JP2007256045A - カンチレバー、その使用方法、lsi検査装置及びリソグラフ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】カンチレバーの探針をヘテロカーボンナノチューブにより構成する。窒素やボロン等をドーピングすることでヘテロ化されたカーボンナノチューブは硬さが高く、剛性が優れている。このヘテロカーボンナノチューブをカンチレバーの探針に用いることにより、短針の撓みを防止でき、画像障害を抑制できる。
【選択図】図4
Description
Claims (11)
- 探針を試料表面に押し付ける接触式カンチレバーにおいて、前記探針がヘテロカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とする接触式カンチレバー。
- 請求項1において、前記探針がボロンまたは窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とする接触式カンチレバー。
- 請求項2において、前記ボロンまたは窒素の含有量が2〜5原子%であることを特徴とする接触式カンチレバー。
- 探針がヘテロカーボンナノチューブにより構成されているカンチレバーを試料表面に1〜20nNの押し圧で押し付けることを特徴とする接触式カンチレバーの使用方法。
- 請求項4において、前記探針がボロンまたは窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とする接触式カンチレバーの使用方法。
- カンチレバーと、前記カンチレバーの探針にLSI被検体が接触したことを検知する接触検知装置と、前記接触検知装置からの信号をフィードバックする前記LSI被検体のZ軸サーボ回路と、前記LSI被検体の二次元の面情報を取得するXY走査回路と、前記Z軸サーボ回路及び前記XY走査回路の信号を取り入れるCPUと、前記CPUに取り込まれた信号を画像表示するディスプレイを具備するLSI検査装置であり、前記カンチレバーの探針がヘテロカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするLSI検査装置。
- 請求項6において、前記探針がボロン又は窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするLSI検査装置。
- 請求項7において、前記探針がボロンまたは窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするLSI検査装置。
- 親水性の探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーとリソグラフ被検体が設置された試料台とを電気的に接続するリソグラフ電源と、前記カンチレバーの探針に前記リソグラフ被検体が接触したことを検知する接触検知装置と、前記接触検知装置からの信号をフィードバックする前記リソグラフ被検体のZ軸サーボ回路と、前記リソグラフ被検体と前記カンチレバーの探針との接触部に形成された吸着水に通電することによって陽極酸化された前記リソグラフ被検体の二次元の面情報を取得するXY走査回路と、前記Z軸サーボ回路及び前記XY走査回路の信号を取り入れるCPUと、前記CPUに取り込まれた信号を画像表示するディスプレイを具備するリソグラフ装置であり、前記カンチレバーの探針がヘテロカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするリソグラフ装置。
- 請求項9において、前記カンチレバーの探針がボロンまたは窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするリソグラフ装置。
- 請求項10において、前記探針がボロンまたは窒素を含有させたカーボンナノチューブにより構成されていることを特徴とするリソグラフ装置。
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