JP2007521603A - 記録方法、記録装置および記録媒体 - Google Patents

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Abstract

本発明の記録方法は、（ａ）複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップと、（ｂ）前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを前記記録媒体上に形成するステップとを包含し、前記ステップ（ａ）は、（ａ−１）前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップと、（ａ−２）前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップと、（ａ−３）前記決定された第２記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップとを包含する。

Description

本発明は、ある線速度で記録媒体を回転させながら記録媒体にパルス列を照射することによって、記録マークおよびスペースの少なくとも１つを記録媒体上に形成する記録方法、記録装置および所定の情報が記録された記録媒体に関する。
光ディスクに情報をＣＡＶ記録するためには、連続した線速度の各々において記録パラメータを最適化することが重要である。ＣＡＶ記録は、線速度の変化に応じて周期Ｔを有する記録クロックを変化させて、記録線密度が概略一定となるように光ディスクに情報を記録することである。
特開平２００１−３４４７５４号公報は、連続した線速度の各々において最適な記録パワーレベルを決定するために予め特定の線速度で試し記録をおこない、その結果に基づいて、任意の線速度における最適な記録パワーレベルを算出する方法を開示する。
特開平２００１−１１８２４５号公報は、光ディスク上に予め記録された特定の線速度におけるパルス列に含まれた先頭パルス幅および最終冷却パルス幅に基づいて、任意の線速度における最適なパルス幅を算出する方法を開示する。
しかし、高密度でかつ高速で情報をＣＡＶ記録する場合（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭに情報を記録する場合）には、特開平２００１−３４４７５４号公報に開示された方法のように、予め特定の線速度で試し記録をおこない、その結果に基づいて、任意の線速度における最適な記録パワーレベルを算出しても、任意の線速度における実際の最適な記録パワーレベルと相違するという課題があった。
さらに、高密度でかつ高速で情報をＣＡＶ記録する場合（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭに情報を記録する場合）には、特開平２００１−１１８２４５号公報に開示された方法のように、光ディスク上に予め記録された特定の線速度におけるパルス列に含まれた先頭パルス幅および最終冷却パルス幅に基づいて、任意の線速度における最適なパルス幅を算出しても、任意の線速度における実際の最適な記録パワーレベルと相違するという課題があった。
これらの相違は、光ディスクの製造元が同一であっても、光ディスク自体のばらつき、または記録装置に含まれる光スポットの径のばらつきが原因である。この相違は、高密度でかつ高速で情報をＣＡＶ記録する場合に顕著であり、光ディスクと記録装置の組み合わせ毎に、任意の線速度に応じて最適なパルス列を生成するための仕組みが必要である。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、高密度でかつ高速で情報をＣＡＶ記録する場合でも、任意の線速度に応じて最適なパルス列を生成する記録方法、記録装置および記録媒体を提供することを目的とする。
（発明の開示）
本発明の記録方法は、（ａ）複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップと、（ｂ）前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを前記記録媒体上に形成するステップとを包含し、前記ステップ（ａ）は、（ａ−１）前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップと、（ａ−２）前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップと、（ａ−３）前記決定された第２記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
前記ステップ（ａ−１）は、所望の記録マークを前記記録媒体に形成するためのパルス列に対応する記録パラメータを学習する記録パラメータ学習を実施することによって、前記少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップを包含してもよい。
前記複数のパルス列の各々は、前記複数のパルス列の各々の始端に配置されている始端パルスと、前記複数のパルス列の各々の終端に配置されている終端パルスとを含んでもよい。前記始端パルスは、前記記録マークの始端部分を形成するためのパルスであり、前記終端パルスは、前記記録マークの終端部分を形成するためのパルスであり、前記第２記録パラメータは、前記複数のパルス列の各々の記録パワーレベル、前記複数のパルス列の各々の記録パワーレベルを決定するための記録パワーレベル係数、前記複数のパルス列の各々の始端パルスの位置、および前記複数のパルス列の各々の終端パルスの位置のうちの少なくとも１つを示す。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａであってもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、前記第２線速度ｖｂであってもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、（ｖａ＋ｖｂ）／２であってもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂであってもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１、線速度ｖ２および線速度ｖ３であり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび第３線速度ｖｃであり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有してもよい。
前記ステップ（ａ−２）は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第４記録パラメータを決定するステップと、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと前記第４記録パラメータとに基づいて、前記第２パラメータを決定するステップとを包含してもよい。
前記第１記録パラメータと前記第２記録パラメータと前記第３記録パラメータと前記第４記録パラメータとは、ｇ（ｖ）＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）＋Ａｄｊ（ｖ）の関係を有してもよい。ここで、ｖは、前記複数の線速度を示し、ｖ１は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータのうちの１つに対応する線速度を示し、ｇ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第２記録パラメータを示し、ｆ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第４記録パラメータを示し、ＰＭｖ１は、前記第１記録パラメータを示し、Ａｄｊ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する補正値を示す。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータであり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記第１線速度ｖａに対応する記録パラメータおよび前記第２線速度ｖｂに対応する記録パラメータでよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータ、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖ３に対応する記録パラメータであり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記第１線速度ｖａに対応する記録パラメータ、前記第２線速度ｖｂに対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖｃに対応する記録パラメータであり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有してもよい。
ｆ（ｖ）は、１次関数または２次関数でよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＣｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＣｖ２であり、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、ｆ（ｖ）＝ α・（ｖ−ｖ１）＋ＰＣｖ１、α＝（ＰＣｖ２−ＰＣｖ１）／（ｖ２−ｖ１）の関係を有してもよい。
前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記記録媒体に記録されている識別コードに基づいて選択されてもよい。
前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記ステップ（ａ−２）は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定するステップを包含してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂでよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１、線速度ｖ２および線速度ｖ３であり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび線速度ｖｃであり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有してもよい。
ｈ（ｖ）は、１次関数または２次関数でよい。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第１記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＭｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＭｖ２であり、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、ｈ（ｖ）＝ β・（ｖ−ａ）＋ＰＭｖ１、β＝（ＰＭｖ２−ＰＭｖ１）／（ｖ２−ｖ１）の関係を有してもよい。
前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記記録媒体に記録されている識別コードに基づいて選択されてもよい。
前記記録パワーレベル係数は、パルス列に含まれるピークパルスのピークパワーレベルに基づいて前記スペースを形成するための消去パルスの消去パワーレベルを決定する係数およびパルス列に含まれるピークパルスのピークパワーレベルに基づいて前記記録マークを形成するためのバイアスパルスのバイアスパワーレベルを決定する係数のうちの少なくとも一方の係数であり、前記バイアスパワーレベルは、前記ピークパワーレベルと前記消去パワーレベルとの間でよい。
前記複数のパルス列の各々は、前記複数のパルス列の各々の始端に配置されている始端パルスと、前記複数のパルス列の各々の終端に配置されている終端パルスとを含んでもよい。ここで、前記記録マークは、最短の記録マークであり、前記始端パルスおよび前記終端パルスは、前記最短の記録マークを形成するためのパルスであり、Ａｄｊ(ｖ）は、前記始端パルスおよび前記終端パルスのうちの少なくとも一方の位置に基づいて決定されてもよい。
本発明の記録媒体は情報を記録するための記録媒体であって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つは、前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって前記記録媒体上に形成され、前記複数のパルス列は、前記複数の線速度に対応し、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータが測定され、前記複数の線速度に対応する第４記録パラメータが前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて決定され、前記第２パラメータが前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと前記第４記録パラメータとに基づいて決定され、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列が前記決定された第２記録パラメータに基づいて生成され、前記記録媒体は、前記第３記録パラメータが記録された領域を有し、前記第１記録パラメータと前記第２記録パラメータと前記第３記録パラメータと前記第４記録パラメータとは、ｇ（ｖ）＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）＋Ａｄｊ（ｖ）の関係を有し、ｖは、前記複数の線速度を示し、ｖ１は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータのうちの１つに対応する線速度を示し、ｇ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第２記録パラメータを示し、ｆ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第４記録パラメータを示し、ＰＭｖ１は、前記第１記録パラメータを示し、Ａｄｊ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する補正値を示し、これにより、上記目的が達成される。
本発明の記録媒体は、情報を記録するための記録媒体であって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つは、前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって前記記録媒体上に形成され、前記複数のパルス列は、前記複数の線速度に対応し、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータが測定され、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータが前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて決定され、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列が前記決定された第２記録パラメータに基づいて生成され、前記記録媒体は、前記第３記録パラメータが記録された領域を有し、これにより、上記目的が達成される。
前記記録媒体は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータを選択するための識別コードが記録された領域を有してもよい。
前記記録媒体は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータを選択するための識別コードが記録された領域を有してもよい。
本発明の記録装置は、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するパルス列生成手段と、前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを前記記録媒体上に形成する形成手段とを備え、前記形成手段は、前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定する第１記録パラメータ測定手段と、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定する第２記録パラメータ決定手段と、前記決定された第２記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成する手段とを備え、これにより、上記目的が達成される。
前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂであってもよい。
前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有してもよい。
前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂでよい。
前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、ｈ（ｖ）は、１次関数または２次関数でよい。
前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、前記少なくとも１つの第１記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＭｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＭｖ２であり、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、ｈ（ｖ）＝ β・（ｖ−ａ）＋ＰＭｖ１、β＝（ＰＭｖ２−ＰＭｖ１）／（ｖ２−ｖ１）
の関係を有してもよい。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
１．記録再生装置１００の構成
図１は、本発明の実施の形態の記録再生装置１００の構成を示す。
記録再生装置１００は、データを記録再生するための記録媒体１０１（以下、「光ディスク１０１」と記載する。）を装着可能なように構成されている。
記録再生装置１００は、光ヘッド１０６と、スピンドルモータ１０７と、システム制御回路１０２と、記録系回路部１２０と、再生系回路部１３０とを含む。
システム制御回路１０２は、記録再生装置１００に含まれる各構成要素の動作を制御する。光ヘッド１０６は、半導体レーザの光を集光し、集光した光を光ディスク１０１に照射する。スピンドルモータ１０７は、光ディスク１０１が回転するように光ディスク１０１を駆動する。
記録系回路部１２０は、変調回路１０３と、パルス列生成回路１０４と、記録クロック設定回路１１１と、レーザ駆動回路１０５と、線速度設定回路１０８とを含む。
変調回路１０３は、光ディスク１０１に記録するデータを２値化された変調符号に変換する。
クロック設定回路１１１は、光ディスク１０１の線速度に応じてパルス列生成回路１０４のクロックを設定する。
パルス列生成回路１０４は、変調符号に基づいてパルス列を生成する。例えば、パルス列生成回路１０４は、パルス列の先頭に配置された始端パルスの位置および記録パルス列の後尾に配置された終端パルスの位置を補正する。パルス列生成回路１０４についての詳細な説明は、後述される。
レーザパワー制御回路１１５は、パルス列の記録パワーレベルを制御する。レーザパワー制御回路１１５についての詳細な説明は、後述される。
レーザ駆動回路１０５は、パルス列生成回路１０４によって生成されたパルス列とレーザパワー制御回路１１５によって制御されたパワーレベルとに基づいて、光ヘッド１０６に搭載された半導体レーザ装置の電流を駆動する。
線速度設定回路１０８は、スピンドルモータ１０７の回転数を制御することによって、光ディスク１０１の線速度を設定する。光ディスク１０１の線速度は、例えば、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度である。
再生系回路部１３０は、再生信号処理回路１０９と、復調回路１１０と、検出回路部１４０とを含む。
再生信号処理回路１０９は、光ヘッド１０６で再生された再生信号を処理（再生信号の２値化および再生信号のクロック再生）する。復調回路１１０は、２値化された再生信号を復号し、再生データを生成する。
検出回路部１４０は、記録パラメータであるパルス列に含まれるパルスの位置とパルス列に含まれるパルスの記録パワーレベルとを最適化する。検出回路部１４０は、ジッタ検出回路１１３と、ＢＥＲ検出回路１１４とを含む。ジッタ検出回路１１３は、再生信号のジッタ値を検出する。ＢＥＲ検出回路１１４は、復調された再生信号のビットエラーレートを検出する。
なお、１チップ化されたＬＳＩが、記録系回路部１２０および再生系回路部１３０のうちの少なくとも一方を含んでもよい。１チップ化されたＬＳＩが、記録系回路部１２０と再生系回路部１３０とシステム制御回路１０２とを含んでもよい。１チップ化されたＬＳＩに記録系回路部１２０および再生系回路部１３０のうちの少なくとも一方を含めることによって、または１チップ化されたＬＳＩに記録系回路部１２０と再生系回路部１３０とシステム制御回路１０２とを含めることによって、記録再生装置１００の製造工程を容易にすることができる。
図２は、線速度に対応するパルス列を示す。
図２（１）は、最低線速度ｖａに対応するパルス列を示す。図２（２）は、線速度ｖ１に対応するパルス列を示す。図２（３）は、線速度ｖ２に対応するパルス列を示す。図２（４）は、最高線速度ｖｂに対応するパルス列を示す。
図２で示されたパルス列は、パルス列生成回路１０４（図１参照）の出力（ａ）で観測される。線速度の各々に対応するパルス列には、複数のパルスが含まれる。図２に示された複数のパルスの各々のパルス幅は記録クロックの周期Ｔで正規化されている。パルス幅の絶対値が記録クロックの周期Ｔに比例していれば、線速度の各々に対応するパルス列のパルス幅は同一になるように表示される。
パルス列は、始端パルス１とマルチパルス２と終端パルス３と消去パルス４とを含む。始端パルス１とマルチパルス２と終端パルス３とは、記録マークを形成するためのパルスである。消去パルス４は、スペースを形成するためのパルスである。
始端パルス１は、パルス列の始端に配置されている。始端パルス１は、記録マークの始端部分を形成するためのパルスである。終端パルス３は、パルス列の終端に配置されている。終端パルス３は、記録マークの終端部分を形成するためのパルスである。マルチパルス２は、始端パルス１と終端パルス２との間に配置されている。マルチパルス２は、記録マークの中央部分を形成するためのパルスである。幅Ｔｍｐは、マルチパルス２に含まれる複数のパルスの各々の幅を示す。記録クロックの周期をＴとすると、マルチパルス２のデューティ比は０．５Ｔであり、幅Ｔｍｐ＝０．５Ｔである。
位置Ｔｓｆｐは、始端パルス１の立ち上がり位置を示す。位置Ｔｅｆｐは、始端パルス１の立ち下がり位置を示す。始端パルス１の位置は、位置Ｔｓｆｐおよび位置Ｔｅｆｐのうちの少なくとも一方によって決定される。
位置Ｔｓｌｐは、終端パルス３の立ち上がり位置を示す。位置Ｔｅｌｐは、終端パルス３の立ち下がり位置を示す。終端パルス３の位置は、位置Ｔｓｌｐおよび位置Ｔｅｌｐのうちの少なくとも一方によって決定される。
図２において、位置Ｔｅｆｐと位置Ｔｓｌｐと幅Ｔｍｐとは、記録クロックの周期Ｔに比例するように変化させて表示しているが、位置Ｔｓｆｐや位置Ｔｅｌｐと同様に、線速度に応じて変化させてもよい。
以下、図１および図２を参照して、パルス列生成回路１０４の機能を説明する。
パルス列生成回路１０４は、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列を生成するために、位置Ｔｅｆｐ、位置Ｔｓｌｐ、位置Ｔｓｆｐ、位置Ｔｅｌｐおよび幅Ｔｍｐのうちの少なくとも１つを線速度に応じて制御する。
パルス列生成回路１０４は、例えば、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列を生成するために、複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応するパルス列の位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐとを記録パラメータ学習によって最適化する。パルス列生成回路１０４は、例えば、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの前方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｓｆｐを最適化し、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの後方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｅｌｐを最適化する。
例えば、どの程度位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐとが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐとを変化させる。
図３は、パルス列が有する記録パワーレベルの絶対値（ｍＷ単位）を示す。
図３（１）は、最低線速度ｖａに対応するパルス列が有する記録パワーレベルの絶対値（ｍＷ単位）を示す。図３（２）は、最高線速度ｖｂに対応するパルス列が有する記録パワーレベルの絶対値（ｍＷ単位）を示す。
図３で示されたパルス列は、光ヘッド４０６（図１参照）の発光出力（ｂ）で観測される。
パルス列が有する記録パワーレベルは、ピークパワーレベルＰｐとバイアスパワーレベルＰｂと消去パワーレベルＰｅとを含む。例えば、ピークパワーレベルＰｐとバイアスパワーレベルＰｂと消去パワーレベルＰｅとは、Ｐｅ≦Ｐｂ≦Ｐｐの関係を有する。
ピークパワーレベルＰｐは、パルス列のピークパワーレベルである。ピークパワーレベルＰｐは、例えば、始端パルス１のピークパワーレベルである。ピークパワーレベルＰｐは、例えば、終端パルス３のピークパワーレベルである。
バイアスパワーレベルＰｂは、パルス列のバイアスパワーレベルである。バイアスパワーレベルＰｂは、例えば、マルチパルス２に含まれるパルスとパルスとの間のパワーレベルである。バイアスパワーレベルＰｂは、例えば、ピークパワーレベルＰｐと記録パワーレベル係数ｋｂとに基づいて決定してもよい。バイアスパワーレベルＰｂとピークパワーレベルＰｐと記録パワーレベル係数ｋｂとは、例えば、Ｐｂ＝ｋｂ×Ｐｐの関係を有する。なお、ｋｂは乗算係数である。
消去パワーレベルＰｅは、パルス列の消去パワーレベルである。消去パワーレベルＰｅは、例えば、消去パルス４のパワーレベルである。消去パワーレベルＰｅは、例えば、ピークパワーレベルＰｐと記録パワーレベル係数ｋｅとに基づいて決定してもよい。消去パワーレベルＰｅとピークパワーレベルＰｐと記録パワーレベル係数ｋｅとは、例えば、Ｐｅ＝ｋｅ×Ｐｐの関係を有する。なお、ｋｅは乗算係数である。
なお、記録パワーレベル係数は乗算係数に限らない。記録パワーレベル係数はパラメータがピークパワーレベルＰｐである任意の近似関数であってもよい。さらに、記録パワーレベル係数の基準は、ピークパワーレベルＰｐに限らない。記録パワーレベル係数の基準は、消去パワーレベルＰｅまたはバイアスパワーレベルＰｂであってもよい。
バイアスパワーレベルＰｂは、図３で示されるようにマルチパルス２に含まれるパルスとパルスとの間のパワーレベルであるボトムパワーレベルに限らない。Ｔｍｐ＝０の場合（マルチパルスそのものが無い場合）には、平坦部のパワーレベルであっても良い。バイアスパワーレベルＰｂは、終端パルスの立ち下がり位置からある幅で発生させる冷却パルスの消去パワーレベルであってもよい。
以下、図１および図３を参照して、レーザパワー制御回路１１５の機能を説明する。
レーザパワー制御回路１１５は、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列の記録パワーレベルを決定するために、ピークパワーレベルＰｐ、消去パワーレベルＰｅ、バイアスパワーレベルＰｂ、および記録パワーレベル係数ｋのうちの少なくとも１つを線速度に応じて制御する。
レーザパワー制御回路１１５は、例えば、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列の記録パワーレベルを決定するために、ピークパワーレベルＰｐ、消去パワーレベルＰｅ、バイアスパワーレベルＰｂ、および記録パワーレベル係数ｋを記録パラメータ学習によって最適化する。
例えば、どの程度記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とを変化させる。
以上、図１〜図３を参照して本発明の実施の形態の一例を説明した。
例えば、図１〜図３に示される実施の形態では、システム制御回路１０２とパルス列生成回路１０４とレーザパワー制御回路１１５とレーザ駆動回路１０５と再生系回路部１３０とが「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するパルス列生成手段」に対応し、システム制御回路１０２とレーザ駆動回路１０５と光ヘッド１０６とスピンドルモータ１０７とが「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成する形成手段」に対応し、再生系回路部１３０が「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定する第１記録パラメータ測定手段」に対応し、システム制御回路１０２とパルス列生成回路１０４とレーザパワー制御回路１１５とレーザ駆動回路１０５とが「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定する第２記録パラメータ決定手段」および「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成する手段」に対応する。
しかし、本発明の記録再生装置１００が図１〜図３に示される実施の形態に限定されるわけではない。上述した「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するパルス列生成手段」、「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成する形成手段」、「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定する第１記録パラメータ測定手段」、「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定する第２記録パラメータ決定手段」および「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成する手段」である限りは、任意の構成を有しえる。
本発明の記録方法、記録装置および記録媒体によれば、正確ではあるが測定時間がかかる測定された記録パラメータのみに依存することなく、かつ測定時間はかからないが正確でない記録媒体に記録済みの記録パラメータのみに依存することなく、パルス列を生成するための記録パラメータを決定することができるため、短い時間で正確なパルス列を生成することができる。
２．第１の処理手順による記録パラメータの最適化
図４は、線速度と第１の処理手順で最適化するための記録パラメータとの関係を示す。図４（ａ）は、線速度と第１の処理手順で最適化する前の記録パラメータとの関係を示す。図４（ｂ）は、線速度と第１の処理手順で最適化した後の記録パラメータとの関係を示す。
図５は、記録パラメータを最適化するための第１の処理手順を示す。第１の処理手順は記録再生装置１００によって実行される。
以下、図１、図４および図５を参照して、記録パラメータを最適化するための第１の処理手順をステップごとに説明する。
ステップ６０１：コントロールトラック記載値をシステム制御回路１０２のメモリ領域に読み込む。コントロールトラック記載値は、例えば、光ディスク１０１が有するコントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータ（例えば、パルス列の位置および記録パワーレベルのうちの少なくとも一方）である。
コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、例えば、最低線速度ｖａに対応する記録パラメータＰＣｖａと最高線速度ｖｂに対応する記録パラメータＰＣｖｂである。
なお、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、記録パラメータＰＣｖａおよび記録パラメータＰＣｖｂに限らない。コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、例えば、記録パラメータＰＣｖａと記録パラメータＰＣｖｂと記録パラメータＰＣｖｃである。記録パラメータＰＣｖｃは、線速度ｖｃ（ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２）に対応する記録パラメータである。
さらに、必要に応じて、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、ｎ種類の線速度に対応する記録パラメータでもよい。例えば、予め記録された記録パラメータに対応する３つの線速度（ｖ１、ｖ２、ｖ３）に対応する記録パラメータでよい。この場合には、例えばｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂである。さらに、記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）が、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録されていてもよい。記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）の詳細は、後述される。
さらに、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータ自身を直接読み込まないで、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された識別コードに基づいて、システム制御回路１０２等に記憶された線速度に対応する記録パラメータを選択してもよい。この識別コードは、メディアメーカー別にディスク種別や製造ロット毎に最適な記録パラメータを選択するためにメディアメーカー別にディスク種別や製造ロット毎に付与されてもよい。
ステップ６０２：ＰＣｖａとＰＣｖｂとに基づいて、記録パラメータ学習を行うための学習前初期値ｆ（ｖ１）を演算する。ｆ（ｖ１）は、ｖ１に対応する値である。記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）を以下に示す。
ｆ（ｖ）＝ α・（ｖ−ｖａ）＋ＰＣｖａ
α＝（ＰＣｖｂ−ＰＣｖａ）／（ｖｂ−ｖａ）
記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）は、記録パラメータが線速度に応じて線形近似可能であるような記録メディアの特性に合致している。しかし、記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）は、１次関数に限らない。記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）は、２次関数でもよい。記録メディアの特性に応じた近似関数を選択することができる。
学習前初期値ｆ（ｖ１）は、記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）の軌跡上にある（図４（ａ）参照）。
ステップ６０３：学習前初期値ｆ（ｖ１）である記録パラメータを記録再生装置１００に設定する。例えば、線速度ｖ１に対応するパルス列に含まれる各パルスの位置（例えば、始端パルスの位置、または終端パルスの位置）がパルス列生成回路１０４に設定され、線速度ｖ１に対応するパルス列の記録パワーレベルがレーザ制御回路１１５に設定される。
ステップ６０４：光ヘッド１０６を光ディスク１０１上の所定領域に設けられたテスト記録領域へシークし、スピンドルモータ１０７の回転速度を線速度ｖ１に設定する。線速度ｖ１は、記録パラメータ学習を行うための線速度であり、線速度設定回路１０８によって設定される。
さらに、クロック設定回路１１１は、線速度ｖ１に相当する記録クロックＴｖ１を発生し、記録クロックＴｖ１をパルス発生回路１０４に入力する。
ステップ６０５：線速度ｖ１で記録パラメータ学習を実施し、記録パラメータを最適化する。
まず、線速度ｖ１に対応するパルス列を最適化するために、パルス列生成回路１０４は、始端パルスの立ち上がり位置Ｔｓｆｐと、終端パルスの立ち下がり位置Ｔｅｌｐとを変化させる。
パルス列生成回路１０４は、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの前方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｓｆｐを最適化し、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの後方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｅｌｐを最適化する。
どの程度位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐとが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐを変化させる。
レーザパワー制御回路１１５は、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列の記録パワーレベルを決定するために、ピークパワーレベルＰｐ、消去パワーレベルＰｅ、バイアスパワーレベルＰｂ、および記録パワーレベル係数ｋを記録パラメータ学習によって最適化する。
どの程度記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とを変化させる。
このように、線速度ｖ１に対応する学習後の記録パラメータの最適値ＰＭｖ１が求まる。最適値ＰＭｖ１は、光ディスク１０１に記録されている記録パラメータに基づいて近似演算した学習前初期値ｆ（ｖ１）とは一般的に異なる（図４（ａ））。なぜなら、光ディスク１０１と記録再生装置１００に含まれる光スポット径の組み合わせにより、最適な記録パラメータ（パルス列の位置と記録パワーレベル）がばらつくからである。
ステップ６０６：ｆ（ｖ１）を通る記録パラメータ近似関数ｆ（ｖ）の軌跡をＰＭｖ１を通る軌跡に平行移動する。移動後の近似関数を以下に示す。
移動後の近似関数＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）
ステップ６０７：移動後の近似関数と任意の線速度ｖに対応する記録パラメータの補正値とに基づいて、任意の線速度ｖに対応する記録パラメータ（ｇ（ｖ））を求める。演算式ｇ（ｖ）を以下に示す。
ｇ（ｖ）＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）＋Ａｄｊ(ｖ）
Ａｄｊ(ｖ）は、任意の線速度ｖに対応する記録パラメータの補正値である。Ａｄｊ(ｖ）の詳細は、後述される。
図４（ｂ）に示された実線は、ｇ（ｖ）の軌跡を示す。図４（ｂ）に示された点線は、ｆ（ｖ）の軌跡を示す。ｇ（ｖ）の軌跡はｆ（ｖ）を平行移動させた軌跡である。
任意の線速度ｖに対応する記録パラメータの近似関数ｇ（ｖ）によって、線速度ｖａ、線速度ｖ２および線速度ｖｂの各々に対応する記録パラメータ近似演算値ｇ（ｖａ）、記録パラメータ近似演算値ｇ（ｖ２）および記録パラメータ近似演算値ｇ（ｖｂ）を求めることができる（図４（ｂ）参照）。線速度ｖａ、ｖ２、ｖｂは、記録パラメータ学習した線速度ｖ１以外の線速度である。
上述したように、線速度ｖ１での記録パラメータ学習のみで、ｇ（ｖ）に従って、線速度の全変化範囲内（ｖａ≦ｖ≦ｖｂ）の任意の線速度に対応する記録パラメータを求めることができる。
以下、補正値Ａｄｊ（ｖ）について説明する。
線速度の変化範囲内の一部で、移動後の近似関数（＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１））で近似した値がその線速度に対応する記録パラメータの最適値と異なる場合がある。この場合、移動後の近似関数で記録すると、再生ジッタ値が記録再生装置の基準に達しない場合がある。記録パラメータを光ディスク１０１に記録した基準記録機の光スポット径と記録再生装置１００の光スポット径とが異なる場合に、記録パラメータ学習を実施した１点でオフセット移動させると、線速度の変化範囲（ｖａ≦ｖ≦ｖｂ）のうちの線速度ｖａに対応する記録パラメータおよび線速度ｖｂに対応する記録パラメータが最適値から大きく異なるためである。最適値からの差異を少なくする為に、補正値Ａｄｊ（ｖ）を移動後の近似関数に加算することによって、ｇ（ｖ）を求める。
移動後の近似関数を補正する方法としては、線速度の変化範囲（ｖａ≦ｖ≦ｖｂ）のうちの線速度ｖａと線速度ｖｂと（記録パラメータの差異の大きい線速度）で更に記録パラメータ学習を実施する方法が考えられる。但し、全ての記録パラメータ学習を改めて実施する必要は無い。例えば、パルス列の前端の立ち上がり位置Ｔｓｆｐおよび後端の立ち下がり位置Ｔｅｌｐのみを最適化すれば、再生ジッタ値が記録再生装置１００の基準内に収まる場合が多い。
さらに、記録マーク長中の最短マーク長（ＤＶＤ−ＲＡＭの場合３Ｔマーク長)のみの、立ち上がり位置Ｔｓｆｐと立ち下がり位置Ｔｅｌｐとを最適化すれば、再生ジッタ値が記録再生装置１００の基準内に収まる場合もある。
ステップ６０８：近似関数ｇ（ｖ）に基づいて、線速度ｖに対応する記録パルス列の位置と記録パワーレベルとを演算し、演算結果をシステム制御回路１０２の記憶領域に格納する。
ステップ６０９：光ヘッド１０６が光ディスク１０１上の記録領域にシークされる。線速度設定回路１０８は、光ディスク１０１の回転速度が線速度ｖになるようにスピンドルモータ１０７の線速度を設定する。
ステップ６１０：クロック設定回路１１１は、情報を記録する線速度ｖに相当する記録クロックＴｖを発生させて、記録クロックＴｖをパルス列生成回路１０４に入力する。パルス列生成回路１０４は、パルス列を生成する。
ステップ６１１：生成されたパルス列がレーザ駆動回路１０５に入力され、光ヘッド１０６に搭載された半導体レーザ装置が駆動される。
ステップ６１２：光ディスク１０１が有する記録領域に、必要なデータを記録する。記録後、処理は終了する。
以上、図１、図４および図５を参照して本発明の実施の形態の一例を説明した。
例えば、図１、図４および図５に示される実施の形態では、ステップ６０１〜ステップ６１０が「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」に対応し、ステップ６１１とステップ６１２とが「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成するステップ」に対応し、ステップ６０１〜ステップ６０５が「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップ」に対応し、ステップ６０６〜ステップ６０８が「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップ」に対応し、ステップ６０９とステップ６１０とが「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」に対応する。さらに、ステップ６０６とステップ６０７とが「記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第４記録パラメータを決定するステップ」に対応し、ステップ６０８が「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと第４記録パラメータとに基づいて、第２パラメータを決定するステップ」に対応する。
しかし、本発明の第１の処理手順が図１、図４および図５に示される実施の形態に限定されるわけではない。上述した「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」、「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成するステップ」、「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップ」、「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップ」、「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」、「記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第４記録パラメータを決定するステップ」および「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと第４記録パラメータとに基づいて、第２パラメータを決定するステップ」を実行し得る限りは、任意の処理手順を有しえる。
本発明の記録方法、記録装置および記録媒体によれば、正確ではあるが測定時間がかかる測定された記録パラメータのみに依存することなく、かつ測定時間はかからないが正確でない記録媒体に記録済みの記録パラメータのみに依存することなく、パルス列を生成するための記録パラメータを決定することができるため、短い時間で正確なパルス列を生成することができる。
コントロールトラック（ＣＴ）記載の記録パラメータの近似関数ｆ（ｖ）と、線速度ｖ１でｆ（ｖ１）を記録パラメータ学習結果によって求めた近似関数ｇ（ｖ）とに基づいて、任意の線速度ｖに対応する記録パラメータを近似演算することにより、１つの記録線速度ｖ１での記録パラメータ学習のみで、線速度の全変化範囲内の任意の線速度に対応する適正な記録パラメータ値を求めることができる。
このため、ＤＶＤ−ＲＡＭ等高密度でかつ高速なＣＡＶ記録を行う場合でも、任意の線速度で最適な記録パワーレベルとパルス列とを決定することができ、常に最良の記録が実施できる。
３．第２の処理手順による記録パラメータの最適化
図６は、線速度と第２の処理手順で最適化するための記録パラメータとの関係を示す。図６（ａ）は、線速度と第２の処理手順で最適化する前の記録パラメータとの関係を示す。図６（ｂ）は、線速度と第２の処理手順で最適化した後の記録パラメータとの関係を示す。
図７は、記録パラメータを最適化するための第２の処理手順を示す。第２の処理手順は記録再生装置１００によって実行される。
以下、図１、図６および図７を参照して、記録パラメータを最適化するための第２の処理手順をステップごとに説明する。
ステップ７０１：コントロールトラック記載値をシステム制御回路１０２のメモリ領域に読み込む。コントロールトラック記載値は、例えば、光ディスク１０１が有するコントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータ（例えば、パルス列の位置および記録パワーレベルのうちの少なくとも一方）である。
コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、例えば、最低線速度ｖａに対応する記録パラメータＰＣｖａと最高線速度ｖｂに対応する記録パラメータＰＣｖｂである。
なお、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、記録パラメータＰＣｖａおよび記録パラメータＰＣｖｂに限らない。コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、例えば、記録パラメータＰＣｖａと記録パラメータＰＣｖｂと記録パラメータＰＣｖｃである。記録パラメータＰＣｖｃは、線速度ｖｃ（ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２）に対応する記録パラメータである。
さらに、必要に応じて、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータは、ｎ種類の線速度に対応する記録パラメータでもよい。例えば、予め記録された記録パラメータに対応する３つの線速度（ｖ１、ｖ２、ｖ３）に対応する記録パラメータでよい。この場合には、例えばｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂである。
さらに、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータ自身を直接読み込まないで、コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された識別コードに基づいて、システム制御回路１０２等に記憶された線速度に対応する記録パラメータを選択してもよい。この識別コードは、メディアメーカー別にディスク種別や製造ロット毎に最適な記録パラメータを選択するためにメディアメーカー別にディスク種別や製造ロット毎に付与されてもよい。
ステップ７０２：コントロールトラック（ＣＴ）の領域に予め記録された記録パラメータである最低線速度ｖａに対応する記録パラメータＰＣｖａと最高線速度ｖｂに対応する記録パラメータＰＣｖｂとを記録再生装置１００に設定する。例えば、記録パラメータＰＣｖａに含まれる各パルスの位置（例えば、始端パルスの位置、または終端パルスの位置）がパルス列生成回路１０４に設定され、記録パラメータＰＣｖａに含まれる記録パワーレベルがレーザ制御回路１１５に設定される。
ステップ７０３：光ヘッド１０６を光ディスク１０１上の所定領域に設けられたテスト記録領域へシークし、スピンドルモータ１０７の回転速度を線速度ｖａに設定する。線速度ｖａは、記録パラメータ学習を行うための線速度であり、線速度設定回路１０８によって設定される。
さらに、クロック設定回路１１１は、線速度ｖａに相当する記録クロックＴｖａを発生し、記録クロックＴｖａをパルス発生回路１０４に入力する。
ステップ７０４：線速度ｖａに対応する記録パラメータＰＣｖａに基づいて、記録パラメータ学習を実施し、記録パラメータを最適化する。
まず、線速度ｖａに対応するパルス列を最適化するために、パルス列生成回路１０４は、始端パルスの立ち上がり位置Ｔｓｆｐと、終端パルスの立ち下がり位置Ｔｅｌｐとを変化させる。
パルス列生成回路１０４は、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの前方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｓｆｐを最適化し、パルス列によって形成された記録マークのマーク長とこの記録マークの後方に隣接するスペースのスペース長とに応じて位置Ｔｅｌｐを最適化する。
どの程度位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐとが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、位置Ｔｓｆｐと位置Ｔｅｌｐを変化させる。
レーザパワー制御回路１１５は、適正な記録マークおよび適正なスペースを形成するためのパルス列の記録パワーレベルを決定するために、ピークパワーレベルＰｐ、消去パワーレベルＰｅ、バイアスパワーレベルＰｂ、および記録パワーレベル係数ｋを記録パラメータ学習によって最適化する。
どの程度記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とが最適化されたか（最適化の指標）は、ジッタ検出回路１１３およびＢＥＲ検出回路１１４のうちの少なくとも一方を用いることによって判定されえる。パルス列生成回路１０４は、例えば、再生信号のジッタ値または再生信号のＢＥＲ値が最小になるように、記録パワーレベルと記録パワーレベル係数とを変化させる。
このように、線速度ｖａに対応する学習後の記録パラメータの学習後最適値ＰＭｖａが求まる。学習後最適値ＰＭｖａは、光ディスク１０１に記録されている記録パラメータＰＣｖａとは一般的に異なる（図６（ａ））。なぜなら、光ディスク１０１と記録再生装置１００に含まれる光スポット径の組み合わせにより、最適な記録パラメータ（パルス列の位置と記録パワーレベル）がばらつくからである。
ステップ７０５：光ヘッド１０６を光ディスク１０１上の所定領域に設けられたテスト記録領域へシークし、スピンドルモータ１０７を線速度ｖｂに設定する。線速度ｖｂは、線速度設定回路１０８で線速度ｖａの次に記録パラメータ学習を行う線速度である。
さらに、クロック設定回路１１１は、線速度ｖｂに相当する記録クロックＴｖｂを発生し、記録クロックＴｖｂをパルス発生回路１０４に入力する。
ステップ７０６：線速度近傍ｖｂに対応する記録パラメータＰＣｖｂに基づいて、記録パラメータ学習を実施し、記録パラメータを最適化する。
線速度ｖｂに対応するパルス列を最適化する方法は、記録線速度ｖａで実施したステップ７０４と同じ方法であるため省略する。
このように、線速度ｖｂに対応する学習後の記録パラメータの学習後最適値ＰＭｖｂが求まる。学習後最適値ＰＭｖｂは、光ディスク１０１に記録されている記録パラメータＰＣｖｂとは一般的に異なる（図６（ａ））。なぜなら、光ディスク１０１と記録再生装置１００に含まれる光スポット径の組み合わせにより、最適な記録パラメータ（パルス列の位置と記録パワーレベル）がばらつくからである。
ステップ７０７：ＰＭｖａとＰＭｖｂとに基づいて、任意の線速度ｖに対応する記録パラメータを記録パラメータ近似関数ｈ（ｖ）で求める。記録パラメータ近似関数ｈ（ｖ）を以下に示す。
ｈ（ｖ）＝ β・（ｖ−ｖａ）＋ＰＭｖａ
β＝（ＰＭｖｂ−ＰＭｖａ）／（ｖｂ−ｖａ）
記録パラメータ近似関数ｈ（ｖ）は、記録パラメータが線速度に応じて線形近似可能であるような記録メディアの特性に合致している。しかし、記録パラメータ近似関数ｈ（ｖ）は、１次関数に限らない。記録パラメータ近似関数ｈ（ｖ）は、２次関数でもよい。記録メディアの特性に応じた近似関数を選択することができる。
任意の線速度ｖに対応する記録パラメータの近似関数ｈ（ｖ）によって、線速度ｖ１、線速度ｖ２の各々に対応する記録パラメータ近似演算値ｈ（ｖ１）および記録パラメータ近似演算値ｈ（ｖ２）を求めることができる（図６（ｂ）参照）。
上述したように、線速度ｖａおよび線速度ｖｂでの記録パラメータ学習で、ｈ（ｖ）に従って、線速度の全変化範囲内（ｖａ≦ｖ≦ｖｂ）の任意の線速度に対応する記録パラメータを求めることができる。
ステップ７０８：近似関数ｈ（ｖ）に基づいて、線速度ｖに対応する記録パルス列の位置と記録パワーレベルとを演算し、演算結果をシステム制御回路１０２の記憶領域に格納する。
ステップ７０９：光ヘッド１０６は光ディスク１０１上の記録領域にシークさる。線速度設定回路１０８は、光ディスク１０１の回転速度が線速度ｖになるようにスピンドルモータ１０７の線速度を設定する。
ステップ７１０：クロック設定回路１１１は、情報を記録する線速度ｖに相当する記録クロックＴｖを発生させて、記録クロックＴｖをパルス列生成回路１０４に入力する。パルス列生成回路１０４は、パルス列を生成する。
ステップ７１１：生成されたパルス列がレーザ駆動回路１０５に入力され、光ヘッド１０６に搭載された半導体レーザ装置が駆動される。
ステップ７１２：光ディスク１０１が有する記録領域に、必要なデータを記録する。記録後、処理は終了する。
以上、図１、図６および図７を参照して本発明の実施の形態の一例を説明した。
例えば、図１、図６および図７に示される実施の形態では、ステップ７０１〜ステップ７１０が「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」に対応し、ステップ７１１およびステップ７１２が「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成するステップ」に対応し、ステップ７０１〜ステップ７０６が「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップ」に対応し、ステップ７０７とステップ７０８とが「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップ」と「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定するステップ」とに対応し、ステップ７０９とステップ７１０とが「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」に対応する。
しかし、本発明の第２の処理手順が図１、図６および図７に示される実施の形態に限定されるわけではない。上述した「複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」、「複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、複数のパルス列のうち選択された１つの線速度に対応するパルス列を記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを記録媒体上に形成するステップ」、「複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップ」、「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップ」、「決定された第２記録パラメータに基づいて、複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップ」、および「測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定するステップ」を実行し得る限りは、任意の処理手順を有しえる。
本発明の記録方法、記録装置および記録媒体によれば、正確ではあるが測定時間がかかる測定された記録パラメータのみに依存することなく、かつ測定時間はかからないが正確でない記録媒体に記録済みの記録パラメータのみに依存することなく、パルス列を生成するための記録パラメータを決定することができるため、短い時間で正確なパルス列を生成することができる。
コントロールトラック（ＣＴ）記載の２種類の記録線速度に対応する記録パラメータに基づいて記録パラメータ学習を実施した結果によって、任意の線速度に対応した記録パラメータの近似関数ｈ（ｖ）を求めることにより、２種類の線速度での記録パラメータ学習で、線速度の全変化範囲内の任意の線速度に対応する適正な記録パラメータ値を求めることができる。
このため、ＤＶＤ−ＲＡＭ等高密度でかつ高速なＣＡＶ記録を行う場合でも、任意の線速度で最適な記録パワーレベルと記録パルス列とを決定することができ、常に最良の記録が実施できる。
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
本発明の記録方法、記録装置および記録媒体によれば、正確ではあるが測定時間がかかる測定された記録パラメータのみに依存することなく、かつ測定時間はかからないが正確でない記録媒体に記録済みの記録パラメータのみに依存することなく、パルス列を生成するための記録パラメータを決定することができるため、短い時間で正確なパルス列を生成することができる。
コントロールトラック（ＣＴ）記載の記録パラメータの近似関数ｆ（ｖ）と、線速度ｖ１でｆ（ｖ１）を記録パラメータ学習結果によって求めた近似関数ｇ（ｖ）とに基づいて、任意の線速度ｖに対応する記録パラメータを近似演算することにより、１つの記録線速度ｖ１での記録パラメータ学習のみで、線速度の全変化範囲内の任意の線速度に対応する適正な記録パラメータ値を求めることができる。
コントロールトラック（ＣＴ）記載の２種類の記録線速度に対応する記録パラメータに基づいて記録パラメータ学習を実施した結果によって、任意の線速度に対応した記録パラメータの近似関数ｈ（ｖ）を求めることにより、２種類の線速度での記録パラメータ学習で、線速度の全変化範囲内の任意の線速度に対応する適正な記録パラメータ値を求めることができる。
このため、ＤＶＤ−ＲＡＭ等高密度でかつ高速なＣＡＶ記録を行う場合でも、任意の線速度で最適な記録パワーレベルと記録パルス列とを決定することができ、常に最良の記録が実施できる。
図１は、本発明の実施の形態の記録再生装置１００の構成を示す図である。 図２は、線速度に対応するパルス列を示す図である。 図３は、パルス列が有する記録パワーレベルの絶対値（ｍＷ単位）を示す図である。 図４は、線速度と第１の処理手順で最適化するための記録パラメータとの関係を示す図である。 図５は、記録パラメータを最適化するための第１の処理手順を示すフローチャートである。 図６は、線速度と第２の処理手順で最適化するための記録パラメータとの関係を示す図である。 図７は、記録パラメータを最適化するための第２の処理手順を示すフローチャートである。

Claims (39)

  1. （ａ）複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップと、
    （ｂ）前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを前記記録媒体上に形成するステップと
    を包含し、
    前記ステップ（ａ）は、
    （ａ−１）前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップと、
    （ａ−２）前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータ基づいて、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定するステップと、
    （ａ−３）前記決定された第２記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するステップと
    を包含する、記録方法。
  2. 前記ステップ（ａ−１）は、所望の記録マークを前記記録媒体に形成するためのパルス列に対応する記録パラメータを学習する記録パラメータ学習を実施することによって、前記少なくとも１つの第１記録パラメータを測定するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
  3. 前記複数のパルス列の各々は、前記複数のパルス列の各々の始端に配置されている始端パルスと、前記複数のパルス列の各々の終端に配置されている終端パルスとを含み、
    前記始端パルスは、前記記録マークの始端部分を形成するためのパルスであり、
    前記終端パルスは、前記記録マークの終端部分を形成するためのパルスであり
    前記第２記録パラメータは、前記複数のパルス列の各々の記録パワーレベル、前記複数のパルス列の各々の記録パワーレベルを決定するための記録パワーレベル係数、前記複数のパルス列の各々の始端パルスの位置、および前記複数のパルス列の各々の終端パルスの位置のうちの少なくとも１つを示す、請求項２に記載の記録方法。
  4. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａである、請求項１に記載の記録方法。
  5. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、前記第２線速度ｖｂである、請求項１に記載の記録方法。
  6. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、（ｖａ＋ｖｂ）／２である、請求項１に記載の記録方法。
  7. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有する、請求項１に記載の記録方法。
  8. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂである、請求項１に記載の記録方法。
  9. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１、線速度ｖ２および線速度ｖ３であり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有する、請求項１に記載の記録方法。
  10. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび第３線速度ｖｃであり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有する、請求項１に記載の記録方法。
  11. 前記ステップ（ａ−２）は、
    前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第４記録パラメータを決定するステップと、
    前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと前記第４記録パラメータとに基づいて、前記第２パラメータを決定するステップと
    を包含する、請求項１に記載の記録方法。
  12. 前記第１記録パラメータと前記第２記録パラメータと前記第３記録パラメータと前記第４記録パラメータとは、
    ｇ（ｖ）＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）＋Ａｄｊ（ｖ）
    の関係を有し、
    ｖは、前記複数の線速度を示し、
    ｖ１は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータのうちの１つに対応する線速度を示し、
    ｇ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第２記録パラメータを示し、
    ｆ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第４記録パラメータを示し、
    ＰＭｖ１は、前記第１記録パラメータを示し、
    Ａｄｊ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する補正値を示す、請求項１１に記載の記録方法。
  13. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータであり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有する、請求項１２に記載の記録方法。
  14. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記第１線速度ｖａに対応する記録パラメータおよび前記第２線速度ｖｂに対応する記録パラメータである、請求項１２に記載の記録方法。
  15. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータ、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖ３に対応する記録パラメータであり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有する、請求項１２に記載の記録方法。
  16. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記第１線速度ｖａに対応する記録パラメータ、前記第２線速度ｖｂに対応する記録パラメータおよび前記複数の線速度のうちの線速度ｖｃに対応する記録パラメータであり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有する、請求項１２に記載の記録方法。
  17. ｆ（ｖ）は、１次関数または２次関数である、請求項１２に記載の記録方法。
  18. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＣｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＣｖ２であり、
    ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、
    ｆ（ｖ）＝ α・（ｖ−ｖ１）＋ＰＣｖ１、
    α＝（ＰＣｖ２−ＰＣｖ１）／（ｖ２−ｖ１）
    の関係を有する、請求項１２に記載の記録方法。
  19. 前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記記録媒体に記録されている識別コードに基づいて選択される、請求項１２に記載の記録方法。
  20. 前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記ステップ（ａ−２）は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
  21. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有する、請求項２０に記載の記録方法。
  22. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂである、請求項２０に記載の記録方法。
  23. （基礎出願の請求項２０に対応）
    前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１、線速度ｖ２および線速度ｖ３であり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１、前記線速度ｖ２および前記線速度ｖ３は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２＜ｖ３≦ｖｂの関係を有する、請求項２０に記載の記録方法。
  24. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび線速度ｖｃであり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂおよび前記第３線速度ｖｃは、ｖｃ＝（ｖａ＋ｖｂ）／２の関係を有する、請求項２０に記載の記録方法。
  25. ｈ（ｖ）は、１次関数または２次関数である、請求項２０に記載の記録方法。
  26. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第１記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＭｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＭｖ２であり、
    ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、
    ｈ（ｖ）＝ β・（ｖ−ｖａ）＋ＰＭｖ１、
    β＝（ＰＭｖ２−ＰＭｖ１）／（ｖ２−ｖ１）
    の関係を有する、請求項２０に記載の記録方法。
  27. 前記少なくとも１つの第３記録パラメータは、前記記録媒体に記録されている識別コードに基づいて選択される、請求項２０に記載の記録方法。
  28. 前記記録パワーレベル係数は、パルス列に含まれるピークパルスのピークパワーレベルに基づいて前記スペースを形成するための消去パルスの消去パワーレベルを決定する係数およびパルス列に含まれるピークパルスのピークパワーレベルに基づいて前記記録マークを形成するためのバイアスパルスのバイアスパワーレベルを決定する係数のうちの少なくとも一方の係数であり、
    前記バイアスパワーレベルは、前記ピークパワーレベルと前記消去パワーレベルとの間である、請求項３に記載の記録方法。
  29. 前記複数のパルス列の各々は、前記複数のパルス列の各々の始端に配置されている始端パルスと、前記複数のパルス列の各々の終端に配置されている終端パルスとを含み、
    前記記録マークは、最短の記録マークであり、
    前記始端パルスおよび前記終端パルスは、前記最短の記録マークを形成するためのパルスであり、
    Ａｄｊ(ｖ）は、前記始端パルスおよび前記終端パルスのうちの少なくとも一方の位置に基づいて決定される、請求項１２に記載の記録方法。
  30. 情報を記録するための記録媒体であって、
    記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つは、前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって前記記録媒体上に形成され、
    前記複数のパルス列は、前記複数の線速度に対応し、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータが測定され、
    前記複数の線速度に対応する第４記録パラメータが前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに基づいて決定され、
    前記第２パラメータが前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータと前記第４記録パラメータとに基づいて決定され、
    前記複数の線速度に対応する複数のパルス列が前記決定された第２記録パラメータに基づいて生成され、
    前記記録媒体は、前記第３記録パラメータが記録された領域を有し、
    前記第１記録パラメータと前記第２記録パラメータと前記第３記録パラメータと前記第４記録パラメータとは、
    ｇ（ｖ）＝ｆ（ｖ）＋ＰＭｖ１−ｆ（ｖ１）＋Ａｄｊ（ｖ）
    の関係を有し、
    ｖは、前記複数の線速度を示し、
    ｖ１は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータのうちの１つに対応する線速度を示し、
    ｇ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第２記録パラメータを示し、
    ｆ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する前記第４記録パラメータを示し、
    ＰＭｖ１は、前記第１記録パラメータを示し、
    Ａｄｊ（ｖ）は、前記複数の線速度に対応する補正値を示す、記録媒体。
  31. 情報を記録するための記録媒体であって、
    記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つは、前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって前記記録媒体上に形成され、
    前記複数のパルス列は、前記複数の線速度に対応し、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータが測定され、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータが前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて決定され、
    前記複数の線速度に対応する複数のパルス列が前記決定された第２記録パラメータに基づいて生成され、
    前記記録媒体は、前記第３記録パラメータが記録された領域を有する、記録媒体。
  32. 前記記録媒体は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータを選択するための識別コードが記録された領域を有する、請求項３０に記載の記録媒体。
  33. 前記情報記録媒体は、前記少なくとも１つの第３記録パラメータを選択するための識別コードが記録された領域を有する、請求項３１に記載の記録媒体。
  34. 複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成するパルス列生成手段と、
    前記複数の線速度のうち選択された１つの線速度で記録媒体を回転させながら、前記複数のパルス列のうち前記選択された１つの線速度に対応するパルス列を前記記録媒体に照射することによって、記録マークおよびスペースのうちの少なくとも１つを前記記録媒体上に形成する形成手段と
    を備え、
    前記形成手段は、
    前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度に対応する少なくとも１つの第１記録パラメータを測定する第１記録パラメータ測定手段と、
    前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する第２記録パラメータを決定する第２記録パラメータ決定手段と、
    前記決定された第２記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度に対応する複数のパルス列を生成する手段と
    を備えた、記録装置。
  35. 前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂである、請求項３４に記載の記録装置。
  36. 前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、
    前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度は、線速度ｖ１および線速度ｖ２であり、
    前記第１線速度ｖａ、前記第２線速度ｖｂ、前記線速度ｖ１および前記線速度ｖ２は、ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂの関係を有する、請求項３４に記載の記録装置。
  37. 前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、
    前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度は、前記第１線速度ｖａおよび前記第２線速度ｖｂである、請求項３４に記載の記録装置。
  38. 前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、
    ｈ（ｖ）は、１次関数または２次関数である、請求項３４に記載の記録装置。
  39. 前記複数の線速度のうちの少なくとも１つの線速度は、前記記録媒体に記録されている少なくとも１つの第３記録パラメータに対応する少なくとも１つの線速度であり、
    前記第２記録パラメータ決定手段は、前記測定された少なくとも１つの第１記録パラメータに基づいて、前記複数の線速度ｖに対応する第２記録パラメータｈ（ｖ）を決定し、
    前記複数の線速度は、最低線速度である第１線速度ｖａから最高線速度である第２線速度ｖｂまでの連続した線速度であり、
    前記少なくとも１つの第１記録パラメータは、前記複数の線速度のうちの線速度ｖ１に対応する記録パラメータＰＭｖ１および前記複数の線速度のうちの線速度ｖ２に対応する記録パラメータＰＭｖ２であり、
    ｖａ≦ｖ１＜ｖ２≦ｖｂ、
    ｈ（ｖ）＝ β・（ｖ−ｖａ）＋ＰＭｖ１、
    β＝（ＰＭｖ２−ＰＭｖ１）／（ｖ２−ｖ１）
    の関係を有する、請求項３４に記載の記録装置。
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