JP4524622B2 - X線分析用信号処理装置 - Google Patents

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Description

本発明は、一般にマルチチャンネルアナライザと呼ばれるX線分析用の信号処理装置に関する。
蛍光X線分析装置は、固体試料、粉体試料、又は液体試料に1次X線を照射し、その1次X線により励起されて放出される蛍光X線を検出することによって、その試料に含まれる元素の定性分析や定量分析を行うものである。この蛍光X線分析装置は、波長分散型(WDS)とエネルギー分散型(EDS)の2つに大別される。波長分散型蛍光X線分析装置は、分光結晶とスリットとを組み合わせたX線分光器により特定波長の蛍光X線を選別した上で検出器で検出する構成を有する。一方、エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、こうした波長選別を行わずに蛍光X線を直接半導体検出器などで検出し、その後に検出信号をエネルギー(つまり波長)毎に分離する処理を行う構成を有する。蛍光X線スペクトルを作成する場合、波長分散型では波長走査を行う必要があるのに対し、エネルギー分散型では多数の波長の情報が同時に得られるため、短時間で蛍光X線スペクトルを取得できるという特徴を有する。
図4は、例えば特許文献1などに開示されているエネルギー分散型蛍光X線分析装置の概略構成図である。X線照射部1から発せられた1次X線が試料2に当たると、1次X線により励起された蛍光X線が試料2より放出され、例えばリチウムドリフト型Si半導体検出器などによる検出器3に入射して検出される。検出器3の出力はプリアンプ(前置増幅器)4で増幅される。このときの信号は図4中に示すような階段状の電圧パルス信号となる。この信号の階段の各段の高さが試料2に含まれる各元素のエネルギーつまり波長に対応している。この電圧パルス信号は波形整形回路6を含む比例増幅器5に入力され、上記各階段の高さに応じた波高を持つ適当な形状のパルスに成形されて出力される。
A/D変換器7はこのパルス波形状のアナログ信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてデジタル化し、マルチチャンネルアナライザ8はデジタル化されたパルス信号の波高値に応じて各パルスを弁別した後にそれぞれ計数し、波高分布図(エネルギースペクトルヒストグラム)を作成してデータメモリ9に格納する。波高分布図では、分析対象である試料中に含まれる元素から放出される蛍光X線のエネルギー値に対応する位置に各元素固有のピークが現れる。データ処理部10はこのピークの出現位置やそのX線強度値などに基づいて、含有元素の定性や定量を行う。
従来の一般的なマルチチャンネルアナライザ8では、入力されるパルス信号のピークを検出して各ピークのピークトップの波高値(ピークトップ値)を取得し、1つのパルス(ピーク)毎にその波高値に応じたエネルギー値の計数値をインクリメントすることで上記のような波高分布図を作成する。より詳しく説明すると、図5(a)に示すようなパルス信号が与えられたとき、この信号をピーク検出用の閾値と比較し、図5(b)に示すような閾値越え検出信号を得る。そして、その閾値越え検出信号が「1」である期間中の最大値をピークトップであるとみなして、そのピークトップ値を弁別対象の波高値として取得する。したがって、この図5の例ではP1、P2、P3の3個のピークの波高値が得られることになる。
ところが、こうした従来のマルチチャンネルアナライザでは次のような問題がある。即ち、検出器3から出力される信号には各種ノイズ、特に高周波ノイズが重畳しているため、波形整形回路6はノイズを除去するためのローパスフィルタの機能を有している。このローパスフィルによるフィルタリング処理によって、波形整形により得られるパルス信号は図5(a)に示したように立ち上がりや立ち下がりが鈍った波形となる。
エネルギー分解能を高くするためには、ローパスフィルタの時定数を大きくし、より低周波のノイズも除去する必要がある。しかしながら、時定数を大きくすると、図6(a)に示すように近接した2つ乃至それ以上のピークが干渉し合い易くなる。この場合、P2、P3の2個のピークは分離できずに1個のピークとみなされてしまい(図6(b)参照)、ピークP3は無視されてピークP2のみの波高値が取得される。そのため、本来はP2、P3の2個分のピークであるにも拘わらず1個分しか計数されないことになり、計数効率は下がってしまう。計数効率が下がることは蛍光X線のエネルギー強度値が実際の値よりも低くなることを意味し、分析精度の低下をもたらす。逆に、ローパスフィルタの時定数を小さくすると計数効率は上がるが、十分にノイズを除去できずにエネルギー分解能が下がってしまう。
特許文献1に記載の装置では、上記のような問題を回避するために、波形整形回路6で複数の時定数を用意しておき、分析手法や分析対象の元素の種類などに応じて時定数を切り替えるようにしている。しかしながら、こうした構成では制御が煩雑になり、回路規模が大きくなる。また、実際上、適切な時定数を設定することはかなり難しく、計数効率又は分解能のいずれかを或る程度犠牲にせざるを得なかった。
特開平10−318946号公報(段落0002〜0004)
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、フィルタリングされた信号波形上で2つのピークが近接している場合でも、これを2つのピークとして分離して認識することでX線の計数効率を改善することができる、マルチチャンネルアナライザとして使用するためのX線分析用信号処理装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された第1発明は、分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に、その信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
b)前記入力信号の負のピークのピークトップを検出する負ピーク検出手段と、
c)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記正ピーク検出手段により正ピークのピークトップが検出された後にそのピークトップ値から信号値が第1所定値以上減少したことを検出する減少検出手段と、
e)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記負ピーク検出手段により負ピークのピークトップが検出された後にその負のピークトップ値から信号値が第2所定値以上増加したことを検出する増加検出手段と、
f)前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値以上になったと判された時点から、その後、該閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判された時点又は前記減少検出手段により信号値が第1所定値以上減少したことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中、及び、前記増加検出手段により信号値が第2所定値以上増加したことが検出された時点から、その後、前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判定された時点又は前記減少検出手段により信号値が第1所定値以上減少したことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中に、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
を備えることを特徴としている。
また上記課題を解決するために成された第2発明は、分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に、その信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
b)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
c)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記入力信号の正ピークのピークトップから信号値が所定期間以上減少し続けることを検出する単調減少検出手段と、
d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記入力信号の負ピークのピークトップから信号値が所定期間以上増加し続けることを検出する単調増加検出手段と、
e)前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値以上になったと判された時点から、その後、該閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判された時点又は前記単調減少検出手段により信号値が所定期間以上減少し続けたことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中、及び、前記単調増加検出手段により信号値が所定期間以上増加し続けたことが検出された時点から、その後、前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判定された時点又は前記単調減少検出手段により信号値が所定期間以上減少し続けたことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中に、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
を備えることを特徴としている。
例えば入力信号に2つの正ピークが近接して存在しており、その両ピークの間の負のピーク(谷の部分)の値が閾値を越えている場合、上記閾値越え判定手段による検出信号はその谷の部分の間を挟んだ前後で同レベル(「1」又は「0」)が連続する。そのため、この検出信号において「1」(又は「0」)が連続する期間内で最大値を示すものを真のピークトップとみなすと、ピークトップ値がより小さなほうの正ピークを見逃してしまうことになる。
これに対し、第1発明に係るX線分析用信号処理装置においては、減少検出手段及び増加検出手段における所定値をそれぞれ適当に定めれば、上記のように2つの正ピークの間の谷の部分が閾値を上回っていても、その谷の手前で減少検出手段の検出信号を生成し、その谷を通り過ぎた後で次の正のピークが来る前に増加検出手段の検出信号を生成することができる。こうした検出信号により、真のピークトップ値を認識するための期間は上記谷の部分を挟んで時間的に前後の2つに分離されるため、その分離された各期間においてそれぞれ正のピークトップを真のピークトップとして検出することができるようになる。
また、第2発明に係るX線分析用信号処理装置においても、単調減少検出手段及び単調増加検出手段における所定期間をそれぞれ適当に定めれば、上記のように2つの正ピークの間の谷の部分が閾値を上回っていても、その谷の手前で減少検出手段の検出信号を生成し、その谷を通り過ぎた後で次の正のピークが来る前に増加検出手段の検出信号を生成することができる。したがって、この場合にも、従来は分離できなかった(一方が見逃されていた)近接する2個の正ピークのピークトップを真のピークトップとして検出することができるようになる。
なお、上記入力信号は、波形整形されたパルス波形状のアナログ信号を所定の周期でサンプリングしてデジタル化した信号とすることができ、その場合には、第1及び第2発明に係るX線分析用信号処理装置における上記各手段はデジタル論理回路やコンピュータ上で動作するソフトウエアで実現することができる。また、このとき上記「所定期間」とは所定のサンプル数と意味するところは同じである。
このようにして第1及び第2発明に係るX線分析用信号処理装置によれば、従来、波形整形回路の時定数のために裾が重なり合ってしまっていて2個のピークとして分離して検出することが困難であったような隣接する2個のピークについても、それぞれ別個のピークとして検出して各ピークトップ値を波高値として取得することができるようになる。それによって、単位時間当たりに計数できるパルス数が増加し、X線の計数効率が改善される。
なお、低元素の場合には一般に入力信号の波高値が小さいが、第1発明においては所定値を小さく設定することにより、微小ピークも検出することができる。一方、重畳しているノイズが大きい場合には、第1発明においては所定値を大きく設定することにより、第2発明においては所定期間を長く設定することにより、ノイズに起因する偽のパルスを除去することができるので分解能を向上させることができる。
[第1実施例]
以下、第1発明に係るX線分析用信号処理装置の一実施例であるマルチチャンネルアナライザについて図1及び図2を参照して説明する。図1は本実施例によるマルチチャンネルアナライザの要部の回路構成図、図2は主要な動作を説明するためのタイミング図である。
このマルチチャンネルアナライザ8には、図4に示したA/D変換器7からの出力であるn(例えばn=8、10など)ビットのデータ(波形整形後のパルス波信号をデジタル化したデータ)がデータバス20を通して入力される。マルチチャンネルアナライザ8は、この入力データの正ピークのピークトップを検出してその値を保持する正ピーク検出部21と、同じ入力データの負ピークのピークトップを検出してその値を保持する負ピーク検出部22と、正ピーク検出部21に保持されているデータ(最大値データ)と入力データとの差分を求める第1減算器23と、負ピーク検出部22に保持されているデータ(最小値データ)と入力データとの差分を求める第2減算器24と、第1減算器23の出力である正ピーク差分データと外部より設定される正ピーク差分設定値TPとの大小関係の比較を行う第1比較器25と、第2減算器24の出力である負ピーク差分データと外部より設定される負ピーク差分設定値TNとの大小関係の比較を行う第2比較器26と、入力データが外部より設定される閾値設定値TH以上であるか否かを判定する閾値判定部27と、閾値判定部27の立ち上がりエッジを検出する立上り検出部28と、閾値判定部27の立ち下がりエッジを検出する立下り検出部29と、第1比較器25の出力と立上り検出部28の出力とのOR論理演算を行う第1ORゲート30と、第2比較器26の出力と立下り検出部29の出力とのOR論理演算を行う第2ORゲート31と、第1及び第2ORゲート30、31の出力によりリセット及びセットを行うRSフリップフロップ(RS−FF)32と、RSフリップフロップ32の正転(Q)出力の立ち下がりエッジを検出する立下り検出部33と、閾値判定部27の出力とRSフリップフロップ32の反転(Qバー)出力とのAND論理演算を行う第1ANDゲート34と、閾値判定部27の出力とRSフリップフロップ32の正転(Q)出力とのAND論理演算を行う第2ANDゲート35と、正ピーク検出部21の出力データを入力とし、立下り検出部33の出力をイネーブル入力とするラッチ回路36と、ラッチ回路36の出力である波高値データと立下り検出部33の出力であるピーク検出信号とを受けて、波高値データの値に応じてスペクトルメモリのメモリアドレスの計数値データをインクリメントする弁別処理及び計数処理を行う弁別・計数処理回路37と、を備える。
図2を参照して上記構成のマルチチャンネルアナライザの動作を説明する。図2(a)に示したような波形のパルス信号をデジタル化したデータが入力されると、正ピーク検出部21は正ピークP1、P2、P3を検出し、後述するようにそれぞれのピークトップが出現してから少なくとも所定時間、最大値(正ピークのピークトップ値)データを保持する。負ピーク検出部22も同様に負ピークp1、p2を検出し、後述するようにそれぞれのピークトップが出現してから少なくとも所定時間、最小値(負ピークのピークトップ値)データを保持する。第1減算器23により図2(a)に示す正ピーク差分データΔxが計算され、第1比較器25はこの正ピーク差分データΔxが正ピーク差分設定値TPよりも大きくなると、図2(e)に示すようにパルス信号を出力する。一方、第2減算器24により図2(a)に示す負ピーク差分データΔyが計算され、第2比較器26はこの負ピーク差分データΔyが負ピーク差分設定値TNよりも大きくなると、図2(f)に示すようにパルス信号を出力する。
閾値判定部27は従来と同様に図2(b)に示すように、入力データが閾値設定値THよりも大きいときに「1」となる閾値越え検出信号を出力する。これに対して立下り検出部28及び立上り検出部29の出力は図2(c)、(d)のようになる。第1ORゲート30は図2(d)及び(e)のパルス信号のOR論理演算を行ってその結果をRSフリップフロップ32のリセット端子に与え、第2ORゲート31は図2(c)及び(f)のパルス信号のOR論理演算を行ってその結果をRSフリップフロップ32のセット端子に与えるから、RSフリップフロップ32の正転出力は図2(g)に示すようになる。
ここで、従来の方法では分離して検出できないピークP2、P3について着目して詳述する。入力データは時刻t3で閾値設定値THを越えるため、このとき閾値越え検出信号は「0」→「1」に変化する。これとほぼ同時にこの信号の立ち上がりエッジが立上り検出部29で検出され、RSフリップフロップ32のセット端子にパルス信号が入力されるから、RSフリップフロップ32の正転出力も「0」→「1」に変化する。このとき、第2ANDゲート35の2つの入力は共に「1」となるから、その出力である正ピーク検出部有効フラグも「1」となり、正ピーク検出部21が能動化されて入力データの最大値を検出・保持する動作を開始する。したがって、ピークトップP2が出現すると、その値を最大値データとして保持する。
次に、時刻t4になると上述したように正ピーク検出部21で保持している最大値データと入力データとの差分が正ピーク差分設定値TP以上になり、第1比較器25の出力のパルス信号が第1ORゲート30を経てRSフリップフロップ32のリセット端子に加わる。これにより、RSフリップフロップ32の正転出力は「1」→「0」に変化する。立下り検出部33はこの立ち下がりエッジを検出してパルス信号をラッチ回路36に与えるから、このタイミングで以て正ピーク検出部21に保持されていた最大値データが真のピークに対応したピークトップ値としてラッチ回路36にラッチされて弁別・計数処理回路37へ送られる。この立下り検出部33の出力もまたピーク検出信号として同時に送られる。また、RSフリップフロップ32の正転出力が「0」になると、第2ANDゲート35の出力である正ピーク検出部有効フラグは「0」になるため、正ピーク検出部21の保持データはクリアされるとともにその機能は非能動化される。
他方、閾値越え検出信号は「1」を保ったままRSフリップフロップ32の反転出力は「1」になるので、第1ANDゲート34の出力である負ピーク検出部有効フラグは「0」→「1」に変化し、今度は負ピーク検出部22が能動化される。負ピーク検出部22はこの負ピーク検出部有効フラグが「1」である間の最小値を検出・保持する。したがって、負のピークトップp2が出現すると、その値を最小値データとして保持する。
次いで、時刻t5になると負ピーク検出部22で保持している最小値データと入力データとの差分が負ピーク差分設定値TN以上となり、第2比較器26の出力のパルス信号が第2ORゲート31を経てRSフリップフロップ32のセット端子に加わる。これにより、RSフリップフロップ32の正転出力が再び「0」→「1」に変化する。このタイミングで以て負ピーク検出部有効フラグは「0」になり、保持されていた最小値データはクリアされる。さらに正ピーク検出部有効フラグは「1」になるため正ピーク検出部21が再び能動化されて、最大値データがクリアされた状態から、先にピークP2を検出した動作と同様の動作を実行することによりピークP3を検出する。そして正ピーク検出部21に保持された最大値データは、上述したようにピークP2の最大値データをラッチ回路36にラッチしたのと同様の動作により真のピークに対応したピークトップ値としてラッチ回路36にラッチされ、弁別・計数処理回路37に送り込まれる。このようにして、従来の方法では検出されなかったピークP3の最大値データも真のピークの波高値として取得することができる。
以上のように本実施例におけるマルチチャンネルアナライザによれば、従来方法では、1個のピークとしてしか認識されなかったピークP2、P3がそれぞれ別個のピークとして認識されるようになる。それにより、弁別・計数処理回路37では、ピークP2、P3のそれぞれのピーク値に応じたメモリアドレスの計数値データをインクリメントすることができ、計数の正確性が向上する。
[第2実施例]
次に、第2発明に係るX線分析用信号処理装置の一実施例であるマルチチャンネルアナライザについて、図3の回路構成図を参照して説明する。このマルチチャンネルアナライザの基本的な構成は上記第1実施例の構成と類似しているが、図1において符号Fの部分が図3において符号F’に変更されている。それ以外の構成要素は同一であり、同一符号を付して詳しい説明を省略する。
即ち、この第2実施例の構成では、データバス20を介して入力される入力データはデータラッチ40に入力されており、データラッチ40は入力データが更新される毎にその1つ前の入力データを保持する。減算器41はデータラッチ40に保持されているデータと入力データとの差分を算出するから、減算器41では2つの連続する入力データの差分を求めることになる。この減算器41の出力のうちのMSB(最上位ビット)のみがN段の1ビットシフトレジスタである第1シフトレジスタ42に入力されるとともに、反転ゲート44を経て同じくN段の1ビットシフトレジスタである第2シフトレジスタ45に入力されている。このMSBはデジタルデータではデータの極性(正又は負)を表し、オフセットバイナリ表示では極性が正であるときに「1」、負であるときに「0」である。
第1シフトレジスタ42のパラレル出力は第1比較器43に入力され、第1比較器43はこの出力と外部から設定される連続減少設定値TDとが一致するときに「1」を出力する。他方、第2シフトレジスタ45のパラレル出力は第2比較器46に入力され、第2比較器46はこの出力と外部から設定される連続増加設定値TUとが一致するときに「1」を出力する。なお、第1シフトレジスタ42は第2ANDゲート35の出力(第1実施例における正ピーク検出部有効フラグ)が「1」であるときにのみ機能し、第2シフトレジスタ45は第1ANDゲート34の出力(第1実施例における負ピーク検出部有効フラグ)が「1」であるときにのみ機能する。
この第2実施例のマルチチャンネルアナライザ8の動作を説明する。上記第1実施例では、正ピークの最大値データと入力データとの差分、及び、負ピークの最小値データと入力データとの差分、がそれぞれ所定の設定値を越えたときにパルス信号を出力してRSフリップフロップ32の出力を反転させ得るようにしていたが、この第2実施例では、図3に示した回路構成により、正ピークのピークトップを通りすぎた後の波形の単調減少性、及び、負ピークのピークトップを通りすぎた後の波形の単調増加性を判断することでパルス信号を生成して、RSフリップフロップ32の出力を反転させ得るようにしている。
例えば正ピーク検出部21では図2(a)で示した入力データ波形のピークP2の最大値データを保持するが、ピークP2を通り過ぎると入力データが増加から減少に転じるから、データラッチ40で保持されている1つ前の入力データと最新の入力データとの差分が正つまり差分データのMSBが「1」となり、第1シフトレジスタ42には「1」が連続して格納される。例えば時刻t4で第1シフトレジスタ42が「1」である状態が連続減少設定値TDと一致すれば、第1比較器43の出力のパルス信号が第1ORゲート30を経てRSフリップフロップ32のリセット端子に加わり、RSフリップフロップ32の正転出力は図2(g)に示すように「1」から「0」に変化する。
一方、最小ピークp2を通り過ぎると入力データが減少から増加に転じるから、データラッチ40で保持されている1つ前の入力データと最新の入力データとの差分が負つまり差分データのMSBが「0」となり、第2シフトレジスタ45にはMSBの反転である「1」が連続して格納される。例えば時刻t5で第2シフトレジスタ45が「1」である状態が連続増加設定値TUと一致すれば、第2比較器46の出力のパルス信号が第2ORゲート31を経てRSフリップフロップ32のセット端子に加わり、RSフリップフロップ32の正転出力は図2(g)に示すように再び「0」から「1」に変化する。したがって、RSフリップフロップ32の出力は第1実施例とほぼ同様になり、第1実施例と同様に、隣接する2個の正ピークの間の負のピーク(谷の部分)が閾値設定値THを下回らなくても、2個の正ピークを分離してそれぞれ真のピークであると認識して、それぞれの最大値データを波高値として取得することができる。
なお、第2実施例の構成では入力データの時間的な単調増加性及び単調減少性を判断しているため、重畳しているノイズ成分が多いような場合には不向きであるものの、ノイズ成分が少ない場合にはピークをより確実に見落としなく捉えることができる。そこで、第1実施例における真のピークの判別方法と第2実施例における真のピークの判別方法とを切り換えて実行できる構成としてもよい。上述したように、図1に示す構成と図3に示す構成とでは多くの構成要素が共通に使用可能であるので、例えば図1中の符号Fで示す部分と図3中の符号F’で示す部分とを併設して、それらの出力をセレクタで切り換えて共通の第1及び第2ORゲート30、31に入力するように構成すればよい。
なお、上記実施例は一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正を行うことができることは明らかである。具体的には、図1、図3に示した回路構成は単なる一例であって、同様の機能を達成するための回路構成はこれに限らないことは当然である。
第1発明の一実施例であるマルチチャンネルアナライザの要部の回路構成図。 図1のマルチチャンネルアナライザの主要な動作を説明するためのタイミング図。 第2発明の一実施例であるマルチチャンネルアナライザの要部の回路構成図。 一般的なエネルギー分散型蛍光X線分析装置の概略構成図。 従来のマルチチャンネルアナライザの動作を説明するためのタイミング図。 従来のマルチチャンネルアナライザの動作上の問題点を説明するためのタイミング図。
符号の説明
1…X線照射部
2…試料
3…検出器
5…比例増幅器
6…波形整形回路
7…A/D変換器
8…マルチチャンネルアナライザ
9…データメモリ
10…データ処理部
20…データバス
21…正ピーク検出部
22…負ピーク検出部
23…第1減算器
24…第2減算器
25…第1比較器
26…第2比較器
27…閾値判定部
28…立上り検出部
29…立下り検出部
30…第1ORゲート
31…第2ORゲート
32…RSフリップフロップ
33…立下り検出部
34…第1ANDゲート
35…第2ANDゲート
36…ラッチ回路
37…弁別・計数処理回路
40…データラッチ
41…減算器
42…第1シフトレジスタ
43…第1比較器
44…反転ゲート
45…第2シフトレジスタ
46…第2比較器

Claims (3)

  1. 分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に、その信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
    a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
    b)前記入力信号の負のピークのピークトップを検出する負ピーク検出手段と、
    c)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
    d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記正ピーク検出手段により正ピークのピークトップが検出された後にそのピークトップ値から信号値が第1所定値以上減少したことを検出する減少検出手段と、
    e)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記負ピーク検出手段により負ピークのピークトップが検出された後にその負のピークトップ値から信号値が第2所定値以上増加したことを検出する増加検出手段と、
    f)前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値以上になったと判された時点から、その後、該閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判された時点又は前記減少検出手段により信号値が第1所定値以上減少したことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中、及び、前記増加検出手段により信号値が第2所定値以上増加したことが検出された時点から、その後、前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判定された時点又は前記減少検出手段により信号値が第1所定値以上減少したことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中に、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
    を備えることを特徴とするX線分析用信号処理装置。
  2. 分析対象から放出されるX線を検出器により検出し、その検出信号をX線固有のエネルギーに応じた波高値を有するパルス波形状の信号に波形整形した後に、その信号の波高値を弁別して計数するエネルギー分散型X線分析装置に使用されるX線分析用信号処理装置であって、波形整形されたパルス波形状の信号を入力信号とし、
    a)前記入力信号の正のピークのピークトップを検出する正ピーク検出手段と、
    b)前記入力信号が所定の閾値以上であるか否かを判定する閾値越え判定手段と、
    c)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記入力信号の正ピークのピークトップから信号値が所定期間以上減少し続けることを検出する単調減少検出手段と、
    d)前記入力信号が前記閾値以上である期間中において、前記入力信号の負ピークのピークトップから信号値が所定期間以上増加し続けることを検出する単調増加検出手段と、
    e)前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値以上になったと判された時点から、その後、該閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判された時点又は前記単調減少検出手段により信号値が所定期間以上減少し続けたことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中、及び、前記単調増加検出手段により信号値が所定期間以上増加し続けたことが検出された時点から、その後、前記閾値越え判定手段により入力信号が閾値を下回ったと判定された時点又は前記単調減少検出手段により信号値が所定期間以上減少し続けたことが検出された時点のいずれか早いほうの時点までの期間中に、前記正ピーク検出手段により検出された正ピークのピークトップ値を、真のピークトップ値とみなして波高値弁別のために取得する判別手段と、
    を備えることを特徴とするX線分析用信号処理装置。
  3. 請求項1に記載のX線分析用信号処理装置における判別手段の真のピークトップ値の判別方法と、請求項2に記載のX線分析用信号処理装置における判別手段の真のピークトップ値の判別方法とを切り換えて実行することを特徴とするX線分析用信号処理装置。
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