JP4785564B2 - 欠陥補正装置及び欠陥補正方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる固体撮像装置、ここではデジタルスチルカメラの構成を示すブロック図である。
Lc−Ld=L (LSB)
を計算し、その値Lと基準値Sとを比較する(ステップS106)。比較の結果、全列がL≦Sの場合、縦線キズ無しと判定し、縦線キズ調整を終了する(ステップS107)。比較の結果、L>Sの列が1つでもある場合、縦線キズ有りと判断し、該当する列全てのX軸アドレス(水平方向アドレス)および縦線キズレベルL(LSB)を調整用の第2の記憶部16に記憶させる(ステップS108)。以上により縦線キズの調整は完了となる。
撮影時の縦線キズレベルLcを算出後、縦線キズアドレスの有効画素部aの列の全画素それぞれから縦線キズレベルLc(LSB)を減算することで縦線キズ補正を行う。縦線キズ調整時に縦線キズが複数あった場合、それぞれの縦線キズアドレスに対してステップS204、ステップS205を動画撮影が終了するまで継続して行う(ステップS206、ステップS207)。
第1の実施形態では、縦線キズ調整時に検出されたアドレス全てを撮影時の条件にかかわらず常時補正する例を示したが、縦線キズは温度によりレベルが上昇するため、撮影時の固体撮像素子の温度が低い場合には補正が不必要な場合もある。第2の実施形態では、図5のフローチャートを参照してその手法を説明する。
撮影時の縦線キズレベルLc(LSB)を算出後、縦線キズレベルLc(LSB)を各撮影感度毎に設定された縦線キズが実使用上問題とならない最大値である基準値S(LSB)と比較する。縦線キズ調整時に縦線キズが検出された全アドレスが Lc≦Sの場合、縦線キズ補正は必要無しと判定し、縦線キズ補正を行わずに撮影完了まで撮影を行う(ステップS307、ステップS308)。縦線キズ調整時に縦線キズが検出されたアドレスのうち一つでも Lc>Sの場合、対象のアドレスは縦線キズ補正が必要と判定する。そして、第1の実施形態のステップS205〜ステップS207を同様に動画撮影終了まで継続的に行い、縦線キズを補正する(ステップS309)。
撮像素子によっては、素子の垂直転送路に光が入り込むことにより生じるスミアが発生するものがあり、縦線キズと同様に垂直方向に一定レベルのオフセットが発生する。しかし、縦線キズと高輝度被写体撮影時のスミア発生レベルを比較した場合、縦線キズのレベルは小さく、スミアのレベルは非常に大きくなる可能性がある。そのため、縦線キズが発生している列、スミアが発生している列それぞれを判別し、それぞれの列に適した補正を行う必要がある。第3の実施形態では、スミア発生時の縦線キズ補正方法を図6のフローチャートを参照して説明する。
Bc−Bd=B(LSB)
とする。
縦線キズレベルLc (LSB)を算出後、Lc (LSB)と全列のB(LSB)を比較する(ステップS406)。全列においてLc≧α×Bの場合、スミアが発生していないと判定し、第1の実施形態のステップS205〜ステップS207を同様に動画撮影終了まで継続的に行ない、縦線キズ補正対象アドレスの縦線キズ補正を行う(ステップS407)。なおαはLc(LSB)を近似的に算出する際に発生する誤差を吸収する係数で1.5〜2.0 程度が望ましい。
11 レンズ
12 固体撮像素子
13 画像処理回路
14 タイミングジェネレーター
15 第1の記憶部
16 第2の記憶部
17 記録媒体
18 制御部
19 サーミスタ
Claims (2)
- 撮像素子の垂直転送部の欠陥に起因する縦線キズを補正するための欠陥補正装置であって、
前記撮像素子の温度を検出する温度検出手段と、
ダーク画像の縦線キズレベルを前記ダーク画像の縦線キズレベルの測定時の温度とともに記憶した記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された前記ダーク画像の縦線キズレベル及び前記ダーク画像の縦線キズレベルの測定時の温度と、前記温度検出手段により検出された温度とに基づいて、撮影画像に発生する縦線キズレベルを近似的に算出する演算手段と、
前記撮像素子の有効画素出力信号から前記演算手段により近似的に算出された前記縦線キズレベルを減算することで撮影画像の縦線キズを補正する補正手段と、
前記撮像素子でスミアが発生しているかどうかを判定する判定手段と、を具備し、
前記補正手段は、前記判定手段による判定結果に応じて、前記スミアの補正処理と前記縦線キズの補正処理とを切り替えることを特徴とする欠陥補正装置。 - 撮像素子の垂直転送部の欠陥に起因する縦線キズを補正するための欠陥補正方法であって、
前記撮像素子の温度を検出する温度検出工程と、
記憶手段に予め記憶されたダーク画像の縦線キズレベル及び前記ダーク画像の縦線キズレベルの測定時の温度と、前記温度検出工程において検出された温度とに基づいて、撮影画像に発生する縦線キズレベルを近似的に算出する演算工程と、
前記撮像素子の有効画素出力信号から前記演算工程において近似的に算出された前記縦線キズレベルを減算することで撮影画像の縦線キズを補正する補正工程と、
前記撮像素子でスミアが発生しているかどうかを判定する判定工程と、を具備し、
前記補正工程では、前記判定工程における判定結果に応じて、前記スミアの補正処理と前記縦線キズの補正処理とを切り替えることを特徴とする欠陥補正方法。
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