JP2007331034A - ワークキャリア及び両面研磨機 - Google Patents

ワークキャリア及び両面研磨機 Download PDF

Info

Publication number
JP2007331034A
JP2007331034A JP2006161971A JP2006161971A JP2007331034A JP 2007331034 A JP2007331034 A JP 2007331034A JP 2006161971 A JP2006161971 A JP 2006161971A JP 2006161971 A JP2006161971 A JP 2006161971A JP 2007331034 A JP2007331034 A JP 2007331034A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
work
workpiece
carrier
outer diameter
double
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006161971A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5007527B2 (ja
Inventor
Hiroaki Yuki
広昭 結城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Miyazaki Epson Corp
Original Assignee
Miyazaki Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miyazaki Epson Corp filed Critical Miyazaki Epson Corp
Priority to JP2006161971A priority Critical patent/JP5007527B2/ja
Publication of JP2007331034A publication Critical patent/JP2007331034A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5007527B2 publication Critical patent/JP5007527B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

【課題】研磨加工時のワークの平行度を高めることができるワークキャリア及び両面研磨
機を提供する。
【解決手段】両面研磨機によってワークを研磨加工する際にワークを保持するワークキャ
リア1であって、ワーク20を保持するために円形状の3つの保持穴4が形成された円盤
状のキャリア本体2を備え、キャリア本体2の外径をDc、保持穴4の内径より僅かに小
さいワーク20の外径をDwとしたときに、キャリア本体20の外径Dcとワーク20の
外径Dwとの関係が、Dw<0.42×Dc−8.7(但し、Dw>0)を満たすように
した。
【選択図】図1

Description

本発明は、ワークの研磨加工を行う際に用いられるワークキャリア及び両面研磨機に関
わり、特に研磨加工時のワークの平行度を高めるのに好適なものである。
従来から研磨面が互いに平行となるように配設された上定盤及び下定盤を備え、上定盤
と下定盤との間に薄片状のワークを挟み込んだ状態で遊離砥粒(研磨剤)を含むスラリ(
泥漿)を供給しつつ相対回転させることで、ワークの両面に研磨加工を施す両面研磨機が
知られている。
このような両面研磨機では、上定盤と下定盤との間でワークを保持するために薄板状の
ワークキャリアが用いられている。ワークキャリアは、その一部に設けられた保持穴内に
ワークを納めた状態でワークと共に上定盤と下定盤との間に挟み込まれ、研磨加工時にワ
ークの表面両面が常に上定盤及び下定盤の研磨面により同時に摺接されるように保持して
いる。また前記したような両面研磨機は、ガラスや半導体の研磨加工だけでなく、水晶振
動子などの各種水晶デバイスに用いられる水晶基板の研磨加工にも広く利用されている。
なお、先行文献としては、特許文献1にウェーハ毎のチップ全体の歩留まりを最大にす
るために、シリコンウェーハの面内でのチップ取得位置の検討、決定方法が開示されてい
る。
特開平11−150045号公報
ところで、両面研磨機を使用してワークのラッピング或いはポリッシュを行う場合は、
ワークの平行度及び平面度を高精度に保つ必要がある。特に、ワークが水晶振動子用の水
晶チップに使用する水晶ウェーハの場合、平行度が悪いと、つまりウェーハの厚みにムラ
があると、ウェーハを水晶チップに分割したときにチップの厚みが揃わないため、チップ
毎の周波数のバラツキが大きくなり、周波数調整工程における周波数調整の負担が増すと
いう欠点があった。このため、水晶振動子用の水晶ウェーハでは、平行度の規格として0
.15μm以下のものが求められているが、現状の両面研磨機では、かかる平行度の規格
を満足することが非常に困難であった。
そこで、本発明は上記した点を鑑みたものであり、研磨加工時のワークの平行度を高め
ることができるワークキャリア及び両面研磨機を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明のワークキャリアは、両面研磨機によってワークを研
磨加工する際にワークを保持するワークキャリアであって、ワークを保持するために円形
状の3つの保持穴が形成された円盤状のキャリア本体を備え、キャリア本体の外径をDc
、前記保持穴の内径より僅かに小さい前記ワークの外径をDwとしたときに、前記キャリ
ア本体の外径Dcと前記ワークの外径Dwとの関係が、Dw<0.42×Dc−8.7(
但し、Dw>0)を満たすようにした。
本発明のように構成すれば、ワークキャリアの各保持穴内に保持されているワークにか
かる圧力と、各保持穴内のワーク全体の累積移動量をほぼ均等に保つことが可能になる。
これにより、本発明のワークキャリアを用いてラッピングやポリッシングといった研磨加
工を行えば、研磨加工時における各ワークの厚みムラを抑制できるので、各ワークの平行
度を高めることができる。
また本発明のワークキャリアは、キャリア本体の外径Dcとワークの外径Dwとの関係
が、0.33×Dc−7.4<Dw(但し、Dw>0)を満たすようにした。
このように構成すると、比較的柔らかい研磨パッドによりポリッシングを行った場合で
も、研磨パッドがワークの間に沈み込まないので、ワークの面ダレを防止することができ
る。
また本発明のワークキャリアは、3つの保持穴の中心を円盤状のキャリア本体の中心か
ら等距離の円周上に位置するようにした。このように構成すると各保持穴内のワーク全体
の累積移動量をさらに均等に保つことができるので、各ワークの平行度をさらに高めるこ
とができる。
また本発明のワークキャリアは、3つの保持穴を、3つの保持穴の中心に対して等角度
に配置するようにした。このように構成すると各保持穴内のワークに対して均等に荷重が
加われるので各ワークの平行度をさらに高めることができる。
また、本発明のワークキャリアは、ワークとして水晶ウェーハを用いるようにすれば、
水晶振動子用の平行度の規格を満足した水晶ウェーハを容易に作製することができる。
また、本発明のワークキャリアでは、ワークキャリアの外径を汎用的に使用されている
略6インチとすることで、従来から使用している両面研磨機において利用することができ
る。
また、本発明の両面研磨機は、上定盤と、下定盤と、上定盤と下定盤との間に、ワーク
を保持したワークキャリアを挟んでワークの表裏両面を同時に研磨する両面研磨機であっ
て、ワークキャリアを本発明のワークキャリアとした。
このような本発明の両面研磨機によりワークのラッピングやポリッシングといった研磨
加工を行えば、研磨加工時における各ワークの厚みムラが抑制することができるので各ワ
ークの平行度を高めることができる。
本発明の実施形態について説明する前に本発明に至った背景について説明しておく。
本発明者は、研磨加工時のワークの平行度を高めるにはどうしたらよいか鋭意検討を行
った結果、プレストンの法則に着目した。プレストンの法則によれば、通常のラッピング
、ポリッシングにおける研磨量は、ワークと工具の相対速度、圧力、時間に比例すること
が知られている。即ち、ワークの研磨量をΔV、圧力をp、相対速度v、時間をtとした
場合、ワークの研磨量ΔVは、ΔV=k・p・v・t(kは係数)と表すことができるこ
とが知られている。
そこで、本発明者は、両面研磨機において水晶ウェーハを両面研磨する際に、両面研磨
機を如何に構成すれば、プレストンの法則に満たす条件が実現できるか検討を行った結果
、以下のようにワークと、そのワークを保持するワークキャリアを作製すれば、研磨加工
時においてワークの平行度を高める、即ち平行度を維持できることを見出した。
ここで、先ず、水晶ウェーハの研磨する際に利用される一般的なワークキャリアの構成
を図6により説明しておく。
この図6に示すワークキャリア50は、極薄で円板状の金属からなるキャリア本体51
と、このキャリア本体51の外周部に設けられた複数本の突起部52と、キャリア本体5
1の径方向中程に設けられて夫々矩形状を成す複数の保持穴53と、中央部に設けられて
円形状を成す中央穴54とにより構成される。このように構成されるワークキャリア50
を用いて水晶ウェーハ等のワーク60のラッピング或いはポリッシュを行う場合は、キャ
リア本体51の保持穴53にワーク60を収納した状態で、この図には示していない上定
盤及び下定盤の研磨面により研磨を行うようにしていた。
以下、このようなワークキャリアの一般的な構成を踏まえたうえで、本発明のワークキ
ャリアの実施形態について説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る両面研磨機用のワークキャリアの構成を示した平面図
である。
この図1に示す本実施形態のワークキャリア1は、両面研磨機によってワークを研磨加
工する際にワークを保持するワークキャリアであり、円盤状のキャリア本体2が極薄のス
チール鋼により形成されている。なお、キャリア本体2の材質は、スチール鋼に限らず、
ステンレス鋼、塩化ビニル樹脂、ガラスエポキシ樹脂などを用いて構成することも可能で
ある。キャリア本体2の中央部には中央穴5が形成されている。またキャリア本体2の外
周部には複数本の突起(歯)3が設けられている。
そして、本実施形態のワークキャリア1においては、キャリア本体2に円形状の3つの
保持穴4を形成し、研磨加工時には、この保持穴4内に円形状のワーク20を収納して両
面研磨を行うようにした点に特徴がある。
通常、水晶振動子などに用いられる水晶ウェーハは、結晶軸に対してどれだけ正確に切
り出せるかが重要になるため、その形状は矩形状とされる。このため、図6に示したワー
クキャリア50では、水晶ウェーハなどのワーク60を保持する保持穴53の形状がワー
クの形状に合わせた矩形状のものが多い。しかし、図6に示すようにワーク60及びワー
ク60を保持する保持穴53の形状を矩形にした場合は、研磨加工時にワーク60が保持
穴53内において自由に回転することができないので、保持穴4内のワーク60はキャリ
ア本体51の中心側の面と外周側の面の間で移動する累積移動量が異なることになる。こ
の結果、ワーク60に厚みムラが発生していた。
そこで、本実施形態では、図1に示すようにキャリア本体2に円形状の保持穴4を形成
し、この保持穴4内に円形状のワーク20を収納するようにした。このようにワーク20
及びワーク20を保持する保持穴4の形状を円形にした場合は、保持穴4内においてワー
ク20が自由に回転できるのでワーク20の厚みムラを低減できることが分かった。
なお、ワークキャリア1の保持穴4を円形状にすれば、ワークの形状が矩形の場合でも
ワークは保持穴4内を自由に動くことができるが、この場合はワークの厚みが薄くなると
ワークの角が欠けたり、或いはワークが薄くなくてもワークに大きな圧力が加わった場合
、例えば比較的柔らかいパッドを押しつけて研磨を行うポリッシング加工を行った場合は
ワークに欠けが発生するため好ましいものではない。
また、本実施形態のワークキャリア1においては、キャリア本体2に形成する保持穴4
の数を3個に限定したことで、各保持穴4内のワーク20に対して均等に加重(圧力)が
かかるようにした。キャリア本体2に保持されるワークの数が2つ以下であると、上定盤
および/または下定盤がワークに対して傾いた状態で研磨加工されやすくなり、研磨加工
後のワーク面内に厚みムラが生じやすくなる。また、キャリア本体2に保持されるワーク
の数が4つ以上であると、主に厚みの大きいワーク3つに研磨加工時の圧力が分散してし
まい、それよりも薄いワークには研磨加工時の圧力が伝わりにくくなるので、研磨加工後
のワークに厚み寸法の個体差が生じやすくなってしまう。キャリア本体2に保持されるワ
ークの数が3つであれば、ワーク面内の厚みムラの原因となる研磨加工時の上定盤および
下定盤の傾きも防ぐことができ、個々のワークにかかる研磨加工時の圧力も一定に保ちや
すくなる。
さらに、本実施形態のワークキャリア1においては、キャリア本体2の外径をDc、保
持穴4の内径より僅かに小さいワーク20の外径をDwとしたときに、キャリア本体2の
外径Dcと、ワーク20の外径Dwとの関係が、0.33×Dc−7.4<Dw<0.4
2×Dc−8.7(但し、Dw>0)を満たすようにした点に特徴がある。なお、キャリ
ア本体2の外径Dcは、図1に示すようにキャリア本体2の外周部の突起(歯)3を含ま
ない寸法である。
このようなキャリア本体2の外径Dcと、ワーク20の外径Dwとの関係は、図2に示
すように、本発明者がシミュレーションによりキャリア本体2の外径に対するワーク20
の最大外径値を求め、この最大外径値から求めた最大外径近似式Dw_max(Dw_m
ax=0.42×Dc−8.7)と、キャリア本体2の外径に対するワーク20の最小外
径値を求め、この最小外径値から求めた最小外径近似式Dw_min(Dw_min=0
.33×Dc−7.4)とに基づいて決定されるものである。
この時、キャリア本体2の外径に対するワーク20の最大外径値は、キャリア本体2の
強度に基づいて決定される。一方、キャリア本体2に対するワーク20の最小外径値は、
ワーク20の面ダレを防止する観点から決定される。
ここで、ワークの面ダレについて説明しておく。
両面研磨機では、研磨面の圧力がワーク20に対してのみ加わるため、ポリッシュ加工
を行うために研磨面に比較的柔らかい研磨パッド13を取り付けた場合、図3(a)に示
すようにワーク20間の距離が適正に保たれている場合は問題ない。これに対して、図3
(b)に示すようにワーク20間の距離が広がった場合は、研磨パッド13がワーク20
間に沈み込んでしまい、ワーク20の両側だけが必要以上にポリッシングされて面ダレが
発生する。
そこで、本実施形態のワークキャリア1では、キャリア本体2の外径Dcと、ワーク2
0の外径Dwとの関係が、0.33×Dc−7.4<Dw<0.42×Dc−8.7(但
し、Dw>0)を満たすようにしている。
従って、本実施形態のようにワークキャリア1を構成すれば、キャリア本体2の保持穴
4にワーク20を納めて両面研磨機によってワークの研磨加工を行った際に、各保持穴4
のワーク20にかかる圧力と、各保持穴4内のワーク20全体の累積移動量をほぼ均等に
保つことができる。これにより、本実施形態のワークキャリア1を用いてラッピングやポ
リッシングといった研磨加工を行えば、研磨加工時における各ワークの厚みムラを抑制で
きるので各ワークの平行度を高めることができる。
また、本実施の形態のワークキャリアを用いて、比較的柔らかい研磨パッド13により
ポリッシングを行った場合でも、研磨パッド13がワーク20の間に沈み込まないので、
ワーク20の面ダレを防止することができる。
さらに、本実施形態のワークキャリア1では、3つの保持穴4の中心を、キャリア本体
2の中心から等距離の円周上に位置するようにした。つまり、キャリア本体2上に保持穴
4に偏心配置しないようにした。このように構成すると、各保持穴4内のワーク20全体
の累積移動量をさらに均等に保つことができるので、各ワーク20の平行度をさららに高
めることができる。
ここで、本発明の実施例として、汎用的に使用されている略6インチサイズのワークキ
ャリアに本発明を適用した場合、前記したキャリア本体2の外径Dcとワーク20の外径
Dwとの関係から、例えばワーク20の外径は約45.8mm、このワーク20の外径よ
り僅かに大きい保持穴4の直径は約46.0mmとなる。そして、このように構成したワ
ークキャリア1を用いて厚さ60μmの水晶ウェーハのラッピング及びポリッシングを行
った場合、水晶ウェーハの平行度を、水晶振動子用の水晶ウェーハの規格である0.15
μm以下に高めることができた。
図4は、本実施形態のワークキャリア1を両面研磨機による研磨加工に用いた様子を示
した図である。なお、図4は、両面研磨機の上定盤及び下定盤を省略して示した図である
。また、図5は、図4に示した両面研磨機の上定盤及び下定盤を加えたX−X断面を示し
た図である。なお、ワークキャリア1及びワーク20は、上定盤11及び下定盤12に比
べて無視できるほど薄いが、図5では説明を分かり易くするためにワークキャリア1を厚
くして示している。
これらの図4、図5に示すように、上定盤11及び下定盤12は、夫々の研磨面に研磨
パッド13が貼り付けられた同程度の寸法を備えた円板状部材によって構成されており、
それらの研磨面が互いに平行となるように同軸に配設されている。また、上定盤11と下
定盤12との間には、例えば3枚のワークキャリア1とセンターギヤ14及びリングギヤ
15とにより遊星歯車を構成している。
このように構成される両面研磨機10による研磨加工に際して、各ワークキャリア1は
複数の保持穴4の夫々にワーク20を収納した状態で、センターギヤ14及びリングギヤ
15の間に嵌め入れられて、上定盤11と下定盤12との間に挟み込まれる。そして、例
えば研磨剤を供給しつつ上定盤11及び下定盤12をそれらの軸心まわりにワークキャリ
ア1に対して相対回転させ、且つ、センターギヤ14又はリングギヤ15をその軸心まわ
りに回転させることで、ワーク20の両面が上定盤11及び下定盤12夫々に備えられた
研磨パッド13の表面に摺接させられてワーク20の両面に研磨加工を施すようにしてい
る。このとき、センターギヤ14、リングギヤ15、及び下定盤12は、同じ方向に回転
し、上定盤11だけが反対方向に回転することになる。また下定盤12をワークキャリア
1より速く回転させると共に、上定盤11をワークキャリア1より遅く回転させることで
、ワーク20に対する上定盤11及び下定盤12の相対速度を均一に保つようにしている
このように構成される両面研磨機10に対して本実施形態のワークキャリア1を適用し
、水晶基板などのワーク20に対してラッピングあるいはポリッシングを行うようにすれ
ば、各ワークに厚みムラが生じるといったことなく、各ワークの平行度を高めることがで
きる。
本発明の実施形態に係る両面研磨機用のワークキャリアの構成を示した平面図である。 キャリアの外径Dcとワークの外径Dwとの関係を示した図である。 ワークの面だれの説明図である。 本実施形態のワークキャリア1が両面研磨機による研磨加工に用いられる様子を示した図である。 図4に示した両面研磨機に上定盤及び下定盤を加えたX−X断面を示した図である。 従来の両面研磨機用のワークキャリアの平面図である。
符号の説明
1…ワークキャリア、2…キャリア本体、3…突起、4…保持穴、5…中央穴、10…
両面研磨機、11…上定盤、12…下定盤、13…研磨パッド、14…センターギヤ、1
5…リングギヤ、20…ワーク

Claims (7)

  1. 両面研磨機によってワークを研磨加工する際にワークを保持するワークキャリアであっ
    て、前記ワークを保持するために円形状の3つの保持穴が形成された円盤状のキャリア本
    体を備え、
    前記キャリア本体の外径をDc、前記保持穴の内径より僅かに小さい前記ワークの外径
    をDwとしたときに、前記キャリア本体の外径Dcと前記ワークの外径Dwとの関係が、
    Dw<0.42×Dc−8.7(但し、Dw>0)
    を満たすことを特徴とするワークキャリア。
  2. 前記キャリア本体の外径Dcと前記ワークの外径Dwとの関係が、
    0.33×Dc−7.4<Dw(但し、Dw>0)
    を満たすことを特徴とする請求項1に記載のワークキャリア。
  3. 前記3つの保持穴の中心が、前記円盤状のキャリア本体の中心から等距離の円周上に位
    置することを特徴とする請求項1又は2に記載のワークキャリア。
  4. 前記3つの保持穴を、前記3つの保持穴の中心に対して等角度に配置したことを特徴と
    する請求項1乃至3の何れか1項に記載のワークキャリア。
  5. 前記ワークが水晶ウェーハであることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載
    のワークキャリア。
  6. 前記キャリア本体の外径が略6インチであることを特徴とする請求項1乃至5の何れか
    1項に記載のワークキャリア。
  7. 上定盤と、下定盤と、前記上定盤と前記下定盤との間に、ワークを保持したワークキャ
    リアを挟んでワークの表裏両面を同時に研磨する両面研磨機であって、
    前記ワークキャリアは、請求項1乃至請求項6の何れか一項に記載のワークキャリアで
    あることを特徴とする両面研磨機。
JP2006161971A 2006-06-12 2006-06-12 ウェーハ製造方法 Expired - Fee Related JP5007527B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006161971A JP5007527B2 (ja) 2006-06-12 2006-06-12 ウェーハ製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006161971A JP5007527B2 (ja) 2006-06-12 2006-06-12 ウェーハ製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007331034A true JP2007331034A (ja) 2007-12-27
JP5007527B2 JP5007527B2 (ja) 2012-08-22

Family

ID=38931006

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006161971A Expired - Fee Related JP5007527B2 (ja) 2006-06-12 2006-06-12 ウェーハ製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5007527B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011067905A (ja) * 2009-09-25 2011-04-07 Nippon Electric Glass Co Ltd 板状ワーク研磨装置および板状ワーク研磨方法
CN103716000A (zh) * 2013-12-24 2014-04-09 珠海东精大电子科技有限公司 49s石英晶片磨砣倒角游轮及倒角方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10329013A (ja) * 1997-05-30 1998-12-15 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア
JPH11333707A (ja) * 1998-05-26 1999-12-07 Toshiba Ceramics Co Ltd キャリア
JP2002018708A (ja) * 2000-07-10 2002-01-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd 被研磨物保持材及びその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10329013A (ja) * 1997-05-30 1998-12-15 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨及び両面ラッピング用キャリア
JPH11333707A (ja) * 1998-05-26 1999-12-07 Toshiba Ceramics Co Ltd キャリア
JP2002018708A (ja) * 2000-07-10 2002-01-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd 被研磨物保持材及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011067905A (ja) * 2009-09-25 2011-04-07 Nippon Electric Glass Co Ltd 板状ワーク研磨装置および板状ワーク研磨方法
CN103716000A (zh) * 2013-12-24 2014-04-09 珠海东精大电子科技有限公司 49s石英晶片磨砣倒角游轮及倒角方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5007527B2 (ja) 2012-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3925580B2 (ja) ウェーハ加工装置および加工方法
EP2762272B1 (en) Wafer polishing apparatus and method
KR100818683B1 (ko) 경면 면취 웨이퍼, 경면 면취용 연마 클로스 및 경면 면취연마장치 및 방법
KR101846926B1 (ko) 웨이퍼의 양면 연마방법
KR20120026460A (ko) 피연마물의 연마 방법 및 연마 패드
WO2020137186A1 (ja) ウェーハの製造方法およびウェーハ
JPH10180624A (ja) ラッピング装置及び方法
CN108349058B (zh) 承载环、磨削装置及磨削方法
Li et al. Simultaneous double side grinding of silicon wafers: a literature review
JP2010021394A (ja) 半導体ウェーハの製造方法
JP2002217149A (ja) ウエーハの研磨装置及び研磨方法
KR20190088414A (ko) 캐리어의 제조방법 및 웨이퍼의 양면 연마방법
JP5007527B2 (ja) ウェーハ製造方法
KR20150073214A (ko) 연마물의 제조 방법
JP2014104522A (ja) ウェハーの片面加工方法、ウェハーの製造方法
JP2000158306A (ja) 両面研削装置
JPH0732252A (ja) ワーク自転型研削加工方法、ワーク自転型研削盤及びシリコンウェハ並びにセラミック基板
JP2016159384A (ja) 研磨装置及び研磨方法
TW201503283A (zh) 半導體晶圓保持用治具、半導體晶圓硏磨裝置、及工件保持用治具
WO2022137934A1 (ja) キャリアプレートの研磨方法、キャリアプレートおよび半導体ウェーハの研磨方法
JPH11333707A (ja) キャリア
JP2006116675A (ja) 研磨クロス及びウェーハ研磨装置
JP2007061975A (ja) 研磨装置及び研磨方法
JP2001138221A (ja) 半導体ウエハラッピング用キャリア
US20150306728A1 (en) Systems for, methods of, and apparatus for processing substrate surfaces

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090428

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110714

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110719

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20110729

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20110729

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110819

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110916

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120228

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120330

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120501

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120514

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees