JP2007240235A - 通電試験用プローブおよびプローブ組立体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】通電試験用プローブは、支持基板にはんだを介して取り付けられる基端および該基端に連らなる先端を有するプローブ本体と、プローブ本体の導電性よりも高い導電性を示しかつはんだに対するプローブ本体の濡れ性よりも高い濡れ性を示しプローブ本体の表面で基端から先端へ向けて伸びる表面層とを備える。表面層の前記基端の近傍には、はんだに対する濡れ性が表面層のそれよりも小さい遮蔽領域が表面層を横切って形成されている。
【選択図】図1
Description
12 プローブ本体
14 支持基板
16 取付け部
16a 端面(基端)
18 立ち上がり部
20 アーム部
20b 先端面(先端)
22 配線路
24 針先
28 表面層
30 はんだ(はんだ層)
32 遮蔽領域
Claims (9)
- 支持基板にはんだを介して取り付けられる基端および該基端に連らなる先端を有するプローブ本体と、前記プローブ本体の導電性よりも高い導電性を示しかつ前記はんだに対する前記プローブ本体の濡れ性よりも高い濡れ性を示し前記プローブ本体の表面で前記基端から前記先端へ向けて伸びる表面層とを備える通電試験用プローブであって、前記表面層の前記基端の近傍には、前記はんだに対する濡れ性が前記表面層のそれよりも小さい遮蔽領域が前記表面層を横切って形成されていることを特徴とする通電試験用プローブ。
- 前記プローブ本体は、前記基端を含む取付け部と、該取付け部から前記基端が位置する側と反対側へ伸長し、前記先端に連なる立ち上がり部とを有し、前記遮蔽領域は、前記取付け部から前記立ち上がり部への前記はんだの濡れ広がりを阻止すべく、前記取付け部における前記立ち上がり部の近傍に形成されている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブ本体は、前記取付け部および前記立ち上がり部が同一平面上に形成されるように平板状に形成されており、前記表面層は、前記プローブ本体の両面の少なくとも一方の面に沿って前記取付け部から前記立ち上がり部に連続的に形成されている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記はんだは、前記プローブ本体の前記支持基板への取付けに先立ち、前記取付け部における前記遮蔽領域よりも前記基端側で前記表面層上に、はんだ層として形成されている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブ本体は、さらに、前記立ち上がり部から横方向に伸び、終端が前記先端を規定するアーム部を有し、前記先端には前記基端が位置する側と反対側へ縦方向に突出する針先が設けられている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブ本体は、前記針先よりも高靱性に優れた金属材料からなり、前記針先は前記プローブ本体よりも硬度に優れた金属材料からなる、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブ本体は、ニッケル、その合金または燐青銅からなり、前記表面層は金であり、前記遮蔽領域はニッケルまたはその合金からなり、前記はんだは錫またはその合金からなる、請求項5に記載のプローブ。
- 前記遮蔽領域の表面は、はんだに対する濡れ性をさらに低下させるために酸化処理が施されている、請求項6に記載のプローブ。
- 複数の取付けランドを有する支持基板と、請求項1に記載の複数のプローブであってそれぞれの前記基端が対応する前記取付けランドにはんだを介して片持ち梁状に取り付けられたプローブとを含む、プローブ組立体。
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