JP2007235891A - 欠陥補正装置及び欠陥補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】欠陥画素列の水平方向アドレスと、欠陥レベルとを検出する欠陥検出部13,18と、撮像素子の温度を検出する温度検出センサ19と、欠陥検出処理時における、撮像素子の感度と、欠陥画素列の水平方向アドレスと、欠陥レベルと、撮像素子の温度とを記憶する記憶部16と、撮影時における撮像素子の感度と、撮像素子の温度と、記憶部に記憶されている欠陥レベルとに基づいて、撮影時に欠陥画素列において発生すると予想される予想欠陥レベルを算出する演算部18と、撮像素子を用いた撮影時に、欠陥画素列の信号から予想欠陥レベルの信号を減算する欠陥補正処理を行なう欠陥補正部とを具備する。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる固体撮像装置、ここではデジタルスチルカメラの構成を示すブロック図である。
Lc−Ld=L (LSB)
を計算し、その値Lと基準値Sとを比較する(ステップS106)。比較の結果、全列がL≦Sの場合、縦線キズ無しと判定し、縦線キズ調整を終了する(ステップS107)。比較の結果、L>Sの列が1つでもある場合、縦線キズ有りと判断し、該当する列全てのX軸アドレス(水平方向アドレス)および縦線キズレベルL(LSB)を調整用の第2の記憶部16に記憶させる(ステップS108)。以上により縦線キズの調整は完了となる。
撮影時の縦線キズレベルLcを算出後、縦線キズアドレスの有効画素部aの列の全画素それぞれから縦線キズレベルLc(LSB)を減算することで縦線キズ補正を行う。縦線キズ調整時に縦線キズが複数あった場合、それぞれの縦線キズアドレスに対してステップS204、ステップS205を動画撮影が終了するまで継続して行う(ステップS206、ステップS207)。
第1の実施形態では、縦線キズ調整時に検出されたアドレス全てを撮影時の条件にかかわらず常時補正する例を示したが、縦線キズは温度によりレベルが上昇するため、撮影時の固体撮像素子の温度が低い場合には補正が不必要な場合もある。第2の実施形態では、図5のフローチャートを参照してその手法を説明する。
撮影時の縦線キズレベルLc(LSB)を算出後、縦線キズレベルLc(LSB)を各撮影感度毎に設定された縦線キズが実使用上問題とならない最大値である基準値S(LSB)と比較する。縦線キズ調整時に縦線キズが検出された全アドレスが Lc≦Sの場合、縦線キズ補正は必要無しと判定し、縦線キズ補正を行わずに撮影完了まで撮影を行う(ステップS307、ステップS308)。縦線キズ調整時に縦線キズが検出されたアドレスのうち一つでも Lc>Sの場合、対象のアドレスは縦線キズ補正が必要と判定する。そして、第1の実施形態のステップS205〜ステップS207を同様に動画撮影終了まで継続的に行い、縦線キズを補正する(ステップS309)。
撮像素子によっては、素子の垂直転送路に光が入り込むことにより生じるスミアが発生するものがあり、縦線キズと同様に垂直方向に一定レベルのオフセットが発生する。しかし、縦線キズと高輝度被写体撮影時のスミア発生レベルを比較した場合、縦線キズのレベルは小さく、スミアのレベルは非常に大きくなる可能性がある。そのため、縦線キズが発生している列、スミアが発生している列それぞれを判別し、それぞれの列に適した補正を行う必要がある。第3の実施形態では、スミア発生時の縦線キズ補正方法を図6のフローチャートを参照して説明する。
Bc−Bd=B(LSB)
とする。
縦線キズレベルLc (LSB)を算出後、Lc (LSB)と全列のB(LSB)を比較する(ステップS406)。全列においてLc≦α×Bの場合、スミアが発生していないと判定し、第1の実施形態のステップS205〜ステップS207を同様に動画撮影終了まで継続的に行ない、縦線キズ補正対象アドレスの縦線キズ補正を行う(ステップS407)。なおαはLc(LSB)を近似的に算出する際に発生する誤差を吸収する係数で1.5〜2.0 程度が望ましい。
11 レンズ
12 固体撮像素子
13 画像処理回路
14 タイミングジェネレーター
15 第1の記憶部
16 第2の記憶部
17 記録媒体
18 制御部
19 サーミスタ
Claims (6)
- 画面内の垂直方向に延びる欠陥画素列を有する撮像素子の、前記欠陥画素列の信号を補正するための欠陥補正装置であって、
前記欠陥画素列の水平方向アドレスと、前記欠陥画素列の欠陥に起因して発生する信号レベルである欠陥レベルとを検出する欠陥検出手段と、
前記撮像素子の温度を検出する温度検出手段と、
前記欠陥検出手段による欠陥検出処理時における、前記撮像素子の感度と、前記欠陥画素列の水平方向アドレスと、前記欠陥レベルと、前記撮像素子の温度とを記憶する記憶手段と、
前記撮像素子を用いた撮影時における前記撮像素子の感度と、前記撮像素子の温度と、前記記憶手段に記憶されている前記欠陥レベルとに基づいて、撮影時に前記欠陥画素列において該欠陥画素列の欠陥に起因して発生すると予想される信号レベルである予想欠陥レベルを算出する演算手段と、
前記撮像素子を用いた撮影時に、前記水平方向アドレスに対応する画素列の信号から前記予想欠陥レベルの信号を減算する欠陥補正処理を行なう欠陥補正手段と、
を具備することを特徴とする欠陥補正装置。 - 前記欠陥補正手段は、前記予想欠陥レベルが予め定められた閾値レベル以下の場合に、前記補正処理を行なわないことを特徴とする請求項1に記載の欠陥補正装置。
- 前記撮像素子の垂直方向画素列で発生するスミアを補正するスミア補正手段と、前記撮像素子を用いた撮影時に、前記予想欠陥レベルと、前記撮像素子に設けられているオプティカルブラック部とダミー画素部の信号とに基づいて、前記スミア補正手段によるスミア補正と前記欠陥補正手段による欠陥補正処理とを切り替える制御手段とをさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の欠陥補正装置。
- 画面内の垂直方向に延びる欠陥画素列を有する撮像素子の、前記欠陥画素列の信号を補正するための欠陥補正方法であって、
前記欠陥画素列の水平方向アドレスと、前記欠陥画素列の欠陥に起因して発生する信号レベルである欠陥レベルを検出する欠陥検出工程と、
前記撮像素子の温度を検出する温度検出工程と、
前記欠陥検出工程における、前記撮像素子の感度と、前記欠陥画素列の水平方向アドレスと、前記欠陥レベルと、前記撮像素子の温度とを記憶する記憶工程と、
前記撮像素子を用いた撮影時における前記撮像素子の感度と、前記撮像素子の温度と、前記記憶工程において記憶されている前記欠陥レベルとに基づいて、撮影時に前記欠陥画素列において該欠陥画素列の欠陥に起因して発生すると予想される信号レベルである予想欠陥レベルを算出する演算工程と、
前記撮像素子を用いた撮影時に、前記水平方向アドレスに対応する画素列の信号から前記予想欠陥レベルの信号を減算する欠陥補正処理を行なう欠陥補正工程と、
を具備することを特徴とする欠陥補正方法。 - 前記欠陥補正工程では、前記予想欠陥レベルが予め定められた閾値レベル以下の場合に、前記補正処理を行なわないことを特徴とする請求項4に記載の欠陥補正方法。
- 前記撮像素子の垂直方向画素列で発生するスミアを補正するスミア補正工程と、前記撮像素子を用いた撮影時に、前記予想欠陥レベルと、前記撮像素子に設けられているオプティカルブラック部とダミー画素部の信号とに基づいて、前記スミア補正工程によるスミア補正と前記欠陥補正工程による欠陥補正処理とを切り替える制御工程とをさらに具備することを特徴とする請求項4に記載の欠陥補正方法。
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