at a position corresponding to the amount obtained by adding a predetermined amount of warpage to the plate thickness of the display panel, with the surface portion of the spacer member as a reference, A display panel lighting inspection method, wherein the signal transmission member is brought into contact with an electrode portion.
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