JP2007213934A5 - - Google Patents

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  1. 第１の試料イオン源と、
    前記第１の試料イオン源のイオンの進行方向に対して下流側に設けられ前記第１の試料
    イオン源より圧力の低い第２の試料イオン源と、
    前記第２の試料イオン源のイオンの進行方向に対して下流側に設けられた質量分析部と
    を備え、
    １本の試料導入路から分岐された第１の試料導入口と第２の試料導入口のうち前記第１
    の試料導入口が前記第１の試料イオン源に設置され、前記第２の試料導入口が前記第２の
    試料イオン源に配置されていることを特徴とする質量分析装置。
  2. 請求項１記載の質量分析装置において、前記第１の試料イオン源による試料のイオン化
    と前記第２の試料イオン源による試料のイオン化を制御するコントローラを備え、前記コ
    ントローラは、前記第１の試料イオン源と前記第２の試料イオン源を択一的に動作させる
    ことを特徴とする質量分析装置。
  3. 請求項1記載の質量分析装置において、前記第１の試料導入口から前記第１の試料イオ
    ン源に導入される試料流量が前記第２の試料導入口から前記第２の試料イオン源に導入さ
    れる試料流量より大きいことを特徴とする質量分析装置。
  4. 請求項１記載の質量分析装置において、前記試料導入路はガスクロマトグラフィカラム
    に接続されており、前記第１の試料導入口から溶出した試料成分が前記ガスクロマトグラ
    フィカラムで分離されたピーク幅以上の時間遅れをもって前記第２の試料導入口から溶出
    するように、前記試料導入路の分岐部から前記第１の試料導入口までの長さと前記第２の
    試料導入口までの長さの間に差が設けられていることを特徴とする質量分析装置。
  5. 請求項１記載の質量分析装置において、前記第１の試料イオン源は大気圧化学イオン化
    によって試料イオンを生成し、前記第２の試料イオン源は電子衝撃イオン化によって試料
    イオンを生成することを特徴とする質量分析装置。
  6. ガスクロマトグラフィによって分離された試料を第１の経路と第２の経路に分流する工
    程と、
    前記第1の経路の試料を第１の試料イオン源に導入し、前記第２の経路の試料を前記第
    １の試料イオン源のイオンの進行方向に対して下流に位置し前記第２の試料イオン源より
    圧力の低い第２の試料イオン源に導入する工程と、
    前記第１の試料イオン源をオンにし前記第２の試料イオン源をオフにして、前記第１の
    経路から溶出した試料成分を前記第１の試料イオン源でイオン化して質量スペクトルを測
    定する工程と、
    前記第１の試料イオン源をオフにし、前記第２の試料イオン源をオンにする工程と、
    前記第２の経路から溶出した試料成分を前記第２の試料イオン源でイオン化して質量ス
    ペクトルを測定する工程とを有することを特徴とする質量分析方法。
  7. 請求項６記載の質量分析方法において、前記第１の試料イオン源でイオン化して質量ス
    ペクトルを測定する工程の次に、測定した質量スペクトルを既知の質量スペクトルと照合
    する工程を有し、前記測定した質量スペクトルが既知の質量スペクトルと合致しないとき
    前記第２の試料イオン源でイオン化して質量スペクトルを測定する工程を実行することを
    特徴とする質量分析方法。
  8. 請求項６記載の質量分析方法において、前記第１の試料イオン源に導入された試料成分
    は前記ガスクロマトグラフィで分離されたピーク幅以上の時間遅れをもって前記第２の試
    料イオン源に導入され、同じ試料成分を前記第１の試料イオン源でイオン化して質量スペ
    クトルを測定した後に、前記第２の試料イオン源でイオン化して質量スペクトルを測定す
    ることを特徴とする質量分析方法。
  9. 請求項６記載の質量分析方法において、前記ガスクロマトグラフィで分離された試料成
    分を前記第１のイオン源と前記第２のイオン源にほぼ同時に導入し、
    前記第１の試料イオン源でイオン化して質量スペクトルを測定する工程で取得したＭＳ
    スペクトルに主要なピークがｎ本含まれていたとき、当該試料成分の残りの溶出時間を（ｎ＋１）等分し、最初のｎ個の期間に前記主要なピークを１つずつＭＳ/ＭＳスペクトルを取得し、最後の１個の期間に前記第２の試料イオン源でイオン化して質量スペクトルを測定することを特徴とする質量分析方法。
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