JP2003130906A - Method and device for inspection of electronic equipment and connector used for inspection - Google Patents

Method and device for inspection of electronic equipment and connector used for inspection

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JP2003130906A
JP2003130906A JP2001323355A JP2001323355A JP2003130906A JP 2003130906 A JP2003130906 A JP 2003130906A JP 2001323355 A JP2001323355 A JP 2001323355A JP 2001323355 A JP2001323355 A JP 2001323355A JP 2003130906 A JP2003130906 A JP 2003130906A
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JP
Japan
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inspection
housing member
connector
side housing
flat surface
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Application number
JP2001323355A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahiro Toyohara
匡宏 豊原
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the connector of electronic equipment to be inspected from peeling from a wiring board when the connector of an inspection device is removed from the connector of the electronic equipment. SOLUTION: When the connecting terminal 32 of a panel-side connector 3 is electrically connected to the connecting terminal 72 of an inspecting connector 7 by inserting the projecting section 712 of the connector 7 into the recessed section 312 of the connector 3, the insertion of the projecting section 712 into the recessed section 312 is stopped before the flat surface section 711 of the inspecting connector 7 comes into contact with the flat surface section 311 of the panel-side connector 3 or the top face 712b of the projecting section 712 of the connector 7 comes into contact with the bottom face 312b of the recessed section 312 of the connector 3. In this state, inspection signals are supplied to a liquid crystal panel 1 through the connecting terminals 32 and 72.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルに代表
される電気光学パネルなど、各種の電子機器の検査を行
なうための技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for inspecting various electronic devices such as an electro-optical panel represented by a liquid crystal panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、液晶パネルやELパネルに代表さ
れる電気光学パネルが広く普及しつつある。この種の電
気光学パネルにおいては、液晶などの電気光学物質を保
持するためのパネル基板の面上に、当該電気光学物質に
対して電圧を印加するための電極が形成された構成が一
般的である。さらに、これらの電極に対して外部から制
御信号を供給するために、当該パネル基板の面上にFP
C(Flexible Printed Circuit)などの配線基板が実装
された構成も知られている。
2. Description of the Related Art In recent years, electro-optical panels represented by liquid crystal panels and EL panels have become widespread. This type of electro-optical panel generally has a structure in which an electrode for applying a voltage to the electro-optical substance is formed on the surface of a panel substrate for holding the electro-optical substance such as liquid crystal. is there. Furthermore, in order to supply a control signal to these electrodes from the outside, an FP is formed on the surface of the panel substrate.
A configuration in which a wiring board such as C (Flexible Printed Circuit) is mounted is also known.

【0003】ところで、かかる電気光学パネルの製造工
程において、配線の断線や短絡といった不具合の発生を
完全に排除することは極めて困難であり、ある程度の確
率でこれらの欠陥が発生してしまうのは避けられないの
が現状である。このため、製造後の電気光学パネルにつ
いて欠陥の有無を検査する必要がある。このような検査
の方法として、従来から、電気光学パネルによって表示
された所定のテストパターンを観察することによって、
各画素が正常に点灯するか否かを判定する方法(いわゆ
る点灯検査)が知られている。この種の点灯検査の手順
について一例を挙げると、以下の通りである。
By the way, in the manufacturing process of such an electro-optical panel, it is extremely difficult to completely eliminate the occurrence of defects such as disconnection and short circuit of wiring, and it is avoided that these defects occur with a certain probability. The current situation is that it cannot be done. Therefore, it is necessary to inspect the manufactured electro-optical panel for defects. As a method of such inspection, conventionally, by observing a predetermined test pattern displayed by the electro-optical panel,
A method for determining whether or not each pixel normally lights up (so-called lighting inspection) is known. An example of the procedure of this kind of lighting inspection is as follows.

【0004】まず、上記配線基板の面上に設けられたコ
ネクタ(以下、「パネル側コネクタ」という)に対して
検査用のコネクタ(以下、「検査用コネクタ」という)
を嵌合させる。次に、検査装置から当該検査用コネクタ
およびパネル側コネクタを介して、検査対象たる電気光
学パネルに検査信号を供給する。この検査信号は、電気
光学パネルが所定のテストパターンの表示を行なうよう
に予めその内容が決定された信号である。そして、電気
光学パネルに表示されたテストパターンを観察すること
によって当該電気光学パネルの良否を判定する。この良
否判定のあと、検査用コネクタをパネル側コネクタから
取り外す。
First, a connector for inspection (hereinafter referred to as "inspection connector") with respect to a connector (hereinafter referred to as "panel side connector") provided on the surface of the wiring board.
Fit. Next, an inspection signal is supplied from the inspection device to the electro-optical panel to be inspected through the inspection connector and the panel-side connector. This inspection signal is a signal whose content is determined in advance so that the electro-optical panel displays a predetermined test pattern. Then, the quality of the electro-optical panel is determined by observing the test pattern displayed on the electro-optical panel. After this quality judgment, the inspection connector is removed from the panel side connector.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、パネル
側コネクタから検査用コネクタを取り外すために当該検
査用コネクタに力を加えると、パネル側コネクタと配線
基板との接合部分にも力が作用し、この結果としてパネ
ル側コネクタが配線基板から剥がれてしまう場合があ
る。この場合、テストパターンを表示させて良否判定を
行なう段階まではパネル側コネクタが配線基板に対して
適正に実装されているにもかかわらず、その後にパネル
側コネクタの剥離が発生することとなる。したがって、
上述した点灯検査によってはかかる剥離を発見すること
はできず、検査結果の妥当性に重大な影響を及ぼすこと
となる。これらの問題は、上述した電気光学パネルのみ
において生ずるものではなく、検査に際して検査用コネ
クタが接続されるコネクタを配線基板上に備えた、全て
の電子機器において同様に生じ得る問題である。
However, when a force is applied to the inspection connector in order to remove the inspection connector from the panel connector, the force also acts on the joint portion between the panel connector and the wiring board. As a result, the panel-side connector may be peeled off from the wiring board. In this case, although the panel-side connector is properly mounted on the wiring substrate until the stage of displaying the test pattern and making a pass / fail judgment, the panel-side connector is peeled off thereafter. Therefore,
Such peeling cannot be found by the above-mentioned lighting inspection, which will seriously affect the validity of the inspection result. These problems do not occur only in the electro-optical panel described above, but may similarly occur in all electronic devices in which a connector to which an inspection connector is connected at the time of inspection is provided on a wiring board.

【0006】本発明は、以上説明した事情に鑑みてなさ
れたものであり、検査用コネクタを機器側コネクタから
取り外すときに、当該機器側コネクタが配線基板から剥
がれるのを防ぐことができる検査方法、この方法を実現
するための検査装置、および当該検査装置に用いられる
検査用コネクタを提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the circumstances described above, and an inspection method capable of preventing the device-side connector from peeling off from the wiring board when the inspection-use connector is detached from the device-side connector, An object of the present invention is to provide an inspection device for realizing this method, and an inspection connector used in the inspection device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、平面部および当該平面部から突出した凸
部を有する検査側ハウジング部材と、前記凸部の側面に
位置する部分を有する検査側接続端子とを備えた検査用
コネクタを用いて、平面部および当該平面部に設けられ
た凹部を有する機器側ハウジング部材と、前記凹部の側
面に位置する部分を有する機器側接続端子とを備えた機
器側コネクタが配線基板上に実装された電子機器を検査
する方法であって、前記機器側ハウジング部材の凹部と
前記検査側ハウジング部材の凸部とを係合させる工程で
あって、前記機器側ハウジング部材の平面部と前記検査
側ハウジング部材の平面部、または前記機器側ハウジン
グ部材の凹部の底面と前記検査側ハウジング部材の凸部
の頂上面のいずれかが接触する前に、前記機器側ハウジ
ング部材の凹部に対する前記検査側ハウジング部材の凸
部の挿入を停止させる第1工程と、当該挿入を停止させ
た状態で、前記検査側接続端子および前記機器側接続端
子を介して、前記電子機器に検査信号を供給する第2工
程とを有することを特徴としている。
In order to solve the above problems, the present invention has an inspection side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion, and a portion positioned on a side surface of the convex portion. Using an inspection connector having an inspection-side connection terminal, a device-side housing member having a flat surface portion and a recess provided in the flat surface portion, and an equipment-side connection terminal having a portion located on the side surface of the recessed portion are provided. A method of inspecting an electronic device in which a device-side connector provided is mounted on a wiring board, the process comprising engaging a recess of the device-side housing member and a protrusion of the inspection-side housing member, Either the flat surface portion of the equipment-side housing member and the flat surface portion of the inspection-side housing member, or the bottom surface of the concave portion of the equipment-side housing member and the top surface of the convex portion of the inspection-side housing member. Before contacting, the first step of stopping the insertion of the convex part of the inspection side housing member into the concave part of the device side housing member, and the inspection side connection terminal and the device side connection in the state where the insertion is stopped. A second step of supplying an inspection signal to the electronic device via a terminal.

【0008】この検査方法によれば、機器側ハウジング
部材の凹部と検査側ハウジング部材の凸部とを係合させ
て機器側接続端子と検査側接続端子とを導通させる工程
において、当該機器側ハウジング部材の平面部と当該検
査側ハウジング部材の平面部、または当該機器側ハウジ
ング部材の凹部の底面と当該検査側ハウジング部材の凸
部の頂上面のいずれかが接触する前に、前記機器側ハウ
ジング部材の凹部に対する前記検査側ハウジング部材の
凸部の挿入を停止させるようになっている。換言する
と、機器側ハウジング部材の凹部と検査側ハウジング部
材の凸部とを完全に嵌合させることなく、機器側接続端
子と検査側接続端子とを導通させるようになっている。
このため、検査後に検査側ハウジング部材を機器側ハウ
ジング部材から取り外すときに、当該機器側ハウジング
部材と配線基板との接合部分に作用する応力を低く抑え
ることができる。したがって、本発明によれば、機器側
ハウジング部材が配線基板から剥がれるのを防止するこ
とができる。
According to this inspection method, in the step of engaging the concave portion of the device-side housing member and the convex portion of the inspection-side housing member to electrically connect the device-side connection terminal and the inspection-side connection terminal, the device-side housing Before contacting either the flat surface of the member and the flat surface of the inspection-side housing member, or the bottom surface of the concave portion of the equipment-side housing member and the top surface of the projection of the inspection-side housing member, the equipment-side housing member The insertion of the convex portion of the inspection-side housing member into the concave portion is stopped. In other words, the device-side connection terminal and the inspection-side connection terminal are electrically connected without completely fitting the recess of the device-side housing member and the protrusion of the inspection-side housing member.
For this reason, when the inspection-side housing member is removed from the device-side housing member after the inspection, the stress acting on the joint portion between the device-side housing member and the wiring board can be suppressed to be low. Therefore, according to the present invention, it is possible to prevent the device-side housing member from peeling off from the wiring board.

【0009】なお、上記発明の機器側ハウジング部材と
検査側ハウジング部材とについて、凹部と凸部とを逆に
してもよい。すなわち、本発明は、平面部および当該平
面部に設けられた凹部を有する検査側ハウジング部材
と、当該凹部の側面に位置する部分を有する検査側接続
端子とを備えた検査用コネクタを用いて、平面部および
当該平面部から突出した凸部を有する機器側ハウジング
部材と、当該凸部の側面に位置する部分を有する機器側
接続端子とを備える機器側コネクタが配線基板上に実装
された電子機器を検査する方法であって、前記機器側ハ
ウジング部材の凸部と前記検査側ハウジング部材の凹部
とを係合させる工程であって、前記機器側ハウジング部
材の平面部と前記検査側ハウジング部材の平面部、また
は前記機器側ハウジング部材の凸部の頂上面と前記検査
側ハウジング部材の凹部の底面のいずれかが接触する前
に、前記検査側ハウジング部材の凹部に対する前記機器
側ハウジング部材の凸部の挿入を停止させる第1工程
と、当該挿入を停止させた状態で、前記検査側接続端子
および前記機器側接続端子を介して、前記電子機器に検
査信号を供給する第2工程とを有することを特徴として
いる。
The recesses and the protrusions may be reversed in the equipment-side housing member and the inspection-side housing member of the above invention. That is, the present invention uses an inspection connector including an inspection-side housing member having a flat surface portion and a concave portion provided in the flat surface portion, and an inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface of the concave portion, Electronic device in which a device-side connector including a device-side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion and a device-side connection terminal having a portion located on a side surface of the convex portion is mounted on a wiring board. Is a method of inspecting, wherein the step of engaging the convex portion of the equipment-side housing member and the recessed portion of the inspection-side housing member, the flat surface portion of the equipment-side housing member and the flat surface of the inspection-side housing member Part, or the top surface of the convex portion of the equipment-side housing member and the bottom surface of the concave portion of the inspection-side housing member, contact the inspection-side housing member. Step of stopping the insertion of the convex portion of the device-side housing member into the part, and an inspection signal to the electronic device via the inspection-side connection terminal and the device-side connection terminal in a state where the insertion is stopped. And a second step of supplying.

【0010】上記方法のうち前記第1工程においては、
前記機器側ハウジング部材の平面部または前記検査側ハ
ウジング部材の平面部のうち少なくとも一方に挿入抑止
部材を当接させることによって、前記凹部に対する前記
凸部の挿入を停止させるようにしてもよい。さらに、第
1工程においては、前記検査用コネクタに固定された前
記挿入抑止部材を前記機器側ハウジング部材の平面部に
当接させることによって、前記凹部に対する前記凸部の
挿入を停止させるようにしてもよい。こうすれば、検査
対象となる多数の電子機器について共通の挿入抑止部材
を用いることができ、さらに検査のたびに当該挿入抑止
部材を検査側ハウジング部材に装着する必要がないか
ら、検査効率の向上が図られる。
In the first step of the above methods,
You may make it stop insertion of the said convex part with respect to the said recessed part by making an insertion suppression member contact | abut at least one of the plane part of the said apparatus side housing member or the plane part of the said inspection side housing member. Further, in the first step, the insertion preventing member fixed to the inspection connector is brought into contact with the flat surface portion of the device-side housing member to stop the insertion of the convex portion into the concave portion. Good. This makes it possible to use a common insertion restraint member for many electronic devices to be inspected, and it is not necessary to attach the insertion restraint member to the inspection-side housing member every time the inspection is performed, thus improving the inspection efficiency. Is planned.

【0011】ところで、配線基板が可撓性を有するフレ
キシブル配線基板である場合には、検査用コネクタの取
り外しに際して、機器側コネクタの剥離が特に生じやす
いと考えられる。したがって、本発明は、可撓性を有す
るフレキシブル配線基板を配線基板として用いた電子機
器を検査する際に特に好適である。また、本発明におけ
る電子機器としては、前記配線基板が接合されたパネル
基板と、当該パネル基板上に形成されるとともに前記機
器側接続端子に導通する配線とを有する電気光学装置が
考えられる。もっとも、本発明に係る検査方法の対象と
することができるのは電気光学装置に限られるものでは
なく、その他各種の電子機器の検査においても同様に採
用することができる。
By the way, when the wiring board is a flexible wiring board having flexibility, it is considered that peeling of the device side connector is particularly likely to occur when the inspection connector is detached. Therefore, the present invention is particularly suitable when inspecting an electronic device using a flexible wiring board having flexibility as a wiring board. Further, as the electronic device in the present invention, an electro-optical device having a panel substrate to which the wiring substrate is joined and a wiring formed on the panel substrate and electrically connected to the device-side connection terminal can be considered. However, the inspection method according to the present invention can be applied not only to the electro-optical device but also to the inspection of other various electronic devices.

【0012】また、上記課題を解決するため、本発明
は、平面部および当該平面部に設けられた凹部を有する
機器側ハウジング部材と、前記凹部の側面に位置する部
分を有する機器側接続端子とを備える機器側コネクタが
配線基板上に実装された電子機器を検査するための検査
用コネクタであって、平面部および当該平面部から突出
した凸部を有する検査側ハウジング部材と、前記凸部の
側面に位置する部分を有する検査側接続端子と、前記検
査側ハウジング部材の平面部からみて前記凸部の頂上面
よりも低い当接面であって、前記凸部を前記機器側ハウ
ジング部材の凹部に係合させるときに、前記機器側ハウ
ジング部材の平面部または前記配線基板の表面に当接す
る当接面を有する挿入抑止部材とを具備することを特徴
としている。
In order to solve the above problems, the present invention provides a device-side housing member having a flat surface portion and a concave portion provided in the flat surface portion, and a device-side connection terminal having a portion located on the side surface of the concave portion. A device-side connector is an inspection connector for inspecting an electronic device mounted on a wiring board, the inspection-side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion; An inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface, and an abutment surface lower than the top surface of the convex portion when viewed from the plane of the inspection-side housing member, and the convex portion is a concave portion of the device-side housing member. And an insertion restraining member having a contact surface that comes into contact with the flat surface portion of the device-side housing member or the surface of the wiring board when engaged.

【0013】この検査用コネクタによれば、検査側ハウ
ジング部材の凸部を機器側ハウジング部材の凹部に係合
させて機器側接続端子と検査側接続端子とを導通させる
ときに、前記機器側ハウジング部材の平面部または前記
配線基板の表面に挿入抑止部材の当接面を当接させるこ
とができる。すなわち、機器側ハウジング部材の凹部と
検査側ハウジング部材の凸部とを完全に嵌合させること
なく、機器側接続端子と検査側接続端子とが導通され
る。このため、検査後に検査側ハウジング部材を機器側
ハウジング部材から取り外すときに、当該機器側ハウジ
ング部材と配線基板との接合部分に作用する応力を低く
抑えることができる。したがって、本発明によれば、機
器側ハウジング部材が配線基板から剥がれるのを抑える
ことができる。
According to this inspection connector, when the convex portion of the inspection side housing member is engaged with the concave portion of the device side housing member to electrically connect the device side connection terminal and the inspection side connection terminal, the device side housing The contact surface of the insertion restraining member can be brought into contact with the flat surface of the member or the surface of the wiring board. That is, the device-side connection terminal and the inspection-side connection terminal are electrically connected without completely fitting the recess of the device-side housing member and the protrusion of the inspection-side housing member. For this reason, when the inspection-side housing member is removed from the device-side housing member after the inspection, the stress acting on the joint portion between the device-side housing member and the wiring board can be suppressed to be low. Therefore, according to the present invention, it is possible to prevent the device-side housing member from peeling off from the wiring board.

【0014】ここで、上記発明の機器側ハウジング部材
と検査側ハウジング部材とについて、凹部と凸部とを逆
にしてもよい。すなわち、本発明は、平面部および当該
平面部から突出した凸部を有する機器側ハウジング部材
と、前記凸部の側面に位置する部分を有する機器側接続
端子とを備える機器側コネクタが配線基板上に実装され
た電子機器を検査するための検査用コネクタであって、
平面部および当該平面部に設けられた凹部を有する検査
側ハウジング部材と、前記凹部の側面に位置する部分を
有する検査側接続端子と、前記検査側ハウジング部材の
凹部の底面からみて当該検査側ハウジング部材の平面部
よりも高い当接面であって、当該凹部を前記機器側ハウ
ジング部材の凸部に係合させるときに、前記機器側ハウ
ジング部材の平面部または前記配線基板の表面に当接す
る当接面を有する挿入抑止部材とを具備することを特徴
としている。なお、これらの検査用コネクタにおいて
は、前記挿入抑止部材を、前記検査側ハウジング部材の
周囲を囲む環状の部材とすることが考えられる。
Here, in the equipment-side housing member and the inspection-side housing member of the above invention, the concave portion and the convex portion may be reversed. That is, according to the present invention, a device-side connector including a device-side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion and a device-side connection terminal having a portion located on a side surface of the convex portion is provided on a wiring board. An inspection connector for inspecting an electronic device mounted on,
An inspection-side housing member having a flat surface portion and a concave portion provided in the flat surface portion, an inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface of the concave portion, and the inspection-side housing when viewed from the bottom surface of the concave portion of the inspection-side housing member. A contact surface that is higher than the flat surface of the member, and is in contact with the flat surface of the device-side housing member or the surface of the wiring board when the recess is engaged with the projection of the device-side housing member. And an insertion restraining member having a contact surface. In these inspection connectors, it is conceivable that the insertion restraining member is an annular member that surrounds the periphery of the inspection-side housing member.

【0015】さらに、上記課題を解決するため、本発明
に係る検査装置は、上述した検査用コネクタと、前記検
査用コネクタの検査側接続端子に対して検査信号を供給
する信号供給回路とを具備することを特徴としている。
Further, in order to solve the above-mentioned problems, an inspection device according to the present invention comprises the above-mentioned inspection connector and a signal supply circuit for supplying an inspection signal to an inspection-side connection terminal of the inspection connector. It is characterized by doing.

【0016】この検査装置によれば、機器側ハウジング
部材の凹部と検査側ハウジング部材の凸部とを完全に嵌
合させることなく、電子機器に対して検査信号を供給す
ることができる。したがって、検査後に検査側ハウジン
グ部材を機器側ハウジング部材から取り外すときに、当
該機器側ハウジング部材と配線基板との接合部分に作用
する応力を低く抑えることができる。したがって、本発
明によれば、機器側ハウジング部材が配線基板から剥が
れるのを防止することができる。
According to this inspection apparatus, the inspection signal can be supplied to the electronic device without completely fitting the concave portion of the device-side housing member and the convex portion of the inspection-side housing member. Therefore, when the inspection-side housing member is removed from the device-side housing member after the inspection, the stress acting on the joint portion between the device-side housing member and the wiring board can be suppressed low. Therefore, according to the present invention, it is possible to prevent the device-side housing member from peeling off from the wiring board.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態について説明する。かかる実施の形態は、本発
明の一態様を示すものであり、この発明を限定するもの
ではなく、本発明の範囲内で任意に変更可能である。な
お、以下に示す各図においては、各層や各部材を図面上
で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材ご
とに縮尺を異ならせてある。また、以下に示す実施形態
においては、本発明を液晶パネルの検査方法に適用した
場合を例示するが、本発明に係る検査方法による検査の
対象をこれに限定する趣旨ではない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Such an embodiment shows one aspect of the present invention, does not limit the present invention, and can be arbitrarily modified within the scope of the present invention. In each drawing shown below, the scales are different for each layer and each member in order to make each layer and each member recognizable in the drawing. Further, in the following embodiments, the case where the present invention is applied to the liquid crystal panel inspection method is illustrated, but the object of the inspection by the inspection method according to the present invention is not limited to this.

【0018】<A:液晶パネルの構成>本実施形態に係
る検査方法は、検査対象となる液晶パネルを動作させる
ことによって画素を点灯させ、この点灯状態を観察する
ことによって液晶パネルの良否を判定する方法である。
ここではまず、この検査方法の説明に先立ち、検査対象
たる液晶パネルの構成について説明する。図1は、本実
施形態に係る液晶パネルの全体構成を示す平面図であ
り、図2は、図1におけるA−A’線からみた断面図で
ある。
<A: Configuration of Liquid Crystal Panel> In the inspection method according to the present embodiment, the liquid crystal panel to be inspected is operated to turn on the pixels, and the quality of the liquid crystal panel is determined by observing the lighting state. Is the way to do it.
Here, first, prior to the description of this inspection method, the configuration of the liquid crystal panel to be inspected will be described. FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of the liquid crystal panel according to the present embodiment, and FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG.

【0019】図1および図2に示すように、この液晶パ
ネル1は、略長方形の枠状に形成されたシール材13を
介して背面側基板11と観察側基板12とが貼り合わさ
れるとともに、両基板とシール材13とによって囲まれ
た領域に、TN(Twisted Nematic)型などの液晶14
が封入された構成となっている。背面側基板11および
観察側基板12は、ガラスや石英、プラスチックなどの
光透過性を有する板状部材である。このうち背面側基板
11は、観察側基板12の縁辺から張り出した領域(す
なわち、観察側基板12と対向しない領域である。以
下、「張出領域」という)11aを有する。張出領域1
1aには、当該液晶パネル1を駆動するためのドライバ
IC15がCOG(Chip On Glass)技術を用いて実装
されている。さらに、張出領域11aの縁辺近傍には、
FPC(Flexible Printed Circuit)2が接合されてい
る。なお、液晶パネル1が携帯電話機などの電子機器に
搭載される場合、FPC2は、図2に示すように、当該
液晶パネル1の背面側に折り曲げられることとなる。た
だし、図1においては、FPC2が折り曲げられる前の
状態が示されている。また、液晶パネル1の背面側(よ
り詳細には、折り曲げられたFPC2と液晶パネル1の
背面側基板11との間)には、当該液晶パネル1に対し
て光を照射するバックライトユニットが配置されるが、
図示は省略されている。かかる構成の下、バックライト
ユニットによる照射光が背面側基板11、液晶14およ
び観察側基板12を透過して観察者に視認される。
As shown in FIGS. 1 and 2, in the liquid crystal panel 1, the rear side substrate 11 and the observation side substrate 12 are bonded together via a sealing material 13 formed in a substantially rectangular frame shape. A liquid crystal 14 such as a TN (Twisted Nematic) type is provided in a region surrounded by both substrates and the sealing material 13.
It is configured to be enclosed. The back side substrate 11 and the observation side substrate 12 are light-transmissive plate-shaped members such as glass, quartz, and plastic. Of these, the rear substrate 11 has a region 11a that projects from the edge of the observation substrate 12 (that is, a region that does not face the observation substrate 12, hereinafter referred to as a "projection region") 11a. Overhang area 1
A driver IC 15 for driving the liquid crystal panel 1 is mounted on the la 1a by using COG (Chip On Glass) technology. Furthermore, in the vicinity of the edge of the overhang area 11a,
An FPC (Flexible Printed Circuit) 2 is joined. When the liquid crystal panel 1 is mounted on an electronic device such as a mobile phone, the FPC 2 is bent to the back side of the liquid crystal panel 1 as shown in FIG. However, FIG. 1 shows a state before the FPC 2 is bent. Further, on the back side of the liquid crystal panel 1 (more specifically, between the bent FPC 2 and the back side substrate 11 of the liquid crystal panel 1), a backlight unit for irradiating the liquid crystal panel 1 with light is arranged. Will be
Illustration is omitted. Under such a configuration, the irradiation light from the backlight unit passes through the rear substrate 11, the liquid crystal 14 and the observation substrate 12 and is visually recognized by an observer.

【0020】背面側基板11の内側(液晶14側)表面
には、図1に示すY方向に延在する複数のセグメント電
極111が形成されている。このセグメント電極111
は、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電
材料によって形成された電極である。なお、図1におい
ては、図面が煩雑になるのを防ぐため、各セグメント電
極111は1本の直線として図示されているが、実際の
セグメント電極111は、所定の幅を有する帯状の電極
である(後述するコモン電極121についても同様であ
る)。
A plurality of segment electrodes 111 extending in the Y direction shown in FIG. 1 are formed on the inner (liquid crystal 14 side) surface of the rear substrate 11. This segment electrode 111
Is an electrode formed of a transparent conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide). Note that, in FIG. 1, each segment electrode 111 is illustrated as one straight line in order to prevent the drawing from being complicated, but the actual segment electrode 111 is a strip-shaped electrode having a predetermined width. (The same applies to the common electrode 121 described later).

【0021】各セグメント電極111は、背面側基板1
1上において、観察側基板12と対向する領域(シール
枠内の領域)から張出領域11a(シール枠外の領域)
に至るとともに、その端部がドライバIC15の出力側
バンプ15a(突起電極)に接続される。より具体的に
は、図2に示すように、ドライバIC15が背面側基板
11上に接着剤161を介して接合された状態におい
て、ドライバIC15の出力端子に形成された出力側バ
ンプ15aとセグメント電極111の端部とが、当該接
着剤161中に分散された導電性粒子162を介して導
通される。
Each segment electrode 111 is formed on the rear substrate 1
1, the region 11a (region outside the seal frame) from the region facing the observation side substrate 12 (region inside the seal frame).
And its end is connected to the output bump 15a (projection electrode) of the driver IC 15. More specifically, as shown in FIG. 2, in a state in which the driver IC 15 is bonded to the rear substrate 11 via an adhesive 161, the output bump 15a and the segment electrode formed on the output terminal of the driver IC 15 are segmented. The end of 111 is electrically connected via the conductive particles 162 dispersed in the adhesive 161.

【0022】一方、観察側基板12の内側表面のうち背
面側基板11と対向する領域には、セグメント電極11
1と直行する方向(すなわち図1に示すX方向)に延在
する複数のコモン電極121が形成されている。各コモ
ン電極121は、ITOなどの透明導電材料によって形
成された帯状の電極である。セグメント電極111は、
観察側基板12のうち張出領域11aに接する縁辺近傍
に引き出されるとともに、その端部が、観察側基板12
のうちシール材13の形成された部分に至るようになっ
ている。そして、この端部は、当該シール材13に分散
された導電性粒子(図示略)を介して、背面側基板11
上に形成された引廻し配線112と電気的に接続され
る。各引廻し配線112は、張出領域11a内において
ドライバIC15に向かって延在するとともに、その端
部が当該ドライバIC15の出力側バンプ15aに接続
される。
On the other hand, in the region of the inner surface of the observation side substrate 12 facing the rear side substrate 11, the segment electrode 11 is formed.
A plurality of common electrodes 121 extending in the direction orthogonal to 1 (that is, the X direction shown in FIG. 1) are formed. Each common electrode 121 is a strip-shaped electrode formed of a transparent conductive material such as ITO. The segment electrode 111 is
The observation-side substrate 12 is pulled out to the vicinity of the edge of the observation-side substrate 12 that is in contact with the overhanging region 11a, and its end portion
Of these, the portion where the sealing material 13 is formed is reached. Then, this end portion is provided with the back side substrate 11 through the conductive particles (not shown) dispersed in the sealing material 13.
It is electrically connected to the lead wiring 112 formed above. Each routing wire 112 extends toward the driver IC 15 in the overhang region 11a, and its end is connected to the output bump 15a of the driver IC 15.

【0023】また、図1および図2に示すように、張出
領域11aには、当該張出領域11aの縁辺からドライ
バIC15が実装された領域に至るようにパッド113
が形成されている。図2に示すように、これらのパッド
113の一端は、接着剤161中の導電性粒子162を
介して、ドライバIC15の入力端子に形成された入力
側バンプ15bと導通する。
Further, as shown in FIGS. 1 and 2, the pad 113 is provided in the overhang area 11a from the edge of the overhang area 11a to the area where the driver IC 15 is mounted.
Are formed. As shown in FIG. 2, one ends of these pads 113 are electrically connected to the input side bumps 15b formed on the input terminals of the driver IC 15 through the conductive particles 162 in the adhesive 161.

【0024】なお、実際には、セグメント電極111が
形成された背面側基板11の表面、およびコモン電極1
21が形成された観察側基板12の表面は、所定の方向
にラビング処理が施された配向膜によって覆われている
が、図示は省略されている。また、背面側基板11およ
び観察側基板12の外側の表面には、偏光板や位相差板
が貼着されるが、これらについても図示は省略されてい
る。
Actually, the surface of the rear substrate 11 on which the segment electrodes 111 are formed, and the common electrode 1
The surface of the observation-side substrate 12 on which 21 is formed is covered with an alignment film that has been rubbed in a predetermined direction, but is not shown. Further, a polarizing plate and a retardation plate are attached to the outer surfaces of the rear substrate 11 and the observation substrate 12, but these are not shown.

【0025】一方、FPC2は、基材21と、当該基材
21上に設けられた配線22とを有する。このうち基材
21は、ポリイミドなどからなるフィルム状の部材であ
り、可撓性を有する。各配線22は、図2に示すプリン
ト基板4から出力された制御信号をドライバIC15の
入力端子に供給するためのものである。図2に示すよう
に、FPC2の基材21は、接着剤171を介して背面
側基板11に接合される。そして、基材21上の配線2
2は、当該接着剤171中に分散された導電性粒子17
2を介して、背面側基板11上のパッド113と導通す
る。
On the other hand, the FPC 2 has a base material 21 and wirings 22 provided on the base material 21. Of these, the base material 21 is a film-shaped member made of polyimide or the like and has flexibility. Each wiring 22 is for supplying the control signal output from the printed circuit board 4 shown in FIG. 2 to the input terminal of the driver IC 15. As shown in FIG. 2, the base material 21 of the FPC 2 is bonded to the rear substrate 11 via the adhesive 171. And the wiring 2 on the base material 21
2 is the conductive particles 17 dispersed in the adhesive 171.
It is electrically connected to the pad 113 on the back side substrate 11 via 2.

【0026】さらに、基板21上にはパネル側コネクタ
3が実装されている。このパネル側コネクタ3は、液晶
パネル1と外部との接続を行なうためのコネクタであ
る。例えば、本実施形態におけるパネル側コネクタ3
は、図2に示すように、プリント基板4上に設けられた
PCB側コネクタ5(詳細は後述する)と接続される。
ここで、図3は、パネル側コネクタ3の構成を示す斜視
図である。同図に示すように、パネル側コネクタ3はハ
ウジング部材31を有する。ハウジング部材31は、例
えばプラスチックなどによって形成された部材であり、
FPC2の表面とほぼ平行な平面部311と、当該平面
部311に設けられた凹部312とを有する。図1およ
び図3に示すように、凹部312は、平面視長方形状の
ハウジング部材31における一対の対辺同士を連結する
ように延在する溝である。したがって、図2および図3
に示すように、ハウジング部材31の断面形状は、ほぼ
「凹」字状となっている。
Further, the panel side connector 3 is mounted on the substrate 21. The panel-side connector 3 is a connector for connecting the liquid crystal panel 1 to the outside. For example, the panel-side connector 3 in this embodiment
Is connected to a PCB-side connector 5 (details will be described later) provided on the printed circuit board 4, as shown in FIG.
Here, FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of the panel-side connector 3. As shown in the figure, the panel-side connector 3 has a housing member 31. The housing member 31 is a member formed of, for example, plastic,
The flat surface portion 311 is substantially parallel to the surface of the FPC 2 and the concave portion 312 provided in the flat surface portion 311. As shown in FIGS. 1 and 3, the recess 312 is a groove extending so as to connect a pair of opposite sides of the housing member 31 having a rectangular shape in plan view. Therefore, FIG. 2 and FIG.
As shown in, the cross-sectional shape of the housing member 31 is substantially "concave".

【0027】ハウジング部材31の凹部312には、当
該凹部312の延在方向に沿って列をなす複数の接続端
子32が形成されている。すなわち、各接続端子32
は、凹部312を構成する一方の側面312aから、当
該凹部312の底面312bおよび他方の側面312c
に至るように形成された端子である。これらの接続端子
32の各々は、凹部312の底面312bからFPC2
の基材21にわたって設けられたスルーホール(図示
略)を介して、当該基材21に設けられた配線22の各
々に対して電気的に接続されている。
A plurality of connecting terminals 32 are formed in the recess 312 of the housing member 31 in a row along the extending direction of the recess 312. That is, each connection terminal 32
Is from one side surface 312a forming the concave portion 312 to the bottom surface 312b of the concave portion 312 and the other side surface 312c.
It is a terminal formed so as to reach. Each of these connection terminals 32 is connected to the FPC 2 from the bottom surface 312 b of the recess 312.
Is electrically connected to each of the wirings 22 provided on the base material 21 through through holes (not shown) provided over the base material 21.

【0028】一方、図2に示すように、FPC2に接続
されるプリント基板4には、ドライバIC15の動作を
規定するためのクロック信号など所定の制御信号を生成
するための回路(図示略)と、これらの回路に接続され
たPCB側コネクタ5が設けられている。ここで、図4
は、PCB側コネクタ5の構成を示す斜視図である。同
図に示すように、PCB側コネクタ5は、ハウジング部
材51を有する。ハウジング部材51は、例えばプラス
チックなどによって形成された部材であり、プリント基
板4とほぼ平行な平面部511と、当該平面部511か
ら突出する凸部512とを有する。パネル側コネクタ3
における凹部312と同様に、PCB側コネクタ5の凸
部512は、平面視長方形状のハウジング部材51にお
ける一対の対辺同士を連結するように延在する。したが
って、図2および図4に示すように、ハウジング部材5
1の断面形状は、ほぼ「凸」字状となっている。
On the other hand, as shown in FIG. 2, the printed circuit board 4 connected to the FPC 2 is provided with a circuit (not shown) for generating a predetermined control signal such as a clock signal for defining the operation of the driver IC 15. A PCB-side connector 5 connected to these circuits is provided. Here, FIG.
[FIG. 3] is a perspective view showing a configuration of a PCB side connector 5. As shown in the figure, the PCB-side connector 5 has a housing member 51. The housing member 51 is a member formed of, for example, plastic, and has a flat surface portion 511 that is substantially parallel to the printed circuit board 4 and a convex portion 512 that projects from the flat surface portion 511. Panel side connector 3
Similarly to the concave portion 312 in, the convex portion 512 of the PCB-side connector 5 extends so as to connect a pair of opposite sides of the housing member 51 having a rectangular shape in plan view. Therefore, as shown in FIGS. 2 and 4, the housing member 5
The cross-sectional shape of 1 is substantially "convex".

【0029】このハウジング部材51の凸部512に
は、当該凸部512の延在方向にそって列をなす複数の
接続端子52が形成されている。すなわち、各接続端子
52は、凸部512を構成する一方の側面512aか
ら、当該凸部512の頂上面512bおよび他方の側面
512cに至るように形成された端子である。これらの
接続端子52の各々は、凸部512の頂上面512bか
らプリント基板4に至るように設けられたスルーホール
(図示略)を介して、当該プリント基板4に設けられた
配線の各々に対して電気的に接続されている。
On the convex portion 512 of the housing member 51, a plurality of connecting terminals 52 are formed in a row along the extending direction of the convex portion 512. That is, each connection terminal 52 is a terminal formed so as to extend from one side surface 512 a forming the convex portion 512 to the top surface 512 b of the convex portion 512 and the other side surface 512 c. Each of these connection terminals 52 is connected to each of the wirings provided on the printed board 4 through a through hole (not shown) provided so as to reach the printed board 4 from the top surface 512b of the convex portion 512. Are electrically connected.

【0030】次に、図5は、パネル側コネクタ3とPC
B側コネクタ5とが接続された状態を示す断面図であ
る。なお、図5においては、パネル側コネクタ3および
PCB側コネクタ5の上下関係が、図2および図4に示
したものとは逆になっていることに留意されたい。図3
および図4に示したように、パネル側コネクタ3におけ
る平面部311からみた凹部312の深さH3とPCB
側コネクタ5における平面部511からみた凸部512
の高さH5とはほぼ同一であり、パネル側コネクタ3に
おける凹部312の幅W3とPCB側コネクタ5におけ
る凸部512の幅W5とはほぼ同一である。したがっ
て、図5に示すように、パネル側コネクタ3の凹部31
2とPCB側コネクタ5の凸部512とが完全に嵌合し
た状態で、パネル側コネクタ3の接続端子32は、凹部
312の側面312a、312cおよび頂上面312b
に形成された全体にわたって、PCB側コネクタ5の接
続端子52と接触することとなる。本明細書において、
「完全な嵌合」とは、図5に示したように、一方のコネ
クタ(3)におけるハウジング部材(31)の平面部
(311)と他方のコネクタ(5)におけるハウジング
部材(51)の平面部(511)、または一方のコネク
タ(3)におけるハウジング部材(31)の凹部(31
2)の底面(312b)と他方のコネクタ(5)におけ
るハウジング部材(51)の凸部(512)の頂上面
(512b)、のうちの少なくとも一方が接触した状態
で、双方のコネクタが嵌合していることを意味する。
Next, FIG. 5 shows the panel side connector 3 and the PC.
It is sectional drawing which shows the state in which the B side connector 5 was connected. It should be noted that in FIG. 5, the vertical relationship between the panel-side connector 3 and the PCB-side connector 5 is opposite to that shown in FIGS. 2 and 4. Figure 3
As shown in FIG. 4 and FIG. 4, the depth H3 of the recess 312 as viewed from the flat surface portion 311 of the panel side connector 3 and the PCB
The convex portion 512 of the side connector 5 viewed from the flat surface portion 511.
Is almost the same as the height H5, and the width W3 of the concave portion 312 in the panel-side connector 3 and the width W5 of the convex portion 512 in the PCB-side connector 5 are almost the same. Therefore, as shown in FIG. 5, the concave portion 31 of the panel-side connector 3 is
2 and the convex portion 512 of the PCB side connector 5 are completely fitted to each other, the connection terminal 32 of the panel side connector 3 has the side surfaces 312a and 312c of the concave portion 312 and the top surface 312b.
Throughout the whole formed in the above, it comes into contact with the connection terminal 52 of the PCB side connector 5. In this specification,
As shown in FIG. 5, the “complete fitting” means the flat surface (311) of the housing member (31) of one connector (3) and the flat surface of the housing member (51) of the other connector (5). Part (511) or the recess (31) of the housing member (31) in one connector (3).
Both connectors are fitted with at least one of the bottom surface (312b) of 2) and the top surface (512b) of the convex portion (512) of the housing member (51) of the other connector (5) being in contact with each other. It means doing.

【0031】このようにPCB側コネクタ5とパネル側
コネクタ3とが完全に嵌合された状態で、プリント基板
4上の制御回路から出力された制御信号は、PCB側コ
ネクタ5の接続端子52からパネル側コネクタ3の接続
端子32、FPC2の配線22、および背面側基板11
上のパッド113を介してドライバIC15の入力端子
に供給される。ドライバIC15は、こうして制御回路
から受信した信号に応じて走査信号およびデータ信号を
生成し、それぞれコモン電極121(引廻し配線11
2)およびセグメント電極111に出力する。そして、
背面側基板11および観察側基板12によって挟まれた
液晶14は、コモン電極121に与えられた走査信号と
セグメント電極111に与えられたデータ信号とに応じ
た電圧が印加されることによってその配向方向が変化す
る。すなわち、バックライトユニットから液晶パネル1
を通過して観察者によって視認される光は、コモン電極
121とセグメント電極111との交差に対応する画素
ごとに、その光量が制御されるのである。
In this way, with the PCB side connector 5 and the panel side connector 3 completely fitted, the control signal output from the control circuit on the printed circuit board 4 is output from the connection terminal 52 of the PCB side connector 5. The connection terminal 32 of the panel side connector 3, the wiring 22 of the FPC 2, and the rear side substrate 11
It is supplied to the input terminal of the driver IC 15 through the upper pad 113. The driver IC 15 generates a scanning signal and a data signal according to the signal thus received from the control circuit, and the common electrode 121 (the wiring 11).
2) and the segment electrode 111. And
The liquid crystal 14 sandwiched between the rear-side substrate 11 and the observation-side substrate 12 has its alignment direction by applying a voltage according to the scanning signal applied to the common electrode 121 and the data signal applied to the segment electrode 111. Changes. That is, from the backlight unit to the liquid crystal panel 1
The amount of light that passes through and is visually recognized by the observer is controlled for each pixel corresponding to the intersection of the common electrode 121 and the segment electrode 111.

【0032】<B:検査装置の構成>次に、図6を参照
して、上述した液晶パネル1を検査するための検査装置
の構成を説明する。同図に示すように、この検査装置6
は、本体部61に収容された検査信号生成回路62と、
本体部61に固定された検査用コネクタ7とを有する。
検査信号生成回路62は、液晶パネル1の検査に際し、
当該液晶パネル1のドライバIC15に供給される信号
(以下、「検査信号」という)を生成する回路である。
<B: Configuration of Inspection Device> Next, the configuration of the inspection device for inspecting the liquid crystal panel 1 described above will be described with reference to FIG. As shown in FIG.
Is a test signal generation circuit 62 housed in the main body 61,
The inspection connector 7 is fixed to the main body 61.
The inspection signal generation circuit 62, when inspecting the liquid crystal panel 1,
It is a circuit that generates a signal (hereinafter referred to as “inspection signal”) supplied to the driver IC 15 of the liquid crystal panel 1.

【0033】検査用コネクタ7は、液晶パネル1の検査
を行なうときに、当該液晶パネル1のパネル側コネクタ
3と接続されるコネクタである。ここで、図7は、検査
用コネクタ7の構成を示す斜視図である。同図に示すよ
うに、検査用コネクタ7は、ハウジング部材71と、複
数の接続端子72と、挿入抑止部材73とを有する。ハ
ウジング部材71および接続端子72は、上述したPC
B側コネクタ5のハウジング部材51および接続端子5
2と同様の構成となっている。すなわち、検査用コネク
タ7のハウジング部材71は、図7に示すように、平面
部711と、当該平面部711から突出した凸部712
とを有し、当該凸部712はパネル側コネクタ3におけ
るハウジング部材31の凹部312に係合し得る形状と
なっている。また、検査用コネクタ7の接続端子72
は、ハウジング部材71の凸部712を構成する一方の
側面712aから、当該凸部712の頂上面712bお
よび他方の側面712cに至るように形成された端子で
ある。これらの接続端子72の各々は、凸部712の頂
上面712bから本体部61に至るように設けられたス
ルーホール(図示略)を介して、当該本体部61に収容
された検査信号生成回路62の出力端子に対して電気的
に接続されている。
The inspection connector 7 is a connector which is connected to the panel side connector 3 of the liquid crystal panel 1 when the liquid crystal panel 1 is inspected. Here, FIG. 7 is a perspective view showing the configuration of the inspection connector 7. As shown in the figure, the inspection connector 7 includes a housing member 71, a plurality of connection terminals 72, and an insertion restraining member 73. The housing member 71 and the connection terminal 72 are the above-mentioned PC
Housing member 51 of B-side connector 5 and connection terminal 5
It has the same configuration as that of 2. That is, as shown in FIG. 7, the housing member 71 of the inspection connector 7 has a flat surface portion 711 and a convex portion 712 protruding from the flat surface portion 711.
And the convex portion 712 has a shape capable of engaging with the concave portion 312 of the housing member 31 in the panel-side connector 3. In addition, the connection terminal 72 of the inspection connector 7
Is a terminal formed so as to extend from one side surface 712 a forming the convex portion 712 of the housing member 71 to the top surface 712 b of the convex portion 712 and the other side surface 712 c. Each of these connection terminals 72 is passed through a through hole (not shown) provided so as to extend from the top surface 712b of the convex portion 712 to the main body portion 61, and the inspection signal generation circuit 62 housed in the main body portion 61. Is electrically connected to the output terminal of.

【0034】一方、挿入抑止部材73は、検査用コネク
タ7とパネル側コネクタ3とを接続するときに、双方の
コネクタ同士が完全に嵌合するのを抑止するための部材
であり、例えばプラスチックやゴムなどによって形成さ
れている。図7に示すように、本実施形態における挿入
抑止部材73は、平面視略長方形状のハウジング部材7
1の周囲を囲む環状の部材であり、当該ハウジング部材
71および本体部61に固定されている。さらに、図7
におけるB−B’線からみた断面図である図8に示すよ
うに、挿入抑止部材73のうち本体部61とは反対側の
面(以下、「当接面」という)73aの高さHbは、本
体部61における当該検査用コネクタ7が配置される面
を基準としたときに、凸部712の頂上面712cの高
さHcよりも低く、平面部711の高さHaよりも高く
なっている。
On the other hand, the insertion preventing member 73 is a member for preventing the fitting of both connectors when the inspection connector 7 and the panel side connector 3 are connected, and is made of, for example, plastic or It is made of rubber or the like. As shown in FIG. 7, the insertion restraining member 73 in the present embodiment is a housing member 7 having a substantially rectangular shape in plan view.
It is an annular member that surrounds the periphery of 1, and is fixed to the housing member 71 and the main body 61. Furthermore, FIG.
As shown in FIG. 8 which is a cross-sectional view taken along line BB ′ of FIG. 8, the height Hb of the surface (hereinafter, referred to as “contact surface”) 73a of the insertion restraining member 73 on the side opposite to the main body portion 61 is The height Hc of the top surface 712c of the convex portion 712 is lower than the height Ha of the flat surface portion 711 when the surface of the main body portion 61 on which the inspection connector 7 is arranged is used as a reference. .

【0035】ここで、図9は、検査用コネクタ7とパネ
ル側コネクタ3とが接続された状態を示す断面図であ
る。なお、図9においては、検査用コネクタ7の上下方
向の向きが、図7および図8に示したものとは逆になっ
ていることに留意されたい。
Here, FIG. 9 is a sectional view showing a state in which the inspection connector 7 and the panel side connector 3 are connected. Note that in FIG. 9, the vertical direction of the inspection connector 7 is opposite to that shown in FIGS. 7 and 8.

【0036】同図に示すように、検査用コネクタ7にお
けるハウジング部材71の幅Waは、パネル側コネクタ
3におけるハウジング部材31の幅Wbよりも狭くなっ
ている。したがって、検査用コネクタ7の凸部712を
パネル側コネクタ3の凹部312に挿入させるとき、検
査用コネクタ7におけるハウジング部材71の平面部7
11とパネル側コネクタ3におけるハウジング部材31
の平面部311、または検査用コネクタ7におけるハウ
ジング部材71の凸部712の頂上面712bとパネル
側コネクタ3におけるハウジング部材31の凹部312
の底面312bのいずれかが接触する前の段階で、挿入
抑止部材73の当接面73aがパネル側コネクタ3にお
けるハウジング部材31の平面部311に当接する。こ
の結果、検査用コネクタ7がパネル側コネクタ3に対し
てそれ以上に深く挿入されることが抑止される。換言す
れば、検査用コネクタ7とパネル側コネクタ3とが、完
全に嵌合されることなく係合するのである。ここで、検
査用コネクタ7の接続端子72は凸部712の側面71
2aおよび712cに位置する部分を有する一方、パネ
ル側コネクタ3の接続端子32が凹部312の側面31
2aおよび312cに位置する部分を有するのは上述し
た通りである。このため、検査用コネクタ7のハウジン
グ部材71とパネル側コネクタ3のハウジング部材31
との間で完全な嵌合が抑止されるにもかかわらず、両コ
ネクタの接続端子同士はこれらの部分において導通する
こととなる。
As shown in the figure, the width Wa of the housing member 71 in the inspection connector 7 is narrower than the width Wb of the housing member 31 in the panel side connector 3. Therefore, when the convex portion 712 of the inspection connector 7 is inserted into the concave portion 312 of the panel-side connector 3, the flat surface portion 7 of the housing member 71 in the inspection connector 7 is inserted.
11 and the housing member 31 in the panel side connector 3
Plane portion 311 or the top surface 712b of the convex portion 712 of the housing member 71 of the inspection connector 7 and the concave portion 312 of the housing member 31 of the panel side connector 3.
Before any of the bottom surfaces 312 b of the contact surfaces 73 a of the insertion restraining member 73 contacts the flat surface portion 311 of the housing member 31 of the panel-side connector 3. As a result, the inspection connector 7 is prevented from being inserted deeper into the panel-side connector 3. In other words, the inspection connector 7 and the panel-side connector 3 are engaged with each other without being completely fitted. Here, the connection terminal 72 of the inspection connector 7 is the side surface 71 of the convex portion 712.
2a and 712c, while the connection terminal 32 of the panel-side connector 3 has the side surface 31 of the recess 312.
It is as described above that it has the portions located at 2a and 312c. Therefore, the housing member 71 of the inspection connector 7 and the housing member 31 of the panel-side connector 3
Although the complete fitting is suppressed between the connector and the connector, the connection terminals of both connectors are electrically connected at these portions.

【0037】<C:検査方法>次に、上述した検査装置
6を用いて液晶パネル1の検査を行なう方法について説
明する。この検査の対象となるのは、図10に示すよう
に、パネル側コネクタ3にPCB側コネクタ5が接続さ
れていない状態の液晶パネル1である。
<C: Inspection Method> Next, a method of inspecting the liquid crystal panel 1 using the above-described inspection device 6 will be described. As shown in FIG. 10, the subject of this inspection is the liquid crystal panel 1 in the state where the PCB side connector 5 is not connected to the panel side connector 3.

【0038】まず、図10に示すように、液晶パネル1
のFPC2に実装されたパネル側コネクタ3に、検査装
置6の検査用コネクタ7を接続する。このとき、検査用
コネクタ7におけるハウジング部材71の凸部712
を、パネル側コネクタ3におけるハウジング部材31の
凹部312に完全に嵌合させることなく、両コネクタの
接続端子同士を導通させる。より具体的には、図9に示
したように、パネル側コネクタ3におけるハウジング部
材31の平面部311と検査用コネクタ7におけるハウ
ジング部材71の平面部711、またはパネル側コネク
タ3におけるハウジング部材31の凹部312の底面3
12bと検査用コネクタ7におけるハウジング部材71
の凸部712の頂上面712bのうちいずれかが接触す
る前に、挿入抑止部材73の当接面73aを当該パネル
側コネクタ3におけるハウジング部材31の平面部31
1に当接させる。この結果、パネル側コネクタ3の凹部
312に対する検査用コネクタ7の凸部の挿入が停止さ
れた状態で、接続端子72と接続端子32とが導通す
る。
First, as shown in FIG. 10, the liquid crystal panel 1
The inspection connector 7 of the inspection device 6 is connected to the panel-side connector 3 mounted on the FPC 2. At this time, the convex portion 712 of the housing member 71 in the inspection connector 7
Is not completely fitted into the concave portion 312 of the housing member 31 of the panel-side connector 3, and the connection terminals of both connectors are electrically connected. More specifically, as shown in FIG. 9, the flat surface portion 311 of the housing member 31 in the panel-side connector 3 and the flat surface portion 711 of the housing member 71 in the inspection connector 7, or the housing member 31 in the panel-side connector 3. Bottom surface 3 of recess 312
12b and housing member 71 in the inspection connector 7
Before any one of the top surfaces 712b of the convex portions 712 comes into contact with the flat surface portion 31 of the housing member 31 of the panel-side connector 3, the contact surface 73a of the insertion restraining member 73 is formed.
Abut 1. As a result, the connection terminal 72 and the connection terminal 32 are electrically connected to each other with the insertion of the protrusion of the inspection connector 7 into the recess 312 of the panel-side connector 3 stopped.

【0039】こうして検査用コネクタ7とパネル側コネ
クタ3とが係合した状態で、検査信号生成回路62から
検査信号を出力する。この検査信号は、検査用コネクタ
7の接続端子72からパネル側コネクタ3の接続端子3
2、FPC2の配線22、および背面側基板11上のパ
ッド113を介してドライバIC15の入力端子に供給
される。ドライバIC15は、こうして検査信号生成回
路62から供給された検査信号に基づいて走査信号およ
びデータ信号を生成し、それぞれコモン電極121およ
びセグメント電極111に出力する。ここで、本実施形
態においては、ドライバIC15が検査信号に基づいて
生成した走査信号およびデータ信号によって全ての画素
が点灯するように、検査信号生成回路62から出力され
る検査信号の内容が予め定められているものとする。
In this way, the inspection signal is output from the inspection signal generating circuit 62 with the inspection connector 7 and the panel side connector 3 engaged with each other. This inspection signal is transmitted from the connection terminal 72 of the inspection connector 7 to the connection terminal 3 of the panel side connector 3.
2, the wiring 22 of the FPC 2, and the pad 113 on the rear substrate 11 to supply to the input terminal of the driver IC 15. The driver IC 15 generates a scanning signal and a data signal based on the inspection signal thus supplied from the inspection signal generating circuit 62, and outputs them to the common electrode 121 and the segment electrode 111, respectively. Here, in the present embodiment, the content of the inspection signal output from the inspection signal generation circuit 62 is predetermined such that all the pixels are turned on by the scanning signal and the data signal generated by the driver IC 15 based on the inspection signal. It is supposed to be.

【0040】この液晶パネル1の動作によって画素の点
灯に応じた画像(テストパターン)が表示されると、作
業員が目視によって表示面を観察し、正常に点灯してい
ない画素があるか否かを判定する。この結果、すべての
画素が正常に点灯している場合には良品と判定する一
方、いずれかの画素が点灯していない場合には、例えば
電極の断線といった何らかの不具合が生じていると考え
られるため、不良品と判定する。
When an image (test pattern) corresponding to the lighting of the pixels is displayed by the operation of the liquid crystal panel 1, the operator visually observes the display surface to check whether there is any pixel that is not normally lit. To judge. As a result, when all the pixels are normally lit, it is determined as a non-defective product, whereas when any of the pixels is not lit, it is considered that some trouble such as disconnection of electrodes is caused. , Determined to be defective.

【0041】以上の工程の後、パネル側コネクタ3から
検査用コネクタ7を取り外す。上述したように、検査用
コネクタ7はパネル側コネクタ3に対して完全には嵌合
していないため、両コネクタが完全に嵌合している場合
と比較して、容易に検査用コネクタ7の取り外しを行な
うことができる。この後、PCB側コネクタ5をパネル
側コネクタ3に対して完全に嵌合させる。
After the above steps, the inspection connector 7 is removed from the panel side connector 3. As described above, since the inspection connector 7 is not completely fitted to the panel-side connector 3, the inspection connector 7 can be easily fitted as compared with the case where both connectors are completely fitted. It can be removed. After that, the PCB side connector 5 is completely fitted to the panel side connector 3.

【0042】以上説明したように、本実施形態において
は、検査用コネクタ7とパネル側コネクタ3とを完全に
嵌合させることなく点灯検査を行なうため、検査後にお
いて検査用コネクタ7をパネル側コネクタ3から容易に
取り外すことができる。すなわち、検査用コネクタ7と
パネル側コネクタ3とを完全に嵌合させた状態で点灯検
査を行なった後に当該検査用コネクタ7をパネル側コネ
クタ3から取り外すものとすれば、パネル側コネクタ3
とFPC2との接合部分に多大な応力が作用し、パネル
側コネクタ3がFPC2から剥がれるといった不具合が
生じ得る。これに対し、本実施形態においては、検査用
コネクタ7を取り外すときにパネル側コネクタ3とFP
C2との接合部分に作用する応力を低く抑えることがで
きるから、かかる不具合を未然に防止することができる
のである。
As described above, in the present embodiment, since the lighting inspection is performed without completely fitting the inspection connector 7 and the panel side connector 3, the inspection connector 7 is connected to the panel side connector after the inspection. 3 can be easily removed. That is, if the inspection connector 7 is to be removed from the panel side connector 3 after the lighting inspection is performed with the inspection connector 7 and the panel side connector 3 completely fitted,
A large amount of stress acts on the joint between the FPC2 and the FPC2, and the panel-side connector 3 may be peeled off from the FPC2. On the other hand, in the present embodiment, when the inspection connector 7 is removed, the panel side connector 3 and the FP
Since the stress acting on the joint portion with C2 can be suppressed to a low level, such a problem can be prevented in advance.

【0043】<D:変形例>以上この発明の一実施形態
について説明したが、上記実施形態はあくまでも例示で
あり、上記実施形態に対しては、本発明の趣旨から逸脱
しない範囲で様々な変形を加えることができる。変形例
としては、例えば以下のようなものが考えられる。
<D: Modified Example> Although one embodiment of the present invention has been described above, the above embodiment is merely an example, and various modifications can be made to the above embodiment without departing from the spirit of the present invention. Can be added. For example, the following may be considered as modifications.

【0044】<D−1:変形例1>上記実施形態におい
ては、挿入抑止部材73を検査用コネクタ7および検査
装置6の本体部61に固定した構成を例示したが、挿入
抑止部材73はこれらの部材に固定されたものでなくて
もよい。すなわち、検査装置6に挿入抑止部材73を設
けない構成とし、検査用コネクタ7とパネル側コネクタ
3とを接続するときに、両コネクタの間に挿入抑止部材
73を介挿させるものとしてもよい。要は、パネル側コ
ネクタ3のハウジング部材31と検査用コネクタ7のハ
ウジング部材71とを係合させる工程において、ハウジ
ング部材31の平面部311とハウジング部材71の平
面部711、またはハウジング部材31の凹部312の
底面312bとハウジング部材71の凸部712の頂上
面712bのうちのいずれかが接触する前の段階で、ハ
ウジング部材31の平面部311に対して挿入抑止部材
73の当接面73aを当接させればよいのである。
<D-1: Modification 1> In the above embodiment, the insertion restraining member 73 is fixed to the inspection connector 7 and the main body portion 61 of the inspection device 6, but the insertion restraining member 73 is used as a member. It does not have to be fixed to the member. That is, the inspection device 6 may not be provided with the insertion inhibiting member 73, and the insertion inhibiting member 73 may be interposed between both connectors when the inspection connector 7 and the panel-side connector 3 are connected. In short, in the process of engaging the housing member 31 of the panel-side connector 3 and the housing member 71 of the inspection connector 7, the flat surface portion 311 of the housing member 31 and the flat surface portion 711 of the housing member 71, or the concave portion of the housing member 31. Before any one of the bottom surface 312b of the housing 312 and the top surface 712b of the convex portion 712 of the housing member 71 comes into contact with the flat surface portion 311 of the housing member 31, the contact surface 73a of the insertion restraining member 73 is abutted. You just have to contact them.

【0045】<D−2:変形例2>上記実施形態および
変形例においては、検査用コネクタ7が、凸部712を
有するハウジング部材71と挿入抑止部材73とを備え
る一方、パネル側コネクタ3が、凹部312を有するハ
ウジング部材31を備えた構成を例示したが、凸部と凹
部との関係や挿入抑止部材73の位置は、これに限られ
るものではない。例えば、以下の態様が考えられる。
<D-2: Modification 2> In the above-described embodiment and modification, the inspection connector 7 includes the housing member 71 having the convex portion 712 and the insertion preventing member 73, while the panel-side connector 3 is Although the configuration including the housing member 31 having the concave portion 312 is illustrated, the relationship between the convex portion and the concave portion and the position of the insertion restraining member 73 are not limited to this. For example, the following modes are possible.

【0046】<D−2−1:第1の態様>上記実施形態
および変形例においては、挿入抑止部材73を検査用コ
ネクタ7または検査装置6の本体部61に固定する構成
を例示したが、図11に示すように、挿入抑止部材73
をパネル側コネクタ3またはFPC2に固定する構成と
してもよい。この場合には、挿入抑止部材73の当接面
73aを検査用コネクタ7におけるハウジング部材71
の平面部711に当接させることによって、検査用コネ
クタ7とパネル側コネクタ3との完全な嵌合が妨げられ
る。
<D-2-1: First Mode> In the above-described embodiment and modification, the insertion restraining member 73 is fixed to the inspection connector 7 or the main body portion 61 of the inspection device 6, but the structure is fixed. As shown in FIG. 11, the insertion inhibiting member 73
May be fixed to the panel-side connector 3 or the FPC 2. In this case, the abutting surface 73a of the insertion restraining member 73 may be attached to the housing member 71 of the inspection connector 7.
By abutting the flat portion 711, the complete fitting of the inspection connector 7 and the panel-side connector 3 is hindered.

【0047】<D−2−2:第2の態様>上記実施形態
および変形例においては、パネル側コネクタ3のハウジ
ング部材31に凹部312を設けるとともに、検査用コ
ネクタ7のハウジング部材71に凸部712を設けた構
成を例示したが、凸部と凹部との関係を逆転させてもよ
い。すなわち、例えば、図12に示すように、ハウジン
グ部材31に凸部313が形成されたパネル側コネクタ
3を有する液晶パネル1を検査対象とする場合には、検
査用コネクタ7のハウジング部材71に、当該凸部31
3と嵌合する凹部713を設けた構成としてもよい。こ
の場合にも、上記実施形態と同様に、挿入抑止部材73
の当接面73aをパネル側コネクタ3におけるハウジン
グ部材31の平面部311に当接させることによって、
検査用コネクタ7とパネル側コネクタ3との完全な嵌合
が妨げられる。
<D-2-2: Second Mode> In the above embodiment and modification, the housing member 31 of the panel-side connector 3 is provided with the recess 312, and the housing member 71 of the inspection connector 7 is provided with the projection. Although the configuration in which 712 is provided is illustrated, the relationship between the convex portion and the concave portion may be reversed. That is, for example, as shown in FIG. 12, when the liquid crystal panel 1 having the panel side connector 3 in which the convex portion 313 is formed on the housing member 31 is to be inspected, the housing member 71 of the inspection connector 7 is The convex portion 31
It is also possible to provide a concave portion 713 that fits with the No. 3 connector. Also in this case, as in the above embodiment, the insertion preventing member 73
By bringing the contact surface 73a of the above into contact with the flat surface portion 311 of the housing member 31 in the panel side connector 3,
Complete fitting of the inspection connector 7 and the panel-side connector 3 is hindered.

【0048】<D−2−3:第3の態様>上記第2の態
様においては、上記実施形態および変形例と同様に、挿
入抑止部材73を検査用コネクタ7または検査装置6の
本体部61に固定する場合を例示したが、図13に示す
ように、挿入抑止部材73をパネル側コネクタ3または
FPC2に固定する構成としてもよい。この場合には、
挿入抑止部材73の当接面73aを、検査用コネクタ7
におけるハウジング部材71の平面部711に当接させ
ることによって、検査用コネクタ7とパネル側コネクタ
3との完全な嵌合が妨げられる。
<D-2-3: Third Mode> In the second mode, the insertion restraining member 73 is connected to the inspection connector 7 or the main body 61 of the inspection apparatus 6 as in the above-described embodiment and modification. Although the case where the insertion restraining member 73 is fixed to the panel side connector 3 or the FPC 2 is shown in FIG. In this case,
The contact surface 73a of the insertion restraining member 73 is connected to the inspection connector 7
By abutting against the flat surface portion 711 of the housing member 71 in, the complete fitting of the inspection connector 7 and the panel side connector 3 is hindered.

【0049】<D−3:変形例3>上記実施形態におい
ては、パネル側コネクタ3がFPC2の基材21に実装
された構成を例示したが、プリント基板上にパネル側コ
ネクタ3が実装された構成の液晶パネルを、本発明に係
る検査方法の対象とすることもできる。この場合にも、
上記実施形態と同様の効果が得られる。もっとも、上記
実施形態に示したように、パネル側コネクタ3の配設さ
れる部分をフィルム状の基材21とした場合には、パネ
ル側コネクタ3が基材21から特に剥がれやすいと考え
られる。したがって、検査用コネクタ7をパネル側コネ
クタ3から取り外すときに当該パネル側コネクタ3が剥
がれるのを防止するという本発明の効果は、パネル側コ
ネクタ3が可撓性を有する基材上に設けられている場合
に特に顕著に奏されるということができる。
<D-3: Modification 3> In the above embodiment, the panel-side connector 3 is mounted on the base material 21 of the FPC 2, but the panel-side connector 3 is mounted on the printed circuit board. The liquid crystal panel having the configuration can also be the target of the inspection method according to the present invention. Also in this case,
The same effect as the above embodiment can be obtained. However, as shown in the above-described embodiment, when the portion where the panel-side connector 3 is disposed is the film-shaped base material 21, it is considered that the panel-side connector 3 is particularly easily peeled from the base material 21. Therefore, the effect of the present invention of preventing the panel-side connector 3 from peeling when the inspection connector 7 is detached from the panel-side connector 3 is that the panel-side connector 3 is provided on a flexible base material. It can be said that it is played remarkably when it is present.

【0050】<D−4:変形例4>上記実施形態および
変形例においては、挿入抑止部材73の当接面73aを
パネル側コネクタ3の平面部311または検査用コネク
タ7の平面部711に当接させることによって、凹部に
対する凸部の挿入を停止させるものとした。しかしなが
ら、当該挿入を停止させるための手段はこれに限られる
ものではなく、挿入抑止部材73を用いずに挿入を停止
させてもよい。すなわち、上記実施形態に示した検査方
法を例にとると、検査用コネクタ7の凸部712をパネ
ル側コネクタ3の凹部312に挿入させるときに当該検
査用コネクタ7をパネル側コネクタ3の方向に加圧する
一方、両コネクタが完全に嵌合する前の段階でその加圧
を停止するようにしてもよい。この場合にもパネル側コ
ネクタ3と検査用コネクタ7との完全な嵌合は回避され
るから、上記実施形態と同様の効果が得られる。
<D-4: Modified Example 4> In the above-described embodiment and modified example, the contact surface 73a of the insertion restraining member 73 contacts the flat surface portion 311 of the panel side connector 3 or the flat surface portion 711 of the inspection connector 7. The contact of the projections with the depressions is stopped. However, the means for stopping the insertion is not limited to this, and the insertion may be stopped without using the insertion restraining member 73. That is, taking the inspection method shown in the above embodiment as an example, when the convex portion 712 of the inspection connector 7 is inserted into the concave portion 312 of the panel-side connector 3, the inspection connector 7 is moved in the direction of the panel-side connector 3. While pressurizing, the pressurizing may be stopped at a stage before both connectors are completely fitted. In this case as well, the complete fitting of the panel-side connector 3 and the inspection connector 7 is avoided, so that the same effect as the above-described embodiment can be obtained.

【0051】<D−5:変形例5>上記実施形態および
変形例においては、液晶パネルによって表示された画像
を作業員が視認して当該液晶パネルの良否を判定するよ
うにしたが、良否を判定する手法はこれに限られるもの
ではない。例えば、CCD(Charge Coupled Device)
カメラ等によって表示画像を撮像し、この画像に対して
パーソナルコンピュータ等を用いた画像処理を行うこと
によって、点灯していない画素の存否の判定、およびこ
の結果に応じた液晶パネルの良否の判定を行うようにし
てもよい。また、上記実施形態においては、検査に際し
てすべての画素を点灯させるようにしたが、これに限ら
ず、画素を選択的に点灯させて所定のテストパターンを
表示させるようにしてもよい。
<D-5: Modification 5> In the above-described embodiment and modification, the operator visually recognizes the image displayed by the liquid crystal panel to judge the quality of the liquid crystal panel. The determination method is not limited to this. For example, CCD (Charge Coupled Device)
A display image is picked up by a camera or the like, and image processing using a personal computer or the like is performed on this image to determine the presence / absence of pixels that are not lit and the quality of the liquid crystal panel according to this result. It may be performed. Further, in the above-described embodiment, all the pixels are turned on at the time of inspection, but the present invention is not limited to this, and the pixels may be selectively turned on to display a predetermined test pattern.

【0052】<D−6:変形例6>上記実施形態および
各変形例においては、電気光学物質として液晶を用いた
液晶パネルを検査対象とした場合を例示したが、本発明
による検査対象はこれに限られるものではない。例え
ば、電気光学物質としてエレクトロルミネッセンスを用
いたELパネルといった各種の電気光学パネルを、本発
明に係る検査方法を用いた検査の対象としてもよい。さ
らに、本発明による検査対象は電気光学装置に限られる
ものではなく、配線基板上に設けられたコネクタを有す
る全ての電子機器を、本発明に係る検査方法を用いた検
査の対象とすることができる。このように、電気光学パ
ネルに対する点灯検査のみならず、検査対象たる電子機
器に対して検査信号を供給して当該電気機器の良否を判
定するすべての検査方法について、本発明に係る検査方
法を適用することができる。
<D-6: Modified Example 6> In the above-described embodiment and modified examples, the case where the liquid crystal panel using liquid crystal as the electro-optical material is the object to be inspected has been exemplified. It is not limited to. For example, various electro-optical panels such as EL panels using electroluminescence as the electro-optical substance may be targets for inspection using the inspection method according to the present invention. Further, the inspection target according to the present invention is not limited to the electro-optical device, and all electronic devices having the connector provided on the wiring board may be subjected to the inspection using the inspection method according to the present invention. it can. As described above, the inspection method according to the present invention is applied not only to the lighting inspection for the electro-optical panel but also to all the inspection methods for supplying the inspection signal to the electronic device to be inspected to judge the quality of the electric device. can do.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
検査用コネクタの取り外しに起因した不具合の発生を抑
えることができる。
As described above, according to the present invention,
It is possible to suppress the occurrence of defects caused by the removal of the inspection connector.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明に係る検査方法による検査の対象とな
る液晶表示パネルの構成を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a liquid crystal display panel to be inspected by an inspection method according to the present invention.

【図2】 図1におけるA−A’線からみた断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG.

【図3】 本実施形態に係る液晶表示パネルのパネル側
コネクタの形状を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a shape of a panel side connector of the liquid crystal display panel according to the present embodiment.

【図4】 同パネル側コネクタに接続されるPCB側コ
ネクタの形状を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a shape of a PCB side connector connected to the panel side connector.

【図5】 同パネル側コネクタとPCB側コネクタとが
接続されたときの構成を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a configuration when the panel side connector and the PCB side connector are connected.

【図6】 同検査方法を実行するための検査装置の構成
を示すブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of an inspection device for executing the inspection method.

【図7】 本実施形態に係る検査装置における検査用コ
ネクタの形状を示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing a shape of an inspection connector in the inspection device according to the present embodiment.

【図8】 図7におけるB−B’線からみた断面図であ
る。
FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ in FIG.

【図9】 パネル側コネクタと検査用コネクタとが接続
されたときの構成を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing the configuration when the panel-side connector and the inspection connector are connected.

【図10】 同検査方法の内容を説明するための側面図
である。
FIG. 10 is a side view for explaining the contents of the inspection method.

【図11】 本発明の変形例においてパネル側コネクタ
と検査用コネクタとが接続されたときの構成を示す断面
図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a configuration when a panel side connector and an inspection connector are connected in a modified example of the present invention.

【図12】 本発明の変形例においてパネル側コネクタ
と検査用コネクタとが接続されたときの構成を示す断面
図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a configuration when a panel-side connector and an inspection connector are connected in a modified example of the present invention.

【図13】 本発明の変形例においてパネル側コネクタ
と検査用コネクタとが接続されたときの構成を示す断面
図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a configuration when a panel-side connector and an inspection connector are connected in a modified example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1……液晶パネル(電子機器)、11……背面側基板、
11a……張出領域、111……セグメント電極、11
2……引廻し配線、113……パッド、12……観察側
基板、121……コモン電極、13……シール材、14
……液晶、15……ドライバIC、2……FPC(配線
基板)、21……基材、22……配線、3……パネル側
コネクタ(機器側コネクタ)、31……ハウジング部材
(機器側ハウジング部材)、32……接続端子(機器側
接続端子)、4……PCB、5……PCB側コネクタ、
51……ハウジング部材、52……接続端子、6……検
査装置、61……本体部、62……検査信号生成回路、
7……検査用コネクタ、71……ハウジング部材(検査
側ハウジング部材)、72……接続端子(検査側接続端
子)、73……挿入抑止部材、73a……当接面。
1 ... Liquid crystal panel (electronic device), 11 ... Rear side substrate,
11a ... Overhang area, 111 ... Segment electrode, 11
2 ... Wiring wiring, 113 ... Pad, 12 ... Observation side substrate, 121 ... Common electrode, 13 ... Sealing material, 14
... liquid crystal, 15 ... driver IC, 2 ... FPC (wiring board), 21 ... base material, 22 ... wiring, 3 ... panel side connector (device side connector), 31 ... housing member (device side) Housing member), 32 ... Connection terminal (device side connection terminal), 4 ... PCB, 5 ... PCB side connector,
51 ... Housing member, 52 ... Connection terminal, 6 ... Inspection device, 61 ... Main body part, 62 ... Inspection signal generation circuit,
7 ... Inspection connector, 71 ... Housing member (inspection-side housing member), 72 ... Connection terminal (inspection-side connection terminal), 73 ... Insertion suppression member, 73a.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01R 24/00 H01R 23/68 303D Fターム(参考) 2G036 AA28 BA33 BB12 CA09 CA11 2H088 FA12 FA13 FA30 HA02 HA05 HA06 MA20 2H092 GA50 GA54 GA57 GA60 MA56 NA15 NA29 PA06 QA07 5E023 AA04 AA16 BB02 BB22 BB23 BB29 CC02 DD01 HH18 HH21 5G435 AA17 BB12 EE41 KK05 KK10─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01R 24/00 H01R 23/68 303D F term (reference) 2G036 AA28 BA33 BB12 CA09 CA11 2H088 FA12 FA13 FA30 HA02 HA05 HA06 MA20 2H092 GA50 GA54 GA57 GA60 MA56 NA15 NA29 PA06 QA07 5E023 AA04 AA16 BB02 BB22 BB23 BB29 CC02 DD01 HH18 HH21 5G435 AA17 BB12 EE41 KK05 KK10

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平面部および当該平面部から突出した凸
部を有する検査側ハウジング部材と、前記凸部の側面に
位置する部分を有する検査側接続端子とを備えた検査用
コネクタを用いて、平面部および当該平面部に設けられ
た凹部を有する機器側ハウジング部材と、前記凹部の側
面に位置する部分を有する機器側接続端子とを備えた機
器側コネクタが配線基板上に実装された電子機器を検査
する方法であって、 前記機器側ハウジング部材の凹部と前記検査側ハウジン
グ部材の凸部とを係合させる工程であって、前記機器側
ハウジング部材の平面部と前記検査側ハウジング部材の
平面部、または前記機器側ハウジング部材の凹部の底面
と前記検査側ハウジング部材の凸部の頂上面のいずれか
が接触する前に、前記機器側ハウジング部材の凹部に対
する前記検査側ハウジング部材の凸部の挿入を停止させ
る第1工程と、 当該挿入を停止させた状態で、前記検査側接続端子およ
び前記機器側接続端子を介して、前記電子機器に検査信
号を供給する第2工程とを有することを特徴とする電子
機器の検査方法。
1. An inspection connector including an inspection-side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion, and an inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface of the convex portion, An electronic device in which a device-side connector including a device-side housing member having a flat surface portion and a recess provided in the flat surface portion and a device-side connection terminal having a portion located on a side surface of the recessed portion is mounted on a wiring board. Is a method of inspecting, wherein the step of engaging the concave portion of the device-side housing member and the convex portion of the inspection-side housing member, the flat surface portion of the device-side housing member and the flat surface of the inspection-side housing member Part or the bottom surface of the concave portion of the equipment-side housing member and the top surface of the convex portion of the inspection-side housing member before contacting the concave portion of the equipment-side housing member. A first step of stopping the insertion of the convex portion of the inspection side housing member, and an inspection signal to the electronic device via the inspection side connection terminal and the device side connection terminal in the state where the insertion is stopped. And a second step of supplying.
【請求項2】 平面部および当該平面部に設けられた凹
部を有する検査側ハウジング部材と、当該凹部の側面に
位置する部分を有する検査側接続端子とを備えた検査用
コネクタを用いて、平面部および当該平面部から突出し
た凸部を有する機器側ハウジング部材と、当該凸部の側
面に位置する部分を有する機器側接続端子とを備える機
器側コネクタが配線基板上に実装された電子機器を検査
する方法であって、 前記機器側ハウジング部材の凸部と前記検査側ハウジン
グ部材の凹部とを係合させる工程であって、前記機器側
ハウジング部材の平面部と前記検査側ハウジング部材の
平面部、または前記機器側ハウジング部材の凸部の頂上
面と前記検査側ハウジング部材の凹部の底面のいずれか
が接触する前に、前記検査側ハウジング部材の凹部に対
する前記機器側ハウジング部材の凸部の挿入を停止させ
る第1工程と、 当該挿入を停止させた状態で、前記検査側接続端子およ
び前記機器側接続端子を介して、前記電子機器に検査信
号を供給する第2工程とを有することを特徴とする電子
機器の検査方法。
2. A flat surface using an inspection connector having an inspection-side housing member having a flat surface portion and a concave portion provided in the flat surface portion, and an inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface of the concave portion. Part and a device-side housing member having a convex part protruding from the plane part, and a device-side connector having a device-side connection terminal having a part located on the side surface of the convex part, an electronic device mounted on a wiring board. A method of inspecting, which is a step of engaging a convex portion of the equipment-side housing member and a concave portion of the inspection-side housing member, the flat surface portion of the equipment-side housing member and the flat surface portion of the inspection-side housing member. Or before the top surface of the convex portion of the device-side housing member and the bottom surface of the concave portion of the inspection-side housing member come into contact with each other, in the concave portion of the inspection-side housing member. The first step of stopping the insertion of the convex portion of the equipment-side housing member, and in the state where the insertion is stopped, an inspection signal is sent to the electronic equipment via the inspection-side connection terminal and the equipment-side connection terminal. And a second step of supplying.
【請求項3】 前記第1工程においては、 前記機器側ハウジング部材の平面部または前記検査側ハ
ウジング部材の平面部のうち少なくとも一方に挿入抑止
部材を当接させることにより、前記凹部に対する前記凸
部の挿入を停止させることを特徴とする請求項1または
2に記載の電子機器の検査方法。
3. In the first step, the insertion restraining member is brought into contact with at least one of the flat surface portion of the device-side housing member or the flat surface portion of the inspection-side housing member, so that the convex portion with respect to the concave portion. The method of inspecting an electronic device according to claim 1 or 2, characterized in that the insertion of the is stopped.
【請求項4】 前記第1工程においては、 前記検査用コネクタに固定された前記挿入抑止部材を前
記機器側ハウジング部材の平面部に当接させることによ
り、前記凹部に対する前記凸部の挿入を停止させること
を特徴とする請求項3に記載の電子機器の検査方法。
4. In the first step, the insertion preventing member fixed to the inspection connector is brought into contact with a flat surface portion of the device-side housing member to stop the insertion of the convex portion into the concave portion. The method for inspecting an electronic device according to claim 3, wherein the inspection method is performed.
【請求項5】 前記配線基板は可撓性を有するフレキシ
ブル配線基板であることを特徴とする請求項1または2
に記載の電子機器の検査方法。
5. The flexible wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is flexible.
The method for inspecting electronic devices described in.
【請求項6】 前記電子機器は、前記配線基板が接合さ
れたパネル基板と、当該パネル基板上に形成されるとと
もに前記機器側接続端子に導通する配線とを有する電気
光学装置であることを特徴とする請求項1または2に記
載の電子機器の検査方法。
6. The electronic device is an electro-optical device having a panel substrate to which the wiring substrate is joined, and wiring formed on the panel substrate and electrically connected to the device-side connection terminal. The method for inspecting an electronic device according to claim 1 or 2.
【請求項7】 平面部および当該平面部に設けられた凹
部を有する機器側ハウジング部材と、前記凹部の側面に
位置する部分を有する機器側接続端子とを備える機器側
コネクタが配線基板上に実装された電子機器を検査する
ための検査用コネクタであって、 平面部および当該平面部から突出した凸部を有する検査
側ハウジング部材と、 前記凸部の側面に位置する部分を有する検査側接続端子
と、 前記検査側ハウジング部材の平面部からみて前記凸部の
頂上面よりも低い当接面であって、前記凸部を前記機器
側ハウジング部材の凹部に係合させるときに、前記機器
側ハウジング部材の平面部または前記配線基板の表面に
当接する当接面を有する挿入抑止部材とを具備すること
を特徴とする検査用コネクタ。
7. A device-side connector including a device-side housing member having a flat surface and a recess provided in the flat surface and a device-side connection terminal having a portion located on a side surface of the recess is mounted on a wiring board. And a test-side connector having a flat portion and a convex portion protruding from the flat portion, and a test-side connecting terminal having a portion located on a side surface of the convex portion. And a contact surface lower than the top surface of the convex portion when viewed from the plane portion of the inspection-side housing member, and when the convex portion is engaged with the concave portion of the device-side housing member, the device-side housing A connector for inspection, comprising: an insertion restraining member having a contact surface that comes into contact with the flat surface of the member or the surface of the wiring board.
【請求項8】 平面部および当該平面部から突出した凸
部を有する機器側ハウジング部材と、前記凸部の側面に
位置する部分を有する機器側接続端子とを備える機器側
コネクタが配線基板上に実装された電子機器を検査する
ための検査用コネクタであって、 平面部および当該平面部に設けられた凹部を有する検査
側ハウジング部材と、 前記凹部の側面に位置する部分を有する検査側接続端子
と、 前記検査側ハウジング部材の凹部の底面からみて当該検
査側ハウジング部材の平面部よりも高い当接面であっ
て、当該凹部を前記機器側ハウジング部材の凸部に係合
させるときに、前記機器側ハウジング部材の平面部また
は前記配線基板の表面に当接する当接面を有する挿入抑
止部材とを具備することを特徴とする検査用コネクタ。
8. A device-side connector including a device-side housing member having a flat surface portion and a convex portion protruding from the flat surface portion, and a device-side connection terminal having a portion located on a side surface of the convex portion is provided on a wiring board. An inspection connector for inspecting a mounted electronic device, comprising: an inspection-side housing member having a flat surface portion and a recess provided in the flat surface portion; and an inspection-side connection terminal having a portion located on a side surface of the recessed portion. A contact surface that is higher than the flat surface portion of the inspection-side housing member when viewed from the bottom surface of the recess of the inspection-side housing member, and when the concave portion is engaged with the convex portion of the device-side housing member, A connector for inspection, comprising: an insertion restraining member having a contact surface for contacting a flat surface portion of a device-side housing member or a surface of the wiring board.
【請求項9】 前記挿入抑止部材は、前記検査側ハウジ
ング部材の周囲を囲む環状の部材であることを特徴とす
る請求項7または8に記載の検査用コネクタ。
9. The inspection connector according to claim 7, wherein the insertion suppressing member is an annular member that surrounds the periphery of the inspection-side housing member.
【請求項10】 請求項7乃至9のいずれかに記載の検
査用コネクタと、 前記検査用コネクタの検査側接続端子に対して検査信号
を供給する信号供給回路とを具備することを特徴とする
検査装置。
10. The inspection connector according to claim 7, and a signal supply circuit for supplying an inspection signal to an inspection-side connection terminal of the inspection connector. Inspection device.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007005914A (en) * 2005-06-21 2007-01-11 Kyocera Corp Portable terminal with camera
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