JP2007310209A - Exposure device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、帯状の被露光材をマスクに対向するように所定量ずつ送出し、前記マスクのパターンを前記被露光材の長手方向に隣接して連続的に露光転写していく露光装置に関する。 The present invention relates to an exposure apparatus that feeds a strip-shaped exposed material by a predetermined amount so as to face a mask and continuously exposes and transfers the pattern of the mask adjacent to the longitudinal direction of the exposed material.
テレビシャドウマスク、ICリードフレーム等を大量に生産する露光装置として、例えば特許文献1のように、帯状の被露光材を表マスク及び裏マスクの間に所定量ずつ送出し、表マスク及び裏マスクを被露光材に密着させ、各マスクの外側に配置した平行光源から各マスクに向けて露光を照射することで、表マスク及び裏マスクのマスクパターンを被露光材の表裏両面に同時に露光する露光装置が知られている。
As an exposure apparatus that produces TV shadow masks, IC lead frames, and the like in large quantities, for example, as disclosed in
この特許文献1では、被露光材のエッジラインと平行なライン上に露光間ピッチに合わせて等間隔に基準穴を設けるとともに、表マスク及び裏マスクのいずれか一方に、これら基準穴に対応させて同一ピッチで2箇所、材料整合用のアライメントマークを形成し、カメラ(特許文献1では、2次元センサと称している)が、被露光材の基準穴と対応するマスクの材料整合用アライメントマークの重畳状態を読み取ることで被露光材とマスクの相対的な位置情報を得ている。そして、得られた位置情報に基づいて、マスク位置調整機構が、基準穴と材料整合用アライメントマークとが整合するようにマスクを相対的に移動させることで、被露光材と表マスク及び裏マスクのうちの一方とのアライメントを行うことにより、被露光材のエッジラインを基準とした所定の位置に露光パターンを形成することができる。なお、表マスク及び裏マスクとは、別途設けられた専用のインデックスマークを用いて位置合わせを行なうようにしている。
しかし、実際の被露光材のエッジラインは完全な直線状ではなく、わずかながら曲がりがあるため、特許文献1の装置は、帯状の被露光材の曲がりのあるエッジラインを基準として被露光材に露光転写が行なわれることにより、隣接する露光パターン同士に傾きが生じたり、重なり合う不良部分や、隣接する露光パターン同士が極端に離れる場合があり、被露光材の歩留りの面で問題がある。
そこで、本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、帯状の被露光材が蛇行しながら送出されても、隣接する露光パターン同士が重なり合ったり、露光パターン同士が極端に離れることがなく正常に露光転写することができ、被露光材の歩留りが向上する露光装置を提供することを目的としている。
However, since the actual edge line of the material to be exposed is not completely straight, and there is a slight bend, the apparatus of
Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and even if a strip-shaped exposed material is sent while meandering, adjacent exposure patterns do not overlap with each other and the exposure patterns do not extremely separate from each other. It is an object of the present invention to provide an exposure apparatus that can be transferred by exposure to light and can improve the yield of the exposed material.
前記課題を解決するため、本発明に係る露光装置は、帯状の被露光材をマスクに対向するように所定量ずつ送出し、前記マスクのパターンを前記被露光材の長手方向に隣接して連続的に露光転写していく露光装置において、送出されてきた前記被露光材の蛇行を検出する蛇行検出手段と、前記マスクのパターンを前記被露光材の被露光位置に整合させるアライメント手段と、前記被露光材に連続的に露光転写される露光パターン同士が重なり合わず、且つ露光パターン同士が隙間を設けて隣接しないように、前記蛇行検出手段の検出結果に基づいて前記アライメント手段による前記マスク及び前記被露光位置の整合を調整する整合調整手段とを備えている。
ここで、前記蛇行検出手段及び前記アライメント手段は、前記被露光材の長手方向に所定間隔をあけて形成した被露光材側マークと、前記マスクに形成したマスク側マークと、これら被露光材側マーク及びマスク側マークの重畳状態の情報を得る撮像手段とを備えた構成が好ましい。
In order to solve the above-described problems, an exposure apparatus according to the present invention sends a strip-shaped exposed material by a predetermined amount so as to face the mask, and the mask pattern is continuously adjacent to the longitudinal direction of the exposed material. In an exposure apparatus that performs exposure transfer in an automatic manner, meandering detection means for detecting the meandering of the exposed material that has been sent out, alignment means for aligning the pattern of the mask with the exposure position of the exposure material, and The mask by the alignment means based on the detection result of the meandering detection means so that the exposure patterns continuously exposed and transferred to the exposed material do not overlap and the exposure patterns are not adjacent to each other with a gap. Alignment adjusting means for adjusting alignment of the exposed position.
Here, the meandering detecting means and the alignment means include an exposed material side mark formed at a predetermined interval in a longitudinal direction of the exposed material, a mask side mark formed on the mask, and the exposed material side. A configuration including an imaging unit that obtains information on the overlapping state of the mark and the mask side mark is preferable.
本発明に係る露光装置によると、整合調整手段が、被露光材に連続的に露光転写される露光パターン同士が重なり合わず、且つ露光パターン同士が隙間を設けて隣接しないように、前記蛇行検出手段の検出結果に基づいてアライメント手段による前記マスク及び被露光位置の整合を調整するので、帯状の被露光材が蛇行しながら送出されても正常に露光転写することができ、被露光材の歩留りを向上させることができる。 According to the exposure apparatus of the present invention, the alignment adjustment means detects the meandering so that the exposure patterns continuously exposed and transferred to the exposed material do not overlap each other and the exposure patterns are not adjacent to each other with a gap. Since the alignment of the mask and the exposure position by the alignment unit is adjusted based on the detection result of the unit, even if the strip-shaped exposed material is sent while meandering, it can be normally exposed and transferred, and the yield of the exposed material Can be improved.
以下、本発明に係る露光装置について、図面を参照しながら説明する。
(露光装置の全体構成)
先ず、本発明に係る露光装置の全体構成について図1を参照して説明する。図1の符号1は帯状のワーク2をタクト送りで巻き出す巻き出し装置、符号3は露光部Pの下流側に配置されて露光後のワーク2を巻き取るための巻取り装置である。
An exposure apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
(Overall configuration of exposure apparatus)
First, the overall configuration of the exposure apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG.
露光部Pの近傍には、ワーク2の撓みを極力少なくする2個の支持ロール4a,4bが露光部Pを挟み込むように配置されている。支持ロール4a,4bの外側には露光部Pのワーク2を固定するための固定用クランプ5a,5bが配置されている。上流側の固定用クランプ5bには、露光部Pに位置するワーク2に対してバックテンションを付与するバックテンションロール6が設けられ、下流側の固定用クランプ5aの巻取り装置3側には、ワーク2をクランプした状態で巻取り装置3側に所定量送り出し、その後、クランプ状態を解除して元の位置に戻るインデクサー7が設けられている。
In the vicinity of the exposure part P, two
このインデクサー7の送り出し量に応じて巻き出し装置1によるワーク2の巻き出しと巻取り装置3によるワーク2の巻取りが行われる。なお、符号2aは巻き出し装置1側と巻取り装置3側に設けられたワーク送りバッファ部分である。
また、露光部Pのワーク2の表面側には、所定の転写パターンを有するマスク8が配置されている。
The
A
そして、露光部Pにおいてワーク2及びマスク8のアライメント調整を行なった後、マスク8をワーク2の表面に密着させた状態で、マスク8の上方に配置した平行光源10からマスクに向けて露光を照射し、マスク8のパターンをワーク2の表面に露光転写する。この露光転写が完了すると、インデクサー7でワーク2を巻取り装置3側に所定量送り出す動作を行う。そして、ワーク2の送り出しが終了した後、下流側の固定用クランプ5a、又は両側の固定用クランプ5a,5bで露光位置Pに送られてきたワーク2を固定し、上記と同様の工程で新たな露光転写を行う。
Then, after the alignment of the
(第1実施形態)
次に、図2は、本発明に係る第1実施形態のワーク2及びマスク8の具体的構成を示し、図3は、第2実施形態の露光部Pの構成を示すものである。
図2に示すように、本実施形態のマスク8には、回路パターン等の所定のパターンPT1が形成されているとともに、ワーク2の幅方向の一方の縁部に対応する側に、一対のマスクアライメントマークM1a,M1bが、ワーク2の長手方向に所定間隔をあけて形成されている。これら一対のマスクアライメントマークM1a,M1bは、透光性の領域に、例えば非透光性で、且つ後述の基準穴40a,40b,40c,40d…よりも小さな円形のマークである。
(First embodiment)
Next, FIG. 2 shows a specific configuration of the
As shown in FIG. 2, a predetermined pattern PT1 such as a circuit pattern is formed on the
また、ワーク2の幅方向の一方の縁部に、穴明け機42によって複数の円形の基準穴40a,40b,40c,40d…が形成されている。ワーク2がインデクサー7で巻取り装置3側に所定量だけ送られた後、穴明け機42は、ワーク2の長さ方向に互いに離間して配置した一対のエッジポジショニングセンサ42a,42bによりワーク2のエッジラインの位置を検出し、それぞれのセンサ42a,42bに対応して設けられた図示しないアクチュエータにより2ヶ所のエッジラインが所定位置となるように調整した後、基準穴40a,40b,40c,40d…を順に形成していく。これら基準穴40a,40b,40c,40d…の間隔は、一対のマスクアライメントマークM1a,M1bの間隔と同一に設定されている。
Further, a plurality of
露光部Pは、図3に示すように、マスク8がマスク保持フレーム12により真空吸着で保持されている。このマスク保持フレーム12は、フレーム駆動機構14によりXYθ方向に微小移動制御可能となっている(XY平面をワーク2の被露光面と平行な平面、θをXY平面に垂直な軸周りの回転方向と定義する)。なお、この図では、マスク保持フレーム12を上下方向に移動し、マスク8をワーク2の表面に密着させる機構は省略している。
In the exposure part P, as shown in FIG. 3, the
マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1bに上方から対向する位置に、2台のカメラ16a,16bが配置されており、これらカメラ16a,16bはマスク保持フレーム12、またはマスク保持フレーム12を保持する図示しないマスクステージに固定されている。
また、ワーク送り出し方向の前方に配置されているカメラ16aよりさらにワーク送り出し方向の前方位置に、1台のカメラ18が配置されており、このカメラ18も、図示しないがマスク保持フレーム12、またはマスク保持フレーム12を保持する図示しないマスクステージに固定されている。
Two
Further, one
これら3台のカメラ16a,16b,18は、ワーク送り出し方向に沿って直線上に配置され、カメラ16a,16bの間の間隔、カメラ16a,18の間の間隔は同一(インデクサー7による一回当たりの所定の送り出し量)に設定されている。
なお、カメラ16a,16b,18は、図示しないが複数のレンズ等からなる光学系、ハーフミラー及び二次元のイメージセンサ、及び焦点調整機構で構成されている。
These three
The
また、ワーク2に形成した3個の基準穴40a,40b,40cに下方から対向する位置に、照明器20a,20b,20cが配置されている。これら照明器20a,20b,20cは、図示しないが集光レンズと発光ダイオード等の投光素子等により構成されている。
そして、前述したカメラ16a,16b,18、フレーム駆動機構14、インデクサー7及び穴あけ機42は、コントローラ22に接続している。
コントローラ22は、キーボード、表示画面等の表示装置を有するコンピュータシステムにより構成されており、キー操作等によりカメラ16a,16b,18の焦点を合わせる制御を行うことができるとともに、フレーム駆動機構14、インデクサー7及び穴あけ機42の駆動制御を行うことができる。
In addition,
The
The
次に、第1実施形態の露光手順について図4を参照しながら説明する。
先ず、図4(a)に示すように、コントローラ22は穴あけ機42に対して駆動信号を送り、穴明け機42がワーク2の幅方向の一方の縁部に一番目の基準穴40aを形成する。
次に、図4(b)に示すように、コントローラ22はインデクサー7及び穴明け機42に対して駆動信号を送り、インデクサー7の駆動によりワーク2が規定送り量(予め設定されている送り量)で送り出されるとともに、穴あけ機42がワーク2の幅方向の一方の縁部に2番目の基準穴40bを形成する。
Next, the exposure procedure of the first embodiment will be described with reference to FIG.
First, as shown in FIG. 4A, the
Next, as shown in FIG. 4B, the
次に、図4(c)に示すように、コントローラ22はインデクサー7及び穴明け機42に対して駆動信号を送り、インデクサー7の駆動によりワーク2は規定送り量で送り出されるとともに、穴明け機42はワーク2の幅方向の一方の縁部に3番目の基準穴40cを形成する。次に、コントローラ22は、カメラ16a,16bで撮像された画像情報に基づき、1番目の基準穴40aとマスクアライメントマークM1aとの相対的なずれ量及び、2番目の基準穴40bとマスクアライメントマークM1bとの相対的なずれ量を演算し、これらずれ量が減少するようにフレーム駆動機構14を駆動制御する。これにより、フレーム駆動機構14は、マスク8を保持しているマスク保持フレーム12をXYθ方向に微小移動させ、ワーク2とマスク8のアライメントを行なう。
Next, as shown in FIG. 4 (c), the
そして、マスク8をワーク2の表面に密着させた状態で、マスク8の上方に配置した平行光源10からマスク8に向けて露光を照射し、マスク8のパターンをワーク2の表面に露光転写する。
次に、図4(d)に示すように、コントローラ22は、駆動信号をインデクサー7に送り、ワーク2は、規定送り量で送り出されていく。また、コントローラ22が穴あけ機42に対して駆動信号を送り、ワーク2の幅方向の一方の縁部に4番目の基準穴40dを形成する。
Then, in a state where the
Next, as shown in FIG. 4 (d), the
また、コントローラ22は、カメラ18で撮像された1番目の基準穴40aの画像情報と、カメラ16aで撮像された2番目の基準穴40bの画像情報と、カメラ16bで撮像された3番目の基準穴40cの画像情報とに基づいてワーク2の幅方向ずれ量ΔYを演算する。このとき、基準穴40bの中心及び基準穴40cの中心を通る直線と基準穴40aの中心のY軸方向(幅方向)のずれ量がΔYとする。
The
次に、図4(e)に示すように、コントローラ22は、演算したワーク2の幅方向ずれ量ΔYと、カメラ16a,16bで撮像された画像情報とに基づいて、フレーム駆動機構14を駆動制御する。すなわち、コントローラ22は、ワーク2の幅方向ずれ量ΔYを考慮しながら、2番目の基準穴40bとマスクアライメントマークM1aとの相対的なずれ量と、3番目の基準穴40cとマスクアライメントマークM1bとの相対的なずれ量が減少するようにフレーム駆動機構14を駆動制御する。すなわち、基準穴40bとマスクアライメントマークM1aとは中心同士が合うように調整するが、基準穴40cとマスクアライメントマークM1bとの位置合わせは、ワーク2の幅方向ずれ量ΔYを考慮し、一回目の露光パターンとこれから露光するパターンとが傾きなくつながれるような位置関係となるようにする。
Next, as shown in FIG. 4E, the
そして、マスク8をワーク2の表面に密着させた状態で、マスク8の上方に配置した平行光源10からマスク8に向けて露光を照射すると、既にワーク2に露光転写されている露光パターンに重なり合わず、しかも、その露光パターンとの間に隙間を設けずに新たな露光パターンが露光転写される。
次に、図示しないが、コントローラ22は駆動信号をインデクサー7に送り、ワーク2が、規定送り量で送り出されていく。そして、図4(d)以降と同様の手順で、ワーク2に新たな露光パターンを露光転写していく。
When exposure is performed toward the
Next, although not shown, the
なお、ワーク2が本発明の被露光材に相当し、ワーク2に形成した基準穴40a,40b,40c,40d…、マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1b及びカメラ16a,16b,18が本発明の蛇行検出手段に相当し、マスクアライメントマークM1a,M1b及びカメラ16a,16bが本発明のアライメント手段に相当し、コントローラ22、フレーム駆動機構14及びインデクサー7が本発明の整合調整手段に相当し、基準穴40a,40b,40c,40d…が本発明の被露光材側マークに相当し、マスクアライメントマークM1a,M1bが本発明のマスク側マークに相当し、カメラ16a,16b,18が本発明の撮像手段に相当し、幅方向ずれ量ΔYが本発明の蛇行量に相当する。
The
本実施形態によると、コントローラ22が、カメラ16a,16b,18で撮影した画像情報に基づいて幅方向ずれ量ΔYを演算するとともに、これらの演算結果に基づいて、ワーク2に連続的に露光転写した露光パターン同士が重なり合わず、且つ露光パターン同士が隙間を設けて隣接しないように、フレーム駆動機構14及びインデクサー7を駆動制御するので、ワーク2が蛇行しながら送出されても正常に露光転写することができ、ワーク2の歩留りを向上させることができる。
また、ワーク2の蛇行を検出する手段を、ワーク2に形成した基準穴40a,40b,40c,40d…と、マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1bと、カメラ16a,16b,18としたので、簡便な装置構成とすることができる。
According to the present embodiment, the
Further, means for detecting meandering of the
(第2実施形態)
次に、図5は、本発明に係る第2実施形態のワーク2及びマスク8の具体的構成を示し、図4は、第2実施形態の露光手順を示したものである。なお、図2から図4で示した第1実施形態の構成と同一構成部分には、同一符号を付してその説明を省略する。
図5に示すように、本実施形態のマスク8には、第1実施形態と同様に一対のマスクアライメントマークM1a,M1bが形成されているとともに、ワーク2の幅方向の他方の縁部に対応する側に一対のマスクアライメントマークM2a,M2bが形成されている。これら一対のマスクアライメントマークM2a,M2bも、透光性の領域に、例えば非透光性で、且つ後述の基準穴41a,41b,41c,41dよりも小さな円形のマークである。
(Second Embodiment)
Next, FIG. 5 shows a specific configuration of the
As shown in FIG. 5, a pair of mask alignment marks M1a and M1b are formed on the
また、ワーク2の幅方向の両縁部には、それぞれ穴明け機42が配置されており、一方の穴明け機42が基準穴40a,40b,40c,40d…を形成し、他方の穴明け機42が、基準穴41a,41b,41c,41d…を形成するようになっている。なお、基準穴41a,41b,41c,41d…は、基準穴40a,40b,40c,40d…に対してワーク送り出し方向に同一位置に形成される。
Moreover, the
また、本実施形態が第1実施形態の露光部Pと異なる点は、図6(a)に示すように、マスク8に形成したマスクアライメントマークM2a,M2bに対して上方から対向する位置にカメラ17a,17bが配置されているとともに、第1実施形態のようなワーク送り出し方向の前方にカメラ18が配置されていない。
したがって、本実施形態は、マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1b,M2a,M2bに対して上方から対向する位置に4台のカメラ16a,16b,17a,17bが、マスク保持フレーム12に固定された状態で配置されている。
そして、4台のカメラ16a,16b,17a,17bは、コントローラ22に接続している。
Further, the present embodiment is different from the exposure portion P of the first embodiment in that the camera is positioned at a position facing the mask alignment marks M2a and M2b formed on the
Therefore, in this embodiment, four
The four
次に、第2実施形態の露光手順について図6を参照しながら説明する。
先ず、図6(a)に示すように、コントローラ22は2台の穴あけ機42に対して駆動信号を送り、2台の穴明け機42は、ワーク2の幅方向の両縁部に1列目の基準穴40a,41aを形成する。
次に、図6(b)に示すように、コントローラ22はインデクサー7及び2台の穴明け機42に対して駆動信号を送り、インデクサー7の駆動によりワーク2が規定送り量で送り出されるとともに、2台の穴あけ機42がワーク2の幅方向の両縁部に2列目の基準穴40b,41bを形成する。
Next, the exposure procedure of the second embodiment will be described with reference to FIG.
First, as shown in FIG. 6A, the
Next, as shown in FIG. 6 (b), the
次に、図6(c)に示すように、コントローラ22はインデクサー7及び2台の穴明け機42に対して駆動信号を送り、インデクサー7の駆動によりワーク2が規定送り量で送り出されるとともに、2台の穴あけ機42がワーク2の幅方向の両縁部に3列目の基準穴40c,41cを形成する。次に、コントローラ22は、カメラ16b,17bで撮像された画像情報に基づき、2列目の基準穴40bとマスクアライメントマークM1bとの相対的なずれ量及び、2列目の基準穴41bとマスクアライメントマークM2bとの相対的なずれ量を演算し、これらずれ量が減少するようにフレーム駆動機構14を駆動制御する。これにより、フレーム駆動機構14は、マスク8を保持しているマスク保持フレーム12をXYθ方向に微小移動させ、ワーク2とマスク8のアライメントを行なう。この状態で、コントローラ22は、カメラ16aで撮像された1列目の基準穴40aとマスクアライメントマークM1aとの画像情報に基づき、送り量誤差ΔX1を演算する。なお、より好ましくは、同時にカメラ17aで基準穴41aとマスクアライメントマークM2aとの画像情報に基づき、送り量誤差ΔX2を得て両者の平均値を後述の補正送りに用いるようにしてもよい。
Next, as shown in FIG. 6C, the
次に、図6(d)に示すように、コントローラ22は、演算した送り量誤差ΔX1(あるいは送り量誤差ΔX1,ΔX2の平均値)に基づいた駆動信号をインデクサー7に送り、ワーク2は、送り量誤差ΔX1(あるいは送り量誤差ΔX1,ΔX2の平均値)を補正するような補正送り量で送り出されていく。また、コントローラ22が2台の穴あけ機42に対して駆動信号を送り、ワーク2の幅方向の両縁部に4列目の基準穴40d,41dを形成する。
Next, as shown in FIG. 6D, the
また、コントローラ22は、カメラ16a,17aで撮像された画像情報に基づき、基準穴40bとマスクアライメントマークM1aとの相対的ずれ量及び基準穴41bとマスクアライメントマークM2aとの相対的ずれ量を演算し、これらずれ量が減少するようにフレーム駆動機構14を駆動制御する。これにより、ワーク2とマスク8のアライメントを行なう。次に、コントローラ22は、この状態でカメラ16bで撮像された3列目の基準穴40cとマスクアライメントマークM1bの画像情報及びカメラ17bで撮像された3列目の基準穴41cとマスクアライメントマークM2bの画像情報に基づいてワーク2の幅方向の一方側のずれ量ΔY1、幅方向の他方側のずれ量ΔY2及びワーク2の送り方向のずれ量ΔX1,ΔX2(図6(d)に示すもの)を演算するとともに、図示しない記憶部に記憶する。
そして、マスク8をワーク2の表面に密着させた状態で、マスク8の上方に配置した平行光源10からマスク8に向けて露光を照射し、マスク8のパターンをワーク2の表面に露光転写する。
Further, the
Then, in a state where the
次に、図6(e)に示すように、コントローラ22は、図6(d)で得られた送り量誤差ΔX1(あるいは送り量誤差ΔX1,ΔX2の平均値)に基づいた駆動信号をインデクサー7に送り、ワーク2をその補正送り量で送り出し、5列目の基準穴40e,41eを形成する。次に、先に記憶した送り量誤差ΔX1,ΔX2、幅方向ずれ量ΔY1,ΔY2を考慮しながら、カメラ16a,17aで撮像された画像情報に基づいて、フレーム駆動機構14を駆動制御する。すなわち、コントローラ22は、3列目の基準穴40cとマスクアライメントマークM1aとの相対的なずれ量が先に記憶した送り量誤差ΔX1、幅方向ずれ量ΔY1と、3列目の基準穴41cとマスクアライメントマークM2aとの相対的なずれ量が、先に記憶した送り量誤差ΔX2、幅方向ずれ量ΔY2と、それぞれ一致した状態となるようにスレーム駆動機構14を駆動制御する。さらに、この状態での4列目の基準穴40dとマスクアライメントマークM1bとの送り量誤差ΔX11,幅方向ずれ量ΔY11及び4列目の基準穴41dとマスクアライメントマークM2bとの送り量誤差ΔX22,幅方向ずれ量ΔY22をカメラ16b,17bにより取得し、ΔX1−ΔX11、ΔX2−ΔX22、ΔY1−ΔY11及びΔY2−ΔY22の演算結果を記憶部に記憶する。
Next, as shown in FIG. 6E, the
そして、マスク8をワーク2の表面に密着させた状態で、マスク8の上方に配置した平行光源10からマスク8に向けて露光を照射すると、既にワーク2に露光転写されている露光パターンに重なり合わず、しかも、その露光パターンとの間に隙間を設けずに新たな露光パターンが露光転写される。
次に、図示しないが、コントローラ22は、演算した送り量誤差(図6(e)におけるΔX1−ΔX11(あるいは、ΔX1−ΔX11とΔX2−ΔX22との平均値)に基づいた駆動信号をインデクサー7に送り、ワーク2が、前記送り量誤差を補正するような補正送り量で送り出されていく。そして、図6(d)以降と同様の手順で、ワーク2に新たな露光パターンを露光転写していく。
When exposure is performed toward the
Next, although not shown, the
なお、本実施形態のワーク2に形成した基準穴40a,40b,40c,40d…,41a,41b,41c,41d…、マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1b,M2a,M2b及びカメラ16a,16b,17a,17bが本発明の蛇行検出手段に相当し、マスクアライメントマークM1a,M2a及びカメラ16a,17aが本発明のアライメント手段に相当し、コントローラ22、フレーム駆動機構14及びインデクサー7が本発明の整合調整手段に相当し、基準穴40a,40b,40c,40d…,41a,41b,41c,41d…が本発明の被露光材側マークに相当し、マスクアライメントマークM1a,M1b,M2a,M2bが本発明のマスク側マークに相当し、カメラ16a,16b,17a,17bが本発明の撮像手段に相当し、送り量誤差ΔX1,ΔX2及び幅方向ずれ量ΔY1,ΔY2が本発明の蛇行量に相当する。
It should be noted that
本実施形態によると、コントローラ22が、カメラ16a,16b,17a,17bで撮影した画像情報に基づいて送り量誤差ΔX1,ΔX2及び幅方向ずれ量ΔY1,ΔY2等を演算するとともに、これらの演算結果に基づいて、ワーク2に連続的に露光転写した露光パターン同士が重なり合わず、且つ露光パターン同士が隙間を設けて隣接しないように、フレーム駆動機構14及びインデクサー7を駆動制御するので、ワーク2が蛇行しながら送出されても正常に露光転写することができ、ワーク2の歩留りを向上させることができる。
According to the present embodiment, the
また、ワーク2の蛇行を検出する手段を、ワーク2に形成した基準穴40a,40b,40c,40d…,41a,41b,41c,41d…と、マスク8に形成したマスクアライメントマークM1a,M1b,M2a,M2bと、カメラ16a,16b,17a,17bとしたので、簡便な装置構成とすることができる。
なお、上記各実施形態では、片面露光の場合について述べたが、特許文献1のような両面露光装置にも本発明は適用できる。
Further, means for detecting the meandering of the
In each of the above embodiments, the case of single-sided exposure has been described. However, the present invention can also be applied to a double-sided exposure apparatus such as
2…ワーク、7…インデクサー、8…マスク、10…光源、12…マスク保持フレーム、14…フレーム駆動機構、16a,16b,17a,17b,18…カメラ、22…コントローラ、40a,40b,40c,40d,41a,41b,41c,41d…基準穴、M1a,M1b,M2a,M2b…マスクアライメントマーク、ΔX1,ΔX2…送り量誤差、ΔY,ΔY1,ΔY2…幅方向ずれ量、P 露光部 2 ... Work, 7 ... Indexer, 8 ... Mask, 10 ... Light source, 12 ... Mask holding frame, 14 ... Frame drive mechanism, 16a, 16b, 17a, 17b, 18 ... Camera, 22 ... Controller, 40a, 40b, 40c, 40d, 41a, 41b, 41c, 41d... Reference hole, M1a, M1b, M2a, M2b... Mask alignment mark, .DELTA.X1, .DELTA.X2... Feed amount error, .DELTA.Y, .DELTA.Y1, .DELTA.Y2.
Claims (2)
送出されてきた前記被露光材の蛇行量を検出する蛇行検出手段と、
前記マスクのパターンを前記被露光材の被露光位置に整合させるアライメント手段と、
前記被露光材に連続的に露光転写される露光パターン同士が重なり合わず、且つ露光パターン同士が隙間を設けて隣接しないように、前記蛇行検出手段の検出結果に基づいて前記アライメント手段による前記マスク及び前記被露光位置の整合を調整する整合調整手段と、を備えていることを特徴とする露光装置。 In an exposure apparatus that sends a strip-shaped exposed material by a predetermined amount so as to face the mask, and continuously exposes and transfers the mask pattern in the longitudinal direction of the exposed material,
Meander detection means for detecting the amount of meander of the exposed material that has been sent,
Alignment means for aligning the pattern of the mask with the exposed position of the exposed material;
The mask by the alignment means based on the detection result of the meandering detection means so that the exposure patterns continuously exposed and transferred to the exposed material do not overlap and the exposure patterns are not adjacent to each other with a gap. And an alignment adjusting means for adjusting the alignment of the exposure position.
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