JP2007327756A5 - - Google Patents

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  1. X線を発生するX線管球と、
    前記X線を受ける試料を支持するための試料支持部と、
    前記X線を受けて試料から発生するX線を受ける偏光フィルタと、
    前記偏光フィルタからのX線を検出する検出器とからなり、
    前記X線管球から試料に向かうX線光路と試料から偏光フィルタに向かうX線光路のなす角度、試料から偏光フィルタに向かうX線光路と偏光フィルタから検出器に向かうX線光路のなす角度、及び偏光フィルタから検出器に向かうX線光路と前記X線管球から試料に向かうX線光路のなす角度が、全て90度となるように配置されている蛍光X線分析装置。
  2. 前記偏光フィルタは、湾曲形状を有する請求項1記載の蛍光X線分析装置。
  3. 前記偏光フィルタは、湾曲形状の偏光フィルタの受光面、または複数の平面状偏光フィルタの受光面を円の円周上に沿うように配置したものであって、
    さらに、試料と検出器または検出器コリメータは、前記円周上の対向した位置に配置されている、請求項1記載の蛍光X線分析装置。
  4. 前記試料内で発生した蛍光X線が、前記偏光フィルタでコンプトン散乱された後の成分を測定する測定手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の蛍光X線分析装置。
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