JP2007278755A - イオンビーム測定装置、測定方法およびイオンビーム照射装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 このイオンビーム測定装置40aは、イオン源2の多孔電極6から引き出されたイオンビーム10の一部を通過させる開口14を有する遮蔽板12と、開口14を通過したイオンビーム10のビーム電流を検出する検出器18と、それをx方向に移動させる検出器駆動装置24とを備えている。かつ、多孔電極6と検出器18間の距離をL、遮蔽板12と検出器18間の距離をd、x方向に関して、多孔電極6の各イオン引出し孔8の寸法をa、その間隔をp、開口14の寸法をb、検出器18の寸法をwとすると、次式の関係を満たしている。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a)
【選択図】 図1
Description
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器と、
前記検出器を、前記遮蔽板の開口の下流部を横切ってx軸に沿う方向に移動させる機能を有する検出器駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしていることを特徴としている。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a)
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器と、
前記検出器を、前記遮蔽板の複数の開口の下流部を横切ってx軸に沿う方向に移動させる機能を有する検出器駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の各開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、前記数1の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしており、
更に、前記距離dは、前記遮蔽板の複数の開口を通過したイオンビームが前記検出器に同時に入射する距離よりも小さくしていることを特徴としている。
θ=tan-1(σ/d−a/2L)
α=tan-1{(x0 −xs )/d}
{w(L−d)+bL}/d<(p−a)
xe =Ls/(L−d)
xf =L(s−t+b)/(L−d)+t
t={w(L−d)+bL}/d
t<(p−a)
σi =a/2+L・tanθ
σ=(a/2+L・tanθ)(d/L)
θ=tan-1(σ/d−a/2L)
α=tan-1{(x0 −xs )/d}
q>2d・tanβ+w+b
d<(q−w−b)/2tanβ
イオン引出し孔8の間隔p:3mm
検出器18の寸法w:2mm
距離L:380mm
距離d:320mm
開口14の寸法b:0.5mm
開口14の間隔q:80mm
イオンビーム10の最大発散角度β:5度
6 多孔電極
8 イオン引出し孔
10 イオンビーム
12 遮蔽板
14 開口
18 検出器
24 検出器駆動装置
25 検出器ユニット駆動装置
26 基板
30 基板駆動装置
32 検出器ユニット
40a〜40f イオンビーム測定装置
Claims (9)
- 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器と、
前記検出器を、前記遮蔽板の開口の下流部を横切ってx軸に沿う方向に移動させる機能を有する検出器駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器であってx軸に沿う方向に配列された複数の互いに実質的に同じ大きさの検出器を有する検出器ユニットとを備えており、
かつ、前記多孔電極と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記各検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数の開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器と、
前記検出器を、前記遮蔽板の複数の開口の下流部を横切ってx軸に沿う方向に移動させる機能を有する検出器駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の各開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしており、
更に、前記距離dは、前記遮蔽板の複数の開口を通過したイオンビームが前記検出器に同時に入射する距離よりも小さくしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数の開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられて、前記遮蔽板の各開口を通過したイオンビームのビーム電流をそれぞれ検出するものであって、少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさでありかつ前記遮蔽板の開口と実質的に同じ間隔でx軸に沿う方向に配列された複数の検出器と、
前記複数の検出器を、前記遮蔽板の対応する開口の下流部を横切ってx軸に沿う方向に一括して移動させる機能を有する検出器駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の各開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記各検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしており、
更に、前記距離dは、前記遮蔽板の複数の開口を通過したイオンビームが一つの検出器に同時に入射する距離よりも小さくしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数の開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の各開口の下流部にそれぞれ位置させられるものであって、前記遮蔽板の各開口を通過したイオンビームのビーム電流をそれぞれ検出する複数の検出器ユニットとを備えており、
前記各検出器ユニットは、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出するものであってx軸に沿う方向に配列された複数の互いに実質的に同じ大きさの検出器をそれぞれ有しており、
かつ、前記多孔電極と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の各開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記各検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしており、
更に、前記距離dは、前記遮蔽板の複数の開口を通過したイオンビームが前記各検出器ユニットを構成する検出器の内の任意の一つに同時に入射する距離よりも小さくしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えるイオン源からz軸に沿う方向に引き出されたイオンビームの空間分布を測定する装置であって、
前記イオン源の下流側にxy平面に沿って位置させられるものであって、前記イオンビームの一部を通過させる開口であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数の開口を有する遮蔽板と、
前記遮蔽板の下流側に位置させられるものであって、前記遮蔽板の開口を通過したイオンビームのビーム電流を検出する検出器であってx軸に沿う方向に配列された複数の互いに実質的に同じ大きさの計測器を有する検出器ユニットと、
前記検出器ユニットをx軸に沿う方向に移動させて、前記検出器ユニットを前記遮蔽板の複数の開口の下流部に順次位置させる機能を有する検出器ユニット駆動装置とを備えており、
かつ、前記多孔電極と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をL、前記遮蔽板と各検出器間のz軸に沿う方向の距離をd、前記多孔電極の各イオン引出し孔のx軸に沿う方向の寸法をa、同イオン引出し孔のx軸に沿う方向の間隔をp、前記遮蔽板の各開口のx軸に沿う方向の寸法をb、前記各検出器のx軸に沿う方向の寸法をwとすると、次式の関係またはそれと数学的に等価の関係を満たしており、
更に、前記距離dは、前記遮蔽板の複数の開口を通過したイオンビームが前記検出器ユニットを構成する検出器の内の任意の一つに同時に入射する距離よりも小さくしていることを特徴とするイオンビーム測定装置。
{w(L−d)+bL}/d<(p−a) - 請求項1ないし6のいずれかに記載のイオンビーム測定装置を用いて、前記イオン源から引き出されたイオンビームのx軸に沿う方向における空間分布を測定し、この測定によって得られた空間分布をガウス分布で近似して当該ガウス分布の標準偏差σを求め、この標準偏差σ、前記寸法a、前記距離Lおよび距離dを用いて、次式またはそれと数学的に等価の式に基づいて、前記イオンビームのx軸に沿う方向における発散角度θを求めることを特徴とするイオンビーム測定方法。
θ=tan-1(σ/d−a/2L) - 請求項1ないし6のいずれかに記載のイオンビーム測定装置を用いて、前記イオン源から引き出されたイオンビームのx軸に沿う方向における空間分布を測定し、この測定によって得られた空間分布をガウス分布で近似して当該ガウス分布のピーク値のx座標x0 を求め、このx座標x0 、前記空間分布を測定するのに用いた遮蔽板の開口の中心のx座標xs および前記距離dを用いて、次式またはそれと数学的に等価の式に基づいて、前記イオンビームのx軸に沿う方向における偏差角度αを求めることを特徴とするイオンビーム測定方法。
α=tan-1{(x0 −xs )/d} - 一点で互いに直交する三つの軸をx軸、y軸およびz軸とすると、xy平面に沿う電極であって少なくともx軸に沿う方向において互いに実質的に同じ大きさの複数のイオン引出し孔を実質的に等間隔で有する多孔電極を備えていて、y軸に沿う方向の寸法よりもx軸に沿う方向の寸法が大きい断面形状をしたイオンビームをz軸に沿う方向に引き出すイオン源と、
前記イオン源から引き出されたイオンビームの照射領域内で基板をy軸に沿う方向に移動させる機能を有する基板駆動装置と、
請求項1ないし6のいずれかに記載のイオンビーム測定装置とを備えていることを特徴とするイオンビーム照射装置。
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