JP2007305288A - 半導体記憶装置のデータ出力回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体記憶装置の内部から読み出した複数のデータを第1制御信号に応じて前記半導体記憶装置の外部に出力する複数の第1ドライブ手段と、前記第1制御信号を用いて前記第1ドライブ手段のデータ出力サイクルに同期した第2制御信号を生成して、前記半導体記憶装置の外部に出力する第2ドライブ手段と、前記第1制御信号を用いて前記第2制御信号の振幅を補正する振幅補正手段とを含む。
【選択図】図3
Description
前記データドライバ10は、外部から入力されたアドレスに該当する複数のセルから読み出した複数の入力データData_inが入力されて、立ち上がりクロックRCLK、立ち下がりクロックFCLK及び出力制御信号OEによってドライブして半導体記憶装置の外部に出力する。
出力データData_outが規則的に遷移されれば問題はないが、実際にデータは不規則的に遷移される。
前記スイッチング部110は、前記第1制御信号RCLKが入力される第1インバータIV11と、入力端に入力データData_inが入力されて第1制御端(P−Typeゲート)に前記第1インバータIV11の出力が入力されて第2制御端(N−Typeゲート)に第1制御信号RCLKが入力される第1パスゲートPG11と、前記第1制御信号FCLKが入力される第2インバータIV12と、入力端に入力データData_inが入力されて第1制御端(P−Typeゲート)に前記第2インバータIV12の出力が入力されて第2制御端(N−Typeゲート)に第1制御信号FCLKが入力されて出力端が前記第1パスゲートPG11の出力端と接続された第2パスゲートPG12とを含む。
前記プルアップドライバ330は、PMOSトランジスタで構成され、前記プルダウンドライバ340はNMOSトランジスタで構成される。
データドライバ100のスイッチング部110は、サイクル単位で順次入力される入力データData_inを第1制御信号RCLK及び第1制御信号FCLKにより駆動部120に出力する。
したがって、前記プルアップドライバ130又はプルダウンドライバ140が、プルアップ又はプルダウン動作を行って出力データData_outを出力する。
これと同時に、振幅補正部400は、前記タイミング調整された第1制御信号RCLK_d、タイミング調整された第1制御信号FCLK_dにより出力制御信号OEのイネーブル区間の間、前記第2制御信号DQSドライバ300と同一の信号を前記第2制御信号DQSドライバ300の出力端を介して出力する。
110,310…スイッチング部
120,320…駆動部
130,330…プルアップドライバ
140,340…プルダウンドライバ
200…タイミング補正部
210…第1遅延部
220…第2遅延部
300…第2制御信号DQSドライバ
400…振幅補正部
Claims (17)
- 半導体記憶装置の内部から読み出した複数のデータを第1制御信号に応じて前記半導体記憶装置の外部に出力する複数の第1ドライブ手段と、
前記第1制御信号を用いて前記第1ドライブ手段のデータ出力サイクルに同期した第2制御信号を生成して、前記半導体記憶装置の外部に出力する第2ドライブ手段と、
前記第1制御信号を用いて前記第2制御信号の振幅を補正する振幅補正手段と
を含むことを特徴とする半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第1制御信号は、第1位相を有する第1クロックと、
前記第1位相に比べて反転した第2位相を有する第2クロックと
を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第2ドライブ手段は、
駆動信号に応じて第2制御信号ドライブ動作を行うプルアップ及びプルダウンドライバと、
前記第1制御信号に応じて電源レベル又は接地レベルを出力するスイッチング部と、
前記スイッチング部の出力に応じて前記プルアップ及びプルダウンドライバを駆動する駆動部と
を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記振幅補正手段は、
駆動信号に応じて前記第2ドライブ手段の出力端レベルをドライブするプルアップ及びプルダウンドライバと、
前記第1制御信号に応じて電源レベル信号又は接地レベル信号を出力するスイッチング部と、
前記スイッチング部の出力に応じて前記プルアップ及びプルダウンドライバを駆動する駆動部と
を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 半導体記憶装置の内部から読み出した複数のデータを第1制御信号に応じて前記半導体記憶装置の外部に出力する複数のデータドライブ手段と、
タイミング調整された第1制御信号を用いて前記データドライブ手段のデータ出力サイクルに同期した第2制御信号を生成して、前記半導体記憶装置の外部に出力する第2制御信号ドライブ手段と、
前記タイミング調整された第1制御信号を用いて前記第2制御信号の振幅を補正する振幅補正手段と、
前記第1制御信号のタイミングを所定時間だけ調整して出力するタイミング補正手段と
を含むことを特徴とする半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第1制御信号は、第1位相を有する第1クロックと、
前記第1位相に比べて反転した第2位相を有する第2クロックと
を含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第1ドライブ手段は、
駆動信号に応じてデータドライブ動作を行うプルアップ及びプルダウンドライバと、
前記第1制御信号に応じて前記複数のデータのうちの1つを通過させるスイッチング部と、
前記スイッチング部の出力に応じて前記プルアップ及びプルダウンドライバを駆動する駆動部と
を含むことを特徴とする請求項1又は5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記スイッチング部は、
入力端に前記複数のデータのうちの1つが入力され、制御端に前記第1制御信号が入力される第1スイッチと、
入力端が前記第1スイッチの入力端と共通接続され、制御端に前記第1タイミング制御信号が入力され、出力端が前記第1スイッチの出力端と接続された第2スイッチと
を含むことを特徴とする請求項7に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第2ドライブ手段は、
駆動信号に応じて第2制御信号ドライブ動作を行うプルアップ及びプルダウンドライバと、
前記第1制御信号に応じて電源レベル信号又は接地レベル信号を出力するスイッチング部と、
前記スイッチング部の出力に応じて前記プルアップ及びプルダウンドライバを駆動する駆動部と
を含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記スイッチング部は、
入力端に電源レベルが入力され、制御端に前記第1制御信号が入力される第1スイッチと、
入力端に接地レベルが入力され、制御端に前記第1制御信号が入力され、出力端が前記第1スイッチの出力端と接続された第2スイッチと
を含むことを特徴とする請求項3又は9に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記振幅補正手段の出力端が、前記第2ドライブ手段の出力端と共通接続されることを特徴とする請求項1又は5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。
- 前記振幅補正手段は、
駆動信号に応じて前記第2ドライブ手段の出力端レベルをドライブするプルアップ及びプルダウンドライバと、
前記第1制御信号に応じて電源レベル又は接地レベルを出力するスイッチング部と、
前記スイッチング部の出力に応じて前記プルアップ及びプルダウンドライバを駆動する駆動部と
を含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記スイッチング部は、
入力端に電源レベルが入力され、制御端に前記第1制御信号が入力される第1スイッチと、
入力端に接地レベルが入力され、制御端に前記第1タイミング制御信号が入力され、出力端が前記第1スイッチの出力端と接続された第2スイッチと
を含むことを特徴とする請求項4又は12に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記駆動部は、
出力制御信号に応じて前記スイッチング部の出力が入力されて、前記プルアップドライバを駆動する第1論理回路と、
前記出力制御信号に応じて前記スイッチング部の出力が入力されて、前記プルダウンドライバを駆動する第2論理回路と
を含むことを特徴とする請求項3、4、7、請求項9及び請求項12のうちいずれか1つに記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第1論理回路は、
前記スイッチング部の出力が入力されるインバータと、
前記インバータの出力と前記出力制御信号が入力されるナンドゲートと
を含むことを特徴とする請求項14に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記第2論理回路は、
前記出力制御信号が入力されるインバータと、
反転したスイッチング部の出力と前記インバータの出力が入力されるノアゲートと
を含むことを特徴とする請求項14に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。 - 前記タイミング補正手段は、前記第1制御信号を所定時間遅延させる遅延部を含むことを特徴とする請求項5に記載の半導体記憶装置のデータ出力回路。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8593897B2 (en) | 2010-02-17 | 2013-11-26 | Elpida Memory, Inc. | Memory controller, semiconductor storage device, and memory system including the memory controller and the semiconductor storage device for outputting temperature value in low power consumption mode |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100911197B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로 |
KR20120111281A (ko) * | 2011-03-31 | 2012-10-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치의 데이터 출력 회로 |
KR20220023570A (ko) | 2020-08-21 | 2022-03-02 | 삼성전자주식회사 | 선택적 레벨 변경을 이용한 멀티 레벨 신호 생성 방법, 이를 이용한 데이터 전송 방법, 이를 수행하는 송신기 및 메모리 시스템 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10199239A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-31 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置 |
JPH11213666A (ja) * | 1998-01-30 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 出力回路および同期型半導体記憶装置 |
JP2001084773A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003007052A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置およびそれを用いたメモリシステム |
WO2003084161A1 (fr) * | 2002-03-29 | 2003-10-09 | Fujitsu Limited | Procede d'attaque, circuit d'attaque, procede d'emission au moyen d'un circuit d'attaque et circuit de commande |
JP2004111041A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Samsung Electronics Co Ltd | Sdr/ddr兼用半導体メモリ装置のデータ出力回路 |
JP2005032291A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6351172B1 (en) * | 2000-02-29 | 2002-02-26 | Dmel Inc. | High-speed output driver with an impedance adjustment scheme |
US6889336B2 (en) * | 2001-01-05 | 2005-05-03 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for improving output skew for synchronous integrate circuits has delay circuit for generating unique clock signal by applying programmable delay to delayed clock signal |
KR100480596B1 (ko) | 2002-04-03 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 업-슬루율 및 다운-슬루율, 업-드라이빙 세기 및다운-드라이빙 세기가 상호 독립적으로 조절되는 출력드라이버 회로 |
KR100510516B1 (ko) * | 2003-01-23 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 이중 데이터율 동기식 반도체 장치의 데이터 스트로브신호 발생 회로 |
KR100499417B1 (ko) * | 2003-07-15 | 2005-07-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디디알 에스디램에서의 링잉 현상 방지 방법 및 그 장치 |
KR100550796B1 (ko) * | 2003-12-11 | 2006-02-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 데이터 전송 장치 및 그 제어 방법 |
KR100554845B1 (ko) * | 2003-12-15 | 2006-03-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 dqs 신호 생성 회로 및 그 생성 방법 |
DE102004021694B4 (de) * | 2004-04-30 | 2010-03-11 | Qimonda Ag | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Steuern eines Schreibzugriffs auf einen Halbleiterspeicher |
KR100559737B1 (ko) * | 2005-03-14 | 2006-03-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치, 반도체 메모리 장치 및 반도체 장치의 데이터스트로브 제어 방법 |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10199239A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-31 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置 |
JPH11213666A (ja) * | 1998-01-30 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 出力回路および同期型半導体記憶装置 |
JP2001084773A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003007052A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置およびそれを用いたメモリシステム |
WO2003084161A1 (fr) * | 2002-03-29 | 2003-10-09 | Fujitsu Limited | Procede d'attaque, circuit d'attaque, procede d'emission au moyen d'un circuit d'attaque et circuit de commande |
JP2004111041A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Samsung Electronics Co Ltd | Sdr/ddr兼用半導体メモリ装置のデータ出力回路 |
JP2005032291A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8593897B2 (en) | 2010-02-17 | 2013-11-26 | Elpida Memory, Inc. | Memory controller, semiconductor storage device, and memory system including the memory controller and the semiconductor storage device for outputting temperature value in low power consumption mode |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US20070258293A1 (en) | 2007-11-08 |
KR20070108639A (ko) | 2007-11-13 |
CN101071626A (zh) | 2007-11-14 |
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