JP2007328042A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】使用される文字は、曲線部、鋭角部が含まれず、レチクルの製造限界サイズ、半導体装置の製造限界サイズを下回る辺が含まれないように構成されている。この結果、各文字は、製造限界サイズを下回る部分が含まれなくなる。
【選択図】図1
Description
2 ブラインド
3 レチクル
4 レンズ
5 半導体ウエハ
6 回路パターン
7 半導体チップ
10 直線部
11 直角部
a〜e 差別箇所
a1〜a4 鋭角部
b1 曲線部
c1〜c4 端
c5 半導体チップ間
Claims (10)
- 半導体基板上に文字が形成されており、
前記文字は、直線部と直角部とからのみ構成されていることを特徴とする半導体装置。 - 前記直線部の長さは、製造装置に応じた製造限界サイズを下回らないことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記製造限界サイズは、前記製造装置のステッパ光源の波長により設定されることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
- 半導体ウエハ上に文字を形成する工程を含み、
前記文字は、直線部と直角部とからのみ構成されていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記直線部の長さは、製造装置に応じた製造限界サイズを下回らないことを特徴とする請求項4に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記製造限界サイズは、前記製造装置のステッパ光源の波長により設定されることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置の製造方法。
- 文字を含むフォトマスクを形成する工程と、
前記フォトマスクの欠陥を検出する工程と、を含み、
前記文字は、直線部と直角部とからのみ構成されていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記直線部の長さは、電子ビーム描画装置に応じた製造限界サイズを下回らないことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記フォトマスクは、レチクルであることを特徴とする請求項7または請求項8のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
- 前記文字のうち、他の文字と対象関係を持つ文字には、誤認を防ぐための差別箇所を備えており、
前記差別箇所は、直線部と直角部とからのみ構成されていることを特徴とする請求項4乃至請求項9のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
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2006
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