JP2007535094A - 連動接触システムを備えた電気相互接続アセンブリ - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、第1回路部材のターミナルを第2回路部材のターミナルに電気的に相互接続するための電気相互接続アセンブリに関する。電気相互接続アセンブリは、第1面と第2面の間に延びる複数の開口を有するハウジングを有する。複数の電気接触部材が複数の開口に位置決めされている。接触部材は、ハウジングとスナップフィット関係を形成する少なくとも1つの係合構成を有する。ハウジングにおける安定化層構造は少なくとも1方向に接触部材の偏向を制限する。

Description

本発明は、第1回路部材を1つ又は複数の第2回路部材に電気的に接続するための連動接触システムを備えた電気相互接続アセンブリに関する。
コンピュータ分野で利用されるコネクタのコネクタデザインの最近の流行は、高い密度と高い信頼性の両方のある様々な回路装置(回路デバイス)のコネクタを提供することである。装置の不適切な接続で生じる電位システムの故障のため、このような接続の高い信頼性は重要である。さらに、コネクタ、カード、チップ、ボード及びモジュールなどの様々な部品の効率的な修理、アップグレード、テスト及び/又は交換を保証するために、このような接続は最終製品において分離できかつ再接続できることが非常に望ましい。
めっきスルーホール又はバイアスにはんだ付けされたピン型コネクタは、今日工業で最も一般に用いられるものである。コネクタボディ上のピンは、プリント回路基板上のスルーめっきホール又はバイアスに挿入され、従来の機構を用いてそこにはんだ付けされる。次いで、別なコネクタ又は包装された半導体装置は機械インターフェース又は摩擦によりコネクタボディにより挿入され、保持される。スズ鉛合金はんだ、及びこれらコネクタをプリント回路基板にはんだ付けする工程にわたって用いられる関連する化学物質は、それらの環境影響のために益々調査されてきている。これらコネクタのプラスチックハウジングは、はんだ付け工程の際、部品にストレスを与え信頼性を脅かすかなりの量の熱作用を受ける。
コネクタボディ上のはんだ付けされた接触部は一般的には、コネクタで接続された装置のための機械支持であり、疲労、ストレス変形、はんだブリッジング及び共平面性エラーを受けやすく、これらは初期故障や連続性のロスを電位により引き起こす。特に、組み合わせコネクタ又は半導体装置が挿入され、プリント回路基板に取り付けられたコネクタから取り外されると、回路基板にはんだ付けされた接触の弾性限界を超え、連続性のロスが生じる。これらコネクタは一般的に、数回以上の装置の挿入・取り外しには信頼できない。これら装置も、特に高周波数又は低電力部品にとってシステム性能を低下させる比較的長い電気的長さを有する。これらコネクタを用いて製造される装置リード間のピッチ又は分離箇所もショートの危険のために制限される。
ワイヤボンディングのような別な電気相互接続法が知られており、これはある回路から別な回路への、金などの柔らかい金属ワイヤの機械又は熱圧縮を有する。しかしながら、このようなボンディングは、場合によってはワイヤ破損及びワイヤ操作の機械的困難を伴うため、高密度接続にすぐに役立たない。
別な電気相互接続技術は、それぞれの回路要素の間にはんだボールなどの配置を有する。はんだは電気相互接続を形成するために流される。この技術は、様々な構造の高密度相互接続をもたらすことに成功したが、この技術は回路部材の滑らかな分離とその後の再接続を可能にするものではない。
複数の導電経路を有するエラストマーは相互接続装置として使用されてきた。エラストマーシートに埋め込まれた導電要素は、エラストマーシートと接続された2つの対向するターミナルの間の電気接続をもたらす。導電要素を保持するエラストマー材料は導電要素の運動を可能にするべく使用中に固まる。このようなエラストマーコネクタは適切な電気接続を実現するために接触当たりに比較的高い力を要し、これは接続面の非平面性を悪化させる。導電要素の位置は一般に制御することができない。エラストマーコネクタは、関連する回路要素間の相互接続を通る比較的高い電気抵抗を示す。回路要素との相互接続は、接続に悪い影響を与える埃、くず、酸化、温度変動、振動及び他の環境要素に敏感である。
U.S. 5913687 U.S. 6178629 U.S. 6247938
本発明は、第1回路部材上のターミナルを第2回路部材上のターミナルに電気的に相互接続するための電気相互接続アセンブリに関する。電気相互接続アセンブリは、第1面と第2面の間に延びる複数の開口を有するハウジングを有する。複数の電気接触部材が複数の開口に位置決めされている。接触部材は、ハウジングとスナップフィット関係を形成する少なくとも1つの係合構成を有する。ハウジング上の安定化構造は少なくとも1方向に接触部材の偏向を制限する。
また本発明は、ハウジングと連動関係を有する位置決めされた複数の電気接触部材を有する電気相互接続アセンブリに関する。ハウジング上の安定化構造は少なくとも1方向に接触部材の偏向を制限する。シール層が接触部材とハウジングの間の開口を実質的にシールする。
従って、第1回路部材は故障、アップグレード又は設計変更の場合に取り外し、移動させることができる。通常閉じられたコネクタの短い電気的長さにより、最近の包装技術に似た優れたシグナル整合性と全体サイズが可能になる。第1回路部材をモジュールにはんだ付けする必要性をなくすことで、本発明により公知の商品型又はバーンイン包装された集積回路の意味合いが大いに減少する。単一の装置を交換する能力は、交換できるチップモジュールの用途において特に重要である。
関係状態は、スナップフィット、圧入(プレスフィット)、圧着(クリンプ)などである。関係状態は好ましくは、接触部材を少なくとも2の自由度でハウジングに対して移動させることができる。ある実施形態では、関係状態は、接触部材を少なくとも1つの面と垂直に延びる縦軸に沿って移動させることができる。
ある実施形態では、少なくとも1つのエラストマー部材は接触部材を第1面に向かってバイアスをかけるために位置決めされる。安定化構造は好ましくは、少なくとも2つの方向に接触部材の偏向を制限する。電気接触部材の末端は好ましくは、回路部材の1つのターミナルの形状に対応する形状を有する。
ハウジングはオプションで多層構造でもよく、層の1つは接触連結層又は安定化層及び/又は例えばフレキシブル回路部材などの回路層を有する。
電気接触部材は、圧縮力、はんだ、ウエッジボンディング、導電接着、超音波ボンディング、ワイヤボンディング及び接触部材と第1回路部材の間の機械連結の1つ又は複数を用いて第1面に電気的に連結する。電気接触部材は、回路部材の1つの電気接触部とスナップフィット関係をオプションで形成する。
抽出層はオプションで第1面と第1回路部材の間に位置する。抽出層は一般に柔軟なシートである。中間接触セットはオプションで接触部材と第1回路部材の接触部の間に位置する。
ある実施形態では、接触部材は、U形構造の中央部分に接続した1組のビームと、大開口を形成する中央部分の近くに位置した1組の対向突出部を有する。突出部は、大開口とハウジングの部材を解除可能に連結する。
別な実施形態では、ハウジングは上側部分及び下側部分を有し、上側部分を下側部分に対して移動させることで接触部材との連動関係が形成される。別な実施形態では、ハウジングの開口は、一般に多層構造を用いて形成された非成形構造である。
図1は、本発明に従う相互接続アセンブリ20を示す。相互接続アセンブリ20は接触システム22と、電気絶縁特性を有するハウジング24を有する。ハウジング24は複数の開口26を有する。接触部材28A,28B,28C及び28D(まとめて「28」という)が少なくとも数個の開口26に位置し、ハウジング24と結合している。示された実施形態では、相互接続アセンブリ20は回路部材40に電気的に結合している。ここで用いる用語「回路部材」は、例えば、包装された集積回路装置、包装されてない集積回路装置、プリント基板、フレキシブル回路、ベアダイ装置、有機若しくは無機基板、固い回路、又は電流を運ぶことができる他の装置を表す。
ハウジング24はプラスチックのような誘電体で構成される。適切なプラスチックは、フェノール樹脂、ポリエステル、フィリップス石油社のRyton(登録商標)である。それに代えて、ハウジング24は、陽極酸化面のような非導電性面を有するアルミニウムなどの金属から構成されてもよい。ある用途のために、金属ハウジングは接触部材の別なシールドを有してもよい。別な実施形態では、ハウジングは電気システムに接地され、従って制御されたインピーダンス環境をもたらす。幾つかの接触部材は、それらを金属ハウジングのコーティングされていない表面に接触させて接地される。ここで用いる「電気絶縁コネクタハウジング」又は「モジュールハウジング」は、前記のように、接触部材とハウジングの間の望まれない導電性を防ぐために、非導電性のハウジング又は非導電性材料で実質的にコーティングされたハウジングを表す。
本発明のハウジングは複数の別個の層から構成される。層は、高価な成形工具の必要なくエッチング又は除去及び積層される。層は、成形又は加工で可能な大きめのアスペクト比を有するハウジング構造を作る。層は、「非成形構造」と呼ばれる、従来の成形又は加工技術を用いて可能でない内部構造又は空洞の創出をも可能にする。このハウジングは、成形又は加工された部分がゆがむところで平らを保つために金属、セラミック又は別なふさがれた樹脂などの硬化層を加えることも可能にする。
本発明のハウジングは、与えられたフィールド内で接触部材を選択的に接続又は絶縁させるために、回路、電源及び/又は接地面をオプションで有する。層は、接触材料又は解除層をもたらすために選択的に結合したり結合しなかったりできる。ここで用いる「結合」又は「結合している」は、例えば接着結合、溶剤結合、超音波溶接、熱融着又はハウジングの隣接層を接着するのに適した他の技術を表す。互いに相互作用するように異なる接触部材の多層が実行されるが、永続的に係合するか分離できる。接触部材をしっかり保持し、又は接触部を接触部材のX、Y及び/又はZ軸に沿って浮かせ又は移動させるように、層を構成することができる。レフローの際、はんだ付け又はフラックス(融剤)のウィッキング(はいあがり)を防ぐための挿入工程の結果として接触部材の基部がシール状態にあるか、インターフェースがシールされたポストアセンブリであるように層が構成される。
図2は、ハウジング24に連動した接触部材28の1つをより詳細に示す。接触部材28は、第1接合部分30と第2接合部分36を有する。第1及び第2回路部材34,40がハウジング24に向かってバイアスをかけられるとき、第1接合部分30は第1回路部材34のターミナル32と電気的に接続するように位置決めされ、第2接合部分36は第2回路部材40のターミナル38と電気的に接続するように位置決めされる。ボルト締め、クランプ及び接着を含むどんな固定方法も用いられる。
接触部材28は、連動構造42と、連動構造42に接続した移行部44を有する。図示した実施形態では、連動構造42は少なくとも1方向において移行部44よりサイズが大きい。ハウジング24における開口26は、接触部材28の連動構造42を収容するために、少なくとも1つの異なるサイズの連動構造46を有する。図示した実施形態では、連動構造42はボール形構造であり、連動構造46はソケットである。ここで用いる「連動の」及び「連動した」は、例えば、フッキング、スナップフィット、非結合干渉フィット、あり継などの、1つの部品が他の部品にトラップされ又は捉えられる機械連結を表し、部品の1つの少なくとも一部が少なくとも1の自由度を介して他の部品に対して動くことができる。「連動構造」はインターロッキングのための構造を表す。
ハウジング24は開口48を有し、これは移行部44を収容するのに十分大きいが、少なくとも1方向に連動構造42より小さく、それで接触部材28はハウジング24から落ちない。従って、連動構造42は、開口48を通って延びる移行部44により連動構造46に固定される。
図3は、接触部材28がハウジング24に取り付けられる前後両方を示す複合図である。開口48及び/又は連動構造42のどちらかの側面の部分50,52は十分柔軟であり、連動構造42を対応する連動構造46にスナップフィットさせることができる。ここで用いる「スナップフィット」は、接触部材及び/又はハウジングの実質的な弾性変形による連動を表す。
図4は、ハウジング24における接触部材28の作動を表す。ハウジング24は上面60及び下面62を有する。上面60は第1回路部材34に向かってバイアスをかけるのに適応し、下面62は第2回路部材40に向かってバイアスをかけるのに適応する(例えば、図2参照)。第1回路部材34がハウジング24に固定されていないときに上面60の上に突出するように(位置A)、接触部材28の第1接合部分30はエラストマー部材64によりバイアスをかけられる。第1回路部材34がハウジング24に向かってバイアスをかけられると、第1接合部分30は下面62に向かって移動する(位置B)。第1回路部材34及び第2回路部材40がハウジング24に向かってバイアスをかけられると、第2接合部分36の位置は第2回路部材40に対してバイアスをかけられる。
図4に示される実施形態では、少なくとも部分的に、第1接合部分30の下に位置したエラストマー部材64により、第1接合部分30のバイアスが行われる。エラストマー部材64は必要なバイアス力を提供するのに適した、球体、円柱及び直方形を含むどんな形状でもよい。それは、ハウジング24及び/又は接触部材28に接着されるか、接触部材のハウジングに定められた空洞に圧入されるか、ハウジングと接触部材の間に定められた空間に単純に捕捉されるなどの様々な方法で固定される。第1回路部材34がハウジング24に向かってバイアスをかけられると、エラストマー部材64は圧縮され、エラストマー部材64による上部66と第1接合部分30における力によって創出されたモーメントアームが、ハウジング24の下面62に固定された第2回路部材40に向かって第2接合部分36にバイアスをかける力を生じさせる。
この文脈で「上」及び「下」の名称は、単に接触システムの異なる部品とそれが用いられた環境を識別するための便宜のためであることを付言しておく。これらと他の方向の名称は、ハウジングを特定の方向に指向させる必要があり本発明の範囲を制限することを意図するものではない。
この接触システムも、接触部材への応力緩和をもたらす構造を有する。例えば、図4で最もよく表された1つの実施形態では、第2接合部分36はアーチ状底部を有し、第1接触部分が第1回路部材34により下に押されたときに接触部材28が転がることができる。接触部材28とハウジング24も応力緩和をもたらすように十分に対応しうる。
接触部材28は、好ましくは銅、又はリン青銅やベリリウム銅などの同様な金属材料からなる。接触部材は、好ましくはニッケル、金、銀、パラジウム又はその多層などの耐食金属材料でめっきされる。ある実施形態では、接触部材は接合部分を除いてカプセルに入れられる。カプセル材料は一般に約20〜約40のデュロメータ硬さのシリコンである。適切なカプセル材料の例は、ミッドランドのダウコーニングシリコン社製のシルガード(Sylgard(登録商標))、ニュージャージー州のハッケンサックのマスターボンドシリコン社製のMI and Master Sil 713である。
図5は、ハウジング24内での接触部材28の横運動又はシフトを示す。シフト量dは好ましくは連動構造42の幅と開口48の幅の差より小さく、それで接触部材28は連動構造46から落ちない。
図6は、作動時の相互接続アセンブリ20を示す。相互接続アセンブリ20は好ましくは第1回路部材34と第2回路部材40の間で圧縮される。オプションの調整部材70は装置サイト71を形成し、このサイトは第1回路装置34のターミナル32と接触部材28の第1接合部分30を調整する(図2参照)。調整装置70は、接触部材28A及び28Dにさらなるバイアス力を与える第2のエラストマー部材72をオプションで有する。図6の相互接続アセンブリ20は、特許文献1,2及び3に開示された交換可能なチップモジュールなどの多数の回路部材34を収容するようにオプションで設計されうる。これら文献は全て参照により盛り込まれる。
図示した実施形態では、第1回路部材34はLGA装置であり、第2回路部材40はPCBである。ハウジング24はオプションでPCB40に固定され、各接触部材28の第2接合部分36はPCB40上の導電パッド38の上に位置する。LGA装置34が接触システム22に押し付けられると、第1接合部分30は第1のエラストマー64に押し付けられる。接触部材24のアーチ状第2接合部分36は、PCB上のそれぞれの導電パッド38上を幾らか転がり、滑り、導電パッド38からバイアスをかけられ、信頼できる電気接触を保証する。連動構造42は上方に動く傾向があるが、ハウジング24のカバー又は第2のエラストマー72からの下方の力で抑えられる。
図7及び8の実施形態では、接触部材80は形状が細長く、ハウジング82は細長い空洞84を有する。この空洞はそれぞれの接触部材80を収容し、それらの横の回転又はシフトを防ぐ。細長い空洞又はスロット84は、機械若しくはレーザ穴開け、エッチング、成形などの様々な方法で作られる。
図9は、本発明に従う2部ハウジング102を備えた相互接続アセンブリ100を示す。ハウジング102は上部分104と下部分106を有する。連動部分108は好ましくは上部分104と下部分106の間の接合部110に交差して延びる。下部分106に対して方向112に上部分104を移動させることで、連動部分108は接触部材116の連動構造114を捕捉する。連動構造114は好ましくは接触部材116をハウジング102に保持するが、第1及び第2回路部材118,120と連結するのに必要な運動範囲を通る接触部材116の運動を制限したり限定したりしない。エラストマー部材122は回路部材118,120に抗して接触部材116にバイアスをかける。
図10は、本発明に従う2部ハウジング132を備えた別な相互接続アセンブリ130を示す。上部分134と下部分136はコネクタ部材142の連動構造140を捕捉する連動部分138を形成する。第2のエラストマー部材144がオプションで連動部分138に隣接して位置する。エラストマー部材144,146は、回路部材148,150に抗して接触部材142にバイアスをかける。
図11は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ200の側面断面図である。図11の実施形態では、ハウジング202が接触連結層204、調整層206及び安定化層208を有する。接触連結層204は、中央部材212で分けられた1組の開口210を有する。接触調整層206も、開口210と大体位置合わせされた1組の開口214を有する。開口214は中央部材216で分けられている。図11の実施形態における安定化層208は、開口214に大体位置合わせされた単一の開口218を有する。
本発明の接触システム220は、スナップフィット関係でハウジング202に連結した複数の接触部材222を有する。図11の実施形態では、接触部材222は、中央部分226で一体化した1組のビーム224A,224B(まとめて「224」と称する)を有する大体U形の構造を有する。ビーム224は、大開口227を形成する中央部分226の近くに位置した1組の対向突出部228A,228B(まとめて「228」と称する)を有する。突出部228の間のギャップ230は大開口227より小さいが、好ましくは中央部材212の幅より小さい。
この相互接続アセンブリ200を組み立てるために、ビーム224の末端232A,232B(まとめて「232」と称する)が開口210を通して挿入される。突出部228A,228Bが中央部材212に当たると、接触部材222及び/又は中央部材212がスナップフィット連結を創出するために実質的に弾性的に変形する。いったん組み立てられると、突出部228は接触部材222を中央部材212に保持する。突出部228は好ましくは、接触調整層206の中央部材216に抗して又は隣接して位置決めされ、それによりハウジング202に対する接触部材222の回転を最小にする。中央部材216は第1接合部分234の間のギャップを維持する。
大開口227及び中央部材212のサイズと形状は、接触部材222がハウジング202に対して幾らか動けるように調節される。縦軸250に沿う接触部材222の運動と中央部材212の大体の周りの回転は、回路部材240,242の不変で信頼できる電気的連結を得る際に特に関心がある。
接触部材222は、末端232の近くの第1接合部分234と中央部分226の近くの第2接合部分236を有する。第1及び第2接合部分234,236は、はんだ付け、圧縮力、又はその組み合わせを用いて、第1及び第2回路部材240,242に電気的に連結される。接触部材222の第1接合部分234の構造は、第1回路部材240上のはんだボール244と係合するのに特によく適している。接触部材222は、広範囲の回路部材240と電気的に連結するために設計される。これら回路部材は、例えば、フレキシブル回路、リボンコネクタ、ケーブル、プリント回路基板、ボールグリッドアレー(BGA)、ランドグリッドアレー(LGA)、プラスチックリードチップキャリア(PLCC)、ピングリッドアレー(PGA)、小型化集積回路(SOIC)、デュアルインラインパッケージ(DIP)、グオッドフラットパッケージ(QFP)、リードレスチップキャリア(LCC)、チップスケールパッケージ(CSP)、又はパッケージされた若しくはされてない集積回路である。
第1回路部材240がハウジング202と圧縮の関係にされると、接触部材222の末端232は安定化層208の側壁248に向かう方向246に移動する。側壁248は末端232の移動を制限する。
図12は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ300の側面断面図である。複数の接触部材302A,302B,302C,302D,302E(まとめて「302」と称する)が、大体図11の接続で述べたように、ハウジング304における開口326に位置決めされている。図12の実施形態では、回路層306とオプションの補強層308が接触連結層310と接触調整層312の間に位置決めされる。回路層306は、電力面、グラウンド面又は他の回路構造でもよい。図示した実施形態では、開口326は非成形であり、一般に多数の層からハウジング304を形成することで作られる。
図11の接続で述べたように、接触部材302は接触連結層310に連結される。接触部材302の第1接合部分318は好ましくは、第1回路部材322上のはんだボール320とスナップフィット係合を形成するように設計される。ある実施形態では、はんだボール320と第1接合部分318のスナップフィット関係は、第1回路部材322を相互接続アセンブリ300に保持するのに十分である。
図12の実施形態は、接触調整層312の上面316に接着された摘出層314を有する。摘出層314は好ましくは低粘着性の感圧接着剤などにより上面316に取り外せるように接着される。好ましい実施形態では、摘出層314は接触調整層312の上面316から剥がすことができる柔軟なシート部材からなる。図13に示されるように、摘出層314が方向324に剥がされるので、第1回路部材322は接触部材302の第1接合部分318から安全に外される。
図14は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ400を示す。接触部材402は大体図11に示されるように設計される。対向突出部404A,404Bは中央部材408に圧縮力406を加える。しかしながら、図14に示された実施形態では、中央部材408は軸410に沿う接触部材402の運動を抑制しない。むしろ、第1回路部材412を第2回路部材414に連結するための最適な位置を実現するために、接触部材402は軸410に沿って滑ることができる。
図示された実施形態では、第1回路部材412は複数のターミナル416を備えたLGA装置である。中間接触セット418はターミナル416と接触部材402の第1接合部分420との接合面(インターフェース)を与える。中間接触セット418は複数の導電部材424を備えたキャリア422を有する。図示した実施形態では、導電部材424の下部は、第1接合部分420と連結するために適用されたBGA装置をシミューレートする。導電部材424の上部は、第1回路部材412上の接触パッド416と連結するために適用される。キャリア422は柔らかくても硬くてもよい。好ましい実施形態では、キャリア422は電力、信号を運ぶ回路トレースを有するフレキシブル回路であり、及び/又は第1及び第2回路部材412,414にグラウンド面をもたらす。
図15は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ500の横断面図である。接触部材502は広がった第2接合部分504を有し、細い係合領域506が第2接合部分504とビーム508の間に位置している。図示した実施形態では、第1回路部材510はBGA装置であり、はんだボール512はビーム508と圧縮連結されている。
接触連結層514の厚さに対する係合領域506の長さにより、接触部材502は軸516に沿ってハウジング520内で浮くことができる。安定化層524の側壁522と接触調整層528の側壁526が、ビーム508の横移動を制限する。
図16A〜16Cは、図15の接続部500を構成するための1つの方法を示す。図16Aに示されるように、接触連結層514は複数の隣接するスリット532で囲まれた一連の開口530を有する。接触部材502の第2接合部分504は開口530に挿入されている。接触連結層514は一部はスリット532のために弾性的に変形し、第2接合部分504を開口530に通らせることができる。接触連結層514の弾性変形は接触部材502とのスナップフィット関係を作り出す。スリット532の構造しだいで、接触部材502は係合領域506の周りの幾らかの回転自由度513を有する(図15参照)。従って、コネクタ500は、1又は2の自由度を有する接触部材502を有して設計される。
図16Bは接触調整層528の図である。接触調整層528は一般に、接触連結層514に接着された分離した別個の構造である。
図16Cは安定化層524の図を示す。図示した実施形態では、安定化層524は、BGA装置510上のはんだボール512を収容するのに適応した複数の開口536を有する。開口536は、接触部材502のビーム508が偏向する1組の対向凹部538をオプションで有する。凹部538は、ハウジング520内の方向540の接触部材502の回転を制限する。
図17A〜17Dは、本発明に従う別な相互接続アセンブリ800の様々な面の図である。接触部材804は、接触連結層806上の中央部材812と滑って係合する。ある実施形態では、接触部材804は中央部材812と摩擦フィットを形成する。別な実施形態では、接触部材804を相互接続アセンブリ800に捕捉し又は保持するために、誘電体層816,818は中央部材812の上下に位置する。接触部材804は接触連結層806にオプションで圧着される。それに代えて、熱若しくは超音波ボンディング、接着剤、機械的取り付けなどの様々な技術を用いて、接触部材804は中央部材812に接着される。
上側及び下側誘電体層816,818は、圧縮の際に接触部材804のショートと転倒を防ぐ。別な回路面820と誘電体カバー層822がオプションで本相互接続アセンブリ800に加えられる。ある実施形態では、接触連結層806はフレキシブル回路部材を有する。図17A〜17Dの実施形態では、フレキシブル回路部材は接触連結層806に取り付けられる前にシミュレートされる。
図17Bに示されるように、接触連結層806は数組の隣接するスロット808,810を有する。スロット808と810の間の接触連結層806の中央部分812は、ねじり棒(トーションバー)として働く。接触部材804はスロット808に挿入され、中央部材812上に位置決めされる。それに代えて、対応部材804は単一のスロット814を通って接触連結層806に連結してもよい。
図17C及び17Dに最も良く示されるように、中央部分812はねじれ及び/又は変形し、接触部材804は第1及び第2回路部材824,826における非平面性を補償することができる。接触部材804の末端828,830も第1及び第2回路部材824,826により圧縮されると、屈曲する。キャリア806の中央部分812のサイズ及び形状、接触部材804の末端828,830のサイズ及び形状(図17A参照)を変え、及び/又は対応部材804の移動に抵抗するより硬い又は柔らかい材料からキャリア806を構成することで、移動の量と移動に対する抵抗が調整される。
図18は、図17A〜17Dの相互接続アセンブリ800の変形例である相互接続アセンブリ840を示す。相互接続アセンブリ840は、前記の接触連結層844に連結した複数の独立の接触部材842を有する。末端846は第1回路部材850上のターミナル848と電気的に連結するように位置決めされる。はんだボール852は図17Aの末端830の代わりである。はんだボール852は第2回路部材856上のターミナル854と電気的に連結するように位置決めされる。
ある実施形態では、誘電体層856及び/又は誘電体層858は好ましくは、接触部材842と接触連結層844の間のシールを形成する。誘電体層856,858はオプションで、ギャップをシールするために接触部材842の周りを流れるシーリング材でもよい。シーリング材は好ましくは、非脆性シールを形成するために固まる流動性のポリマー材料である。ある実施形態では、溜まったシーリング材856,858を取り除くために末端860及び/又は846は平坦化される。シーリング材ははんだが接触連結層844を通ってはいあがるのを防ぐ。ある実施形態では、シーリング材856,858は、接触連結層844に連結した接触部材842を保持するのに役立つ。
図19は、本発明に従う相互接続アセンブリ900の平面図である。ここで開示された接触部材構造はどれも相互接続アセンブリ900と共に使用できる。ハウジング902は、接触部材の末端が回路部材に連結する穴904の配列を有する。別な回路面は好ましくは相互接続アセンブリ900の側面から好ましくはフレキシブル回路部材906,908により移される。
図20は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ1000の側面断面図である。ハウジング1002が接触連結層1004と安定化層1006を有する。接触連結層1004は、接触部材1010と連結するように適応された開口1008を有する。
接触部材1010は、3つのビーム1012a,1012b,1012c(まとめて「1012」と称する)を有する。これらは、BGA装置に見られるようなはんだボール1014(例えば図11参照)、又は中間接触セット1018(例えば図14参照)上の導電部材1016と電気的に連結するように適応される。ビーム1012の構造をよりよく表すために、一番左の接触部材1010は接触部材に対して90°向いている。
接触部材1010の基部端部1020は、接触連結層1004の開口1008とスナップフィット関係を形成する狭領域1022を有する。第1回路部材(図示せず)のはんだボール1014又は中間接触セット1018と第2回路部材1028を連結するために最適位置を実現するために、接触部材1010は軸1024に沿って動くことができる。はんだボール1014又は導電部材1016との最適な電気接合を形成するために、ビーム1012は側壁1032で制限された方向1028に曲がる。
流動的なシーリング材などのシーリング層1030が、接触連結層1004の露出面にオプションで適用される。シーリング層1030は好ましくは接触部材1010の周りの開口1008をシールする。
図21は、本発明に従う別な相互接続アセンブリ1050の側面断面図である。ハウジング1052は、接触連結層1054、調整層1056及び安定化層1058を有する。接触連結層1054は、接触部材1064の狭領域1062とスナップフィット関係を形成する開口1060を有する。
接触部材1064は、BGA装置又は中間接触セット(例えば図14参照)の導電部材と電気的に連結するように適応される2つのビーム1066a,1066bを有する。最も左の接触部材1064は、ビーム1066の構造をよりよく表すために、他の接触部材に対して90°向いている。
回路部材1070,1072に対する最適な位置決めを実現するために、接触部材1064は軸1068に沿って移動することができる。はんだボール1078との最適な電気接合を形成するために、ビーム1066は側壁1076で制限された方向1074に曲がる。
図22は、接触部材1064がハウジング1102と連動することを除いて、図21に実質的に示される別な相互接続アセンブリ1100の側面断面図である。シーリング層1004はハウジング1102の面1106にオプションで適用される。シーリング層1004はハウジング1102における接触部材1064を維持するのを助け、及び/又ははんだが接触部材1064からはいあがるのを防ぐ。
図23は、本発明に従う別なコネクタ部材1150を示す。スナップフィット構成1152はハウジング1154と連動する。末端1156は、スペーサ1164の側壁1160で制限された方向1158に曲がる。回路部材(図示せず)に対して指向した接触部材1150を維持するために、調整構成1162はハウジング1154と係合する。
図24は、接触連結層1172と連動した別なコネクタ部材1170を示す。図25は、接触連結層1176と連動したコネクタ部材1174を示す。図26は、接触連結層1180と連動したコネクタ部材1178を示す。図27は、接触連結層1184と連動したコネクタ部材1182を示す。図23〜27のコネクタ部材は、ここで開示した様々な実施形態で使用することができる。
図28は、図17A及び18の相互接続アセンブリの変形例である別な相互接続アセンブリ1200を示す。相互接続アセンブリ1200は、そこに連結した複数の独立した接触部材1204,1206を備えた接触連結層1202を有する。曲部1208とはんだボール1210は、接触部材1204を接触連結層1202に保持するのに役立つ。第1回路部材1214と連結すると、曲部1208により末端1212が曲がることができる。
接触部材1204は、第1及び第2曲部1216,1218を有する。相互接続アセンブリ1200の高さ(オーバーハイト)を減少させ、引き出し強度又ははんだジョイントの信頼性を増加させるため、曲部1218は、適所に接触部材1206をロックするために0°〜約90°の角度を形成する。90°より小さい角度で曲部1218を形成することで、圧縮して第2回路部材1222と連結したときに基部端部1220が曲がる。
曲部1208,1216,1218は単独で、又は接触連結層1206とのスナップフィット連結を組み合わせて使用できる。ある実施形態では、はんだボール1210などのはんだが接触部材1204,1206にはいあがるのを防ぐために、シーリング材1224は接触連結層1202の片面又は両面に適用される。
前記の特定の実施形態は説明のためであり、本発明は、別な風に又はここでの教示の利益を有するいわゆる当業者にとって等価な態様で変形及び実行されてもよい。さらに、請求項に記載されたものと異なる構造の詳細又はここで示されたデザインに限定されない。ゆえに、前記の特定の実施形態が変形・修正されてもよく、このようなバリエーションは全て本発明の範囲及び精神を逸脱しないことは明らかである。
本発明による接触システムを備えた電気相互接続アセンブリの概略側面断面図である。 図1の接触システムの一部のより詳細な概略側面断面図である。 図2の接触部材をハウジングに連結するための連動操作の概略側面断面図である。 係合・解除位置の両方における図2の接触部材の操作の概略側面断面図である。 図2の接触部材のハウジング内の側方運動の概略側面断面図である。 1組の回路部材に電気的に連結した図1の電気相互接続アセンブリの概略側面断面図である。 本発明に従う穴あけパターンを示す接触システムのハウジングの一部の概略平面図である。 本発明に従う穴あけパターンと長い接触部材を示す接触システムの別なハウジングの一部の概略平面図である。 本発明に従う2つの別個のハウジング部分から形成された連動部分を備えた相互接続アセンブリの概略側面図である。 本発明に従う2つの別個のハウジング部分から形成された連動部分を備えた別な相互接続アセンブリの概略側面図である。 本発明に従う2つのビーム接触部材を備えた別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 本発明に従う2つのビーム接触部材を備えたさらに別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 図12の相互接続アセンブリからの回路部材の取り外しを説明する側面断面図である。 本発明に従う接触部材の広範な軸方向運動を可能にする別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 本発明に従う別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 図15の相互接続アセンブリを構成する1つの方法を示す図である。 本発明に従う付加的な回路面を有する別な相互接続アセンブリの図である。 図17Aの接触結合層を示す図である。 図17Aの相互接続アセンブリの操作を示す図である。 図17Aの相互接続アセンブリの操作を示す図である。 本発明に従うシール層を備えた別な相互接続アセンブリの図である。 本発明に従う相互接続アセンブリの平面図である。 本発明に従う別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 本発明に従う別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 本発明に従う別な相互接続アセンブリの側面断面図である。 本発明に従う別なコネクタ部材の側面断面図である。 本発明に従う別なコネクタ部材の側面断面図である。 本発明に従う別なコネクタ部材の側面断面図である。 本発明に従う別なコネクタ部材の側面断面図である。 本発明に従う別なコネクタ部材の側面断面図である。 本発明に従う別な相互接続アセンブリの側面断面図である。
符号の説明
24 ハウジング
28 接触部材
30 第1接合部分
32 ターミナル
34 第1回路部材
36 第2接合部分
38 ターミナル
40 第2回路部材
42 連動構造
44 移行部
46 連動構造
48 開口

Claims (16)

  1. 第1回路部材のターミナルと第2回路部材のターミナルを電気的に相互接続するための電気相互接続アセンブリにして、
    ハウジングの第1面と第2面の間に延びる複数の実質的に非成形の開口を形成する複数の層を有するハウジング、
    複数の開口に位置決めされた複数の接触部材、及び
    第1面と第2面の少なくとも1つに沿って接触部材とハウジングの間の開口を実質的にシールするシーリング層
    を有する電気相互接続アセンブリ。
  2. 接触部材がハウジングとスナップフィット連動関係を形成することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  3. 接触部材がハウジングとスナップフィット関係を形成することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  4. 接触部材がハウジングと圧入関係を形成することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  5. シーリング層が固まるポリマー材料であることを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  6. ハウジングの調整層が接触部材の偏向を少なくとも2つの方向に制限することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  7. 接触部材の末端が回路部材の1つのターミナルの形状に対応する形状を有することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  8. ハウジングにおける少なくとも1つの層が回路層であることを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  9. 複数の開口が2次元配列で配置されていることを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  10. 少なくとも1つの接触部材と機械的に連結した少なくとも1つの第2の接触部材を有することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  11. 接触部材が、少なくとも2つのループを形成する1組の蛇紋石ビームを有することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  12. 接触部材が1組の重なり合った先端を有することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  13. 接触部材が、実質的に非成形の開口とスナップフィット関係を形成する1組のビームを有することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  14. 接触部材の部分が第1面又は第2面を超えて延びることを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  15. 接触部材が、圧縮力、はんだ、ウエッジボンディング、導電接着、超音波ボンディング、ワイヤボンディング及び接触部材と第1回路部材との機械連結の内の1つ又は複数を用いてハウジングの少なくとも1つの層に連結することを特徴とする請求項1に記載の電気相互接続アセンブリ。
  16. 第1回路部材のターミナルと第2回路部材のターミナルを電気的に相互接続するための電気相互接続アセンブリにして、
    ハウジングの第1面と第2面の間に延びる複数の実質的に非成形の開口を形成する複数の層を有するハウジング、
    複数の開口に位置決めされた複数の接触部材、
    接触部材の偏向を少なくとも1方向に制限するハウジングの安定化層、及び
    第1面と第2面の少なくとも1つに沿って接触部材とハウジングの間の開口を実質的にシールするシーリング層
    を有する電気相互接続アセンブリ。
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WO (1) WO2005011060A2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010166A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Molex Inc ソケット
US7632106B2 (en) 2007-08-09 2009-12-15 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket to be mounted on a circuit board
US7914295B2 (en) 2008-11-12 2011-03-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electrical connecting device
JP2012164654A (ja) * 2011-02-04 2012-08-30 Tyco Electronics Corp 電気コネクタ
US20220180139A1 (en) * 2018-02-01 2022-06-09 Shockwatch, Inc. Temperature indicator

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008122005A2 (en) * 2007-04-02 2008-10-09 Gryphics, Inc. Fine pitch electrical interconnect assembly
DE102008040504A1 (de) * 2008-07-17 2010-01-21 Robert Bosch Gmbh Elektrische Schaltungsanordnung
US7771209B2 (en) * 2008-09-08 2010-08-10 Lotes Co., Ltd Electrical connecting apparatus
KR101054528B1 (ko) * 2008-10-01 2011-08-04 엘에스엠트론 주식회사 내장형 안테나 및 이를 구비한 이동통신용 무선 단말기
US7857631B2 (en) * 2008-12-30 2010-12-28 Cascade Microtech, Inc. Socket with a housing with contacts with beams of unequal lengths
TW201027849A (en) * 2009-01-13 2010-07-16 Yi-Zhi Yang Connector
WO2011139619A1 (en) 2010-04-26 2011-11-10 Hsio Technologies, Llc Semiconductor device package adapter
US9276336B2 (en) 2009-05-28 2016-03-01 Hsio Technologies, Llc Metalized pad to electrical contact interface
US8955215B2 (en) 2009-05-28 2015-02-17 Hsio Technologies, Llc High performance surface mount electrical interconnect
WO2014011232A1 (en) 2012-07-12 2014-01-16 Hsio Technologies, Llc Semiconductor socket with direct selective metalization
US9232654B2 (en) 2009-06-02 2016-01-05 Hsio Technologies, Llc High performance electrical circuit structure
US8610265B2 (en) 2009-06-02 2013-12-17 Hsio Technologies, Llc Compliant core peripheral lead semiconductor test socket
WO2010141303A1 (en) 2009-06-02 2010-12-09 Hsio Technologies, Llc Resilient conductive electrical interconnect
US9613841B2 (en) 2009-06-02 2017-04-04 Hsio Technologies, Llc Area array semiconductor device package interconnect structure with optional package-to-package or flexible circuit to package connection
WO2012074963A1 (en) 2010-12-01 2012-06-07 Hsio Technologies, Llc High performance surface mount electrical interconnect
WO2010141297A1 (en) 2009-06-02 2010-12-09 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit wafer level semiconductor package
US8987886B2 (en) 2009-06-02 2015-03-24 Hsio Technologies, Llc Copper pillar full metal via electrical circuit structure
US9318862B2 (en) 2009-06-02 2016-04-19 Hsio Technologies, Llc Method of making an electronic interconnect
US9276339B2 (en) 2009-06-02 2016-03-01 Hsio Technologies, Llc Electrical interconnect IC device socket
WO2014011226A1 (en) 2012-07-10 2014-01-16 Hsio Technologies, Llc Hybrid printed circuit assembly with low density main core and embedded high density circuit regions
US9414500B2 (en) 2009-06-02 2016-08-09 Hsio Technologies, Llc Compliant printed flexible circuit
US9320133B2 (en) 2009-06-02 2016-04-19 Hsio Technologies, Llc Electrical interconnect IC device socket
WO2013036565A1 (en) 2011-09-08 2013-03-14 Hsio Technologies, Llc Direct metalization of electrical circuit structures
WO2010141313A1 (en) 2009-06-02 2010-12-09 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit socket diagnostic tool
US9930775B2 (en) 2009-06-02 2018-03-27 Hsio Technologies, Llc Copper pillar full metal via electrical circuit structure
WO2010141318A1 (en) 2009-06-02 2010-12-09 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit peripheral lead semiconductor test socket
US8618649B2 (en) 2009-06-02 2013-12-31 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit semiconductor package
WO2010147934A1 (en) 2009-06-16 2010-12-23 Hsio Technologies, Llc Semiconductor die terminal
US9277654B2 (en) 2009-06-02 2016-03-01 Hsio Technologies, Llc Composite polymer-metal electrical contacts
US9184527B2 (en) 2009-06-02 2015-11-10 Hsio Technologies, Llc Electrical connector insulator housing
US8912812B2 (en) 2009-06-02 2014-12-16 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit wafer probe diagnostic tool
US8525346B2 (en) 2009-06-02 2013-09-03 Hsio Technologies, Llc Compliant conductive nano-particle electrical interconnect
WO2010141311A1 (en) * 2009-06-02 2010-12-09 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit area array semiconductor device package
US9196980B2 (en) 2009-06-02 2015-11-24 Hsio Technologies, Llc High performance surface mount electrical interconnect with external biased normal force loading
US8955216B2 (en) 2009-06-02 2015-02-17 Hsio Technologies, Llc Method of making a compliant printed circuit peripheral lead semiconductor package
US8988093B2 (en) 2009-06-02 2015-03-24 Hsio Technologies, Llc Bumped semiconductor wafer or die level electrical interconnect
US8803539B2 (en) 2009-06-03 2014-08-12 Hsio Technologies, Llc Compliant wafer level probe assembly
WO2010147782A1 (en) 2009-06-16 2010-12-23 Hsio Technologies, Llc Simulated wirebond semiconductor package
US9320144B2 (en) * 2009-06-17 2016-04-19 Hsio Technologies, Llc Method of forming a semiconductor socket
US8984748B2 (en) 2009-06-29 2015-03-24 Hsio Technologies, Llc Singulated semiconductor device separable electrical interconnect
US8981809B2 (en) 2009-06-29 2015-03-17 Hsio Technologies, Llc Compliant printed circuit semiconductor tester interface
US10159154B2 (en) 2010-06-03 2018-12-18 Hsio Technologies, Llc Fusion bonded liquid crystal polymer circuit structure
US9689897B2 (en) 2010-06-03 2017-06-27 Hsio Technologies, Llc Performance enhanced semiconductor socket
US9350093B2 (en) 2010-06-03 2016-05-24 Hsio Technologies, Llc Selective metalization of electrical connector or socket housing
US8758067B2 (en) 2010-06-03 2014-06-24 Hsio Technologies, Llc Selective metalization of electrical connector or socket housing
KR101104839B1 (ko) * 2010-10-05 2012-01-16 한국전력공사 지중변압기 권선 상태 점검 시스템 및 방법
CN103515818B (zh) * 2012-06-29 2017-05-03 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
US9761520B2 (en) 2012-07-10 2017-09-12 Hsio Technologies, Llc Method of making an electrical connector having electrodeposited terminals
US10506722B2 (en) 2013-07-11 2019-12-10 Hsio Technologies, Llc Fusion bonded liquid crystal polymer electrical circuit structure
US10667410B2 (en) 2013-07-11 2020-05-26 Hsio Technologies, Llc Method of making a fusion bonded circuit structure
TWI500222B (zh) * 2013-07-12 2015-09-11 Ccp Contact Probes Co Ltd 連接器組合
US9354251B2 (en) * 2014-02-25 2016-05-31 Titan Semiconductor Tool, LLC Integrated circuit (IC) test socket using Kelvin bridge
CN104742115B (zh) * 2015-01-19 2016-05-11 北京航空航天大学 一种具有远程转动中心的二自由度柔性平行对准装置
US9559447B2 (en) 2015-03-18 2017-01-31 Hsio Technologies, Llc Mechanical contact retention within an electrical connector
US9343830B1 (en) * 2015-06-08 2016-05-17 Xcerra Corporation Integrated circuit chip tester with embedded micro link
EP3278403A4 (en) 2016-04-29 2019-01-16 Hewlett Packard Enterprise Development L.P. EINPRESSSTIFTWANDLER
US10101360B2 (en) 2016-11-02 2018-10-16 Xcerra Corporation Link socket sliding mount with preload
CN106363312B (zh) * 2016-11-23 2019-03-08 京信通信技术(广州)有限公司 焊接基体
CN109599696A (zh) * 2017-09-28 2019-04-09 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
JP2023520829A (ja) * 2020-04-07 2023-05-22 スミスズ インターコネクト アメリカズ インコーポレイテッド 半導体集積回路のテストソケット
CN115877170A (zh) * 2021-09-27 2023-03-31 史密斯互连美洲公司 具有擦拭触件的测试插座的系统和方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5044992A (en) * 1989-10-20 1991-09-03 The Charles Stark Draper Laboratory Printed circuit injection molded connector with removable bifurcated contacts capable of high temperature exposure
US6394819B1 (en) * 1998-10-29 2002-05-28 The Whitaker Corporation Dielectric member for absorbing thermal expansion and contraction at electrical interfaces

Family Cites Families (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2231347A (en) * 1938-01-11 1941-02-11 Scovill Manufacturing Co Method of forming electric plug connectors
US2980881A (en) * 1958-04-14 1961-04-18 United Carr Fastener Corp Connector and snap-in contact therefor
US3320658A (en) * 1964-06-26 1967-05-23 Ibm Method of making electrical connectors and connections
DE1665757B2 (de) * 1966-09-26 1972-07-13 Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München Steckverbinder fuer gedruckte schaltungen
US3719981A (en) * 1971-11-24 1973-03-13 Rca Corp Method of joining solder balls to solder bumps
GB1434833A (en) * 1972-06-02 1976-05-05 Siemens Ag Solder carrying electrical connector wires
US3864004A (en) * 1972-11-30 1975-02-04 Du Pont Circuit board socket
US3865462A (en) * 1973-03-07 1975-02-11 Amp Inc Preloaded contact and latchable housing assembly
US3838382A (en) * 1973-07-13 1974-09-24 Itt Retention system for electrical contacts
US3989331A (en) 1974-08-21 1976-11-02 Augat, Inc. Dual-in-line socket
JPS5535238B2 (ja) * 1975-01-24 1980-09-12
US4140361A (en) * 1975-06-06 1979-02-20 Sochor Jerzy R Flat receptacle contact for extremely high density mounting
US4054354A (en) * 1975-10-01 1977-10-18 E. I. Du Pont De Nemours And Company Connector housing
US4056302A (en) 1976-06-04 1977-11-01 International Business Machines Corporation Electrical connection structure and method
US4274700A (en) * 1977-10-12 1981-06-23 Bunker Ramo Corporation Low cost electrical connector
CH628484A5 (de) * 1978-04-21 1982-02-26 Erni & Co Elektro Ind Verfahren und kontaktleiste zur herstellung gasdichter verbindungen fuer eine gedruckte rueckwandverdrahtung.
US4396140A (en) * 1981-01-27 1983-08-02 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method of bonding electronic components
US4802862A (en) * 1981-03-30 1989-02-07 North American Specialties Corporation Solderable electrical contact
US4395086A (en) * 1981-04-20 1983-07-26 The Bendix Corporation Electrical contact for electrical connector assembly
DE3173078D1 (en) * 1981-12-29 1986-01-09 Ibm Soldering method of pins to eyelets of conductors formed on a ceramic substrate
US4380518A (en) * 1982-01-04 1983-04-19 Western Electric Company, Inc. Method of producing solder spheres
US4482937A (en) 1982-09-30 1984-11-13 Control Data Corporation Board to board interconnect structure
US4664309A (en) * 1983-06-30 1987-05-12 Raychem Corporation Chip mounting device
US4705205A (en) 1983-06-30 1987-11-10 Raychem Corporation Chip carrier mounting device
US4602830A (en) * 1984-09-20 1986-07-29 Amp Incorporated Double row electrical connector
US4678250A (en) * 1985-01-08 1987-07-07 Methode Electronics, Inc. Multi-pin electrical header
US4655517A (en) * 1985-02-15 1987-04-07 Crane Electronics, Inc. Electrical connector
US4884335A (en) 1985-06-21 1989-12-05 Minnesota Mining And Manufacturing Company Surface mount compatible connector system with solder strip and mounting connector to PCB
US4641426A (en) * 1985-06-21 1987-02-10 Associated Enterprises, Inc. Surface mount compatible connector system with mechanical integrity
US4767344A (en) * 1986-08-22 1988-08-30 Burndy Corporation Solder mounting of electrical contacts
EP0263222B1 (en) * 1986-10-08 1992-03-25 International Business Machines Corporation Method of forming solder terminals for a pinless ceramic module
US4722470A (en) * 1986-12-01 1988-02-02 International Business Machines Corporation Method and transfer plate for applying solder to component leads
JPH0795554B2 (ja) * 1987-09-14 1995-10-11 株式会社日立製作所 はんだ球整列装置
FR2634319B1 (fr) * 1988-07-13 1990-09-07 Europ Composants Electron Procede de soudure des fils de connexions exterieures sur un composant electronique
US4904212A (en) * 1988-08-31 1990-02-27 Amp Incorporated Electrical connector assembly
US5024372A (en) * 1989-01-03 1991-06-18 Motorola, Inc. Method of making high density solder bumps and a substrate socket for high density solder bumps
US5098311A (en) * 1989-06-12 1992-03-24 Ohio Associated Enterprises, Inc. Hermaphroditic interconnect system
JP2590450B2 (ja) * 1990-02-05 1997-03-12 株式会社村田製作所 バンプ電極の形成方法
US5060844A (en) * 1990-07-18 1991-10-29 International Business Machines Corporation Interconnection structure and test method
US5111991A (en) * 1990-10-22 1992-05-12 Motorola, Inc. Method of soldering components to printed circuit boards
US5145104A (en) * 1991-03-21 1992-09-08 International Business Machines Corporation Substrate soldering in a reducing atmosphere
US5350292A (en) * 1991-04-04 1994-09-27 Magnetek Electrical half connector with contact-centering vanes
US5131871A (en) * 1991-04-16 1992-07-21 Molex Incorporated Universal contact pin electrical connector
US5118027A (en) * 1991-04-24 1992-06-02 International Business Machines Corporation Method of aligning and mounting solder balls to a substrate
US5199885A (en) * 1991-04-26 1993-04-06 Amp Incorporated Electrical connector having terminals which cooperate with an edge of a circuit board
US5167512A (en) 1991-07-05 1992-12-01 Walkup William B Multi-chip module connector element and system
US5120237A (en) * 1991-07-22 1992-06-09 Fussell Don L Snap on cable connector
US5229016A (en) * 1991-08-08 1993-07-20 Microfab Technologies, Inc. Method and apparatus for dispensing spherical-shaped quantities of liquid solder
US5261155A (en) 1991-08-12 1993-11-16 International Business Machines Corporation Method for bonding flexible circuit to circuitized substrate to provide electrical connection therebetween using different solders
US5203075A (en) * 1991-08-12 1993-04-20 Inernational Business Machines Method of bonding flexible circuit to cicuitized substrate to provide electrical connection therebetween using different solders
US5222649A (en) * 1991-09-23 1993-06-29 International Business Machines Apparatus for soldering a semiconductor device to a circuitized substrate
US5207372A (en) * 1991-09-23 1993-05-04 International Business Machines Method for soldering a semiconductor device to a circuitized substrate
US5255839A (en) * 1992-01-02 1993-10-26 Motorola, Inc. Method for solder application and reflow
US5338208A (en) * 1992-02-04 1994-08-16 International Business Machines Corporation High density electronic connector and method of assembly
GB9205088D0 (en) * 1992-03-09 1992-04-22 Amp Holland Shielded back plane connector
US5269453A (en) 1992-04-02 1993-12-14 Motorola, Inc. Low temperature method for forming solder bump interconnections to a plated circuit trace
GB2269335A (en) * 1992-08-04 1994-02-09 Ibm Solder particle deposition
US5284287A (en) * 1992-08-31 1994-02-08 Motorola, Inc. Method for attaching conductive balls to a substrate
JP2532331B2 (ja) * 1992-11-09 1996-09-11 日本発条株式会社 導電性接触子
US5324569A (en) * 1993-02-26 1994-06-28 Hewlett-Packard Company Composite transversely plastic interconnect for microchip carrier
US5489750A (en) * 1993-03-11 1996-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of mounting an electronic part with bumps on a circuit board
US5613882A (en) * 1993-03-19 1997-03-25 The Whitaker Corporation Connector latch and polarizing structure
US5275330A (en) * 1993-04-12 1994-01-04 International Business Machines Corp. Solder ball connect pad-on-via assembly process
US5355283A (en) 1993-04-14 1994-10-11 Amkor Electronics, Inc. Ball grid array with via interconnection
US5279028A (en) * 1993-04-30 1994-01-18 The Whitaker Corporation Method of making a pin grid array and terminal for use therein
US5518410A (en) * 1993-05-24 1996-05-21 Enplas Corporation Contact pin device for IC sockets
US5467913A (en) 1993-05-31 1995-11-21 Citizen Watch Co., Ltd. Solder ball supply device
US5358417A (en) 1993-08-27 1994-10-25 The Whitaker Corporation Surface mountable electrical connector
US5354218A (en) 1993-09-16 1994-10-11 Molex Incorporated Electrical connector with improved terminal latching means
US5346118A (en) * 1993-09-28 1994-09-13 At&T Bell Laboratories Surface mount solder assembly of leadless integrated circuit packages to substrates
US5442852A (en) * 1993-10-26 1995-08-22 Pacific Microelectronics Corporation Method of fabricating solder ball array
US5591941A (en) * 1993-10-28 1997-01-07 International Business Machines Corporation Solder ball interconnected assembly
EP0729650A4 (en) * 1993-11-15 1997-01-15 Berg Electronics Mfg SOLDERABLE CONNECTOR FOR ELECTRONIC HIGH DENSITY DEVICES
US5772451A (en) * 1993-11-16 1998-06-30 Form Factor, Inc. Sockets for electronic components and methods of connecting to electronic components
JPH07142489A (ja) * 1993-11-17 1995-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd バンプの形成方法
JP3008768B2 (ja) * 1994-01-11 2000-02-14 松下電器産業株式会社 バンプの形成方法
US5495668A (en) * 1994-01-13 1996-03-05 The Furukawa Electric Co., Ltd. Manufacturing method for a supermicro-connector
US5377902A (en) * 1994-01-14 1995-01-03 Microfab Technologies, Inc. Method of making solder interconnection arrays
JPH07211381A (ja) * 1994-01-19 1995-08-11 Yazaki Corp 二重係止コネクタの係止方法及び構造
US5395250A (en) * 1994-01-21 1995-03-07 The Whitaker Corporation Low profile board to board connector
US5435482A (en) * 1994-02-04 1995-07-25 Lsi Logic Corporation Integrated circuit having a coplanar solder ball contact array
US5431332A (en) * 1994-02-07 1995-07-11 Motorola, Inc. Method and apparatus for solder sphere placement using an air knife
US5491303A (en) * 1994-03-21 1996-02-13 Motorola, Inc. Surface mount interposer
US5498167A (en) * 1994-04-13 1996-03-12 Molex Incorporated Board to board electrical connectors
JP3102259B2 (ja) * 1994-04-21 2000-10-23 株式会社村田製作所 高圧コネクタ
US5516030A (en) * 1994-07-20 1996-05-14 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for assembling ball grid array components on printed circuit boards by reflowing before placement
US5539153A (en) * 1994-08-08 1996-07-23 Hewlett-Packard Company Method of bumping substrates by contained paste deposition
US5492266A (en) * 1994-08-31 1996-02-20 International Business Machines Corporation Fine pitch solder deposits on printed circuit board process and product
US5519580A (en) * 1994-09-09 1996-05-21 Intel Corporation Method of controlling solder ball size of BGA IC components
US5499487A (en) * 1994-09-14 1996-03-19 Vanguard Automation, Inc. Method and apparatus for filling a ball grid array
US5542174A (en) * 1994-09-15 1996-08-06 Intel Corporation Method and apparatus for forming solder balls and solder columns
US5462456A (en) 1994-10-11 1995-10-31 The Whitaker Corporation Contact retention device for an electrical connector
US5477933A (en) 1994-10-24 1995-12-26 At&T Corp. Electronic device interconnection techniques
US5593322A (en) * 1995-01-17 1997-01-14 Dell Usa, L.P. Leadless high density connector
US5545051A (en) * 1995-06-28 1996-08-13 The Whitaker Corporation Board to board matable assembly
US5580283A (en) 1995-09-08 1996-12-03 Molex Incorporated Electrical connector having terminal modules
US5746608A (en) * 1995-11-30 1998-05-05 Taylor; Attalee S. Surface mount socket for an electronic package, and contact for use therewith
US5643009A (en) * 1996-02-26 1997-07-01 The Whitaker Corporation Electrical connector having a pivot lock
US5718607A (en) * 1996-03-01 1998-02-17 Molex Incorporated System for terminating the shield of a high speed cable
US5730606A (en) * 1996-04-02 1998-03-24 Aries Electronics, Inc. Universal production ball grid array socket
US5873742A (en) * 1996-06-18 1999-02-23 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Board-to-board connector assembly
US5947749A (en) * 1996-07-02 1999-09-07 Johnstech International Corporation Electrical interconnect contact system
US6042389A (en) * 1996-10-10 2000-03-28 Berg Technology, Inc. Low profile connector
US6042423A (en) * 1997-02-27 2000-03-28 The Whitaker Corporation Alignment adapters for post header
US5913687A (en) * 1997-05-06 1999-06-22 Gryphics, Inc. Replacement chip module
US6409521B1 (en) * 1997-05-06 2002-06-25 Gryphics, Inc. Multi-mode compliant connector and replaceable chip module utilizing the same
AU7281698A (en) * 1997-05-06 1998-11-27 Gryphics, Inc. Multi-mode compliant connector and replaceable chip module utilizing the same
CN2311857Y (zh) * 1997-07-15 1999-03-24 鸿海精密工业股份有限公司 电连接器
US6315576B1 (en) * 1997-10-30 2001-11-13 Intercon Systems, Inc. Interposer assembly
US6095842A (en) * 1999-04-19 2000-08-01 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Contact with dual compliant pin sections used in a ZIF socket
JP3396807B2 (ja) * 1999-06-25 2003-04-14 京セラエルコ株式会社 基板中継コネクタ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5044992A (en) * 1989-10-20 1991-09-03 The Charles Stark Draper Laboratory Printed circuit injection molded connector with removable bifurcated contacts capable of high temperature exposure
US6394819B1 (en) * 1998-10-29 2002-05-28 The Whitaker Corporation Dielectric member for absorbing thermal expansion and contraction at electrical interfaces

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010166A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Molex Inc ソケット
JP4646863B2 (ja) * 2006-06-27 2011-03-09 モレックス インコーポレイテド ソケット
US7632106B2 (en) 2007-08-09 2009-12-15 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket to be mounted on a circuit board
US7914295B2 (en) 2008-11-12 2011-03-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electrical connecting device
JP2012164654A (ja) * 2011-02-04 2012-08-30 Tyco Electronics Corp 電気コネクタ
US20220180139A1 (en) * 2018-02-01 2022-06-09 Shockwatch, Inc. Temperature indicator

Also Published As

Publication number Publication date
CN100459833C (zh) 2009-02-04
CN1823560A (zh) 2006-08-23
WO2005011060A3 (en) 2005-08-18
WO2005011060B1 (en) 2005-10-06
KR101124015B1 (ko) 2012-03-26
US20050221675A1 (en) 2005-10-06
WO2005011060A2 (en) 2005-02-03
KR20060109866A (ko) 2006-10-23
US7326064B2 (en) 2008-02-05
EP1645173A2 (en) 2006-04-12

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Publication Publication Date Title
JP2007535094A (ja) 連動接触システムを備えた電気相互接続アセンブリ
US7297003B2 (en) Fine pitch electrical interconnect assembly
US7537461B2 (en) Fine pitch electrical interconnect assembly
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