JP2008026249A - 可変容量値検出回路およびその駆動方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】可変容量値検出回路は、物理現象に伴って容量値が変化する可変容量101と、積分容量102と演算増幅器103とを有する積分回路109と、可変容量101または積分回路109に接続する複数のスイッチとを備えている。複数のスイッチを適宜オンまたはオフさせることによって、可変容量101に電荷を蓄積させるステップと、可変容量101に蓄積された電荷を積分容量102に転送するステップとを交互に複数回繰り返し、ノイズの低減を図る。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の第1実施形態に係る可変容量値検出回路について、図面を用いて説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る可変容量値検出回路の構成例を示す回路図である。
図2は、本実施形態の可変容量値検出回路の各部における信号波形を示すチャート図である。同図では、第1のスイッチ105および第2のスイッチ104の制御信号と、バイアス固定電圧V1、駆動電圧V2と、センサキャパシタ(Cs)101に蓄積される電荷量と、積分容量(Cint)102に蓄積される電荷量と、可変容量値検出回路の出力部108からの出力電圧とをそれぞれ示す。なお、本実施形態の例では、第1のスイッチ105および第2のスイッチ104は、それぞれの制御信号がハイレベルの期間にオン状態となり、それぞれの制御信号がローレベルの期間にオフ状態となる。
Vout=V1
となっている。
次に、第2のスイッチ104および第3のスイッチ110をオフ状態にする。この時、電荷Qsはセンサキャパシタ101に蓄積された状態となっている。
ここで、Cintは積分容量102の電気容量である。
Qint(N)=N×Qs
となる。この時、出力電圧Vout(N)は、図2に示すように、
Vout(N)=N×Qs/Cint+V1
となる。
基準状態における出力電圧と比較するなどして物理現象を検知することができる。
以上で説明した本実施形態の可変容量値検出回路およびその駆動方法によれば、いわゆるスイッチドキャパシタ(センサキャパシタ101)に蓄積された電荷を複数回にわたって積分回路109内の積分容量102に転送する。このため、センサキャパシタ101と積分回路109との間に設けられたスイッチで生じる熱雑音の影響を小さくすることができる。スイッチとして用いられるMOSトランジスタで生じる熱雑音は、正負がランダムにばらついている。従って、センサキャパシタ101から積分容量102への電荷の転送を1回のみ行う場合の熱雑音をVnとすると、当該電荷の転送をN回繰り返した場合の熱雑音は、(1/√N)×Vnとなり、電荷の転送回数を増やせば増やす程、熱雑音の影響を低減でき、S/N比(信号とノイズの比)を向上させることができる。
−回路構成−
図3は、本発明の第2の実施形態に係る可変容量値検出回路を示す回路図である。同図において、第1の実施形態の可変容量値検出回路と同じ部分には図1と同じ符号を付している。また、第1の実施形態の可変容量値検出回路と機能および構成が同じ部分についての説明は省略あるいは簡略化する。
図4は、本実施形態の可変容量値検出回路の各部における信号波形を示すチャート図である。以下では、本実施形態の可変容量値検出回路の動作が第1の実施形態の可変容量検出回路の動作と異なる点を重点的に説明する。
ΔQint=ΔQs−ΔQr
となる。積分をN回繰り返すと積分容量102には、下式で求められるQint(N)の電荷が蓄積される。
なお、Cs>Crであるので、Qint(N)は必ず正の値になる。
本実施形態の回路構成および駆動方法を用いることにより、センサ容量Csが変化する際に、主としてCsの変化に起因する電荷のみを積分容量102に蓄積できるようになる。従って、例えば本実施形態の可変容量値検出回路を赤外線検知センサとして用いる場合、背景温度に対する対象物の差分温度を強調して検知することができる。すなわち、ある対象物を検知する時の信号電圧Vsは背景温度による信号電圧Vbgと対象物の背景温度に対する差分電圧Vobjの和で表現でき、
Vs=Vbg+Vobj
となる。この時様々な外乱に起因する雑音電圧をVnとすると、信号と雑音の比Vs/Vnは、
Vs/Vn=(Vbg+Vobj)/Vn
となる。この時Vbgが大きければ対象物に起因するVobjはVbgに埋もれてしまい、S/N比はかなり低い値になってしまう。
Vs/Vn=Vobj/Vn
とすることができ、S/N比を大きくすることができる。また、積分容量102にCsの変化に起因する電荷のみを蓄積することができるので、積分容量102がすぐに飽和するのを防ぎ、センサキャパシタ101から積分容量102への電荷の転送を複数回行いやすくすることができる。このため、積分容量102を特段大きくすることなく、ノイズの低減を図ることができるようになり、装置面積の低減と検出精度の向上とを同時に図ることができるようになる。
−回路構成−
図5は、本発明の第3の実施形態に係る可変容量値検出回路を示す回路図である。同図において、第1および第2の実施形態の可変容量値検出回路と同じ部分には図1および図3と同じ符号を付している。また、第1および第2の実施形態の可変容量値検出回路と機能および構成が同じ部分についての説明は省略あるいは簡略化する。
図6(a)、(b)は、本実施形態の可変容量値検出回路における、センサキャパシタ(Cs)101、参照容量312および積分容量102に蓄積される電荷を示すチャート図である。 図6(a)に示す波形は、演算増幅器103の入力に入力オフセットずれが存在する場合の波形例を示している。
また、参照容量312に蓄積された電荷ΔQrが転送される際、入力オフセット電圧に起因して参照容量312から積分容量102への転送量は逆にΔQosrだけ増える。
従って、オフセットキャンセル手段が設けられない場合、積分容量102に実際に蓄積される電荷は、本来積分容量102に蓄積されるべき電荷から電荷ΔQoss+ΔQosrだけずれてしまう。このことを防ぐために、本実施形態では演算増幅器103に発生するオフセット電圧の影響をキャンセルするための仕組みを設けている。
本実施形態の可変容量値検出回路によれば、結果的に演算増幅器103に個別の入力オフセット電圧が存在し両入力端子の電圧が互いに等しくならない場合であっても、オフセットキャンセル容量518を用いて演算増幅器103の入力電圧のずれを補正することができる。特に、後の実施形態で示すように、センサキャパシタをアレー状に配置した場合でも、列ごとに出力電圧がばらつくのを防ぐことができる。
図7は、本発明の第4の実施形態に係る可変容量値検出回路を示す回路図である。本実施形態では、センサキャパシタがアレー状(行列状)に配置された可変容量値検出回路の例について説明する。ここでは、M行×N列のセンサキャパシタが配置された例を示している。センサキャパシタ101は、第1のスイッチ105、第2のスイッチ104、第3のスイッチ110、第4のスイッチ111と共に、アレー状に配置される。
102 積分容量
103 演算増幅器
104 第2のスイッチ
105 第1のスイッチ
106 第1の電圧入力端子
107 第2の電圧入力端子
108 出力部
109、509 積分回路
110 第3のスイッチ
111 第4のスイッチ
312 参照容量
313 第6のスイッチ
314 第5のスイッチ
515 第1のオフセットキャンセルスイッチ
516 第2のオフセットキャンセルスイッチ
517 第3のオフセットキャンセルスイッチ
518 オフセットキャンセル容量
Claims (16)
- 第1の電極と第2の電極とを有し、物理現象に伴って容量値が変化する可変容量と、
第1の基準電圧を前記第1の電極に印加するための第1のスイッチと、
前記第1のスイッチと同時にオン状態にならず、前記第1の基準電圧とは異なる第2の基準電圧を前記第1の電極に印加するための第2のスイッチと、
前記第2のスイッチと同期して動作し、前記第1の基準電圧を前記第2の電極に印加するための第3のスイッチと、
前記第1のスイッチと同期して動作し、前記第2の電極に接続された第4のスイッチと、
前記第1のスイッチおよび前記第3のスイッチに接続され、前記第1の基準電圧が入力される第1の入力端子と、前記第4のスイッチに接続された第2の入力端子とを有し、前記第1の入力端子と前記第2の入力端子との間の電位差を増幅する演算増幅器と、前記演算増幅器の出力部と前記第2の入力端子との間に介設された積分容量とを有し、入力された電荷信号を積分する積分回路と
を備えている可変容量値検出回路。 - 前記演算増幅器には電源電圧および接地電圧が供給されており、
前記第1の基準電圧と前記第2の基準電圧との差分電圧の絶対値が前記電源電圧より低いことを特徴とする請求項1に記載の可変容量値検出回路。 - 前記可変容量の容量値は温度に応じて変化することを特徴とする請求項1または2に記載の可変容量値検出回路。
- 前記積分回路は、前記積分容量の両端を電気的に短絡させるためのリセット用スイッチをさらに有していることを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか1つに記載の可変容量値検出回路。
- 前記積分回路は複数個設けられるとともに列状に配置されており、
前記可変容量、前記第1のスイッチ、前記第2のスイッチ、前記第3のスイッチおよび前記第4のスイッチで構成される回路は行列状に配置されるとともに、1つの列に属する前記回路は、複数の前記積分回路の各々から見て並列に接続されていることを特徴とする請求項1〜4のうちいずれか1つに記載の可変容量値検出回路。 - 前記演算増幅器の第1の入力端子に接続され、前記第1の基準電圧が印加される第3の電極と、第4の電極とを有する参照容量と、
前記演算増幅器の前記第2の入力端子および前記積分容量と前記第4の電極との間に介設され、前記第2のスイッチと同期して動作する第5のスイッチと、
前記第1のスイッチと同期して動作し、前記第4の電極に前記第2の基準電圧を印加するための第6のスイッチと
をさらに備えていることを特徴とする請求項1〜5のうちいずれか1つに記載の可変容量値検出回路。 - 前記参照容量の容量値は前記可変容量の容量値よりも小さいことを特徴とする請求項6に記載の可変容量値検出回路。
- 前記積分回路は、
前記演算増幅器の前記第2の入力端子に接続された第5の電極と、前記第4のスイッチに接続された第6の電極とを有するオフセットキャンセル容量と、
前記演算増幅器の出力部と前記第2の入力端子および前記第5の電極との間に介設された第1のオフセットキャンセルスイッチと、
前記積分容量と前記第6の電極との間に介設され、前記第1のオフセットキャンセルスイッチと同期して動作する第2のオフセットキャンセルスイッチと、
前記第6の電極と前記演算増幅器の前記第1の入力端子との間に介設され、前記第1のオフセットキャンセルスイッチおよび前記第2のオフセットキャンセルスイッチと同時にオン状態にならず、前記第6の電極に前記第1の基準電圧を印加するための第3のオフセットキャンセルスイッチと
をさらに有していることを特徴とする請求項1〜7のうちいずれか1つに記載の可変容量値検出回路。 - 第1の電極および第2の電極を有し、物理現象に伴って容量値が変化する可変容量と、第1の基準電圧が入力される第1の入力端子と、第2の入力端子とを有し、前記第1の入力端子と前記第2の入力端子との間の電位差を増幅する演算増幅器と、前記演算増幅器の出力部と前記第2の入力端子との間に介設された積分容量とを有し、入力された電荷信号を積分する積分回路とを備えた可変容量値検出回路の駆動方法であって、
前記可変容量を充電するステップ(a)と、
前記第1の電極を前記第1の入力端子に接続させ、前記第2の電極を前記第2の入力端子および前記積分容量に接続させることにより、前記ステップ(a)で前記可変容量に蓄積された前記電荷信号を前記積分容量に転送するステップ(b)と、
前記積分回路の出力電圧を用いて前記物理現象を検知するステップ(c)とを備え、
前記ステップ(a)と、前記ステップ(b)とを交互に複数サイクル行った後に前記ステップ(c)を行うことを特徴とする可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記演算増幅器には電源電圧および接地電圧が供給されており、
前記可変容量に印加される電圧の絶対値は、前記電源電圧よりも低く、且つ前記電源電圧を前記ステップ(a)および前記ステップ(b)のサイクル数で除算した値以上であることを特徴とする請求項9に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記積分回路は、前記積分容量の両端を電気的に短絡させるためのリセット用スイッチをさらに有しており、
前記ステップ(c)の後に、前記リセット用スイッチをオンすることにより、前記積分回路の動作をリセットするステップ(d)をさらに備えていることを特徴とする請求項9または10に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記積分回路は複数個設けられるとともに列状に配置されており、
前記可変容量は行列状に配置されるとともに、1つの列に属する前記可変容量は、複数の前記積分回路の各々から見て並列に接続されており、
前記ステップ(a)と、前記ステップ(b)とを交互に複数回行って1つの列に属する前記可変容量から各行に配置された前記積分容量への前記電荷信号の転送を同時に行ない、
前記ステップ(d)を挟んで順次次の列に属する前記可変容量から各行に配置された前記積分容量への前記電荷信号の転送を行うことを特徴とする請求項11に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記可変容量値検出回路は第3の電極および第4の電極を有する参照容量をさらに備えており、
前記ステップ(b)と同時に、前記演算増幅器から見て逆極性の電荷を前記参照容量に蓄積させるステップ(e)と、
前記ステップ(a)と同時に、前記第3の電極を前記第1の入力端子に接続させ、前記第4の電極を前記第2の入力端子および前記積分容量に接続させることにより、前記参照容量に蓄積された電荷を前記積分容量に転送するステップ(f)とをさらに備えていることを特徴とする請求項9〜12のうちいずれか1つに記載の可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記参照容量の容量値は前記可変容量の容量値よりも小さいことを特徴とする請求項13に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。
- 前記積分回路は、前記第2の入力端子に接続された第5の電極と、第6の電極とを有するオフセットキャンセル容量をさらに有しており、
前記ステップ(b)および前記ステップ(f)を除く期間中に、前記第5の電極を前記演算増幅器の出力部に接続させるとともに、前記第6の電極を前記積分容量に接続させるステップ(g)と、
前記ステップ(b)および前記ステップ(f)を除く期間中であって前記ステップ(g)の後に、前記第6の電極を前記第1の入力端子に接続するとともに、前記第6の電極に前記第1の基準電圧を印加するステップ(h)と
をさらに備えていることを特徴とする請求項13または14に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。 - 前記演算増幅器のゲインが1に設定されていることを特徴とする請求項15に記載の可変容量値検出回路の駆動方法。
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Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009260536A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Hitachi Displays Ltd | 入力装置、及びそれを備えた表示装置 |
KR100974637B1 (ko) * | 2008-04-07 | 2010-08-06 | 서울대학교산학협력단 | 정전용량 검출 장치 및 이를 포함하는 정전용량 센서 |
JP2011007528A (ja) * | 2009-06-23 | 2011-01-13 | Toyota Boshoku Corp | 静電容量センサ及びそれを用いた車両用近接センサ |
EP2343524A1 (en) | 2009-12-24 | 2011-07-13 | Seiko Epson Corporation | Infrared detection circuit, sensor device, and electronic instrument |
JP2011158467A (ja) * | 2010-01-06 | 2011-08-18 | Seiko Epson Corp | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
CN101738544B (zh) * | 2008-11-17 | 2012-08-22 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 电容测量电路及其电容测量方法 |
JP2013518494A (ja) * | 2010-01-29 | 2013-05-20 | エーゲーオー エレクトロ・ゲレーテバウ ゲーエムベーハー | 多数の容量性センサ素子の静電容量を決定するための回路装置 |
JP2013221910A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Seiko Epson Corp | テラヘルツカメラ、センサーデバイス、及び電子機器 |
JP2015530780A (ja) * | 2012-07-18 | 2015-10-15 | シナプティクス インコーポレイテッド | キャパシタンス測定 |
JP2018031728A (ja) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | アイシン精機株式会社 | 静電容量センサ |
WO2018061636A1 (ja) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | 株式会社村田製作所 | 容量測定回路及び容量測定システム |
CN108347248A (zh) * | 2017-01-23 | 2018-07-31 | 上海贝岭股份有限公司 | 采样保持电路 |
CN111164774A (zh) * | 2017-10-02 | 2020-05-15 | 阿尔卑斯阿尔派株式会社 | 输入装置 |
CN113095020A (zh) * | 2021-04-28 | 2021-07-09 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 一种多芯片封装中信号互联线等效负载的评估电路及方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10185970A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-07-14 | Zentrum Mikroelektron Dresden Gmbh | 容量センサ装置 |
JP2003078365A (ja) * | 2001-09-05 | 2003-03-14 | Sony Corp | オペアンプ回路、静電容量検出装置および指紋照合装置 |
JP2006003301A (ja) * | 2004-06-21 | 2006-01-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子、赤外線検出装置および固体撮像装置、および赤外線検出装置の製造方法 |
-
2006
- 2006-07-25 JP JP2006201704A patent/JP4813997B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10185970A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-07-14 | Zentrum Mikroelektron Dresden Gmbh | 容量センサ装置 |
JP2003078365A (ja) * | 2001-09-05 | 2003-03-14 | Sony Corp | オペアンプ回路、静電容量検出装置および指紋照合装置 |
JP2006003301A (ja) * | 2004-06-21 | 2006-01-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出素子、赤外線検出装置および固体撮像装置、および赤外線検出装置の製造方法 |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100974637B1 (ko) * | 2008-04-07 | 2010-08-06 | 서울대학교산학협력단 | 정전용량 검출 장치 및 이를 포함하는 정전용량 센서 |
JP2009260536A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Hitachi Displays Ltd | 入力装置、及びそれを備えた表示装置 |
CN101738544B (zh) * | 2008-11-17 | 2012-08-22 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 电容测量电路及其电容测量方法 |
JP2011007528A (ja) * | 2009-06-23 | 2011-01-13 | Toyota Boshoku Corp | 静電容量センサ及びそれを用いた車両用近接センサ |
EP2343524A1 (en) | 2009-12-24 | 2011-07-13 | Seiko Epson Corporation | Infrared detection circuit, sensor device, and electronic instrument |
JP2011149932A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-08-04 | Seiko Epson Corp | 赤外線検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
US8373124B2 (en) | 2009-12-24 | 2013-02-12 | Seiko Epson Corporation | Infrared detection circuit, sensor device, and electronic instrument |
JP2011158467A (ja) * | 2010-01-06 | 2011-08-18 | Seiko Epson Corp | 検出回路、センサーデバイス及び電子機器 |
JP2013518494A (ja) * | 2010-01-29 | 2013-05-20 | エーゲーオー エレクトロ・ゲレーテバウ ゲーエムベーハー | 多数の容量性センサ素子の静電容量を決定するための回路装置 |
JP2013221910A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Seiko Epson Corp | テラヘルツカメラ、センサーデバイス、及び電子機器 |
JP2015530780A (ja) * | 2012-07-18 | 2015-10-15 | シナプティクス インコーポレイテッド | キャパシタンス測定 |
US9958488B2 (en) | 2012-07-18 | 2018-05-01 | Synaptics Incorporated | Capacitance measurement |
JP2018031728A (ja) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | アイシン精機株式会社 | 静電容量センサ |
WO2018061636A1 (ja) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | 株式会社村田製作所 | 容量測定回路及び容量測定システム |
CN108347248A (zh) * | 2017-01-23 | 2018-07-31 | 上海贝岭股份有限公司 | 采样保持电路 |
CN108347248B (zh) * | 2017-01-23 | 2023-03-24 | 上海贝岭股份有限公司 | 采样保持电路 |
CN111164774A (zh) * | 2017-10-02 | 2020-05-15 | 阿尔卑斯阿尔派株式会社 | 输入装置 |
CN111164774B (zh) * | 2017-10-02 | 2024-02-09 | 阿尔卑斯阿尔派株式会社 | 输入装置 |
CN113095020A (zh) * | 2021-04-28 | 2021-07-09 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 一种多芯片封装中信号互联线等效负载的评估电路及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4813997B2 (ja) | 2011-11-09 |
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