JP5382817B2 - 荷重測定装置 - Google Patents

荷重測定装置

Info

Publication number
JP5382817B2
JP5382817B2 JP2010547404A JP2010547404A JP5382817B2 JP 5382817 B2 JP5382817 B2 JP 5382817B2 JP 2010547404 A JP2010547404 A JP 2010547404A JP 2010547404 A JP2010547404 A JP 2010547404A JP 5382817 B2 JP5382817 B2 JP 5382817B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
load
beam member
displacement
plate
leg
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010547404A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010084662A1 (ja
Inventor
泰成 燈明
モハマド アブドゥス サラム アカンダ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku University NUC
Original Assignee
Tohoku University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku University NUC filed Critical Tohoku University NUC
Priority to JP2010547404A priority Critical patent/JP5382817B2/ja
Publication of JPWO2010084662A1 publication Critical patent/JPWO2010084662A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5382817B2 publication Critical patent/JP5382817B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q20/00Monitoring the movement or position of the probe
    • G01Q20/02Monitoring the movement or position of the probe by optical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y35/00Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/04Measuring force or stress, in general by measuring elastic deformation of gauges, e.g. of springs
    • G01L1/044Measuring force or stress, in general by measuring elastic deformation of gauges, e.g. of springs of leaf springs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/14Measuring force or stress, in general by measuring variations in capacitance or inductance of electrical elements, e.g. by measuring variations of frequency of electrical oscillators
    • G01L1/142Measuring force or stress, in general by measuring variations in capacitance or inductance of electrical elements, e.g. by measuring variations of frequency of electrical oscillators using capacitors

Description

本発明は、荷重測定装置に関する。
従来、マイクロやナノ領域における力の測定は、ピエゾ素子、ひずみゲージやピエゾ抵抗、静電容量や光学力センサのようなMEMS(Micro Electro Mechanical Systems;微小・電気機械システム)トランスデューサ(変換器)を用いて行われている。ピエゾ素子センサは、動的な力の検出に適しているが、構造上静的な力を検出することには適していない。これに対し、静電容量センサは、ピエゾ素子センサと比較して感度や安定性に優れている(例えば、特許文献1参照)。また、光学力センサは、その構成が大掛かりで高価であるが、現状において最も高感度な力の測定を実現できている。
従来のMEMSトランスデューサとして、カンチレバー(片持ち梁)とレーザ変位計とを有するものがある(例えば、特許文献2参照)。このMEMSトランスデューサは、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope;AFM)等で利用されており、カンチレバー先端に固定されたチップが測定対象物に接触するとカンチレバーがたわみ、そのたわみをレーザ変位計で検出し、検出した変位量に基づいて微小力を求めるよう構成されている。
特許第3240390号公報 特開2004−205381号公報
しかしながら、特許文献1や特許文献2に記載のような従来の測定装置では、測定範囲が固定されて変更できず、狭いという課題があった。また、特許文献2に記載のMEMSトランスデューサでは、カンチレバーのたわみが増すごとに、チップが測定対象物の表面に対して首振りの回転運動を起こすため、チップの変位量とチップに加わった力とが非線形関係になり、測定範囲の縮小や測定精度の低下が生じるという課題もあった。
本発明は、このような課題に着目してなされたもので、測定範囲を拡げることができる高精度な荷重測定装置を提供することを目的としている。
本発明者等は、従来の測定装置での測定範囲が狭いという課題に対して、支持位置と荷重部(チップ)との距離を変更可能にすることにより、荷重部に加わる力に対する荷重部の変位量を調整可能にし、これにより、荷重部に加わる力の大きさに応じて、荷重部の変位量が、変位センサが測定可能な変位範囲内になるよう調整して、測定範囲を拡げることができることを見出した。また、本発明者等は、従来の測定装置での、チップの変位量とチップに加わった力とが非線形関係になり、測定範囲の縮小や測定精度の低下が生じるという課題に対して、支持位置と荷重部との距離に関係なく、荷重部の変位量と荷重部に加わった力とを常に線形関係に保つことにより、高精度に測定を行うことができることを見出した。こうして、本発明者等は、本発明に至った。
すなわち、本発明に係る荷重測定装置は、細長く、一端に荷重部が設けられた梁部材と、前記梁部材の前記荷重部より他端側で前記梁部材を支持する支持部材と、前記荷重部の変位を測定可能に設けられた変位センサとを有し、前記梁部材は、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置された細長い1対の板状脚部と、前記荷重部側の各板状脚部の端部を連結する連結部とを有し、細長い板状の部材の両端部を中央部に対して同じ方向に垂直に折り曲げることにより、中央部が連結部を成し、折り曲げられた両端部が各板状脚部を成すよう形成され、前記支持部材による支持位置と前記荷重部との距離を変更可能に、各板状脚部の長さ方向に沿ってスライドするよう前記支持部材に支持されており、前記荷重部は針状のチップから成り、一方の板状脚部の表面から垂直に突出するよう前記梁部材の一端に固定され、前記変位センサは前記荷重部の突出方向の変位を測定可能であることを、特徴とする。
本発明に係る荷重測定装置は、以下のようにして使用される。まず、梁部材の一端の荷重部に測定対象物が接触して、各板状脚部の厚さ方向に力が加わると、梁部材の各板状脚部がたわんで、荷重部が各板状脚部の厚さ方向に移動する。このとき、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置された細長い1対の板状脚部の荷重部側の端部を連結部で連結しているため、荷重部での各板状脚部の表面が、変位前の各板状脚部の厚さ方向に対して垂直の状態を維持したまま荷重部が移動する。これにより、荷重部が測定対象物に対して回転運動を起こすのを防ぐことができ、荷重部の変位量と荷重部に加わった力とを線形関係に保つことができる。
次に、荷重部の変位を変位センサで検出し、検出した変位量に基づいて荷重部に加わった力を求める。このとき、荷重部の変位量と荷重部に加わった力とが線形関係であるため、非線形関係の場合と比べて、高精度で荷重部に加わった力を求めることができる。荷重部が測定対象物に対して回転運動を起こさないため、荷重部や各板状部材に対する変位センサの配置によっては、回転運動する場合に比べて、測定範囲を広く保つことができる。
本発明に係る荷重測定装置は、支持部材による支持位置と荷重部との距離を変更することにより、荷重部に加わる力に対する荷重部の変位量を調整することができる。このため、荷重部に加わる力の大きさに応じて、荷重部の変位量が、変位センサが測定可能な変位範囲内になるよう調整することができ、測定範囲を拡げることができる。また、剛性が異なる梁部材をあらかじめ複数準備しておき、各梁部材を適宜交換することにより、荷重部に加わる所定の大きさの力に対する荷重部の変位量を変えることができ、測定範囲をさらに拡げることができるとともに、測定範囲を柔軟に調整することができる。
梁部材が一枚の板状部材から成る場合、支持部材による支持位置と荷重部との距離を変更すると、その距離に応じた曲率で、力が加わった荷重部が測定対象物に対して回転運動を起こす。すなわち、支持部材による支持位置と荷重部との距離が短いほど、荷重部の回転運動の曲率が大きくなり、荷重部の変位量と荷重部に加わった力との非線形性が高くなって測定精度が低下する。これに対し、本発明に係る荷重測定装置は、梁部材が、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置された細長い1対の板状脚部の荷重部側の端部を連結部で連結しているため、支持部材による支持位置と荷重部との距離を変更しても、その距離に関係なく、荷重部での各板状脚部の表面が、変位前の各板状脚部の厚さ方向に対して常に垂直の状態を維持したまま荷重部が移動する。このため、支持部材による支持位置と荷重部との距離に関係なく、荷重部の変位量と荷重部に加わった力とを常に線形関係に保つことができ、高精度に測定を行うことができる。
梁部材が、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置された細長い1対の板状脚部の荷重部側の端部を連結部で連結しているため、各板状部材の幅方向にはたわみにくく、ねじれにくい。このため、荷重部に加わる力の内、各板状部材の厚さ方向の力を高精度で測定することができる。本発明に係る荷重測定装置は、梁部材を、一枚の細長い板状部材から容易に形成することができる。また、梁部材の支持部材による支持位置と荷重部との距離を調整しやすい。荷重部のチップの先端に加わる、各板状部材の厚さ方向の力を、より高精度に測定することができる。
本発明に係る荷重測定装置で、前記変位センサは静電容量センサから成り、測定可能な最大の力を10μNから0.1Nの範囲まで変更可能であり、人毛の曲げ試験に使用されることが好ましい。この場合、荷重部での各板状脚部の表面が、変位前の各板状脚部の厚さ方向に対して垂直の状態を維持したまま荷重部が移動するため、荷重部の変位を、各板状脚部の表面との距離の変化として静電容量センサで容易かつ高精度に測定することができる。このため、構成が大掛かりで高価なレーザを利用した変位計を使用しなくとも、十分な精度で測定を行うことができる。レーザを利用した変位計を使用する場合と比べ、簡単な構成で、小型かつ安価に製造することができる。また、装置全体を一体化するのも容易である。
本発明に係る荷重測定装置で、各板状脚部は細長い矩形状で、幅方向の中央部に長さ方向に沿って設けられた細長い穴から成るスロットを有し、前記梁部材は各板状脚部の連結部側の端部に、1対の円形のチップ固定部を有し、一方のチップ固定部の中央に貫通孔が形成されており、前記荷重部は前記貫通孔に貫通させて固定されていてもよい。この場合、スロットにより、梁部材の断面2次モーメントやばね定数を変更することなく、各板状脚部の幅を広くすることができる。これにより、梁部材の幅方向に対するねじり剛性を高くすることができるため、梁部材のねじりをさらに抑制することができる。また、スロットを設けることにより、梁部材の剛性を小さくすることができ、梁部材をたわみやすくして荷重に対する感度を高めることができる。スロットの長さや幅を変えることにより、任意の剛性を有する梁部材を形成することができる。
本発明に係る荷重測定装置で、前記梁部材は複数から成り、互いに剛性が異なっており、各梁部材の内、最も剛性が大きい梁部材を既存の荷重センサにより校正可能であり、校正された梁部材により前記変位センサを校正可能であり、さらに校正された梁部材および前記変位センサにより他の梁部材を校正可能であってもよい。この場合、各梁部材の荷重部の変位量と荷重部に加わった力とが線形関係であるため、孫校正となるものであっても、各梁部材および変位センサの校正を高精度で行うことができる。このため、剛性が小さく、既存の荷重センサでは校正できない梁部材であっても、高精度で校正することができる。
本発明に係る荷重測定装置は、前記板状脚部の幅方向から、変位前後の前記荷重部を撮影可能に設けられた撮影手段を有していてもよい。この場合、荷重部の変位を見ながら、測定を行うことができ、測定の実施状態の確認が容易である。このため、微細な材料の試験装置など、変位状態を確認しながら測定を行う装置に搭載して使用されると、特に効果的である。
本発明に係る荷重測定装置で、前記梁部材は厚さ100μmのステンレス薄板からエッチングにより抜き出した部材から形成されており、前記荷重部は直径20μmのタングステンワイヤの先端をFIB加工して成り、紫外光硬化性のポリエステル樹脂を用いて前記梁部材に固定されていてもよい。
本発明によれば、測定範囲を拡げることができる高精度な荷重測定装置を提供することができる。
本発明の実施の形態の荷重測定装置を示す側面図である。 図1に示す荷重測定装置の梁部材を形成する板状の部材を示す平面図である。 (a)従来の荷重測定器の構造(一重はり構造カンチレバー)を示す側面図、(b)図1に示す荷重測定装置の構造(二重はり構造カンチレバー)を示す側面図である。 図3(a)に示す一重はり構造カンチレバーの(a)はりの長さ(Cantileverlength;L)と利用可能な変位範囲(Deflection range)との関係を示すグラフ、(b)様々な長さ(L)のはりにおける、比静電容量(C/Cp)と変位(Deflection;δy,s)との関係を示すグラフである。 図1に示す荷重測定装置の梁部材の校正方法を示すブロック図である。 図5に示す校正方法の第一段階(step I)での、与えた変位(Piezo displacement)と梁部材の反力(Force)との関係を示すグラフである。 図5に示す校正方法の第一段階(step I)での、カンチレバーの変位(Cantilever deflection)と静電容量センサの出力の変化(Change in CS output)との関係を示すグラフである。 図5に示す校正方法の第二段階(step II)での、(a)与えた変位(Piezo displacement;δPZT)と静電容量センサの出力(CS output, ΔV)との関係を示すグラフ、(b)Cant.-1およびCant.-2の変位(Deflection)と荷重(Force)との関係を示すグラフである。 図1に示す荷重測定装置の梁部材であるCant.-1およびCant.-2の、検出最大変位(δy,d)が異なる2種類の静電容量センサを用いたときの、支持部材による支持位置と荷重部との距離(Length;L)と測定可能な最大の力(Maximum force;Fmax)との関係を示すグラフである。 図1に示す荷重測定装置の微小力測定実験に用いた振り子の(a)吊り下げ状態(Free hanging)を示す側面図、(b)変位(δ)を与えたときの状態(Under loading)を示す側面図である。 図1に示す荷重測定装置の、図10に示す振り子を用いた微小力測定実験の結果の、力(Force;F)と変位(Displacement;δ)との関係を示すグラフである。 図1に示す荷重測定装置の、人毛を用いた曲げ試験の結果の(a)梁部材の変位(δ)と荷重(F)との関係を示すグラフ、(b)梁部材の変位(δ)とFL3/(3I)との関係を示すグラフである。
以下、図面に基づき本発明の実施の形態について説明する。
図1乃至図12は、本発明の実施の形態の荷重測定装置を示している。
図1および図2に示すように、荷重測定装置10は、支持部材11と梁部材12と荷重部13と変位センサ14とを有している。
図1に示すように、支持部材11は、XYZステージ(XYZ stage)21とピエゾステージ(Piezo stage)22と長さ調整ジグ(Length adjustable jig-fixture)23とセンサホルダ(Sensor holder)24とを有している。XYZステージ21は、水平2軸(XY)方向および高さ(Z)方向の位置を調整可能になっている。ピエゾステージ22は、コンピュータ制御により、高い位置精度で水平2軸(XY)方向に微小移動可能になっている。ピエゾステージ22は、XYZステージ21の上に載置されている。
長さ調整ジグ23は、L型の側面形状を成し、一方の腕部分23aがピエゾステージ22より鉛直下方に垂れ下がるよう、他方の腕部分23bをピエゾステージ22の上に水平に載置して取り付けられている。センサホルダ24は、長さ調整ジグ23の他方の腕部分23bの上に取り付けられている。センサホルダ24は、長さ調整ジグ23の一方の腕部分23aの方向に向かって水平に伸びている。
図2に示すように、梁部材(カンチレバー;Double-beam cantilever)12は、ステンレス製の細長い板状の部材から形成されている。梁部材12は、中央の矩形状の連結部25と、その両端側の細長い1対の板状脚部26とを有している。梁部材12は、中央の連結部25に対して、図2中の点線部で、その両端側の各板状脚部26を同じ方向に垂直に折り曲げて形成されている。これにより、各板状脚部26は、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置され、連結部25は、各板状脚部26の一端部を連結するよう構成されている。
梁部材12は、各板状脚部26の連結部25側の端部に、1対の円形のチップ固定部27を有している。梁部材12は、一方のチップ固定部27の中央に貫通孔27aが形成されている。梁部材12は、各板状脚部26の幅方向の中央部に、各板状脚部26の長さ方向に沿って設けられた細長い穴から成るスロット(slot)28を有している。なお、図2に示す具体的な一例では、梁部材12は、厚さ100μm、80×50μmのステンレス薄板から、エッチングにより抜き出した部材から形成されている。また、連結部25は、長さが約4mm、幅が2mmである。各板状脚部26は、長さが約41mm、幅が2mmである。チップ固定部27の径は2.5mm、貫通孔27aの径は1mmである。
図1に示すように、梁部材12は、支持部材11の長さ調整ジグ23の一方の腕部分23aの下端部に、各板状脚部26で取り付けられている。梁部材12は、連結部25を上にした状態で、各板状脚部26が鉛直になるよう取り付けられている。また、梁部材12は、各板状脚部26の厚さ方向が、センサホルダ24の伸び方向に沿うよう取り付けられている。梁部材12は、長さ調整ジグ23側の板状脚部26と長さ調整ジグ23との間、および、各板状脚部26の間にそれぞれスペーサ29(Spacers)を挟み、ナット30(Nut-screw)により長さ調整ジグ23に取り付けられている。梁部材12は、ナット30を緩めたり締めたりすることにより、各板状脚部26の長さ方向に沿ってスライド可能に、支持部材11に支持されている。
図1に示すように、荷重部(Loading Probe)13は、針状のチップから成り、梁部材12の上端の、チップ固定部27の貫通孔27aに貫通させて固定されている。荷重部13は、長さ調整ジグ23とは反対側の板状脚部26の表面から垂直に突出するよう、各チップ固定部27の間に樹脂を充填して固定されている。荷重部13は、例えば、直径20μmのタングステンワイヤの先端をFIB加工して成り、紫外光硬化性のポリエステル樹脂(Polyester resin)を用いて梁部材12に固定されている。
なお、梁部材12は、支持部材11による支持位置、すなわちナット30による固定位置と、荷重部13との距離を変更可能に、支持部材11に支持されている。また、梁部材12は、荷重部13よりも下端側で、支持部材11に支持されている。
図1に示すように、変位センサ14は、静電容量センサ(Capacitive sensor)から成り、支持部材11のセンサホルダ24の先端に取り付けられている。変位センサ14は、長さ調整ジグ23側の板状脚部26の上端部の表面との間に隙間(Sensor gap)をあけて、その表面に対向するよう取り付けられ、その表面との距離の変化を測定可能になっている。これにより、変位センサ14は、その表面とは反対側に取り付けられた荷重部13の突出方向、すなわち各板状脚部26の厚さ方向の変位を測定可能になっている。なお、変位センサ14は、押し付け力、引き付け力のどちらか、または両方を測定するかで、梁部材12との初期隙間をピエゾステージ22により変更可能になっている。
次に、作用について説明する。
荷重測定装置10は、以下のようにして使用される。まず、荷重部13の先端に測定対象物が接触して、各板状脚部26の厚さ方向に力が加わると、梁部材12の各板状脚部26がたわんで、荷重部13が各板状脚部26の厚さ方向に移動する。このとき、各板状脚部26の荷重部13側の端部を、樹脂を使用して連結部25で剛に連結しているため、荷重部13が、変位前の各板状脚部26の厚さ方向に平行な状態を維持したまま移動する。これにより、荷重部13が測定対象物に対して回転運動を起こすのを防ぐことができ、荷重部13の変位量と荷重部13に加わった力とを線形関係に保つことができる。また、荷重部13と測定対象物の表面との間に摩擦が発生するのを防ぐこともできる。
次に、荷重部13の変位を変位センサ14で検出し、検出した変位量に基づいて荷重部13に加わった力を求める。このとき、荷重部13の変位量と荷重部13に加わった力とが線形関係であるため、非線形関係の場合と比べて、高精度で荷重部13に加わった力を求めることができる。荷重部13が測定対象物に対して回転運動を起こさないため、回転運動する場合に比べて、測定範囲を広く保つことができる。
これらのことを、従来のAFM等で利用される荷重測定器と比較して検討を行う。従来の荷重測定器の構造(以下、「一重はり構造カンチレバー」と呼ぶ)を図3(a)に、本発明の実施の形態の荷重測定装置10の構造(以下、「二重はり構造カンチレバー」と呼ぶ)を図3(b)に示す。ここで、二重はり構造カンチレバーでは、連結部25の側の自由端におけるはり支持部が剛(Rigid joint)であることが鍵である。
図3に示した直交座標系において、荷重Fはy方向に加わる。この場合、長さLの一重はり構造カンチレバーおよび二重はり構造カンチレバーのy方向の変位は、それぞれ(1)式および(2)式で与えられる。
Figure 0005382817
従来の一重はり構造カンチレバーおよび二重はり構造カンチレバーの中立軸におけるたわみ角は、それぞれ(3)式および(4)式で与えられる。
Figure 0005382817
(3)式より、従来の一重はり構造カンチレバーでは、自由端(x=0)における回転が最大で(θs = 1.5δy,s/L)となるのに対し、(4)式に示す二重はり構造カンチレバーではゼロであり、梁部材12の先端付近に取り付けられる荷重部13に回転運動を生じない。
従来の一重はり構造カンチレバーに取り付けたチップ(二重はり構造カンチレバーの荷重部13に対応)の先端におけるx方向変位は、
Figure 0005382817
である。(5)式より、δx,s/δy,sはl/Lの1.5倍である。通常、試験領域は非常に小さく、カンチレバー(二重はり構造カンチレバーの梁部材12に対応)の先端のチップは、観察およびアクセス性の観点からそれなりの長さが要求される。しかしながら、チップの横方向の動きは、力観察点が変更することになるので避けたい。これに対し、二重はり構造カンチレバーの荷重部13の先端におけるx方向変位はδy,d×10-3のオーダであり、無視できる。
静電容量センサ(CS)には測定可能な隙間範囲が存在するが、一重はり構造カンチレバーがたわんだ場合にカンチレバー(Cantilever)とセンサとの並行度が保たれず、これにより、力測定範囲の減少と測定精度の低下とが生じる。静電容量センサの直径をdとした場合、一重はり構造カンチレバーの可能な変位(δm)は(6)式で与えられる。
Figure 0005382817
一重はり構造カンチレバーの利用可能な変位範囲(Deflection range)(δm/δg)×100の例を、カンチレバーの長さ(Cantilever length)Lの関数として図4(a)に示す。ここではd=2.36と2.84mm、δg=25と50μmについて計算した。図4(a)に示すように、Lを小さくするほど、利用可能なセンサ範囲が小さくなることがわかる。一方、二重はり構造カンチレバーでは、利用可能なセンサ範囲は、Lに依らず常に100%である。
静電容量センサでは、センサと並行に配置した導体との間の静電容量変化を利用して隙間を測る。ここで、センサと導体との並行度が低下した場合、隙間と静電容量変化との比例関係がずれ、この非線形挙動は隙間測定誤差、すなわち力測定誤差につながる。二枚の導体を隔てた系における静電容量変化は、(7)式で近似できる。
Figure 0005382817
図4(b)に、理論的に求めた、一重はり構造カンチレバーのC/Cpと変位(Deflection)δy,sとの関係を示す。ここでは、R = 0.535mm、δg = 25μmを仮定した。図4(b)に示すように、C/Cpは、δy,sが増加するほど、また、Lが小さくなるほど大きくなることがわかる。また、C/Cpがδy,sと比例関係にないところにおいては、隙間が誤って測定されることとなり、力測定精度が低下することがわかる。一方、二重はり構造カンチレバーでは、常に梁部材12と静電容量センサとが並行に保たれるので、C/Cpは常に1であり、測定範囲に対する力測定精度の低下は生じない。
一重はり構造カンチレバーの場合、図4(b)に示すように、カンチレバーの支持位置とチップとの距離、すなわちカンチレバーの長さLを変更すると、その距離に応じた曲率で、力が加わったチップが測定対象物に対して回転運動を起こす。すなわち、カンチレバーの支持位置とチップとの距離が短いほど、チップの回転運動の曲率が大きくなり、チップの変位量とチップに加わった力との非線形性が高くなって測定精度が低下する。これに対し、二重はり構造カンチレバーでは、支持部材11による支持位置と荷重部13との距離を変更しても、その距離に関係なく、荷重部13が、変位前の各板状脚部26の厚さ方向に対して常に平行な状態を維持したまま移動する。このため、支持部材11による支持位置と荷重部13との距離に関係なく、荷重部13の変位量と荷重部13に加わった力とを常に線形関係に保つことができ、高精度に測定を行うことができる。
このように、荷重測定装置10では、荷重部13が、測定対象物に対して回転運動を起こさず、変位前の各板状脚部26の厚さ方向に平行な状態を維持したまま移動するため、荷重部13の変位を、各板状脚部26の表面との距離の変化として静電容量センサで容易かつ高精度に測定することができる。このため、構成が大掛かりで高価なレーザを利用した変位計を使用しなくとも、十分な精度で測定を行うことができる。レーザを利用した変位計を使用する場合と比べ、簡単な構成で、小型かつ安価に製造することができる。また、装置全体を一体化するのも容易である。
荷重測定装置10は、ナット30を利用したシンプルなねじ機構により、支持部材11による支持位置と荷重部13との距離を容易かつ自在に変更することができる。このため、梁部材12を交換することなく、荷重部13に加わる力に対する荷重部13の変位量を調整することができる。このため、荷重部13に加わる力の大きさに応じて、荷重部13の変位量が、変位センサ14が測定可能な変位範囲内になるよう調整することができ、測定範囲を拡げることができる。
なお、剛性が異なる梁部材12をあらかじめ複数準備しておき、各梁部材12を適宜交換することにより、荷重部13に加わる所定の大きさの力に対する荷重部13の変位量を変えることができ、測定範囲をさらに拡げることができるとともに、測定範囲を柔軟に調整することができる。
荷重測定装置10では、梁部材12のスロット28により、梁部材12の断面2次モーメントやばね定数を変更することなく、各板状脚部26の幅を広くすることができる。これにより、梁部材12の幅方向に対するねじり剛性を高くすることができるため、梁部材12のねじりをさらに抑制することができ、変位センサ14の静電容量センサと板状脚部26との間の並行度を保つことができる。このため、荷重部13に加わる力を、高精度で測定することができる。また、スロット28を設けることにより、梁部材12の剛性を小さくすることができ、梁部材12をたわみやすくして荷重に対する感度を高めることができる。穴の長さや幅を変えることにより、任意の剛性を有する梁部材12を形成することができる。
なお、梁部材12の剛性(stiffness)kは、(8)式で与えられる。(8)式より、kはLに依存するため、これを利用して所望のkを有する梁部材12を容易に得ることができる。
Figure 0005382817
なお、荷重測定装置10は、板状脚部26の幅方向から、変位前後の荷重部13を撮影可能に設けられた撮影手段を有していてもよい。この場合、荷重部13の変位を見ながら、測定を行うことができ、測定の実施状態の確認が容易である。このため、微細な材料の試験装置など、変位状態を確認しながら測定を行う装置に搭載して使用されると、特に効果的である。
変位センサ14として、測定範囲が25μmおよび50μmの2種類の静電容量センサを用いた。出力電圧は、それぞれ0.4V/μmおよび0.2V/μmであった。この2種類の静電容量センサを交換することで、測定力範囲を変更できる。また、梁部材12として、剛性(k値)が10μN/μmのカンチレバー(以下、「Cant.-1」と呼ぶ)、および1μN/μmのカンチレバー(以下、「Cant.-2」と呼ぶ)を作製した。k値は、E=207GPaと仮定して(8)式より計算した。両カンチレバーの寸法詳細を、表1に示す。
Figure 0005382817
図5に示すように、カンチレバーの校正は、二段階で行った。第一段階(step I)では、市販の荷重センサ(最小検出荷重は大)を用いて、kの大きなCant.-1のkを実測し、次いで、このCant.-1を用いて静電容量センサの校正を行う。第二段階(step II)では、校正したCant.-1を用いて、よりkの小さなCant.-2の校正を行う。
[Cant.-1の校正]
Cant.-1は、市販の荷重センサ(測定範囲20mN、精度0.025mN)を用いて校正した。ピエゾステージ22によりカンチレバーの先端部に50μmまで1μmステップで強制変位(Piezo displacement)を与えたときに、静電容量センサで検出されたはりの反力(Force)を、図6に示す。50μmの変位に対して0.5mNの反力が生じたが、これは用いた静電容量センサの測定範囲の僅か2.5%である。得られたデータを最小二乗近似して得られた近似曲線の傾きは9.87μN/μmであった。ロードセルの剛性(stiffness)は167μN/μmであり、ロードセルの変形を考慮することでCant.-1の剛性はk1 = 10.5μN/μmと求まった。
校正したCant.-1と静電容量センサ(測定範囲25μm)とを隙間を設けて配置した。ピエゾステージ22によりCant.-1に強制変位を与えたときの、静電容量センサ出力の変化(Change in CS output)とカンチレバーの変位(Cantilever deflection)との関係を、図7に示す。実験データを最小二乗近似して、静電容量センサの感度はSCP = 0.4V/μmと求まった。25μm範囲の静電容量センサとCant.-1とを組み合わせる場合、力測定感度は26.25μN/Vとなり、0〜10V静電容量センサ出力に対する力測定範囲は0〜262.5μNとなる。当然のことながら、Cant.-1と測定範囲が倍の50μm静電容量センサとを組み合わせた場合の力測定範囲は倍になる。
[Cant.-2の校正]
Cant.-2の校正には、先に校正したCant.-1を用いる。Cant.-2を固定し、ピエゾステージ22に取り付けたCant.-1により先端部に負荷した。図8(a)に、ピエゾステージ22の変位(Piezo displacement)δPZTと静電容量センサ出力(CS output, ΔV)との関係を示す。両者には良い線形関係が認められる。Cant.-1により先端部に負荷した力F、Cant.-1の変位δ1、Cant.-2の変位δ2は、それぞれ(9)〜(11)式で与えられる。
Figure 0005382817
実験結果から得られたCant.-1およびCant.-2の変位(Deflection)と荷重(Force)との関係を、図8(b)に示す。両カンチレバーともに、良い線形関係が認められる。これより、Cant.-2のkは1.10μN/μmと求まった。表1に、両カンチレバーに対するkの予測値を示したが、実測値と予測値とはよく一致している。このように、各カンチレバーの荷重部13の変位量と荷重部13に加わった力とが線形関係であるため、各カンチレバーおよび静電容量センサの校正を高精度で行うことができる。このため、剛性が小さく、既存の荷重センサでは校正できないカンチレバーであっても、高精度で校正することができる。
25μm範囲の静電容量センサとCant.-2とを組み合わせる場合、力測定感度は2.75μN/Vとなり、0〜10V静電容量センサ出力に対する力測定範囲は0〜27.5μNとなる。もちろん、力の測定範囲は、二重カンチレバーのたわみを制御することで容易に変更できる。例えば、二重カンチレバーの長さを5.9mm(全長の1/5)にしたならば、(8)式よりkは137.5μN/μm (=1.10×53)となり、測定範囲は125倍になる。また、力測定精度について、本実験配置とCant-2とで実現される最小計測力はおよそ100nNと推定される。
[測定範囲]
静電容量センサの検出最大変位をδy,dとした場合、測定可能な最大の力(Maximum force;Fmax)は、(12)式で求まる。
Figure 0005382817
Cant.-1およびCant.-2を用いる場合のFmaxを、支持部材11による支持位置と荷重部13との距離(Length)Lの関数として、図9に示す。Fmaxは、図9に示したLの範囲において10μNから0.1Nの範囲まで変動している。この場合、測定可能な力範囲は0〜Fmaxとなるが、静電容量センサの最小検出変位に対する最小検出力は、Fmaxが小さいほど小さく、力分解能が向上するため、対象の力範囲に対して適切なFmaxの下で、力センシングを行うのが望ましい。
図10に示す小さな振り子を用いて、微小力測定に関する実験を行った。振り子は、金属製で、長さ66mm、幅1.5mm、厚さ100μmであり、薄いポリエチレンフィルム(Polyethylene thin film)で固定具に吊るされている。この振り子には重力が作用するが、その作用点(重心c.g)は振り子の中央である。実験にはCant.-2を用い、振り子上端からaの位置に、ピエゾステージ22により1.0μmステップで強制変位を与えたときの反力を測定した。aは、5.8mm、10.3mm、19.8mmの3通りであり、a = 19.8mmでは逆向きの変位を与える行程についても計測を行った。
図11に、実験により得られた、力(Force;F)と変位(Displacement;δ)との関係(F-δ関係)を示す。図11に示すように、aが増加する程、反力は低下することが確認された。特に、a = 19.8mmの実験において、0〜3.5μN範囲の微小力を、精度よく検出できていることが確認された。また、逆向きの変位(Reverse)を与えた場合の測定結果が、順向き(Forward)のそれとよく一致しており、計測の再現性が極めて良いことも確認できた。
力(F)は、理論的に(13)式で与えられる。
Figure 0005382817
3つの場合(a = 5.8, 10.3 and 19.8mm)の、(13)式による理論値も図11に実線で示したが、実験値は理論値とよく一致している。
直径の異なる4本の人毛サンプルに対して、曲げ試験を行った。それぞれのサンプルは、光硬化樹脂によって、ニードルチップの先端に固定されている。各サンプルの(直径D、固定長さL)は、それぞれ(89.9μm、2078μm)、(52.4μm、1000μm)、(37.6μm、1000μm)、(52.9μm、900μm)である。実験にはCant.-1を用いた。得られた変位(δ)と荷重(F)との関係を、図12(a)に示す。図12(a)に示すように、人毛サンプルの曲げ挙動は線形的であり、弾性的な挙動を示すことが確認された。
また、図12(b)に示すように、人毛の弾性率は、FL3/(3I)−δ関係の傾きで与えられる。ここで、I = πD4/64である。図12(b)に示すように、異なる4本の人毛の関係が一本の直線で近似でき、その弾性率が2.6±0.1GPaであることが確認された。
これまで、微小力を測定可能な荷重測定装置として、mNレンジやnNレンジの力の測定に適したものは存在していたが、その間のμNレンジの力の測定に適した高精度のものは存在していなかった。これに対し、本発明の実施の形態の荷重測定装置10は、μNレンジの力を高精度かつ容易に測定することができ、μNレンジの力の測定に最も適した、これまでにない全く新しいタイプの測定装置である。
10 荷重測定装置
11 支持部材
12 梁部材
13 荷重部
14 変位センサ
21 XYZステージ
22 ピエゾステージ
23 長さ調整ジグ
24 センサホルダ
25 連結部
26 板状脚部
27 チップ固定部
28 スロット
29 スペーサ
30 ナット

Claims (6)

  1. 細長く、一端に荷重部が設けられた梁部材と、
    前記梁部材の前記荷重部より他端側で前記梁部材を支持する支持部材と、
    前記荷重部の変位を測定可能に設けられた変位センサとを有し、
    前記梁部材は、厚さ方向に間隔を開けて互いに平行に配置された細長い1対の板状脚部と、前記荷重部側の各板状脚部の端部を連結する連結部とを有し、細長い板状の部材の両端部を中央部に対して同じ方向に垂直に折り曲げることにより、中央部が連結部を成し、折り曲げられた両端部が各板状脚部を成すよう形成され、前記支持部材による支持位置と前記荷重部との距離を変更可能に、各板状脚部の長さ方向に沿ってスライドするよう前記支持部材に支持されており、
    前記荷重部は針状のチップから成り、一方の板状脚部の表面から垂直に突出するよう前記梁部材の一端に固定され、
    前記変位センサは前記荷重部の突出方向の変位を測定可能であることを、
    特徴とする荷重測定装置。
  2. 前記変位センサは静電容量センサから成り、
    測定可能な最大の力を10μNから0.1Nの範囲まで変更可能であり、人毛の曲げ試験に使用されることを、
    特徴とする請求項1記載の荷重測定装置。
  3. 各板状脚部は細長い矩形状で、幅方向の中央部に長さ方向に沿って設けられた細長い穴から成るスロットを有し、
    前記梁部材は各板状脚部の連結部側の端部に、1対の円形のチップ固定部を有し、一方のチップ固定部の中央に貫通孔が形成されており、
    前記荷重部は前記貫通孔に貫通させて固定されていることを、
    特徴とする請求項1または2記載の荷重測定装置。
  4. 前記梁部材は複数から成り、互いに剛性が異なっており、各梁部材の内、最も剛性が大きい梁部材を既存の荷重センサにより校正可能であり、校正された梁部材により前記変位センサを校正可能であり、さらに校正された梁部材および前記変位センサにより他の梁部材を校正可能であることを、特徴とする請求項1、2または3記載の荷重測定装置。
  5. 前記板状脚部の幅方向から、変位前後の前記荷重部を撮影可能に設けられた撮影手段を有することを、特徴とする請求項1、2、3または記載の荷重測定装置。
  6. 前記梁部材は厚さ100μmのステンレス薄板からエッチングにより抜き出した部材から形成されており、
    前記荷重部は直径20μmのタングステンワイヤの先端をFIB加工して成り、紫外光硬化性のポリエステル樹脂を用いて前記梁部材に固定されていることを、
    特徴とする請求項1、2、3、4または5記載の荷重測定装置。
JP2010547404A 2009-01-20 2009-11-19 荷重測定装置 Active JP5382817B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010547404A JP5382817B2 (ja) 2009-01-20 2009-11-19 荷重測定装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009010322 2009-01-20
JP2009010322 2009-01-20
JP2010547404A JP5382817B2 (ja) 2009-01-20 2009-11-19 荷重測定装置
PCT/JP2009/069612 WO2010084662A1 (ja) 2009-01-20 2009-11-19 荷重測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2010084662A1 JPWO2010084662A1 (ja) 2012-07-12
JP5382817B2 true JP5382817B2 (ja) 2014-01-08

Family

ID=42355730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010547404A Active JP5382817B2 (ja) 2009-01-20 2009-11-19 荷重測定装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8887584B2 (ja)
JP (1) JP5382817B2 (ja)
WO (1) WO2010084662A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7027467B2 (ja) 2020-01-09 2022-03-01 株式会社フジクラ ロウ付け構造、コールドプレート、およびロウ付け構造の製造方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5804549B2 (ja) * 2011-04-14 2015-11-04 国立大学法人東北大学 毛髪の柔軟性評価方法
WO2013019719A1 (en) * 2011-08-01 2013-02-07 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Ultra-compact nanocavity-enhanced scanning probe microscopy and method
WO2013059665A1 (en) 2011-10-19 2013-04-25 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Ultracompact fabry-perot array for ultracompact hyperspectral imaging
WO2013148349A1 (en) 2012-03-30 2013-10-03 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Graphene photonics for resonator-enhanced electro-optic devices and all-optical interactions
CN103471745A (zh) * 2013-09-16 2013-12-25 清华大学 基于双梁或串联双梁的屈曲式微力传感器及微力测量方法
US9990087B2 (en) * 2013-09-28 2018-06-05 Apple Inc. Compensation for nonlinear variation of gap capacitance with displacement
US20170080541A1 (en) * 2015-09-18 2017-03-23 Caterpillar Inc. Fixture member for detecting a load acting thereon
US10921943B2 (en) 2019-04-30 2021-02-16 Apple Inc. Compliant material for protecting capacitive force sensors and increasing capacitive sensitivity
CN110579402B (zh) * 2019-10-22 2022-08-09 哈尔滨工业大学(深圳) 一种研究frp加固梁蠕变特性的持续加载装置
US11592946B1 (en) 2021-09-21 2023-02-28 Apple Inc. Capacitive gap force sensor with multi-layer fill

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5590840A (en) * 1978-12-28 1980-07-09 Kanebo Ltd Method and device for measuring flexural rigidity of filament-like material
JPH01195301A (ja) * 1988-01-29 1989-08-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 表面機械特性測定装置
JP2000283747A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 触針反射器
JP2003042861A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Japan Science & Technology Corp 立体型歪みセンサ
JP2004205381A (ja) * 2002-12-26 2004-07-22 Olympus Corp 微小荷重測定装置
JP2006078219A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 Canon Inc 走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡
JP2006153681A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Kose Corp 毛髪試料の力学的特性の測定方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3199345A (en) 1962-12-26 1965-08-10 Lee Shih-Ying Temperature compensated transducer
JPH0212120A (ja) 1988-06-29 1990-01-17 Fuji Photo Film Co Ltd 光ビーム走査装置
JP3240390B2 (ja) 1992-03-04 2001-12-17 オムロン株式会社 変位検出センサ
GB2271189A (en) * 1992-08-21 1994-04-06 Hollowtech Limited Axle load sensing arrangement
US5489774A (en) * 1994-09-20 1996-02-06 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford University Combined atomic force and near field scanning optical microscope with photosensitive cantilever
JP2001514733A (ja) * 1995-12-11 2001-09-11 クセロス・インク 一体化シリコン側面計及びafmヘッド
US6480286B1 (en) 1999-03-31 2002-11-12 Matsushita Electric Inudstrial Co., Ltd. Method and apparatus for measuring thickness variation of a thin sheet material, and probe reflector used in the apparatus
KR100746768B1 (ko) * 2002-03-19 2007-08-06 주식회사 엘지이아이 캔틸레버를 이용한 정보 기록 및 판독 장치
AU2004312851A1 (en) * 2003-12-24 2005-07-21 3M Innovative Properties Company Device and method for measuring the profile of a surface

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5590840A (en) * 1978-12-28 1980-07-09 Kanebo Ltd Method and device for measuring flexural rigidity of filament-like material
JPH01195301A (ja) * 1988-01-29 1989-08-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 表面機械特性測定装置
JP2000283747A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 触針反射器
JP2003042861A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Japan Science & Technology Corp 立体型歪みセンサ
JP2004205381A (ja) * 2002-12-26 2004-07-22 Olympus Corp 微小荷重測定装置
JP2006078219A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 Canon Inc 走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡
JP2006153681A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Kose Corp 毛髪試料の力学的特性の測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7027467B2 (ja) 2020-01-09 2022-03-01 株式会社フジクラ ロウ付け構造、コールドプレート、およびロウ付け構造の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20110296929A1 (en) 2011-12-08
JPWO2010084662A1 (ja) 2012-07-12
WO2010084662A1 (ja) 2010-07-29
US8887584B2 (en) 2014-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5382817B2 (ja) 荷重測定装置
US8434370B2 (en) Micro/nano-mechanical test system employing tensile test holder with push-to-pull transformer
EP1829050B1 (en) Scanner for probe microscopy
US7685869B2 (en) Nanoindenter
JP5410880B2 (ja) 摩擦力測定方法および摩擦力測定装置
JP5662464B2 (ja) 動的撓曲部配列を組み込んだ支持台を有する走査型プローブ顕微鏡
JP3739314B2 (ja) 材料表面の機械的特性試験装置
US9021897B2 (en) Versatile, flexible, and robust MEMS/NEMS sensor for decoupled measuring of three-dimensional forces in air or liquids
Grutzik et al. Accurate spring constant calibration for very stiff atomic force microscopy cantilevers
JP4344850B2 (ja) マイクロ材料試験装置
Brand et al. Smart sensors and calibration standards for high precision metrology
EP3361266A1 (en) Method of lateral force calibration in an afm microscope and device for lateral force calibration in an afm microscope
Zhang et al. Mechanical characterization of released thin films by contact loading
JP2007232544A (ja) マイクロカンチレバーのばね定数実測方法
Dal Savio et al. 3D metrology with a compact scanning probe microscope based on self-sensing cantilever probes
JP2853687B2 (ja) 表面特性評価装置
Brueckner et al. Integrated investigation approach for determining mechanical properties of poly-silicon membranes
WO2004070765A1 (en) Resistive cantilever spring for probe microscopy
JP2018115983A (ja) 微小物理量測定器
Zhang et al. Specimen alignment of micro-tensile testing using vernier-groove carrier or specimen with piezoresistive cells
JPH0510834A (ja) 光学的微小荷重変位測定装置
JP2000042973A (ja) 微小力印加装置
JPH0746051B2 (ja) 微小部力測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120530

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120601

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130702

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130709

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130710

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130924

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130926

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5382817

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250