JP2007327902A - X線分析用信号処理装置 - Google Patents

X線分析用信号処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007327902A
JP2007327902A JP2006160866A JP2006160866A JP2007327902A JP 2007327902 A JP2007327902 A JP 2007327902A JP 2006160866 A JP2006160866 A JP 2006160866A JP 2006160866 A JP2006160866 A JP 2006160866A JP 2007327902 A JP2007327902 A JP 2007327902A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
peak
signal
positive
set value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006160866A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4706566B2 (ja
Inventor
Naoya Ueda
直也 上田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2006160866A priority Critical patent/JP4706566B2/ja
Publication of JP2007327902A publication Critical patent/JP2007327902A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4706566B2 publication Critical patent/JP4706566B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】エネルギー分散型X線分析装置において検出器で検出されたX線をエネルギー弁別して計数する場合の計数の精度を向上させる。
【解決手段】入力データが閾値THを越えるとRS−FF32はセットされ、入力データの正ピークP2の最大値データを検出・保持した後、その最大値データと入力データとの差分が設定値TPを越えたならばRS−FF32はリセットされる。このリセットのタイミングで正ピーク検出部21に保持されている最大値データをラッチ回路36にラッチする。設定値TPは決定処理部38により、その時点で保持されている最大値データに応じて決められ、最大値データが大きい場合には設定値TPも大きくなる。これにより高エネルギー側でのノイズの重畳による信号波形の窪みを無視することでピークの誤検出を防止でき、低エネルギー側での低いピークの見逃しも防止することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、一般にマルチチャンネルアナライザと呼ばれるX線分析用の信号処理装置に関する。
蛍光X線分析装置は、固体試料、粉体試料、又は液体試料に1次X線を照射し、その1次X線により励起されて放出される蛍光X線を検出することによって、その試料に含まれる元素の定性分析や定量分析を行うものである。この蛍光X線分析装置は、波長分散型(WDS)とエネルギー分散型(EDS)の2つに大別される。波長分散型蛍光X線分析装置は、分光結晶とスリットとを組み合わせたX線分光器により特定波長の蛍光X線を選別した上で検出器で検出する構成を有する。一方、エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、こうした波長選別を行わずに蛍光X線を直接半導体検出器などで検出し、その後に検出信号をエネルギー(つまり波長)毎に分離する処理を行う構成を有する。蛍光X線スペクトルを作成する場合、波長分散型では波長走査を行う必要があるのに対し、エネルギー分散型では多数の波長の情報が同時に得られるため、短時間で蛍光X線スペクトルを取得できるという特徴を有する。
図9は、例えば特許文献1などに開示されているエネルギー分散型蛍光X線分析装置の概略構成図である。X線照射部1から発せられた1次X線が試料2に当たると、1次X線により励起された蛍光X線が試料2より放出され、例えばリチウムドリフト型Si半導体検出器などによる検出器3に入射して検出される。検出器3の出力はプリアンプ(前置増幅器)4で増幅される。このときの信号は図9中に示すような階段状の電圧パルス信号となる。この信号の階段の各段の高さが試料2に含まれる各元素のエネルギーつまり波長に対応している。この電圧パルス信号は波形整形回路6を含む比例増幅器5に入力され、上記各階段の高さに応じた波高を持つ適当な形状のパルスに成形されて出力される。
A/D変換器7はこのパルス波形状のアナログ信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてデジタル化し、マルチチャンネルアナライザ8はデジタル化されたパルス信号の波高値に応じて各パルスを弁別した後にそれぞれ計数し、波高分布図(エネルギースペクトルヒストグラム)を作成してデータメモリ9に格納する。波高分布図では、分析対象である試料中に含まれる元素から放出される蛍光X線のエネルギー値に対応する位置に各元素固有のピークが現れる。データ処理部10はこのピークの出現位置やそのX線強度値などに基づいて、含有元素の定性や定量を行う。
従来の一般的なマルチチャンネルアナライザ8では、入力されるパルス信号のピークを検出して各ピークのピークトップの波高値(ピークトップ値)を取得し、1つのパルス(ピーク)毎にその波高値に応じたエネルギー値の計数値をインクリメントすることで上記のような波高分布図を作成する。図10を用いてより詳しく説明すると、(a)に示すようなパルス信号が与えられたとき、この信号をピーク検出用の閾値と比較し、(b)に示すような閾値越え検出信号を得る。そして、その閾値越え検出信号が「1」である期間中の最大値をピークトップであるとみなして、そのピークトップ値を弁別対象の波高値として取得する。したがって、この例ではP1、P2、P3の3個のピークの波高値が得られることになる。
ところが、こうした従来のマルチチャンネルアナライザでは次のような問題がある。即ち、検出器3から出力される信号には各種ノイズ、特に高周波ノイズが重畳しているため、波形整形回路6はノイズを除去するためのローパスフィルタ(LPF)の機能を有している。このLPFによるフィルタリング処理によって、波形整形により得られるパルス信号は図10(a)に示したように立ち上がりや立ち下がりが鈍った波形となることが避けられない。
エネルギー分解能を高くするためには、LPFの時定数を大きくし、より低周波のノイズも除去する必要がある。しかしながら、LPFの時定数を大きくすると、図11(a)に示すように近接した複数のピークが干渉し合い易くなる。この場合、P2、P3の2個のピークは分離できず、図11(b)に示す如く1個のピークであるとみなされてしまい、ピークP3は無視されてピークP2のみの波高値が取得されることになる。そのため、本来はP2、P3の2個分のピークであるにも拘わらず1個分しか計数されないことになり、計数効率は下がってしまう。計数効率が下がることは蛍光X線のエネルギー強度値が実際の値よりも低くなることを意味し、分析精度の低下をもたらす。逆に、LPFの時定数を小さくすると計数効率は上がるが、ノイズを十分に除去できずにエネルギー分解能が下がってしまうおそれがある。
特許文献1に記載の装置では、上記のような問題を回避するために、波形整形回路6でLPFに複数の時定数を用意しておき、分析手法や分析対象の元素の種類などに応じて時定数を切り替えるようにしている。しかしながら、こうした構成では制御が煩雑になり、回路規模が大きくなる。また、実際上、適切な時定数を設定することはかなり難しく、計数効率又はエネルギー分解能のいずれかを或る程度犠牲にせざるを得なかった。
特開平10−318946号公報(段落0002〜0004)
本願出願人は上記のような問題に鑑みて、既に特願2005−2678号において新規な信号処理装置を提案している。この提案のマルチチャンネルアナライザによれば、上述のようにフィルタリングされた信号波形上で2つのピークが近接している場合でも、これを2つのピークとして分離して認識することができ、それによって高いエネルギー分解能を保ちながらX線の計数効率も向上させることができる。
本発明はさらにその信号処理装置の性能の向上を図ったものであり、その目的とするところは、特に高エネルギー側でのノイズの重畳によるピークの誤検出と、低エネルギー側でのピークの検出見逃しとを共に軽減することにより、X線の計数の精度を向上させることができるX線分析用信号処理装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明は、分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に該信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
b)前記入力信号の負のピークのピークトップを検出する負ピーク検出手段と、
c)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記正ピーク検出手段により正ピークのピークトップが検出された後にそのピークトップ値から第1設定値以上、入力信号の値が減少したことを検出する減少検出手段と、
e)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記負ピーク検出手段により負ピークのピークトップが検出された後にその負のピークトップ値から第2設定値以上、入力信号の値が増加したことを検出する増加検出手段と、
f)前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップの値に応じて、そのピークトップ値からの入力信号の減少を検出するための前記第1設定値を決定する設定値決定手段と、
g)前記閾値越え判定手段による閾値以上になったとの判定時点又は前記増加検出手段による検出時点から、その後の最も早い、前記閾値越え検出手段による閾値を下回ったとの判定時点又は前記減少検出手段による検出時点までの期間中において、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
を備えることを特徴としている。
例えば入力信号に2つの正ピークが近接して存在しており、その両ピークの間の負のピーク(谷の部分)の値が閾値を越えている場合、上閾値越え判定手段による検出信号はその谷の部分の間を挟んだ前後で同レベル(「1」又は「0」)が連続する。そのため、この検出信号において「1」(又は「0」)が連続する期間内で最大値を示すものを真のピークトップとみなすと、ピークトップ値がより小さなほうの正ピークを見逃してしまうことになる。
これに対し本発明に係るX線分析用信号処理装置においては、減少検出手段及び増加検出手段における設定値をそれぞれ適当に定めれば、上記のように2つの正ピークの間の谷の部分が閾値を上回っていても、その谷の手前で減少検出手段の検出信号を生成し、その谷を通り過ぎた後で次の正のピークが来る前に増加検出手段の検出信号を生成することができる。こうした検出信号により、真のピークトップ値を認識するための期間は上記谷の部分を挟んで時間的に前後の2つに分離されるため、その分離された各期間においてそれぞれ正のピークトップを真のピークトップとして検出することができるようになる。
上記増加検出手段における第2設定値は判別手段において設定される期間の開始が容易に行われるように或る程度小さな固定値にしておけばよいが、減少検出手段における第1設定値は固定値ではなく設定値決定手段によりその直前の正ピークのピークトップの値に応じて決められる。具体的な一態様として、設定値決定手段は、少なくともピークトップの値が所定範囲内に含まれる場合にその範囲内でのピークトップ値の増加に対し第1設定値を単調増加させる構成とすることができる。また別の態様として、設定値決定手段は、ピークトップの値に応じて第1の値と該第1の値に所定係数を乗じた第2の値とを切り換えて第1設定値とする構成としてもよい。
いずれにしても第1設定値は、ピークトップ値が相対的に大きいとき(つまりはX線のエネルギーが高いとき)には低いとき(X線のエネルギーが低いとき)よりも相対的に大きな値に決められる。そのため、例えば高エネルギー側のピークトップ付近でノイズの重畳によって信号波形に谷状の窪みが形成された場合でも、相対的に大きな第1設定値で以て入力信号が減少しているか否かを判定するため、上記窪みを認識せず、結果的にノイズの重畳を無視することができる。即ち、高エネルギー側ではノイズ耐性を強めることができる。一方、低エネルギー側の小さなピークトップが検出された直後には相対的に小さな第1設定値で以て入力信号が減少しているか否かを判定するため、その小さなピークトップ値を確実に真のピークトップ値とみなすことができる。
なお、上記入力信号は、波形整形されたパルス波形状のアナログ信号を所定の周期でサンプリングしてデジタル化した信号とすることができ、その場合には、本発明に係るX線分析用信号処理装置における上記各手段はデジタル論理回路やコンピュータ上で動作するソフトウエアで実現することができる。また、このとき上記「所定期間」とは所定のサンプル数と意味するところは同じである。
以上のように本発明に係るX線分析用信号処理装置によれば、従来、波形整形回路の時定数のために裾が重なり合ってしまっていて2個のピークとして分離して検出することが困難であったような隣接する2個のピークについても、それぞれ別個のピークとして検出して各ピークトップ値を波高値として取得することができるようになる。それによって、単位時間当たりに計数できるパルス数が増加し、X線の計数効率が改善される。さらに、高エネルギー側でのノイズの重畳に起因するピークの誤検出と低エネルギー側での小さなピークの見逃しとをいずれも軽減することにより、X線の計数の精度を向上させて分析精度を高めることができる。
以下、本発明に係るX線分析用信号処理装置の一実施例であるマルチチャンネルアナライザについて図1及び図2を参照して説明する。図1は本実施例によるマルチチャンネルアナライザの要部の回路構成図、図2は主要な動作を説明するためのタイミング図である。
このマルチチャンネルアナライザ8には、図9に示したA/D変換器7からの出力であるn(例えばn=12など)ビットのデータ(波形整形後のパルス波信号をデジタル化したデータ)がデータバス20を通して入力される。マルチチャンネルアナライザ8は、この入力データの正ピークのピークトップを検出してその値を保持する正ピーク検出部21と、同じ入力データの負ピークのピークトップを検出してその値を保持する負ピーク検出部22と、正ピーク検出部21に保持されているデータ(最大値データDmax)と入力データとの差分を求める第1減算器23と、負ピーク検出部22に保持されているデータ(最小値データDmin)と入力データとの差分を求める第2減算器24と、外部より設定される正ピーク差分設定基準値と上記最大値データDmaxとに基づいて正ピーク差分設定値TPを適応的に決める適応型差分設定値決定処理部38と、第1減算器23の出力である正ピーク差分データと適応型差分設定値決定処理部38により決まる正ピーク差分設定値TPとの大小関係の比較を行う第1比較器25と、第2減算器24の出力である負ピーク差分データと外部より設定される負ピーク差分設定値TNとの大小関係の比較を行う第2比較器26と、入力データが外部より設定される閾値設定値TH以上であるか否かを判定する閾値判定部27と、閾値判定部27の立ち上がりエッジを検出する立上り検出部28と、閾値判定部27の立ち下がりエッジを検出する立下り検出部29と、第1比較器25の出力と立上り検出部28の出力とのOR論理演算を行う第1ORゲート30と、第2比較器26の出力と立下り検出部29の出力とのOR論理演算を行う第2ORゲート31と、第1及び第2ORゲート30、31の出力によりリセット及びセットを行うRSフリップフロップ(RS−FF)32と、RSフリップフロップ32の正転(Q)出力の立ち下がりエッジを検出する立下り検出部33と、閾値判定部27の出力とRSフリップフロップ32の反転(Qバー)出力とのAND論理演算を行う第1ANDゲート34と、閾値判定部27の出力とRSフリップフロップ32の正転(Q)出力とのAND論理演算を行う第2ANDゲート35と、正ピーク検出部21の出力データを入力とし、立下り検出部33の出力をイネーブル入力とするラッチ回路36と、ラッチ回路36の出力である波高値データと立下り検出部33の出力であるピーク検出信号とを受けて、波高値データの値に応じてスペクトルメモリのメモリアドレスの計数値データをインクリメントする弁別処理及び計数処理を行う弁別・計数処理回路37と、を備える。
次に、図2を参照して、上記構成のマルチチャンネルアナライザにおいて、正ピーク差分設定値TP及び負ピーク差分設定値TNが共に一定(固定値)であるとの条件の下での動作についてまず説明する。
図2(a)に示したような波形のパルス信号をデジタル化したデータが入力されると、正ピーク検出部21は正ピークP1、P2、P3を検出し、後述するようにそれぞれのピークトップが出現してから少なくとも所定時間、最大値(正ピークのピークトップ値)データDmaxを保持する。負ピーク検出部22も同様に負ピークp1、p2を検出し、後述するようにそれぞれのピークトップが出現してから少なくとも所定時間、最小値(負ピークのピークトップ値)データDminを保持する。第1減算器23により図2(a)に示す正ピーク差分データΔxが計算され、第1比較器25はこの正ピーク差分データΔxが正ピーク差分設定値TPよりも大きくなると、図2(e)に示すようにパルス信号を出力する。一方、第2減算器24により図2(a)に示す負ピーク差分データΔyが計算され、第2比較器26はこの負ピーク差分データΔyが負ピーク差分設定値TNよりも大きくなると、図2(f)に示すようにパルス信号を出力する。
閾値判定部27は従来と同様に図2(b)に示すように、入力データが閾値設定値THよりも大きいときに「1」となる閾値越え検出信号を出力する。これに対して立下り検出部28及び立上り検出部29の出力は図2(c)、(d)のようになる。第1ORゲート30は図2(d)及び(e)のパルス信号のOR論理演算を行ってその結果をRSフリップフロップ32のリセット端子に与え、第2ORゲート31は図2(c)及び(f)のパルス信号のOR論理演算を行ってその結果をRSフリップフロップ32のセット端子に与えるから、RSフリップフロップ32の正転出力は図2(g)に示すようになる。
ここで、従来の方法では別々のピークとして検出できないピークP2、P3に着目して詳述する。入力データは時刻t3で閾値設定値THを越えるため、このとき閾値越え検出信号は「0」→「1」に変化する。これとほぼ同時にこの信号の立ち上がりエッジが立上り検出部29で検出され、RSフリップフロップ32のセット端子にパルス信号が入力されるから、RSフリップフロップ32の正転出力も「0」→「1」に変化する。このとき、第2ANDゲート35の2つの入力は共に「1」となるから、その出力である正ピーク検出部有効フラグも「1」となり、正ピーク検出部21が能動化されて入力データの最大値を検出・保持する動作を開始する。したがって、ピークトップP2が出現すると、その値を最大値データDmaxとして保持する。
次に、時刻t4になると上述したように正ピーク検出部21で保持している最大値データと入力データとの差分が正ピーク差分設定値TP以上になり、第1比較器25の出力のパルス信号が第1ORゲート30を経てRSフリップフロップ32のリセット端子に加わる。これにより、RSフリップフロップ32の正転出力は「1」→「0」に変化する。立下り検出部33はこの立ち下がりエッジを検出してパルス信号をラッチ回路36に与えるから、このタイミングで以て正ピーク検出部21に保持されていた最大値データDmaxが真のピークに対応したピークトップ値としてラッチ回路36にラッチされて弁別・計数処理回路37へ送られる。この立下り検出部33の出力もまたピーク検出信号として同時に送られる。また、RSフリップフロップ32の正転出力が「0」になると、第2ANDゲート35の出力である正ピーク検出部有効フラグは「0」になるため、正ピーク検出部21の保持データはクリアされるとともにその機能は非能動化される。
他方、閾値越え検出信号は「1」を保ったままRSフリップフロップ32の反転出力は「1」になるので、第1ANDゲート34の出力である負ピーク検出部有効フラグは「0」→「1」に変化し、今度は負ピーク検出部22が能動化される。負ピーク検出部22はこの負ピーク検出部有効フラグが「1」である間の最小値を検出・保持する。したがって、負のピークトップp2が出現すると、その値を最小値データDminとして保持する。
次いで、時刻t5になると負ピーク検出部22で保持している最小値データDminと入力データとの差分が負ピーク差分設定値TN以上となり、第2比較器26の出力のパルス信号が第2ORゲート31を経てRSフリップフロップ32のセット端子に加わる。これにより、RSフリップフロップ32の正転出力が再び「0」→「1」に変化する。このタイミングで以て負ピーク検出部有効フラグは「0」になり、保持されていた最小値データDminはクリアされる。さらに正ピーク検出部有効フラグは「1」になるため正ピーク検出部21が再び能動化されて、最大値データDmaxがクリアされた状態から、先にピークP2を検出した動作と同様の動作を実行することによりピークP3を検出する。そして正ピーク検出部21に保持された最大値データDmaxは、上述したようにピークP2の最大値データをラッチ回路36にラッチしたのと同様の動作により真のピークに対応したピークトップ値としてラッチ回路36にラッチされ、弁別・計数処理回路37に送り込まれる。このようにして、従来の方法では検出されなかったピークP3の最大値データも真のピークの波高値として取得することができる。
以上のようにして上記構成のマルチチャンネルアナライザ8によれば、従来方法では1個のピークとしてしか認識されなかったピークP2、P3が、それぞれ別個のピークとして認識されるようになる。それにより、弁別・計数処理回路37において、ピークP2、P3のそれぞれのピーク値に応じたメモリアドレスの計数値データをインクリメントすることができ、計数の正確性が向上する。
但し、検出されるエネルギーの大きさ(即ち、パルス波形状の入力信号の波高値の高さ)に拘わらず正ピーク差分設定値TPを一定にしておくと、次のような問題が生じる。いま、入力信号が図7(a)に示すような形状である場合を考える。即ち、[4]の位置ではかなり低エネルギーのピークが存在するとともに、[5]-[6]及び[7]-[8]の位置では高エネルギーのピークにノイズが重畳されて窪みが存在している。このような場合に、正ピーク差分設定値TPを大きな値に定めておくと、(b1)、(b2)に示すように高エネルギー側ではノイズによる窪みの影響を排除して正しくピーク検出ができるものの低エネルギー側では小さなエネルギーのピークを見逃してしまうことになる。一方、正ピーク差分設定値TPを小さな値に定めておくと、(c1)、(c2)に示すように低エネルギー側では小さなエネルギーのピークを確実に検出できるものの、高エネルギー側ではノイズの影響を受けやすくなり本来1個のピークとして検出すべきものを2個のピークとして誤検出する確率が高くなる。
そこで上記のようなピークの誤検出や検出見逃しをできるだけ防止するために、本実施例によるマルチチャンネルアナライザ8では、適応型差分設定値決定処理部38を設け、正ピーク検出部21により得られる最大値データDmaxの値に応じて正ピーク差分設定値TPを変更するようにしている。図3はこの適応型差分設定値決定処理部38で行われる処理をフローチャートとして表したものであり、図4は最大値データDmaxと正ピーク差分設定値TPとの関係を示す図である。なお、この例では、マルチチャンネルアナライザ8への入力データはバイナリコードで12ビットとしているため、入力データが採り得る値の範囲はデシマル表記では「0」〜「4095」である。
適応型差分設定値決定処理部38では、マルチチャンネルアナライザ8での演算処理のクロック毎に図3に示す一連の処理を実行する。即ち、その時点で正ピーク検出部21に保持されている最大値データDmaxを読み込み(ステップS10)、その最大値データDmaxの値が「50」以上、「50」未満「7」以上の範囲内、或いは「7」未満、のいずれであるのかを判定する(ステップS11、S12)。最大値データDmaxの値が「50」以上である場合には外部から与えられている正ピーク差分設定基準値をそのまま正ピーク差分設定値TPとして出力する(ステップS13)。なお、ここでは正ピーク差分設定基準値を「32」に設定している。
最大値データDmaxの値が「50」未満「7」以上の範囲である場合には、[最大値データDmax値]×[正ピーク差分設定基準値]/50という演算を行った結果を正ピーク差分設定値TPとして出力する(ステップS14)。ここでは正ピーク差分設定基準値を「32」に設定しているので、上記計算式は[最大値データDmax値]×0.64となり、剰余は切り捨て、切り上げ等、適宜の処理を行えばよい。また最大値データDmaxの値が「7」未満である場合には、正ピーク差分設定値TPを「4」として出力する(ステップS15)。このような処理により、最大値データDmaxと正ピーク差分設定値TPとの関係は図4に示すようになる。即ち、最大値データDmaxが6〜50の範囲内では最大値データDmaxが小さくなるほど正ピーク差分設定値TPも徐々に小さくなるように適応的に決定される。なお、負ピーク差分設定値TNは基本的に固定値であるが、ピーク検出動作を開始し易くするために或る程度小さな値(例えば「4」)に設定しておくものとする。
正ピーク差分設定値TPは上記のようにして決められるため、入力データの値が大きな高エネルギー側では正ピーク差分設定値TPは相対的に大きくなる。そのため、図7(a)の[5]-[6]、[7]-[8]で示すようにピークトップ付近にノイズが重畳して窪みが生じたような場合に、その窪みの位置で第1比較器25は図2(e)に示すようにパルス信号を出力しにくくなる。それ故に、RSフリップフロップ32はリセットされず、その窪みの位置で正ピーク検出部21に保持されている最大値データがラッチ回路36にラッチされることもなくなる。その結果、上記のようなピークトップ付近でのノイズによる窪みは実質的に無視され、その前後が連なった1個のピークとして検出されるようになる(図8(b)参照)。
一方、入力データの値が小さな低エネルギー側では正ピーク差分設定値TPは相対的に小さくなる。そのため、図7(a)の[4]で示すように低いピークトップがあった後に入力データの値がそのピークトップ値から少し減少しただけでも第1比較器25はパルス信号を出力し易くなる。それ故に、そのピークトップの直後にRSフリップフロップ32はリセットされ、正ピーク検出部21に保持されている低エネルギーの低いピークに対応する最大値データがラッチ回路36にラッチされることになる(図8(b)参照)。その結果、低エネルギーのX線も確実に計数される。
以上のように正ピーク差分設定値TPを適応的に変えることにより、高エネルギー側、低エネルギー側のいずれのピークも適切に検出することができる。
上記実施例では、最大値データDmaxが6〜50の範囲では正ピーク差分設定値TPは4から32まで単調増加するように変化するが、さらに簡単な処理(つまりは回路構成)でも同様の効果を達成できる。このような他の実施例における適応型差分設定値決定処理部38の処理動作をフローチャートで示したのが図5、最大値データDmaxと正ピーク差分設定値TPとの関係を示したのが図6である。
即ち、その時点で正ピーク検出部21に保持されている最大値データDmaxを読み込み(ステップS20)、その最大値データDmaxの値が「50」以上であるか否かを判定する(ステップS21)。そして、最大値データDmaxの値が「50」以上である場合には外部から与えられている正ピーク差分設定基準値をそのまま正ピーク差分設定値TPとして出力し(ステップS22)、それ以外、つまり最大値データDmaxの値が「50」未満である場合には、正ピーク差分設定基準値に規定の係数1/Nを乗じる演算を行った結果を正ピーク差分設定値TPとして出力する(ステップS23)。この例では、正ピーク差分設定基準値は32、Nは8である。
したがって、図6に示すように、最大値データDmaxが「50」以上では正ピーク差分設定値TPは32、最大値データDmaxが「50」未満では正ピーク差分設定値TPは4、と最大値データDmaxに応じて正ピーク差分設定値TPは2段階に切り換えられることになる。この場合、上記実施例よりも正ピーク差分設定値TPの設定は大まかになるため、最大値データDmaxが「6」〜「50」の範囲内となるような中エネルギー領域ではノイズ耐性が若干劣ることになるものの、回路構成はかなり簡単になる。
なお、上記実施例は一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正を行うことができることは明らかである。具体的には、図1に示した回路構成は単なる一例であって、同様の機能を達成するための回路構成はこれに限らないことは当然である。また、図1に示したマルチアナライザはその全てをハードウエアで構成することもできるが、逆に入出力を除いてその全てをコンピュータ上で動作するソフトウエアにより実現することもできるし、両者を組み合わせた構成とすることも可能である。
また、上記実施例の説明では特に正ピーク差分設定値TPの適応的決定について数値例を挙げているが、これは適宜に変更できることは当然である。
本発明の一実施例であるマルチチャンネルアナライザの要部の回路構成図。 本実施例によるマルチチャンネルアナライザの主要な動作を説明するためのタイミング図。 本実施例のマルチチャンネルアナライザにおいて適応型差分設定値決定処理部で行われる処理のフローチャート。 本実施例のマルチチャンネルアナライザにおける最大値データDmaxと正ピーク差分設定値TPとの関係を示す図。 他の実施例のマルチチャンネルアナライザにおいて適応型差分設定値決定処理部で行われる処理のフローチャート。 他の実施例のマルチチャンネルアナライザにおける最大値データDmaxと正ピーク差分設定値TPとの関係を示す図。 正ピーク差分設定値TPを一定とした場合の問題点の説明図。 正ピーク差分設定値TPを適応的に変化させる場合の効果の説明図。 一般的なエネルギー分散型蛍光X線分析装置の概略構成図。 従来のマルチチャンネルアナライザの動作を説明するためのタイミング図。 従来のマルチチャンネルアナライザの動作上の問題点を説明するためのタイミング図。
符号の説明
8…マルチチャンネルアナライザ
20…データバス
21…正ピーク検出部
22…負ピーク検出部
23…第1減算器
24…第2減算器
25…第1比較器
26…第2比較器
27…閾値判定部
28…立上り検出部
29、33…立下り検出部
30…第1ORゲート
31…第2ORゲート
32…RSフリップフロップ
34…第1ANDゲート
35…第2ANDゲート
36…ラッチ回路
37…弁別・計数処理回路
38…適応型差分設定値決定処理部

Claims (3)

  1. 分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に該信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
    a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
    b)前記入力信号の負のピークのピークトップを検出する負ピーク検出手段と、
    c)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
    d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記正ピーク検出手段により正ピークのピークトップが検出された後にそのピークトップ値から第1設定値以上、入力信号の値が減少したことを検出する減少検出手段と、
    e)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記負ピーク検出手段により負ピークのピークトップが検出された後にその負のピークトップ値から第2設定値以上、入力信号の値が増加したことを検出する増加検出手段と、
    f)前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップの値に応じて、そのピークトップ値からの入力信号の減少を検出するための前記第1設定値を決定する設定値決定手段と、
    g)前記閾値越え判定手段による閾値以上になったとの判定時点又は前記増加検出手段による検出時点から、その後の最も早い、前記閾値越え検出手段による閾値を下回ったとの判定時点又は前記減少検出手段による検出時点までの期間中において、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
    を備えることを特徴とするX線分析用信号処理装置。
  2. 前記設定値決定手段は、少なくともピークトップの値が所定範囲内に含まれる場合にその範囲内でのピークトップ値の増加に対し第1設定値を単調増加させることを特徴とする請求項1に記載のX線分析用信号処理装置。
  3. 前記設定値決定手段は、ピークトップの値に応じて第1の値と該第1の値に所定係数を乗じた第2の値とを切り換えて第1設定値とすることを特徴とする請求項1に記載のX線分析用信号処理装置。
JP2006160866A 2006-06-09 2006-06-09 X線分析用信号処理装置 Active JP4706566B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006160866A JP4706566B2 (ja) 2006-06-09 2006-06-09 X線分析用信号処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006160866A JP4706566B2 (ja) 2006-06-09 2006-06-09 X線分析用信号処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007327902A true JP2007327902A (ja) 2007-12-20
JP4706566B2 JP4706566B2 (ja) 2011-06-22

Family

ID=38928465

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006160866A Active JP4706566B2 (ja) 2006-06-09 2006-06-09 X線分析用信号処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4706566B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012007899A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP2012013563A (ja) * 2010-07-01 2012-01-19 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP2012527608A (ja) * 2009-05-19 2012-11-08 クロメック リミテッド 放射線検出
WO2013073071A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 富士電機株式会社 パルス処理装置および放射線分析装置
WO2015141098A1 (ja) * 2014-03-20 2015-09-24 株式会社東芝 信号処理装置、放射線検出装置および信号処理方法
EP2924422A1 (en) 2014-03-26 2015-09-30 JEOL Ltd. X-ray spectrometer and electronic diagnostic circuit
US9188552B2 (en) 2014-03-26 2015-11-17 Jeol Ltd. X-ray spectrometer and sample analyzer
WO2020035937A1 (ja) * 2018-08-17 2020-02-20 三菱電機株式会社 放射線計測装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1794884A4 (en) 2004-09-16 2009-03-04 Southern Innovation Internat P METHOD AND DEVICE FOR RECOVERING A STACK OF PULSES
CN101983342A (zh) 2008-03-31 2011-03-02 南方创新国际股份有限公司 用于钻孔测井的方法和装置
US8471210B2 (en) 2008-03-31 2013-06-25 Southern Innovation International Pty Ltd. Radiation imaging method with individual signal resolution
US8954300B2 (en) 2008-03-31 2015-02-10 Southern Innovation International Pty Ltd. Screening method and apparatus
CN102549566B (zh) 2008-12-18 2015-11-25 南方创新国际股份有限公司 用于通过使用数学变换来求解堆积脉冲的方法和设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01214791A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Rigaku Denki Kk 波高分析器および波高分析方法
JPH01265184A (ja) * 1988-04-15 1989-10-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 放射線受像装置
JPH09274095A (ja) * 1996-04-03 1997-10-21 Toshiba Corp 原子炉出力監視装置
JP2003511949A (ja) * 1999-10-08 2003-03-25 キャンベラ インダストリーズ インコーポレイテッド ノイズ閾値を有するデジタルピーク検出装置及びそれを用いる方法
WO2005121835A1 (fr) * 2004-05-19 2005-12-22 Commissariat A L'energie Atomique Mesure et traitement d'un signal comprenant des empilements d'impulsions elementaires
WO2006029475A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-23 Southern Innovation International Pty Ltd Method and apparatus for resolving individual signals in detector output data.

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01214791A (ja) * 1988-02-24 1989-08-29 Rigaku Denki Kk 波高分析器および波高分析方法
JPH01265184A (ja) * 1988-04-15 1989-10-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 放射線受像装置
JPH09274095A (ja) * 1996-04-03 1997-10-21 Toshiba Corp 原子炉出力監視装置
JP2003511949A (ja) * 1999-10-08 2003-03-25 キャンベラ インダストリーズ インコーポレイテッド ノイズ閾値を有するデジタルピーク検出装置及びそれを用いる方法
WO2005121835A1 (fr) * 2004-05-19 2005-12-22 Commissariat A L'energie Atomique Mesure et traitement d'un signal comprenant des empilements d'impulsions elementaires
WO2006029475A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-23 Southern Innovation International Pty Ltd Method and apparatus for resolving individual signals in detector output data.

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012527608A (ja) * 2009-05-19 2012-11-08 クロメック リミテッド 放射線検出
US8890082B2 (en) 2009-05-19 2014-11-18 Kromek Limited Radiation detection
JP2012007899A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP2012013563A (ja) * 2010-07-01 2012-01-19 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
WO2013073071A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 富士電機株式会社 パルス処理装置および放射線分析装置
US8930155B2 (en) 2011-11-15 2015-01-06 Fuji Electrict Co., Ltd. Pulse processing device and radiation measuring device
WO2015141098A1 (ja) * 2014-03-20 2015-09-24 株式会社東芝 信号処理装置、放射線検出装置および信号処理方法
JP2015184074A (ja) * 2014-03-20 2015-10-22 株式会社東芝 信号処理装置、放射線検出装置および信号処理方法
US9945962B2 (en) 2014-03-20 2018-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Signal processor and radiation detection device
EP2924422A1 (en) 2014-03-26 2015-09-30 JEOL Ltd. X-ray spectrometer and electronic diagnostic circuit
US9188552B2 (en) 2014-03-26 2015-11-17 Jeol Ltd. X-ray spectrometer and sample analyzer
WO2020035937A1 (ja) * 2018-08-17 2020-02-20 三菱電機株式会社 放射線計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4706566B2 (ja) 2011-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4706566B2 (ja) X線分析用信号処理装置
EP2569766B1 (en) Method and apparatus for detecting which one of symbols of watermark data is embedded in a received signal
JP5392437B2 (ja) パルス処理装置および放射線分析装置
JP4670446B2 (ja) レーダ信号処理装置及びそれに用いるcfar処理方法
US7807973B2 (en) Pileup rejection in an energy-dispersive radiation spectrometry system
EP2183579B1 (en) Pileup rejection in an energy-dispersive radiation spectrometry system
US7720611B2 (en) Baselining amplification data
US7928365B2 (en) Method and apparatus for mass spectrometry
JP4524622B2 (ja) X線分析用信号処理装置
KR101473761B1 (ko) 레이더 신호를 처리하기 위한 방법
EP2990490B1 (en) An analysis method and system for analyzing a nucleic acid amplification reaction
JP2005337732A (ja) レーダ装置
JP2006284528A (ja) 信号処理機構
KR101473760B1 (ko) 레이더 신호를 처리하기 위한 장치
JP3907910B2 (ja) エネルギー分散型スペクトロメータに用いられるデジタルパルス処理装置
JP2011252738A (ja) パルス計測用信号処理装置
JP2008059774A (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP2008002895A (ja) クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
KR101443710B1 (ko) 파일업 신호 제거를 이용한 엑스선 형광분석장치 및 이를 이용한 분석방법
JP2014169877A (ja) X線検出装置および試料分析装置
WO2022162976A1 (ja) X線分析用信号処理装置
EP3961197A1 (en) Identifying charge sharing in x-ray diffraction
JPH06130004A (ja) スペクトル処理を用いた螢光x線定性分析方法
JP2007024660A (ja) 適応整相出力周波数分析装置、適応整相出力周波数分析システム及び適応整相出力周波数分析プログラム並びにパッシブソーナーもしくは、アクティブソーナー
JPH08189921A (ja) 割れ検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080808

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101207

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110126

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110215

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110228

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4706566

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151